1、单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,#,在,ftp:/202.38.246.199:2100/,上的,相,关资料,文件夹下载,NanoScope_Analysis_v140r3sr2.exe,AFM,图像离线分析软件，,之后双击左键安装软件。,从,FTP,上下载的数据最好不要保存在桌面上，有时会打不开，,可以放在,C,、,D,、,E,盘的根目录下，,或存放于文件路径不含非英文字符的目录中。,软件安装,数据存放,AFM,测试的数据后缀是,.000,等，在电脑上有时会显示为压缩文件，,实际是源文件，需要用,AFM,的离线分析软件,NanoScope_
2、Analysis,打开,Win 7,系统安装软件时需要安装,.net framework 4.0,，其中一个可用的下载地址：,Z thresholding direction,设置为,Z=,或,Z,，将,Mark excluded data,设置为,Yes,，设定,Flatten Z threshold%,值，使非基底部分被遮蔽后，再,execute,，之后将,Mark excluded data,设置为,No,，即可完成操作。,未遮蔽的,flatten,效果,遮蔽后,flatten,效果，无阴影拖尾,执行后，图片变成这样。,生成三维图片按钮,右键点在色度条上出现,color scale,后，
3、左键选择可更改图像颜色,点击后，生成的三维图片,有色系和颜色区间等选项可选,背景颜色选项,三个坐标轴显示选项,设定完各项参数后，点,Export,导出三维图,参数设定区域,更改高度条起始点：,将高度条起始点从负值改为零。,Commensadjust image colormodify data scale-,按需要更该参数后，点,export,，,命名后保存,输出彩色二维图像（颜色深浅代表高度）,点击,section,，进行图片上特征位置高度、宽度等尺寸分析,高度宽度分析,用鼠标左键在样品图像区域拖一条线，右侧坐标图中就会出现这条线上相应位置高度的折线图，左键拖动折线图中两条,竖直虚线的位置，
4、就可以改变图像区域与虚线颜色相同的相应十字叉的位置。将十字叉定位准确后，在图像下方的三色条框中,读出相应颜色十字叉定位的数值。例如，下图中蓝色十字叉标记的线上读出被测试样品的高度为,4.816 nm,（,vertical distance,栏）；,红色十字叉标记的线上，可读出目标颗粒的宽度为,30.503nm,（,horizontal distance,栏）；,基底线,样品线,被测试颗粒,在图像区域点击右键，出现如下对话框，点,export,可输出做过标记的图片,同样，在折线图区域点右键，,选择,export,graphic,（输出被激活折线图像图片）,/XZdata,（输出被激活折线数据,t
5、xt,文档）。,点击右键，,copy text,输出此框数据。,读取粗糙度,读取,Rq,，,Ra,注意：,用该软件计算得到的粗糙度值仅仅是在该软件,设定的程序下的结果，软件设定算法可以在相应,窗口下按,F1,帮助键，弹出的相应窗口中有功能说明。,如果需要，图像可以在,0,阶或,1,阶平滑后计算粗糙度。,整幅图像的粗糙度值,选定区域的粗糙度值，,若没有选定区域，这两个值为,0,点击右侧,browse files,选定目标文件，,在未进行平滑的原始文件上,点击右键，出现如下对话框，,选择,export ASCII,，可以输出图像上,每个数据点的高度值（进针位置的高度,被默认为,0,）。该组数据可根据测试者需要，,采用特定的统计方法得出所需的粗糙度等值。,如需输出矩阵形式将输出数据的列数设置为扫描线,条数。,打开软件后按,F1,键，可弹出介绍软件详细功能的网页，未在本,PPT,中介绍到的内容，请详细阅读网页内容。,友情提示,文中未明确提出的地方，一般默认用左键操作。,以上内容，如有错漏请指出。,
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