X射线荧光分析仪有害物质分析应用讲座 精工盈司电子公司.pdf

精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司X X射线荧光分析仪有害物质分析应用讲座射线荧光分析仪有害物质分析应用讲座精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司关于关于关于关于X X X X射线荧光射线荧光射线荧光射线荧光精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司什么是什么是什么是什么是X X X X射线？射线？射线？射线？?德国人伦琴（年）发现的一种电磁波X射线的特性?物质的透过能力?物质的吸收,及相互作用能力?物质的散乱能力精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司参考：http:/ccwww.kek.jp/public/class/index.html电磁波的波长电磁波的波长电磁波的波长电磁波的波长分布分布分布分布精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司原子的模型原子的模型原子的模型原子的模型各轨道存在电子的最大数量是固定的、电子的分布是从内层轨道按顺序向外分布精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司KLMKML激发X射线激发X射线KLMKML光電子光電子E Epepe=E-=E-K K線蛍光線蛍光E EX-rayX-ray=K K-L L(a)(b)X X X X射线萤光的发生射线萤光的发生射线萤光的发生射线萤光的发生KLMKML(c)(a)照射X射线(b)放出电子(c)电子能阶变迁产生X射线萤光精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司X X X X射线萤光的种类射线萤光的种类射线萤光的种类射线萤光的种类KLMKMLK線K線L線即使同样的元素也会发生有不同的能量的X射线萤光精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司特性特性X X射线的能量射线的能量13Al铝1.4871.557-14Si硅1.7401.836-17Cl氯2.6222.816-24Cr铬5.4125.4125.9470.573-26Fe铁6.4007.0580.705-28Ni镍7.4728.2650.8520.869-29Cu铜8.0428.9040.9300.950-33As砷10.53210.53211.7241.2821.317-34Se硒11.20812.4941.3791.419-35Br溴11.90811.90813.2891.4801.526-46Pd钯21.12323.8092.8383.021-47Ag银22.10324.9322.9833.185-48Cd镉23.10823.10826.0843.1333.355-51Sb锑26.27229.7103.6043.897-79Au金68.13077.8439.70411.4812.12180Hg汞70.10780.1039.9809.98011.8532.19582Pb铅74.16084.77510.54212.62612.6262.34383Bi铋76.25387.16810.82813.0262.420能量（）原子序号元素记号中文名精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司仪器构成仪器构成仪器构成仪器构成X X射线管球射线管球次次滤波器滤波器X X X X-ray Stationray Stationray Stationray Station检测器检测器波形分析器波形分析器波形分析器波形分析器准直器准直器彩色摄像头彩色摄像头样品样品精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司样品的测定样品的测定样品的测定样品的测定精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司使用使用使用使用X X X X射线荧光可以测定的物质有射线荧光可以测定的物质有射线荧光可以测定的物质有射线荧光可以测定的物质有Cd（镉）,Pb（铅）,Hg（水银）,Cr（铬）,Br（溴）可以知道元素是否存在因此请请注意（不相等）（不相等）Cr的测定值Br的测定值六价铬的含有量PBB,PBDE的含有量精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司定量分析的应用定量分析的应用定量分析的应用定量分析的应用使用在X射线荧光中的定量方法使用在X射线荧光中的定量方法标准曲线法标准曲线法根据实验事实的方法基本参数基本参数(FP)法(FP)法从理论推定组成的方法元素少的样品元素元素的X射线荧光元素多的样品元素的X射线荧光含元素A越多的话，元素A的X射线萤光也越强无论哪一种方法为了定量都有其前提精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司多层构造的样品均一的样品X X X X射线荧光分析的前提射线荧光分析的前提射线荧光分析的前提射线荧光分析的前提(1)(1)(1)(1)样品中的元素分布均一样品中的元素分布均一得到的X射线荧光的强度不同得到的X射线荧光的强度不同精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司X X X X射线荧光分析的前提射线荧光分析的前提射线荧光分析的前提射线荧光分析的前提(2)(2)(2)(2)必须知道共存元素的全部情报必须知道共存元素的全部情报相同的浓度（元素数）在共存元素的种类发生变化时、得到的强度也会发生变化强度大强度小对策）同时检查共存元素的种类）输入共存元素的情报运用基本参数基本参数法使用标准物质制作标准曲线精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司测定的方法测定的方法测定的方法测定的方法根据测定对象的不同有必要改变测定方法根据测定对象的不同有必要改变测定方法简单的金属样品简单的金属样品（铝合金、镁合金除外除外）除此之外（塑料、含有金属的复合部品等）除此之外（塑料、含有金属的复合部品等）使用金属测定用的条件（metal.bft/M1000.bfp等）使用金属测定用的条件（metal.bft/M1000.bfp等）使用塑料测定用的条件（Cd,Pb.bcc/P1000.bcc等）使用塑料测定用的条件（Cd,Pb.bcc/P1000.bcc等）（标准曲线法标准曲线法）（基本参数法基本参数法）精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司金属样品的测定金属样品的测定金属样品的测定金属样品的测定?因为共存元素的影响较强、使用标准曲线测因为共存元素的影响较强、使用标准曲线测定比较困难定比较困难?标准物质的准备困难标准物质的准备困难根据基本参数根据基本参数（）法进行测定）法进行测定在测定中对含有的元素在测定中对含有的元素进行自动检查进行自动检查法适用的理由法适用的理由精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司 射线源 射线源 荧荧 光 X光 X 射射线线 I I(pipi)1 1 样品表面样品表面 2 2 d dX X 射线源射线源 螢螢光光 X X 射线射线 I(I(sisi)1 1 样品表面样品表面 2 2 X X1 1 dXdX1 1 dXdX2 2 X X2 2 図次荧光X射线図次荧光X射线根据构成元素的讯息计算出的荧光X射线强度和得到的荧光X射线强度最好一致。如果样品在射线分析中是均一射线分析中是均一的、分析线强度是以样品的组成和基础的常数（基本参数基本参数）的函数进行记述的。任何组成的样品产生的分析线强度、可以通过这个基础的常数进行计算。最好决定使用两者基本一致的组成法是什么法是什么法是什么法是什么？精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司计算出关于检测出的各元素是作为纯物质的X射线的强度根据测定得出的强度和计算得出的强度的比率寻求浓度的初期值计算出根据所得浓度进行2次激励效果和补正重叠波峰之后的X射线的强度使用标准物质的场合得出补正系数根据测定得出的强度和计算得出的强度的比率进行浓度补正规格化100%是否收缩了？计算完成不是是FPFPFPFP法的分析法的分析过过程程法的分析法的分析过过程程精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司01020304050600100200300400500600濃度蛍光X線強度蛍光X線(keV)蛍光X線強度(cps)未知样品的强度標準物質未知样品金属以外样品的测定金属以外样品的测定金属以外样品的测定金属以外样品的测定使用标准曲线进行测定使用标准曲线进行测定标准曲线标准曲线标准物质浓度和X射线强度的关系标准物质浓度和X射线强度的关系以标准曲线为基础来计算出样品的浓度以标准曲线为基础来计算出样品的浓度精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司根据标准曲线法的测定值是相对应的根据标准曲线法的测定值是相对应的根据标准曲线法的测定值是相对应的根据标准曲线法的测定值是相对应的【标准曲线法】以标准物质为基准标准物质为基准寻求浓度的方法寻求浓度的方法在使用塑料的标准物质的场合,在使用塑料的标准物质的场合,不能说塑料以外的样品的测定值是正确的不能说塑料以外的样品的测定值是正确的将测定玻璃、油墨、Al合金等场合的值认为是将测定玻璃、油墨、Al合金等场合的值认为是参考値参考値（参考：为什么不使用FP法?）与铁系列合金、铜系列合金等相比共存元素的影响(还是)与树脂相近在大气中测定的场合、有无法检测出主成分元素的可能性精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司在实际样品测定中的注意点在实际样品测定中的注意点在实际样品测定中的注意点在实际样品测定中的注意点精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司复合部品复合部品复合部品复合部品首先就直接测定、对有无进行判断首先就直接测定、对有无进行判断塑料金属射线照射方向射线照射方向如果是直接测定的场合、请注意样品的放置方法如果是直接测定的场合、请注意样品的放置方法射线无法达到树脂射线容易到达金属从金属中反射出的X射线荧光容易反射出表面精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司电线等的被覆材料电线等的被覆材料电线等的被覆材料电线等的被覆材料内部只是金属线的场合内部只是金属线的场合基本上就直接测定基本上就直接测定由于内部线的情报同时也会被接收、所以取得的值不正确由于内部线的情报同时也会被接收、所以取得的值不正确（有无判定）（有无判定）为了提高像这种部品的正确为了提高像这种部品的正确性、有必要只测定外部的被性、有必要只测定外部的被覆材料覆材料精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司电线等的被覆材料电线等的被覆材料电线等的被覆材料电线等的被覆材料(2)(2)(2)(2)中间包有细线的场合中间包有细线的场合切下横断面,从断面的方向进行测定测定上下2侧（如果比射线的照射径大的场合，侧面4处以上）尽可能不破坏的方法破坏,但是是简便的方法精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技上海）有限公司电线等的被覆材料电线等的被覆材料电线等的被覆材料电线等的被覆材料(3)(3)(3)(3)在被覆的内侧有使用作为保护层的金属的场合在被覆的内侧有使用作为保护层的金属的场合由于是金属无法得到内部的情报、所以在测定内部时、有必要由于是金属无法得到内部的情报、所以在测定内部时、有必要去掉被覆材料和金属保护层去掉被覆材料和金属保护层或者是测定断面或者是测定断面金属保护层金属保护层精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司树脂部分厚度较厚的场合树脂部分厚度较厚的场合树脂部分厚度较厚的场合树脂部分厚度较厚的场合如果树脂部分太厚、从金属中反射出的如果树脂部分太厚、从金属中反射出的X射线荧光会被树脂层吸收、所以无法射线荧光会被树脂层吸收、所以无法检测出来检测出来如果树脂部分的厚度在如果树脂部分的厚度在2mm以上的场以上的场合、去掉树脂只测定金属部分合、去掉树脂只测定金属部分金属金属树脂树脂精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司基板基板基板基板中间含有基板的样品中间含有基板的样品中间含有基板的样品中间含有基板的样品注意基板上的注意基板上的现有部品现有部品有可能将陶制物质部品的有可能将陶制物质部品的Pb等一起检测出来等一起检测出来（这个是（这个是RoHS的对象外）的对象外）请将基板取下后进行测定请将基板取下后进行测定在测定基板时、尽可能测定现有部品少的地方在测定基板时、尽可能测定现有部品少的地方精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司涂饰涂饰涂饰涂饰被镀的样品被镀的样品被镀的样品被镀的样品素材素材从素材产生的X射线荧光、如果不穿过镀层就无法到达检测器。在穿过镀层的过程中会被吸收比实际上有少计算的倾向（如果太厚也会被完全吸收）镀层镀层（也有可能无法检测）由于素材和表面层的情报同时也会被接收、请作为参考值由于素材和表面层的情报同时也会被接收、请作为参考值镀层的场合,因为有以下的现象出现，所以剥离后再测定素材镀层的场合,因为有以下的现象出现，所以剥离后再测定素材精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司泡沫聚苯乙烯等的包装材料泡沫聚苯乙烯等的包装材料泡沫聚苯乙烯等的包装材料泡沫聚苯乙烯等的包装材料由于缝隙多、所以体积大也无法得到强度由于缝隙多、所以体积大也无法得到强度尽量重叠增加厚度,加强压力尽量使缝隙靠紧尽量重叠增加厚度,加强压力尽量使缝隙靠紧用钳子等夹紧压缩泡沫聚苯乙烯泡沫聚苯乙烯Air Packing重叠增加厚度再将空气除去再重叠增加厚度精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司金属金属金属金属塑料以外的样品塑料以外的样品塑料以外的样品塑料以外的样品（1）玻璃玻璃使用塑料用的测定条件由于主要成分是轻元素、所以将测定结果认为是参考值（2）墨汁墨汁油等的液体样品油等的液体样品使用Myler杯使用塑料用的测定条件、但是将结果作为参考值（由于受到溶剂的影响）样品量在杯子的一半以上为基准精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司金属金属金属金属塑料以外的样品塑料以外的样品塑料以外的样品塑料以外的样品（3）纸类（4）印刷面的测定印刷面的测定使用塑料用的测定条件剪下后重叠等、增加厚度（在1mm以上最为理想）没有印刷面印刷面时可以认为是塑料进行测定由于下面的纸的情报同时会也被接收、所以将测定值认为是参考值在分析印刷用的墨汁颜料时使用ICP-OES等进行分析比较好精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司金属金属金属金属塑料以外的样品塑料以外的样品塑料以外的样品塑料以外的样品（5）较难判断是否是金属的样品在不知道涂饰等素材的素性的场合、关于样品的情报不足的场合等1.1.假定不是金属的测定假定不是金属的测定?使用塑料用的条件2.2.涂饰等表面经过处理的场合、去除涂饰等表面经过处理的场合、去除表面处理再度测定表面处理再度测定3.3.将测定结果认为是参考值将测定结果认为是参考值精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司无铅焊锡中的铅无铅焊锡中的铅无铅焊锡中的铅无铅焊锡中的铅(1)(1)(1)(1)(1)基板等在与部品连接时使用的焊锡基板等在与部品连接时使用的焊锡(2)镀无铅焊锡镀无铅焊锡由于基板和相连接的部品的情报同时也会被接收、所以无法正确测定。为了提高正确性、有必要只去掉焊锡进行测定。请避开有陶制物质部品的地方。厚度为10程度和浓度不足3000ppm程度的场合,测定出本体将会变得困难。由于素材的情报同时也会被接收、所以无法正确测定。(1)(2)精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司无铅焊锡中的铅无铅焊锡中的铅无铅焊锡中的铅无铅焊锡中的铅(2)(2)(2)(2)(3)溶解中的焊锡Pb小Pb大从溶解中取出后、在冷却过程中成分将会慢慢地变得不均一。因此、根据测定地方的不同测定值也会发生变化。还有、只能得到表面数为10程度的情报,请注意。Pb小Pb大在固定时尽可能薄的摊开切得更小粉碎得更小为了得到更平均的情报精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司如何判断如何判断如何判断如何判断有有有有或或或或无无无无精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司定性分析的原理定性分析的原理定性分析的原理定性分析的原理次X射线次X射线次X射线元素组成的样品元素组成的样品元素和元素组成的样品元素的X射线荧光元素的X射线荧光元素和元素的X射线荧光当X射线照射在元素和元素组成的样品上时、虽然会产生元素和元素的X射线荧光、但是由于两者所持有的能量不同、所以可以辨别。精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司波形的识别波形的识别波形的识别波形的识别竖轴：X射线强度X射线强度(cps,count per second)横轴：能量能量(keV)精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司定性的方法定性的方法定性的方法定性的方法显示线（Zn的X射线荧光的能源的表示）由于每个元素的X射线荧光的能量是固定的、所以当波形的波峰位置和显示线的位置一致时、就可以知道那个元素。如果可以看到复数的一致、可以说大致上是准确的。选择Zn精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司1 1 1 1次滤波器的作用次滤波器的作用次滤波器的作用次滤波器的作用使用1次滤波器时、可以根据散乱X射线降低背景。由于降低了背景可以清楚地看到被掩盖的波峰。Pb用滤波器Pb用滤波器Cd用滤波器用滤波器无滤波器无滤波器精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司Cd-KCd-K镉镉RoHSRoHSRoHSRoHS对象元素的波峰的位置对象元素的波峰的位置对象元素的波峰的位置对象元素的波峰的位置(1)(1)(1)(1)在使用Cd用滤波器测定时确认在使用Cd用滤波器测定时确认确认波峰在图中的蓝色线的位置上这2根中只有右侧的位置上没有出现波峰锡和锑的量多时判断有点困难精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司水銀水銀溴溴鉛鉛Hg-LHg-LBr-KBr-KPb-LPb-LRoHSRoHSRoHSRoHS对象元素的波峰的位置对象元素的波峰的位置对象元素的波峰的位置对象元素的波峰的位置(2)(2)(2)(2)在使用Pb用滤波在使用Pb用滤波器测定时确认器测定时确认确认任何元素的波峰都出现在图中的蓝色线的位置上这2根中只有右侧的位置上没有出现波峰溴的波峰在左侧的蓝色线的位置上比较大水银和铅的波峰的高度大致上相同（比左侧高几倍的程度也有）精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司铬铬在使用Cr用滤波器时测定确认在使用Cr用滤波器时测定确认确认波峰在图中的蓝色线的位置上铬的波峰在左侧(Cr-K)的蓝色线的位置上比较大样品中含有Mn时无法确认 Cr-KCr-KCr-KRoHSRoHSRoHSRoHS对象元素的波峰的位置对象元素的波峰的位置对象元素的波峰的位置对象元素的波峰的位置(3)(3)(3)(3)精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司有有有有和和和和无无无无的界限是什么的界限是什么的界限是什么的界限是什么？思考方法背景的强度也会发生变动从统计上看、是否可以区别背景可以得到背景的统计变动的倍（）以上的强度的场合有有（可能性高）背景精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司干扰波峰干扰波峰干扰波峰干扰波峰?由于次射线（照射射线）产生的波峰由于次射线（照射射线）产生的波峰?弹性弹性散乱（Ravleigh散乱）?非弹性非弹性散乱（Compton散乱）?由于检测器产生的波峰由于检测器产生的波峰?Escape波峰波峰?Sum波峰波峰?由于样品的构造产生的由于样品的构造产生的?回折波峰（基本上不需考虑）回折波峰（基本上不需考虑）?其它的元素的波峰其它的元素的波峰在进行定性分析时会出现干扰的波峰、有如下的可能性。精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司弹弹弹弹性散乱性散乱性散乱性散乱和非弹和非弹和非弹和非弹性散乱性散乱性散乱性散乱Ravleigh散乱Ravleigh散乱（弹性散乱）（弹性散乱）Compton散乱Compton散乱（非弹性散乱）（非弹性散乱）用Mo管球测定例有弹性散乱(Compton散乱)和非弹性散乱(Ravleigh散乱)2种种类精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司EscapeEscape波峰和波峰和波峰和波峰和SumSum波峰波峰波峰波峰Fe K(6.4keV)Fe KSum.(12.8 keV)Fe KEsc.(4.6keV)1.8keV（相当于Si K吸收端的能量）精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司镉镉Cd-KCd-K容易混淆的波峰和区别方法容易混淆的波峰和区别方法容易混淆的波峰和区别方法容易混淆的波峰和区别方法(1)(1)(1)(1)PbSum波峰(是否有检测出大的Pb波峰？）AuSum波峰（是否有检测出大的Au波峰？）Sn/SbEscape波峰(是否有检测出大的Sn/Sb波峰?)出现在附近的波峰因为大致上重叠所以较难判断出现在附近的波峰 因为没有完全重叠所以较易判断BrSum波峰(是否有检测出大的Br波峰?)根据Sn的背景（是否有检测出大的Sn波峰？）精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司鉛鉛Pb-LPb-L容易混淆的波峰和区别方法容易混淆的波峰和区别方法容易混淆的波峰和区别方法容易混淆的波峰和区别方法(2)(2)(2)(2)出现在附近的波峰的附近是否有波峰出现？出现在附近的波峰的附近是否也有相同高度的波峰？As-K（在塑料中出现的可能性低）Bi-L（因为与Pb的显示线的位置有些偏差所以较易判断）FeSum波峰（测定的样品是否是含有多量铁成分的样品？）Bi-L（因为与Pb的显示线的位置有些偏差所以较易判断）精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司Hg-LHg-L水銀水銀容易混淆的波峰和区别方法容易混淆的波峰和区别方法容易混淆的波峰和区别方法容易混淆的波峰和区别方法(3)(3)(3)(3)出现在附近的波峰的附近是否有波峰出现？Br-K（因为完全重叠所以用在上是否有波峰来进行判断）Au-L（因为与Hg的显示线的位置有些偏差所以较易判断）出现在附近的波峰的附近是否也有相同高度的波峰？Ge-K因为与Hg的显示线的位置有些偏差所以较易判断）Au-L（因为与Hg的显示线的位置有些偏差所以较易判断）精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司Br-KBr-K溴溴容易混淆的波峰和区别方法容易混淆的波峰和区别方法容易混淆的波峰和区别方法容易混淆的波峰和区别方法(4)(4)(4)(4)Hg-L（是否有检测出Hg-L？）Au-L（因为与Br的显示线的位置有些偏差所以较易判断）出现在附近的波峰的附近是否有波峰出现？Rb-K（因为完全重叠所以用在上是否有波峰来进行判断）Au-L（是否有检测出Au-L？）Y-Escape波峰（是否有检测出大的Y波峰？）出现在附近的波峰的附近是否有大的波峰？精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司Cr-KCr-K铬铬V-K（无Ti-K、是否有检测出V-K？）Fe-K的 Escape波峰(是否有很大的Fe的波形存在)Ba-L（是否有检测出Ba-K,L,L？）这个波峰的有无是看用Cd用滤波器测定的背景容易混淆的波峰和区别方法容易混淆的波峰和区别方法容易混淆的波峰和区别方法容易混淆的波峰和区别方法(5)(5)(5)(5)出现在附近的波峰 通过干扰元素的其它波峰的有无进行判断精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司关于荧光关于荧光关于荧光关于荧光X X X X射线的测定事例射线的测定事例射线的测定事例射线的测定事例精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司测定事例测定事例测定事例测定事例（纯塑料纯塑料纯塑料纯塑料）?塑料部品塑料部品塑料部品塑料部品Pb测定样品后出现的波形测定顺序测定样品：检测出Pb使用ICP进行分析测定元素测定元素荧光荧光X X射线的测定值射线的测定值：的测定值的测定值：PbPb538.3ppm538.3ppm524ppm524ppm定量结果测定样品精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司测定事例测定事例测定事例测定事例（被镀金属部品被镀金属部品被镀金属部品被镀金属部品）?金属部品（金属部品（镀镀镀镀品）：品）：镀有含有镀有含有镀有含有镀有含有CdCdCdCd的的的的事例事例事例事例测定测定元素元素荧光射线的测定值荧光射线的测定值:测定样品整体测定样品整体荧光射线的测定值荧光射线的测定值：除去镀层的样品测定除去镀层的样品测定参考：参考：测定值测定值：测定样品整体测定样品整体CdCd5879ppm5879ppm无法检测出来无法检测出来441ppm441ppm测定顺序样品直接测定：检测出Cd除去镀层的样品：检测出Cd定量结果样品直接测定后的波形除去镀层测定后的波形测定除去镀层样品测定样品ICP测定因为在有镀的状态下测定,所以浓度降低。因为X射线测定从镀品中射出来的X射线较强,所以测定值升高。CdCd精工盈司电子科技上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司测定事例测定事例测定事例测定事例6 6 6 6金属部品金属部品金属部品金属部品(无无无无表面表面表面表面处理处理处理处理)?金属部品（金属部品（无无无无表面表面表面表面处理处理处理处理）中含有中含有中含有中含有PbPbPbPb的的的的事例事例事例事例测定顺序样品直接测定：检测出Pb使用ICP分析测定测定元素元素荧光荧光X X射线测定值射线测定值:测定值测定值：PbPb30320ppm30320ppm29870ppm29870ppm定量结果测定样品样品直接测定的波峰精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司测定事例测定事例测定事例测定事例7 7 7 7金属部品金属部品金属部品金属部品(无无无无表面表面表面表面处理处理处理处理)?金属部品（金属部品（无无无无表面表面表面表面处理处理处理处理）中含有中含有中含有中含有CdCdCdCd的的的的事例事例事例事例测定顺序样品直接测定：检测出Cd使用ICP分析测定测定元素元素荧光荧光X X射线测定值射线测定值：测定值测定值：CdCd95ppm95ppm88ppm88ppm定量结果测定样品样品的波形精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司测定事例测定事例测定事例测定事例8 8 8 8（被镀被镀被镀被镀金属部品）金属部品）金属部品）金属部品）?金属部品（金属部品（镀镀品）：品）：铁铁铁铁（Fe)Fe)素材中含有素材中含有素材中含有素材中含有PbPb的的的的事例事例测定顺序样品直接测定：检测出 Pb除去镀层的样品：检测出Pb使用ICP分析测定测定元素元素荧光射线的测定荧光射线的测定值值:测定样品整体测定样品整体荧光射线的测荧光射线的测定值定值：除去镀层除去镀层的样品测定的样品测定测定值测定值：测定样品整体测定样品整体PbPb1349ppm1349ppm2783ppm2783ppm2498ppm2498ppm定量结果镀品有必要将镀层除去后再测定镀品有必要将镀层除去后再测定测定样品样品直接测定的波形除去镀层测定后的波形精工盈司电子科技（上海）有限公司精工盈司电子科技（上海）有限公司测定事例测定事例测定事例测定事例8 8 8 8（被镀被镀被镀被镀金属部品）金属部品）金属部品）金属部品）?金属部品（金属部品（镀镀镀镀品）：品）：黄黄黄黄铜素铜素铜素铜素材材材材中含有的中含有的中含有的中含有的PbPb的的的的事例事例事例事例测定顺序样品直接测定：检测出Pb除去镀层的样品：检测出Pb使用ICP分析测定测定元素元素荧光射线的测定荧光射线的测定值值:测定样品整体测定样品整体荧光射线的测定荧光射线的测定值值：除去镀层的样除去镀层的样品测定品测定测定值测定值：测定样品整体测定样品整体PbPb4431ppm4431ppm29496ppm29496ppm30398ppm30398ppm定量结果 镀品有必要将镀层除去后再测定镀品有必要将镀层除去后再测定 测定样品样品直接测定的波形除去镀层测定后的波形