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MSA分析报告

XX/840-004B
№:L2017003
XXX公司
计量型MSA分析报告

陈秋凤、雷丽花、欧阳丽敏
2017年2月23日
日 期：

实 施 人：

张志超
数显卡尺（中间检验）
评 价 人：

XXX
仪器名称：

仪器编号：

分析结论：
合格 不合格

审 核：

批 准：

计量型MSA分析报告
目录

稳定性
………………………………………………………………………………………
1
偏倚
………………………………………………………………………………………
4
线性
………………………………………………………………………………………
7
重复性和再现性
………………………………………………………………………………………
9

备注: 对于有条件接收的项目应阐述接受原因.
XX公司
质量部
第一节 稳定性分析
1.1 稳定性概述
在经过一段长时间下，用相同的测量系统对同一基准或零件的同一特性进行测量所获得的总变差，即稳定性是整个时间的偏倚变化。
1.2 试验方案
2017 年 02 月份，随机抽取一常见 印制板 样品，让 中间检验员工 每天的早上及晚上分别使用 数显卡尺 对样品 外形尺寸 测量5次/组，共测量25组数据，并将每次测量的数据记录在表1。
1.3 数据收集
表1 稳定性分析数据收集记录表
操作者
陈秋凤
测量日期
2017-02-04～2017-02-20
测量时间
测量结果/单位：__mm__
第1次
第2次
第3次
第4次
第5次
时段1
65.23
65.23
65.23
65.24
65.23
时段2
65.23
65.23
65.23
65.23
65.23
时段3
65.24
65.23
65.23
65.24
65.24
时段4
65.24
65.24
65.24
65.23
65.24
时段5
65.23
65.24
65.23
65.23
65.23
时段6
65.24
65.24
65.24
65.24
65.24
时段7
65.24
65.23
65.24
65.24
65.24
时段8
65.24
65.23
65.23
65.24
65.23
时段9
65.23
65.24
65.23
65.23
65.23
时段10
65.23
65.23
65.23
65.23
65.23
时段11
65.24
65.23
65.23
65.24
65.24
时段12
65.24
65.24
65.24
65.24
65.23
时段13
65.24
65.23
65.23
65.24
65.23
时段14
65.23
65.23
65.23
65.23
65.23
时段15
65.24
65.24
65.23
65.23
65.24
时段16
65.23
65.23
65.24
65.23
65.23
时段17
65.23
65.24
65.23
65.23
65.23
时段18
65.24
65.24
65.24
65.24
65.23
时段19
65.24
65.23
65.23
65.23
65.23
时段20
65.24
65.24
65.24
65.24
65.24
时段21
65.23
65.23
65.24
65.23
65.23
时段22
65.24
65.24
65.23
65.24
65.24
时段23
65.23
65.24
65.24
65.23
65.23
时段24
65.23
65.24
6524
65.24
65.24
时段25
65.23
65.23
65.23
65.23
65.23

1.4 测量系统稳定性可接受判定标准
1.4.1 不允许有超出控制限的点；
1.4.2 连续7点位于中心线同一侧；
1.4.3 连续6点上升或下降；
1.4.4 连续14点交替上下变化；
1.4.5 连续3点有2点距中心的距离大于两个标准差；
1.4.6 连续5点中有4点距离中心线的距离大于一个标准差；
1.4.7 连续15点排列在中心线的一个标准差范围内；
1.4.8 连续8点距中心线的距离大于一个标准差。

1.5 数据分析

图1 中间检验_数显卡尺 Xbar-R控制图
从图1 Minitab生成Xbar-R控制图可知， 没有 控制点超出稳定性可接受判定标准，表明该测量系统稳定性 可接受 。
1.6 测量系统稳定性分析结果判定
对 中间检验_数显卡尺 进行稳定性分析，分析结果表明该测量系统稳定性 可接受 。

第二节 偏倚分析
2.1 偏倚分析概述
对相同零件上同一特性的观测值与真值（参考值）的差异。
2.2 试样方案
2.2.1选择一个被测样品,确定样品的 外形尺寸 基准值 ，样品 外形尺寸 基准值通过__铣边工序所使用的泛用型尺寸测量机重复测量10次取测量均值 获得。
2.2.2 让经常使用该量具的检验员测量样品15次,每次读数记为(i为第i次测量)。
2.3 数据收集
表2 偏倚分析数据收集记录表
操作者
陈秋凤
测量时间
2017-01-21
单位
mm
测量次数
测量结果
测量次数
测量结果
1
97.02
9
97.02
2
97.02
10
97.02
3
97.01
11
97.02
4
97.02
12
97.01
5
97.02
13
97.02
6
97.02
14
97.02
7
97.01
15
97.02
8
97.02
/
/

2.4 测量系统偏倚可接受判定标准
若0在偏倚95%可信度的置信区间范围内，可以在统计上判定测量系统的偏倚等于零，而这种判定犯错的可能性为5%，此时可判定测量系统偏倚可接受

2.5 数据分析
2.5.1 根据测量所得数据，将数据记录于表3，并计算测量结果的平均值。
=
2.5.2 计算偏倚B。
B = -
2.5.3 计算重复性标准差。

2.5.4 计算均值的标准差。

2.5.5 偏倚95%可信度的置信区间上限及下限计算方式。
上限：
下限：

表3 偏倚分析记录表
评价人
张志超
分析时间
2017-01-21
测量次数
单位：mm
测量次数
单位：mm
读数
偏倚
读数
偏倚
1
97.02
0.002
9
97.02
0.002
2
97.02
0.002
10
97.02
0.002
3
97.01
-0.008
11
97.02
0.002
4
97.02
0.002
12
97.01
-0.008
5
97.02
0.002
13
97.02
0.002
6
97.02
0.002
14
97.02
0.002
7
97.01
-0.008
15
97.02
0.002
8
97.02
0.002

基准值xι
测量次数n
平均值
偏倚B
复性标准差
均值的标准差
97.018
15
97.017
0.001
0.0028
0.0007
d2

自由度v

偏倚95%的置信区间
下限
上限
3.47191
3.5533
10.8
2.206
-0.0006
0.0026
注：d2、 、v、可查表获得，具体参考《ZW4 DD-034B0 MSA测量系统分析管理办法》。
2.5.6 从表3数据分析， 数显卡尺 测量偏倚为 0.001mm ，偏倚值95%的置信区间为[ -0.0006 , 0.0026 ],因为0 在 上述偏倚值的95%置信区间范围内，所以该测量系统偏倚 可接受 。
2.6 测量系统偏倚分析结果判定
对 中间检验_数显卡尺_ 进行偏倚分析，分析结果表明该测量系统偏倚 可接受 。
第三节 线性分析
3.1 线性分析概述
在测量设备预期的工作（测量）量程内，偏倚值的差异，线性可被视为偏倚对于量程大小不同所发生的变化。
3.2 试验方案
3.2.1 选择5个样品,且这5个样品 外形尺寸 涵盖量具的整个工作量程。
3.2.2 确定每个样品的 外形尺寸 ， 各样品外形尺寸 通过铣边工序所使用的泛用型尺寸测量机重复测量10次取测量均值 获得。
3.2.3 让经常使用该测量工具的检验员分别对每个样品测量12次，并将对应测量结果记录在表4中，其中i为样品编号，j为测量次数。
3.3 数据收集
表4 线性分析数据收集记录表
操作者
陈秋凤
测量时间
2017-01-22
单位
mm
样品编号i
读数
测量次数j
1
2
3
4
5
1
17.89
39.97
66.78
105.02
146.62
2
17.89
39.97
66.78
105.02
146.61
3
17.89
39.97
66.78
105.01
146.62

4
17.89
39.97
66.78
105.02
146.62
5
17.90
39.97
66.78
105.02
146.62
6
17.89
39.98
66.78
105.02
146.62
7
17.89
39.97
66.78
105.01
146.61
8
17.90
39.97
66.78
105.02
146.62
9
17.89
39.97
66.78
105.02
146.62
10
17.89
39.97
66.78
105.02
146.62
11
17.89
39.97
66.78
105.02
146.62
12
17.89
39.97
66.78
105.02
146.62
基准值
17.890
39.967
66.790
104.971
146.644
3.4 测量系统线性可接受判定标准
“偏倚=0”的整条直线都在置信区间范围内，则判定测量系统的线性可接受，否则需要分析原因改善。
3.5 数据分析

图2 中间检验_数显卡尺 线性分析图
从图2 Minitab生成的线性图分析，“偏倚=0”的整条直线 在 置信区间内，表明该测量系统线性 可接受 。
3.6 测量系统线性分析结果判定
对 中间检验数显卡尺 进行线性分析，分析结果表明该测量系统线性 可接受 。

第四节 重复性、再现性分析
4.1重复性、再现性概述
重复性：由一个被评价人使用同一测量仪器，多次测量同一零件同一特性值时获得的测量变差。
再现性：由不同的评价人采用相同的测量仪器，测得同一零件同一特性的测量平均值之间的变差。
4.2试验方案
挑出10个样品，样品 外形尺寸 涵盖整个过程变差（一般为样品尺寸公差），然后找3个人分别在不同的时间段测量这10块样品的 外形尺寸 ，测试前，测试人员不知道样品的 测试顺序，每个人分别在3个时间段分别测量每块样品的 外形尺寸 1次，并将每次的测量结果记录在表4。
4.3 数据收集
表4 重复性、再现性分析数据记录表
操作者
测量
时间
测量数据/单位： mm
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
陈秋凤
时段1
70.51
70.44
70.34
70.59
70.49
70.56
70.37
70.32
70.29
70.41
时段2
70.52
70.44
70.33
70.59
70.47
70.55
70.37
70.31
70.28
70.40
时段3
70.51
70.44
70.33
70.60
70.48
70.55
70.37
70.32
70.28
70.40
雷丽花
时段1
70.51
70.43
70.31
70.58
70.47
70.54
70.36
70.31
70.29
70.41
时段2
70.50
70.43
70.32
70.58
70.47
70.54
70.35
70.31
70.28
70.40
时段3
70.51
70.43
70.32
70.59
70.47
70.54
70.35
70.31
70.28
70.40
欧阳
丽敏
时段1
70.52
70.44
70.33
70.59
70.48

70.56
70.37
70.32
70.29
70.41
时段2
70.53
70.46
70.34
70.61
70.49
70.56
70.38
70.32
70.30
70.42
时段3
70.52
70.44
70.33
70.59
70.48
70.56
70.37
70.32
70.29
70.41
4.4 测量系统重复性、再现性分析可接受判定标准
4.4.1 量具重复性和再现性（R&R）的可接受性准则
4.4.1.1 重复性、再现性、GR&R低于10%的误差——测量系统良好，可以接受；
4.4.1.2 重复性再现性、GR&R在10至30%之间——根据应用的重要性，量具成本，维修的费用等，可以是可接受的。当判定是可以接受时应在分析报告中阐述接受理由，比如通过对比法、枚举法等方法进行分析，明确是从重要性、量具成本、维修费用等因素的哪些因素说明该测量系统可以接受；
4.4.1.3 重复性、再现性、GR&R大于30%的误差——测量系统不可接受。需分析各种问题加以改进，或更换新的量具。
4.4.2 有效分辨率ndc
4.4.2.1 数据分级数为1时，对过程参数及指数估计不可接受；
4.4.2.2 数据分级为2至4时，一般来讲对过程参数及指数的估计不可接受，只提供粗劣估计；
4.4.2.3 数据分级数5或更大时，可用于过程控制或过程分析。
4.5 数据分析

图3 中间检验_数显卡尺 重复性、再现性分析图

量具 R&R 研究 - 方差分析法

测试数据 的量具 R&R

量具名称: 数显卡尺（中间检验0-150mm）
研究日期: 2017-02-23
报表人: 张志超
公差: ±0.15mm
其他: ZEA-2014-H070

量具 R&R

方差分量
来源 方差分量 贡献率
合计量具 R&R 0.0000865 0.78
重复性 0.0000328 0.30
再现性 0.0000536 0.48
操作者 0.0000536 0.48
部件间 0.0109793 99.22
合计变异 0.0110657 100.00

研究变异 %研究变
来源 标准差(SD) (6 * SD) 异 (%SV)
合计量具 R&R 0.009298 0.055790 8.84
重复性 0.005731 0.034388 5.45
再现性 0.007322 0.043931 6.96
操作者 0.007322 0.043931 6.96
部件间 0.104782 0.628693 99.61
合计变异 0.105194 0.631163 100.00

可区分的类别数 = 15
4.5.1 从以上分析数据可知，测量系统GR&R误差为 8.84% ,小于 10% ，表明测量系统 可接受 。
4.5.2 可接受原因： / 。
4.5.3 测量系统有效分辨率ndc= 15 ,大于5，表明该测量系统 可用于过程控制 。
4.6 测量系统重复性、再现性分析结果判定
对 中间检验_数显卡尺 进行重复性、再现性分析，分析结果表明该测量系统重复性、再现性 可接受 。

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