SPC-X-R图-讲义(课堂PPT).ppt

,*,*,*,SPC(Statistical Process Control),统计制程管制,同心同德 诚信经营 持续创新 追求卓越,品质成就未来,细节决定成败,1,I,ndex,目录,1.SPC,产生,2.SPC,作用,3.SPC 常用术语解释,4.持续改进及统计过程控制概述,A,制程控制系统,B,变差的普通及特殊原因,C,局部措施和对系统采取措施,D,过程控制和过程能力,E,过程改进循环及过程控制,F,控制图,5.管制图的类型,6.管制图的选择方法,7.计量型数据管制图(X-R图),2,SPC,产生,工业革命以后，随着生产力的进一步发展，大规模生产的形成，,如何控制大批量产品质量,成为一个突出问题，单纯依靠事后检验的质量控制方法已不能适应当时经济发展的要求，必须改进质量管理方式。于是，英、美等国开始着手研究用统计方法代替事后检验的质量控制方法。,1924,年，美国的休哈特博士提出将,3Sigma,原理运用于生产过程当中，并发表了著名的“控制图法”，对过程变量进行控制，为统计质量管理奠定了理论和方法基础。,3,SPC,作用,1,、确保制程持续稳定、可预测。,2,、提高产品质量、生产能力、降低成本。,3,、为制程分析提供依据。,4,、区分变差的特殊原因和普通原因，作为采取局部措 施或对系统采取措施的指南。,4,SPC 常用术语解释,5,SPC 常用术语解释,6,持续改进及统计过程控制概述,A,制程控制系统,有反馈的过程控制系统模型,7,持续改进及统计过程控制概述,B,变差的普通及特殊原因,每件产品的尺寸与别的都不同,范围,范围,范围,范围,它们形成一个模型，若稳定，可以描述为一个分布,范围,范围,范围,分布可以通过以下因素来加以区分,位置,分布宽度,形状,或组合,8,持续改进及统计过程控制概述,B,变差的普通及特殊原因,普通原因,：是指过程在受控的状态下，出现的具有稳定的且可重复的,分布过程的变差的原因。普通原因表现为一个稳系统的偶,然原因。只有过程变差的普通原因存在且不改变时，过程,的输出才可以预测。,范围,时间,预测,目标值线,如果仅存在变差的普通原因，目标值线随着时间的推移，过程的输出形成一个稳定的分布并可预测。,9,特殊原因,：是指造成不是始终作用于过程的变差的原因，即当它们,出现时将造成（整个）过程的分布改变。只用特殊原因,被查出且采取措施,否则它们将继续不可预测的影响过程,的输出。,（通常也叫可查明原因）,持续改进及统计过程控制概述,B,变差的普通及特殊原因,范围,时间,预测,目标值线,如果存在变差的特殊原因，随着时间的推移，过程的输出不稳定。,10,持续改进及统计过程控制概述,C,局部措施和对系统采取措施,局部措施,通常用来消除变差的特殊原因,通常由与过程直接相关的人员实施,通常可纠正大约15%的过程问题,对系统采取措施,通常用来消除变差的普通原因,几乎总是要求管理措施，以便纠正,大约可纠正85%的过程问题,11,持续改进及统计过程控制概述,D,过程控制和过程能力,范围,不受控,（存在特殊原因）,时间,受控,（消除了特殊原因）,过程控制,范围,过程能力,受控但没有能力符合规范,（普通原因造成的变差太大）,时间,规范上限,受控且有能力符合规范,（普通原因造成的变差已减少）,规范下限,12,持续改进及统计过程控制概述,E,过程改进循环及过程控制,1,、分析过程,本过程应做什么？,会出现什么错误？,本过程正在做什么？,达到统计控制状态？,确定能力,2,、维护过程,监控过程性能,查找变差的特殊原因并采取措施,3,、改进过程,改进过程从而更好地理解普通原因变差，减少普通原因变差,P,D,C,A,P,D,C,A,P,D,C,A,13,持续改进及统计过程控制概述,F,控制图,控制上限,控制下限,中心限,1,、收集,收集数据并画在图上,2,、控制,根据过程数据计算实验控制限,识别变差的特殊原因并采取措施,3,、分析及改进,确定普通原因变差的大小并采取减小它的措施,重复这三个阶段从而不断改进过程,14,管制图的类型,15,管制图的选择方法,确定要制定控制图的特性,是计量型数据吗？,否,关心的是不合格品率？,否,关心的是不合格数吗？,是,样本容量是否恒定？,否,使用,np,或,p,图,使用,p,图,样本容量是否,桓,定？,使用,u,图,使用,c,或,u,图,是,性质上是否是均匀或不能按子组取样,例如：化学槽液、批量油漆等？,否,子组均值是否能很方便地计算？,否,使用中,位数图,是,使用单值图,X-MR,是,否,是,是,否,是否能方便地计算每个子组的,S,值？,否,使用,XR,图,使用,Xs,图,子组容量是否大于或等于,9,？,是,是,是,使用,XR,图,注：本图假设测量系统已经过评价并且是适用的。,16,计量型数据管制图(X-R图),人员,方法,材料,环境,设备,1 2 3 4 5 6,17,计量型数据管制图(X-R图),测量方法必须保证始终产生准确和精密的结果,不精密,精密,准确,不准确,18,计量型数据管制图(X-R图),1,、使用控制图的准备,1,）建立适合于实施的环境,a,、排除阻碍人员公正的因素,b,、提供相应的资源,c,、管理者支持,2,）定义过程,根据加工过程和上下使用者之间的关系，分析每个阶段的影响因素。,3,）确定待控制的特性，应考虑到：,顾客的需求,当前及潜在的问题区域,特性间的相互关系,4,）确定测量系统,a,、规定检测的人员、环境、方法、数量、频率、设备或量具。,b,、确保检测设备或量具本身的准确性和精密性。,5,）使不必要的变差最小,确保过程按预定的方式运行,确保输入的材料符合要求,恒定的控制设定值,注：,应在过程记录表上记录所有的相关事件，如：刀具更新，新的材料批次等，有利于下一步的过程分析。,19,计量型数据管制图(X-R图),以样本容量恒定的子组形式报告，子组通常包括,2-5,件连续的产品，并周性期的抽取子组。,注：应制定一个收集数据的计划，将其作为收集、记录及描图的依据。,选择子组大小，频率和数据,1,）子组大小：一般为,5,件连续的产品，仅代表单一刀具,/,冲头,/,过程流等。,数据仅代表单一刀具、冲头、模具等生产出来的零件，即一个单一的,生产流。,2,）子组频率：在适当的时间内收集足够的数据，这样子组才能反映潜在的变化，这,些变化原因可能是换班,/,操作人员更换,/,材料批次不同等原因引起。对,正在生产的产品进行监测的子组频率可以是每班,2,次，或一小时一次等。,3,）子 组 数：子组越多，变差越有机会出现。一般为25组，首次使用管制图选用35,组数据，以便调整。,2,、收集数据,20,计量型数据管制图(X-R图),3,、建立控制图及记录原始数据,21,两个控制图的纵坐标分别用于,X,和,R,的测量值，刻度选择：对于,X,图，坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应至少为子组均值（,X,）的最大值与最小值的差的,2,倍，对于,R,图坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应为初始阶段所遇到的最大极差（,R,）的,2,倍。,注：,一个有用的建议是将,R,图的刻度值设置为,X,图刻度值的,2,倍。,（例如：平均值图上,1,个刻度代表,0.01,英寸，则在极差图上,1,个刻度代表,0.02,英寸）,计量型数据管制图(X-R图),3-1,计算每个子组的均值（X）和极差R,每个子组：,X=,（,X1+X2+Xn,）,/n,R=Xmax-Xmin,注：,X,1,，,X,2,.Xn,为子组内的每个测量值。,n,表示子组的样本容量,3-2,选择控制图的刻度,22,下限 UCL,x=,X,-,A,2,R,(,均值,),；UCL,R,=D,3,R（极差）；,上限 UCL,x=,X+A,2,R,(,均值,),；UCL,R,=D,4,R（极差）；,计量型数据管制图(X-R图),3-3,计算控制限,3-3-2,计算控制限,3-3-1,计算平均极差（R）及过程均值（X）,R=（R1+R2+Rk）/k（K表示子组数量）,X=（X1+X2+Xk）/k,注,:,A2,D3,D4为常系数，决定于子组样本容量。其系数值见下表：,对于样本容量小于7的情况，LCLR可能技术上为一个负值。在这种情况下没有下控制限，这意味着对于一个样本数为6的子组，6个“同样的”测量结果是可能成立的,23,计量型数据管制图(X-R图),4,、过程控制分析,分析控制图的目的在于识别过程变化或过程均值不恒定的证据。（即其中之一或两者均不受控）进而采取适当的措施。,注1：R 图和 X 图应分别分析，但可进行比较，了解影响过程的特殊原因。,注2：因为子组极差或子组均值的能力都取决于零件间的变差，因此，首先应分析R图。,4-1 分析极差图上的数据点,4-1-1,超出控制限的点,a,出现一个或多个点超出任何控制限是该点处于失控状态的主要证据，应分析。,b,超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种：,b.1,控制限计算错误或描点时描错,b.2,零件间的变化性或分布的宽度已增大,(,即变坏）,b.3,测量系统变化（如：不同的检验员或量具）,c,有一点位于控制限之下，说明存在下列情况的一种或多种,c.1,控制限或描点时描错,c.2,分布的宽度变小（变好）,c.3,测量系统已改变（包括数据编辑或变换）,24,计量型数据管制图(X-R图),4,、过程控制分析,4-1-1,超出控制限的点,4-1 分析极差图上的数据点,不受控制的过程的极差（有超过控制限的点）,UCL,LCL,R,受控制的过程的极差,UCL,LCL,R,25,计量型数据管制图(X-R图),4,、过程控制分析,4-1-2,链,4-1 分析极差图上的数据点,有下列现象之表明过程已改变或出现某种趋势：,连续,7,点在平均值一侧；,连续,7,点连续上升或下降；,a,高于平均极差的链或上升链说明存在下列情况之一或全部：,a-1,输出值的分布宽度增加，原因可能是无规律的（例如：设备工作不正常或固定松动）,或是由于过程中的某要素变化（如使用新的不一致的原材料），这些问题都是常见的,问题，需要纠正；,a-2,测量系统的改变（如新的检验人或新的量具,),；,b,低于平均极差的链或下降链说明存在下列情况之一或全部：,b-1,输出值的分布宽度减小，好状态；,b-2,测量系统的改好；,注,1,：,当子组数（,n,）变得更小（,5,或更小）时，出现低于,R,的链的可能性增加，则,8,点或更多点组,成的链才能表明过程变差减小。,注2,：标注这些使人们作出决定的点，并从该点做一条参考线延伸到链的开始点，分析时应考虑开,始出现变化趋势或变化的时间。,26,计量型数据管制图(X-R图),4,、过程控制分析,4-1-2,链,4-1 分析极差图上的数据点,UCL,LCL,R,不受控制的过程的极差,（存在高于和低于极差均值的两种链）,UCL,R,LCL,不受控制的过程的极差（存在长的上升链）,27,计量型数据管制图(X-R图),4,、过程控制分析,4-1-3,明显的非随机图形,4-1 分析极差图上的数据点,a,非随机图形例子：明显的趋势；周期性；数据点的分布在整个控制限内，或子组内数据间有规律的,关系等。,b,一般情况，各点与,R,的距离：大约,2/3,的描点应落在控制限的中间,1/3,的区域内，大约,1/3,的点落在,其外的,2/3,的区域。,c,如果显著多余,2/3,以上的描点落在离,R,很近之处（对于,25,子组，如果超过,90%,的点落在控制限的,1/3,区域），则应对下列情况的一种或更多进行调查：,c-1,控制限或描点已计算错描错。,c-2,过程或取样方法被分层，每个子组系统化包含了从两个或多个具有完全不同的,过程均值的过程流的测量值（如：从几组轴中，每组抽一根来测取数据）。,c-3,数据已经过编辑（极差和均值相差太远的几个子组更改删除）。,28,计量型数据管制图(X-R图),4,、过程控制分析,4-1-3,明显的非随机图形,4-1 分析极差图上的数据点,d,如果显著少余2/3以上的描点落在离R很近之处（对于 25子组，如果有40%的点落在控制限的1/3区,域），则应对下列情况的一种或更多进行调查：,d-1,控制限或描点计算错或描错。,d-2,过程或取样方法造成连续的分组中包含了从两个或多个具有明显不同的变化性的过程流的测量,值（如：输入材料批次混淆）。,注：如果存在几个过程流，应分别识别和追踪。,4-1-4,识别并标注所有特殊原因（极差图）,a,对于极差数据内每一个特殊原因进行标注，作一个过程操作分析，从而确定该原因并改进，防止,再发生。,b,应及时分析问题，例如：出现一个超出控制限的点就立即开始分析过程原因,。,29,计量型数据管制图(X-R图),4,、过程控制分析,4-2-1,超出控制限的点,4-2,分析均值图上的数据点,a,一点超出任一控制限通常表明存在下列情况之一或更多：,a-1,控制限或描点时描错,a-2,过程已更改，或是在当时的那一点（可能是一件独立的事件）或是一种趋势的一部分。,a-3,测量系统发生变化（例如：不同的量具或,QC,）,受控制的过程的均值,UCL,LCL,X,不受控制的过程的均值（有一点超过控制限）,X,LCL,UCL,30,计量型数据管制图(X-R图),4,、过程控制分析,4-2-2,链,4-2,分析均值图上的数据点,有下列现象之表明过程已改变或出现某种趋势：,连续,7,点在平均值一侧或,7,点连续上升或下降,a,与过程均值有关的链通常表明出现下列情况之一或两者。,a-1,过程均值已改变,a-2,测量系统已改变（漂移，偏差，灵敏度）,注：标注这些使人们作出决定的点，并从该点做一条参考线延伸到链的开始点，分析时应考虑开始出现变化趋势或变化的时间。,31,计量型数据管制图(X-R图),4,、过程控制分析,4-2-1,链,4-2,分析均值图上的数据点,不受控制的过程的均值（出现两条高于和低于均值的长链）,UCL,X,LCL,不受控制的过程的均值（长的上升链）,UCL,X,LCL,32,计量型数据管制图(X-R图),4,、过程控制分析,4-2-3,明显的非随机图形,4-2,分析均值图上的数据点,a,非随机图形例子：明显的趋势；周期性；数据点的分布在整个控制限内，或子组内数据间有规,律的关系等。,b,一般情况，各点与,X,的距离：大约,2/3,的描点应落在控制限的中间,1/3,的区域内，大约,1/3,的点,落在其外的,2/3,的区域；,1/20,的点应落在控制限较近之处（位于外,1/3,的区域）。,c,如果显著多余,2/3,以上的描点落在离,R,很近之处（对于,25,子组，如果超过,90%,的点落在控制限的,1,/3,区域），则应对下列情况的一种或更多进行调查：,c-1,控制限或描点计算错描错,c-2,过程或取样方法被分层，每个子组系统化包含了从两个或多个具有完全不 同的过程均值,的过程流的测量值（如：从几组轴中，每组抽一根来测取数据。,c-3,数据已经过编辑,(,极差和均值相差太远的几个子组更改删除）,33,计量型数据管制图(X-R图),4,、过程控制分析,4-2-3,明显的非随机图形,4-2,分析均值图上的数据点,d,如果显著少余2/3以上的描点落在离R很近之处（对于25子组，如 果有40%的点落在控制限的,1/3区域），则应对下列情况的一种或更多进行调查：,d-1,控制限或描点计算错描错。,d-2,过程或取样方法造成连续的分组中包含了从两个或多个不同的过程流的测量值（这可能,是由于对可调整的过程进行过度 控制造成的，这里过程改变是对过程数据中随机波动,的响应）。,注：如果存在几个过程流，应分别识别和追踪。,34,计量型数据管制图(X-R图),4,、过程控制分析,4-2-3,明显的非随机图形,4-2,分析均值图上的数据点,UCL,X,LCL,均值失控的过程（点离过程均值太近）,UCL,X,LCL,均值失控的过程（点离控制限太近）,35,计量型数据管制图(X-R图),4,、过程控制分析,4-2-4,识别并标注所有特殊原因（均值图）,4-2,分析均值图上的数据点,a,对于均值数据内每一个显示处于失控状态的条件进行一次过程操作分析，从而确定产生特,殊原因的理由，纠正该状态，防止再发生。,b,应及时分析问题,例如：出现一个超出控制限的点就立即开始分析过程原因。,36,计量型数据管制图(X-R图),4,、过程控制分析,4-3,制程能力分析,如果已经确定一个过程已处于统计控制状态，还存在过程是否有能力满足顾客需求的问题时；一般讲，控制状态稳定，说明不存在特殊原因引起的变差，而能力反映普通原因引起的变差，并且几乎总要对系统采取措施来提高能力，过程能力通过标准偏差,来评价。,规范下限,LCL,规范上限,UCL,范围,带有不同水平的变差的能够符合规范的过程（所有的输出都在规范之内）,LCL,UCL,范围,不能符合规范的过程（有超过一侧或两側规范的输出）,LCL,UCL,范围,LCL,UCL,范围,37,4-3-1 过程的标准偏差,计量型数据管制图(X-R图),4,、过程控制分析,4-3,制程能力分析,=R/d2,R,是子组极差的平均值，,d2,是随样本容量变化的常数,注：只有过程的极差和均值两者都处于受控状态，则可用估计的过程标准偏差来评价过程能力。,38,计量型数据管制图(X-R图),4,、过程控制分析,4-3,制程能力分析,标准偏差与极差的关系（对于给定的样本容量,平均极差-R越大,标准偏差-越大）,X,范围,范围,X,X,范围,R,R,R,39,UCLX,3,4-3-2,计算过程能力,计量型数据管制图(X-R图),4,、过程控制分析,4-3,制程能力分析,过程能力,是指按标准偏差为单位来描述的过程均值和规格界限的距离，用,Z,来表示。,A,、对于单边容差，计算：,Z=(USL-X)/,或,Z=(X-LSL)/,注：式中的SL=规范界限，X=测量的过程均值，=估计的过程标准偏差。,B、对于双向容差，计算,：,Zusl=(USL-X)/Zlsl=(X-LSL)/,Z=Min Zusl;Zlsl,Zmin 也可以转化为能力指数Cpk:,Cpk=Zmin/3=CPU(即 ),或CPL(即 )的最小值。,3,X LCL,式,中:UCL 和 LCL为工程规范上、下，为过程标准偏差,注：Z 值为负值时说明过程均值超过规范。,40,4-3-3,评价过程能力,计量型数据管制图(X-R图),4,、过程控制分析,4-3,制程能力分析,当 Cpk1 说明制程能力差，不可接受。,当 1Cpk1.33,说明制程能力可以，但需改善。,当 1.33Cpk1.67,说明制程能力正常。,41,Thank you,42,