1、
静电测试标准
批 准：
审 核：张闯
编 制：赵继勇
2004年12月24日
上传：开发部
静电测试标准
一般情况下，静电测试分为两种方式，一种为接触静电测试，另一种是非接触静电测试，通常电子元器件的接触防静电电压值要低于非接触防静电电压值。工业防静电标准：接触防静电电压6 kV，非接触防静电电压8 kV。
静电测试前的准备工作：
·连接好准备测试的设备，确保测试前的设备是正常运行的。
·连接好静电放电测试仪，确保测试仪的地线与设备的地线相互连接，形成放电回路。
1. 接触静电测试
测试
2、项目包括设备机箱外壳，电源接口，控制接口，以及通讯接口等。
测试电压标准，测试静电电压从2 kV开始增加，每次增加2 kV，直到20 kV为止，即测试静电电压分别为2 kV，4 kV，6 kV，8 kV，10 kV，12 kV，14 kV，16 kV，18 kV，20 kV。
测试频率标准，测试放电分为两种频率，但放电次数均为10次。一种频率是1秒钟放电1次，连续放电10次，为低频静电放电测试；另一种频率是0.1秒钟放电1次，连续放电10次，为高频静电放电测试。
测试通过标准，硬件无任何损坏，通讯正常，数据无错误，丢失等情况。
测试停止标准，在测试某一项目时，如果硬件发生损坏，通讯异常
3、或其他任何不正常的情况，测试将不向更高标准进行，而只统计当前测试结果。测试转为下一项。为提高测试精度，也可以在测试设备出现异常情况时，先调低静电电压1 kV进行测试，如果测试通过，则调高静电电压0.5 kV进行测试，如果测试不通过，则继续调低静电电压0.5 kV进行测试，依次类推，调节幅度不断减小为0.25 kV，0.125 kV等，直到精度达到要求为止，统计临界静电电压测试结果。
测试顺序标准，测试顺序为先确定电压，再确定频率。电压由低到高，频率由慢到快。即依次为2 kV低频测试，2 kV高频测试，4 kV低频测试，4 kV高频测试，直到20 kV低频测试，20 kV高频测试。在提高精度测
4、试过程中也同样遵循先确定电压，再确定频率这一原则。
测试数据标准，测试某一项目时，在某一电压和频率下，如果连续20次测试通过，即判定在当前状态下，系统工作正常；否则统计连续20次测试过程中出错的次数，计算出错的概率，填入测试数据报表中。
测试方法标准，先将静电枪对准被测试项目（如：机箱，各个接口），移动静电枪至被测试项目的表面，要求静电枪与被测试项目的表面保持垂直且接触，扣动静电枪扳机，待10次放电全部结束后，松开静电枪扳机，将静电枪从被测试项目表面移开，准备下一次测试。
2. 非接触静电测试
测试项目包括设备机箱外壳，电源接口，控制接口，以及通讯接口等。
测试电压标准，测试静电电压
5、从2 kV开始增加，每次增加2 kV，直到20 kV为止，即测试静电电压分别为2 kV，4 kV，6 kV，8 kV，10 kV，12 kV，14 kV，16 kV，18 kV，20 kV。
测试通过标准，硬件无任何损坏，通讯正常，数据无错误，丢失等情况。
测试停止标准，在测试某一项目时，如果硬件发生损坏，通讯异常或其他任何不正常的情况，测试将不向更高标准进行，而只统计当前测试结果。测试转为下一项。为提高测试精度，也可以在测试设备出现异常情况时，先调低静电电压1 kV进行测试，如果测试通过，则调高静电电压0.5 kV进行测试，如果测试不通过，则继续调低静电电压0.5 kV进行测试，依次类推
6、调节幅度不断减小为0.25 kV，0.125 kV等，直到精度达到要求为止，统计临界静电电压测试结果。
测试顺序标准，测试顺序为电压由低到高。即依次为2 kV测试，4 kV测试，6 kV测试，直到20 kV测试。
测试数据标准，测试某一项目时，在某一电压下，如果连续20次测试通过，即判定再当前状态下，系统工作正常；否则统计连续20次测试过程中出错的次数，计算出错的概率，填入测试数据报表中。
测试方法标准，先将静电枪对准被测试项目（如：机箱，各个接口）且相隔5厘米以上，扣动静电枪扳机，移动静电枪靠近被测试项目的表面，移动过程中要求静电枪与被测试项目的表面保持垂直，待空气放电结束后，将静电
7、枪从被测试项目表面移开，松开静电枪扳机，准备下一次测试。
注意：1. 测试过程中，某元器件测试结果会因为元器件个体差异而有所不同，如保险，二极管等，这就需要对不同的元器件进行多次测量，求出所有元器件测试结果的平均值作为最终的测试结果。
2. 测试过程中，一般情况下，不能直接对芯片进行静电放电。如有特殊需要，一定要对某芯片进行静电放电测试时，应尽量减小每次静电增加的幅度，这样可以更好的测试出防静电电压真实值的接近值，使测试更加准确。
3. 测试过程中，为保障测试结果的准确性，每次静电放电结束后到下次静电放电开始前的时间间隔不能太小，要留给系统足够的恢复时间，即要留够系统电荷释放的时间，时间间隔一般为10秒钟。待系统电荷充分释放后，才能进行下一次测试。
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