T_CI 101-2023 激光照明用稀土荧光陶瓷可靠性 性能的试验方法.pdf

ICS 77.120.99CCS L90T/CI 101-2023激光照明用稀土荧光陶瓷可靠性性能的试验方法Test methods of reliability properties of rare earth ceramicphosphors for laser-based lighting2023-7-17 发布2023-7-17 实施中国国际科技促进会发 布CI团体标准T/CI 101-2023前言本文件按照 GB/T1.1-2020标准化工作导则第 1 部分：标准化文件的结构和起草规则起草。某些内容可能涉及专利，本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本文件由上海应用技术大学提出。本文件由中国国际科技促进会归口。本文件主起草单位：上海应用技术大学、江苏师范大学、中国科学院上海光学精密机械研究所、上海理工大学、南京光宝光电科技有限公司、烟台华创智能装备有限公司、天长市富安电子有限公司、广东中科半导体微纳制造技术研究院、浙江绿龙新材料有限公司、浙江安贝新材料股份有限公司、惠创科技（台州）有限公司、广东皇智照明科技有限公司、上海亮威照明科技股份有限公司、浙江亿米光电科技有限公司、江苏厚睦莱照明科技有限公司、西双版纳承启科技有限公司、苏州璋驰光电科技有限公司、江苏锡沂高新材料产业技术研究院有限公司、徐州鹰格电子技术有限公司、浙江友邦集成吊顶股份有限公司、宁波朗格照明电器有限公司、上海英植科技有限公司、上海侬业美科技发展有限公司、协鑫高科纳米新材料（徐州）有限公司。本文件主要起草人：李杨、李月锋、邹军、杨波波、张乐、康健、范金太、林辉、董永军、苏晓锋、赵巍、林森茂、李文博、陈俊锋、王剑勤、徐欢、钱麒、徐华、汤雄、杨磊、杨忠、陈启、冯英俊、陈浩、吴晓东、林圣全、杨雪舟、沈焱、徐红留、魏强。本文件是首次发布。T/CI 101-20231激光照明用稀土荧光陶瓷可靠性性能的试验方法1.范围本文件规定了激光照明用稀土荧光陶瓷可靠性性能的一般试验方法。本文件适用于激光照明用稀土荧光陶瓷的可靠性性能试验，为了进行产品可靠性的验证，可根据产品的特性和使用环境，选择本标准中适宜的可靠性试验项目。2.规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本文件。IEC 60825激光安全标准GB/T 10320激光设备和设施的电气安全GB/T 1185光学零件表面疵病GB/T 15313激光术语GB/T 15676稀土术语GB/T 2423.10 环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 Fc:振动(正弦)GB/T 2423.22 环境试验 第 2 部分：试验方法 试验 N：温度变化GB/T 2424.5环境试验 第 3 部分：支持文件及导则 温度试验箱性能确认GB/T 31358半导体激光器总规范GB/T 33721LED 灯具可靠性试验方法GB/T 40563氟化物红色荧光粉GB/T 5838.1荧光粉 第 1 部分：术语GB/T 5838.3荧光粉 第 3 部分：性能试验方法GB/T 6569精细陶瓷弯曲强度试验方法GB 7247.1激光产品的安全 第 1 部分：设备分类、要求3.术语和定义除以下术语外，GB/T 5838.1、GB/T 15313、GB/T 33721 和 GB/T 15676 的术语和定义适用于本文件。3.1激光照明光源基于激光二极管（LD）技术的照明用光源。3.2T/CI 101-20232激光荧光陶瓷在激光二极管（LD）发出的光激发下能发光的无机陶瓷材料。3.3荧光陶瓷可靠性荧光陶瓷在规定的条件和规定的时间内，完成规定功能的能力。4.要求4.1 测试安全要求a)测量时应按 GB 7247.1 的要求采取激光安全防护措施；b)激光器配套的电系统应符合 GB/T10320 的规定。4.2 被测荧光陶瓷样品要求除特殊要求外，样品应满足以下要求：a)端面表面疵病质量根据 GB/T 1185，应符合：麻点 B/0.8D00.05，划痕C/2D00.01（D0为样品直径，单位为 mm)；b)端面应清洁，无影响测量的灰尘和挡光污渍。4.3 环境要求测量时环境应满足下面要求：a)无明显的振动、气流、烟尘、杂散光及电磁干扰；b)环境照度：在较暗环境下，避免强光干扰；c)防静电。5 温度循环试验5.1 总则温度循环试验按照 GB/T 2423.22 的试验 Nb：“规定变化速率的温度变化”和下述规定进行。5.2 试验要求试验在满足 GB/T 2424.5 和 GB/T 33721 要求的试验箱内进行。试验温度见表 1，温度容差为2K。表 1 温度循环试验的试验温度声称值最大试验温度（）最小试验温度（）仅有 t1t1最大值t1最大值-50仅有最高和最低工作温度最高工作温度最低工作温度T/CI 101-20233既有 t1，又有最高和最低工作温度最高工作温度最低工作温度无温度声称值40-10温度循环试验的循环次数为 250 次。5.3 试验程序单次循环的试验程序如下：a)将荧光陶瓷样品，常温下，放置在试验箱内；b)试验箱内的环境温度以（102）K/min 的速率升高到最大试验温度，保持 50min;c)试验箱内的环境温度以（102）K/min 的速率降低到最小试验温度，保持 50min。5.4 合格判定荧光陶瓷试样，无裂纹、缺口和内外表皮崩落等缺陷。采用亮度测定仪(45010nm LD激发源)，测得的温度循环试验后的荧光陶瓷样品亮度，相对于荧光陶瓷样品初始亮度，变化不超过 10%。6.温度冲击试验对于在冷、热快速切换的场合使用的荧光陶瓷，按照 GB/T 2423.22 的试验 Na:“规定转换时间的快速温度变化”和下述规定进行温度冲击试验。温度冲击试验参数如表 2 所示。表 2 温度冲击试验参数参数低温（）高温（）暴露时间（h）循环次数（次）数值-4070220暴露时间的确定方法按照 GB/T 33721 规定执行。试验后，荧光陶瓷试样，无裂纹、缺口和内外表皮崩落等缺陷。采用亮度测定仪(45010nm LD 激发源)，测得的温度冲击试验后的荧光陶瓷样品亮度，相对于荧光陶瓷样品初始亮度，变化不超过 10%。7.高温高湿试验试验采用恒温恒湿试验烘箱：精度0.5，1%相对湿度。试验时，将恒温恒湿试验烘箱的温度和相对湿度设置如表 3 所示，待温度和相对湿度达到设定值时，放入荧光陶瓷样品，储存 1000h，随即取出，在干燥器中自然冷却至室温。表 3 高温高湿试验条件试验环境温度()相对湿度(%)持续时间(h)高温高湿850.58511000hT/CI 101-20234600.59011000h试验后，荧光陶瓷试样，无裂纹、缺口和内外表皮崩落等缺陷。采用亮度测定仪(45010nm LD 激发源)，测得的高温高湿试验后的荧光陶瓷样品亮度，相对于荧光陶瓷样品初始亮度，变化不超过 10%。8.极端温度贮存试验高温贮存试验和低温贮存试验按照 GB/T 33721 的规定执行。试验后，荧光陶瓷试样，无裂纹、缺口和内外表皮崩落等缺陷。采用亮度测定仪(45010nm LD 激发源)，测得的极端温度贮存后的荧光陶瓷样品亮度，相对于荧光陶瓷样品初始亮度，变化不超过 10%。9.振动试验振动试验参考 GB/T 2423.10 和 GB/T 33721，试验样品不包装，固定在试验台中央，振动方向为互相垂直的 3 个方向，振动试验参数为：a)频率范围：10Hz55Hz10Hz;b)振幅：0.35mm;c)扫描速率：约 1 oct/min;d)持续时间：30min。试验后，荧光陶瓷试样，无裂纹、缺口和内外表皮崩落等缺陷。采用亮度测定仪(45010nm LD 激发源)，测得的振动试验后的荧光陶瓷样品亮度，相对于荧光陶瓷样品初始亮度，变化不超过 10%。10.抗弯强度试验抗弯强度的测量按 GB/T 6569 中的规定执行，抗弯强度试验条件为：177.6263.0Mpa。试验后，荧光陶瓷试样，无裂纹、缺口和内外表皮崩落等缺陷。采用亮度测定仪(45010nm LD 激发源)，测得的抗弯强度试验后的荧光陶瓷样品亮度，相对于荧光陶瓷样品初始亮度，变化不超过 10%。11.试验样品数量要求最低试验样品数量要求见表 4。T/CI 101-20235表 4 样品数量要求试验条款试验项目最低样品数/个5温度循环试验56温度冲击试验37高温高湿试验38极端温度贮存试验39振动试验510抗弯强度试验5_