直接测量式及DOAS原理.pptx

第三章 直接测量式及DOAS原理CEMS直接测量（in-situ）式CEMS基本情况直接测量（in-situ）式CEMS一般有以下两类:一类传感器安装在探头端部，探头直接插入烟道，使用电化学或光电传感器，测量较小范围内污染物浓度（相当于点测量，如氧化锆法测量烟气含氧量）。另一类传感器和探头直接安装在烟道或管道上，传感器发射一束光穿过烟道，利用烟气的特征吸收光谱进行分析测量,可以归为线测量，可以采用红外/紫外/差分光学吸收光谱/激光等技术。直接测量式CEMS的结构类型 根据探头的构造不同，直接测量式CEMS可以分为内置式和外置式；根据光线是否两次穿过被测烟气可分为双光程和单光程；有采用探头和光谱仪紧凑相连的一体式结构，也有将探头和光谱仪分开的分体式结构，探头和光谱仪之间采用光纤进行光信号传输。由于内置式和外置式结构探头有不同的特点，可以根据不同现场工况条件选择使用。直接测量式CEMS的结构类型内置式结构示意图（双光程）直接测量式CEMS的结构类型外内置式结构示意图（双光程）直接测量式CEMS的结构类型比较内容优点缺点适用场合内置式1.单端安装，安装调试简单；2.只需一个平台；3.震动对测量的影响小4.可以通过改变测量路径的长度来实现对不同浓度污染物的测量。1.内置式探头在有水滴的场合易受污染火力发电厂、水泥厂等外置式1.光学镜片全部在烟囱（道）外，不易受污染。1.两端安装，需要两个平台，安装调试相对复杂；2.受震动的影响较大；3.在污染物浓度高，烟道（囱）直径大的场合不适用。金属冶炼厂、硫酸厂、垃圾焚烧等内置式和外置式探头比较 直接测量式CEMS测量原理 目前直接测量式CEMS（SO2、NOx）从测量原理上可以分为三类：单波长、双波长和DOAS。单波长法 单波长法又称为绝对波长法或峰值吸收法，它通常适用于单组分的测量。所谓单组分是指试样中只含有一种被测成分，或者在混合物中待测组分的吸收峰波长并不位于其它共存物质的吸收波长处。在这两种情况下，通常应选择在待测物质的吸收峰波长进行定量测定。因为在最大吸收波长处测定的灵敏度高，并且在吸收峰处吸光强度随波长的变化较小，测量时波长的微小偏移，对测定结果影响不太大。如果一个物质有几个吸收峰，可选择吸光度最大的一个波长进行定量分析。如果在最大吸收峰处其它组分也有一定的吸收，则必须选择在其它吸收峰进行定量分析，而以选择波长较长的吸收峰为宜。一般情况下，短波长处干扰较多，较长波长处，无色物质干扰较小或不干扰。单波长法 据朗伯-比尔定律，在最大吸收峰处，气体浓度C可由下式来进行计算。在给定波长处，某一物质的K值为常数，根据上式，便可由所测得的计算出该物质的浓度。单波长法单波长测量原理存在以下问题：粉尘干扰：粉尘导致透过光强变化，使测量结果不准确；仪器老化：仪器老化导致原始光强变化，使测量结果不准确；交叉干扰：目前采用单波长原理的仪器基本都是采用滤光片来实现的，一般滤光片的带宽在2030nm，探测器测量的是这个波段内光强的积分值。在CEMS领域，这个带宽内，一般都会有干扰。干扰导致透过光强变化，使测量结果不准确；校准周期：仪器老化和光路污染均可导致原始光强变化，因此需要通过频繁的校准来校正；光路污染：光路污染导致原始光强变化，使测量结果不准确。双波长法双波长法是利用选取的两波长处吸收系数差值与吸收度差值的比值来分析计算被测物质的浓度。选取实测吸收曲线上的两个波长和，计算出被测物质吸收度在两波长的差值；然后根据标准吸收曲线上同样的两个波长，计算这两个波长处标准吸收系数的差值。比较吸收系数在两波长的差值和实测吸收度在两波长的差值计算出被测物质的浓度：双波长法从原理而言，双波长存在以下问题：粉尘干扰：粉尘导致透过光强It(1)和It(2)变化，由于是在两个波段，而粉尘散射对光强的衰减在不同波段是不同的，因此会导致A(1)-A(2)和随粉尘浓度变化而变化。仪器老化：仪器老化导致原始光强I0(1)和I0(2)变化，同样由于在两个波段原始光强的变化不同，导致A(1)-A(2)随仪器老化而变化。交叉干扰：目前采用双波长原理的仪表基本都是采用滤光片来实现的，一般滤光片的带宽在2030nm，探测器测量的It(1)和It(2)是光强的积分值，如果其它气体在滤光片的滤波范围内，交叉干扰不可避免。校准周期：仪器老化和光路污染均可导致原始光强I0(1)和I0(2)变化，因此需要通过频繁的校准来校正。光路污染：原因同粉尘干扰，会使测量结果不准确差分吸收光谱法（DOAS）差分吸收光谱法主要的优点是可以在不受被测对象化学行为干扰的情况下来测量它们的绝对浓度；可以通过分析几种气体在同一波段的重叠吸收光谱，来同时测定几种气体的浓度。差分吸收光谱法的基础也是Lambert-Beer定律。差分吸收光谱法（DOAS）差分吸收光谱法就是一种根据气体分子的精细吸收特征来得到烟气浓度的数学处理方法。在分析计算时，将上式分解成两部分：快变部分和慢变部分。在颗粒尺寸较小时，因为瑞利散射和米氏散射只影响吸收光谱的慢变部分，当仅考虑吸收光谱的快变部分时就可避免瑞利散射和米氏散射对浓度计算的影响。差分吸收光谱法（DOAS）据一些常见污染物的差分吸收光谱，选取一些特征波段对其进行测量便可得到浓度，经与标准吸收谱进行比较，便可得到所测气体的浓度。若要扩展监测种类，只需将污染气体的标准吸收谱输入数据库即可，无需对硬件进行更新。主要气体主要气体参考波长（参考波长（nmnm）二二 氧氧 化化 硫硫SOSO2 2210210一一 氧氧 化化 氮氮NONO225225二二 氧氧 化化 氮氮NONO2 2245245直接测量式CEMS结构介绍 国内在上世纪九十年代末研制出拥有自主知识产权的直接测量式CEMS，最近几年不断完善，并已大量投入使用。国内直接测量式CEMS几乎都采用了内置式探头结构，探头和光谱仪一体化设计方式，这种结构方式使得仪器更紧凑，安装调试更方便。典型厂家：安徽铜陵兰盾、北京牡丹联友、天津蓝宇等。直接测量式CEMS结构介绍 仪器组成 主要包括光学系统、机械结构、电子学测量和控制系统、吹扫保护系统等部分。直接测量式CEMS结构介绍 1.光学系统 光学系统主要由发射和接收两大部分组成，包括光源、透镜、角反射器、狭缝和多道光谱仪等。光源发出的光经过透镜直接进入烟道中，通过烟气吸收后经角反射器返回，由狭逢进入光谱仪，由光栅分光，在光栅色散焦平面由二极管阵列探测器（PDA）接收。直接测量式CEMS结构介绍辐射光源 一个良好的光源要求具备发光强度高、光亮稳定、光谱范围广和使用寿命长等特点。常用的紫外光源有汞灯、紫外线金属卤化物灯、氙灯、氘灯。直接测量式CEMS结构介绍辐射光源 汞灯汞灯：汞灯的光谱主要是原子的线状光谱，光谱的连续性很差，一般用作波长校准、非分光紫外光度分析等。紫外线金属卤化物灯紫外线金属卤化物灯：辐射大多数是金属原子光谱的特征谱线。氙灯氙灯：氙灯在200400nm的紫外区域有连续的紫外辐射。这是因为氙在高气压下的放电不是靠电子的碰撞激发，而是靠高温电弧的热激发和正负离子的复合发光。而且当灯电流和氙气压在很大范围内变化时，其氙灯光谱分布几乎是不变的。氙灯不仅可以连续工作，而且可以脉冲工作。氘灯氘灯：氘灯是辐射190500nm波长的连续紫外光源。它与氢灯相比具有紫外线强度高、稳定性好、寿命长等优点。综合以上的紫外光源，如氙灯、氘灯等具有连续光谱的紫外光源是紫外分光光谱仪的理想光源。尤其是脉冲氙灯，其脉冲式工作模式更是让其在寿命上遥遥领先。直接测量式CEMS结构介绍光谱仪 光谱仪主要作用就是分光，将包含多种波长的复合光以波长进行分解，然后从探测器上得出以波长为坐标排列的不同波长的光强分布。光谱仪按分光原理及分光元件的类别可以分为干涉光谱仪、棱镜光谱仪和光栅光谱仪等。干涉光谱仪采用干涉原理进行分光，具有杂散光低、光能利用率高等优点，但是光路设计复杂。而采用色散分光的光谱仪系统结构相对简单，一般都包括入射狭缝、准直镜、色散元件、聚焦光学系统和探测器。直接测量式CEMS结构介绍光谱仪 常用的分光元件有棱镜和光栅两类。棱镜是利用不同波长的光有不同的折射率而使复合光分开的光学元件。有立特鲁棱镜，考纽棱镜等。其中紫外光区一般使用石英棱镜。棱镜分光示意图 直接测量式CEMS结构介绍光谱仪 光栅是利用光的衍射和干涉作用使复合光色散。其特点是色散波长范围宽、具有良好而均匀一致的分辨能力、色散近于线性。根据光是否穿透光栅可分为反射光栅、透射光栅；根据光栅的分光面不同，可分为平面光栅、凹面光栅等。光栅分光示意图 直接测量式CEMS结构介绍探测器 光电探测器是根据量子效应，诸如产生由于吸收的光子的电子，将所接收到的光信息转变成电信息的元件。其灵敏度本质上随光子能量辐射线的波长而变化。在紫外分光光谱分析中常用的探测器一般为线阵探测器，有PDA、CCD、CMOS、NMOS等。如CCD，即为光电二极管阵列，有多个在硅片上形成的反向偏置的PN结构成，当受到光照射时，产生空穴和电子，空穴扩散通过过渡层到P区，然后湮灭，由此引起电子空穴对的产生与复合，使得导电性增强，其大小与光强成正比。当阵列受光照时，吸收光子产生电子空穴对，阵列中的每个光电二极管各自有一个积贮光电流的存储电容器，通过扫描电路，周期地顺序读取各个存储电容中存储的电荷，达到检测出CCD上相应的光信息。直接测量式CEMS结构介绍 2.机械结构 机械结构部分包括插入式气体采样管、二极管阵列探测器的线性检测及本底测量装置的机械驱动。考虑到烟道中温度很高，而且有SO2等腐蚀性很强的污染气体，所以气体通道包括测量槽及有关配件均采用不锈钢、透紫外光的石英玻璃材料制作，气体通道上的光学元件和密封元件均耐高温耐腐蚀。直接测量式CEMS结构介绍 3.电子学测量和控制系统电子学测量和控制系统 直接测量式CEMS结构介绍 4.吹扫保护系统吹扫保护系统 吹扫保护系统由空气净化装置、吹扫风机、管路、信号检测等部分组成。空气（也有采用压缩空气作为吹扫保护气的）经过净化装置过滤后，被风机加速，通过管路送入测量探头内，保护镜片不被烟气污染。信号检测装置实时监测风机的工作状态，在风机跳闸停运时，提供报警信号提示维护人员进行必要的处理。直接测量式CEMS结构介绍工作过程 利用气态污染物对特定波段的光具有吸收特性，选择波段在200nm320nm的紫外光作光源，在此波段内水分子和其它气体几乎没有吸收。入射光被污染物吸收后，经光栅分光，由高灵敏二级管阵列探测器测量吸收光谱，并由此经计算机利用反演算法得到污染物的种类和含量。直接测量式CEMS结构介绍工作过程 紫外光源发出的宽带光谱经石英聚光透镜后通过光分束器，再由反射镜反射到准直透镜，通过前窗镜照射到探头后端的角反射镜上，探头窗镜上装有透光波段200nm250nm的紫外滤光片。角反射镜反射光按原光路返回到光分束器上，然后经过准直透镜照射到光谱仪的入射狭缝上，通过光栅色散形成光谱。CCD探测器将光信号转变为电信号，输出的信号经前置放大器放大后送入高速信号采集A/D和CPU处理单元；控制处理单元的功能是将该信号数字化并存入存 储器，然后由系统总控制单元采 用适当的算法对其进行处理得到 SO2、NOx浓度、烟气温度等 信息。在数据分析和处理中采用 硬件和软件平均滤波技术，构成 了差分吸收光谱测量系统，从而 使光源强度随着时间的慢变化不 影响测量精度。直接测量式CEMS结构介绍工作过程 由于计算是通过吸收峰来进行的，是由谱线的峰值和谷值来反演出来的，而粉尘只是对整条谱线起着衰减的效果。当然若粉尘密度太大，以至于发出的光回不来了，或衰减至一个极低的水平，那么吸收谱线不能分辨，此时这种方法就不适用了。水汽没有影响也是同样道理。直接测量式CEMS结构介绍探头结构 对于直接测量式CEMS，探头结构关系到仪器在现场高尘的环境中能否正常稳定的长期运行。下图为采用气幕吹扫保护的探头结构示意图，采用风机将过滤后的洁净空气加速吹入探头内，高速的气体在镜面前形成一道风帘，将镜面和烟气分隔开来。这种方式的优点在于吹扫气体不会对测量路径中的污染气体产生扰动和稀释作用，保证了测量的真实性和准确性。也有采用压缩空气对镜片进行吹扫保护的，其原理是高速流动的气体镜片表面喷射，气体分子与玻璃表面发生剧烈碰撞，弹回，并把附着在表面的烟尘颗粒带走直接测量法CEMS的标定校准方法 直接测量式CEMS可以内置校准池，实现自动校准，也可以在光路中放置标气池，进行手工校准。为了保证标气在标定的过程中没有发生变化，如由于泄露、吸附、反应等因素造成的浓度变化，一般采用流动气体来进行气体浓度的标定。将标气池放入仪器的测量光路中。直接测量法CEMS的标定校准方法 标准气体以恒定的流量通过吸收池，最终吸收池内气体的浓度可以达到标准气体的实际浓度，稳定后记录读数。一般情况下，标气池长度和仪器的测量光路不一定相同，这就需要计算等效浓度。按下式计算：N1 L1=N2 L2 式中：N1 为标准气体实际浓度，N2 为等效气体浓度，L1 为标准气池的长度，L2为测量路径的实际长度。日常维护及常见故障处理 对于直接测量式CEMS，由于没有取样装置，结构简单，日常维护主要工作是清洁探头角反射镜、更换吹扫风机过滤器以及校准。序号故障现象原因分析处理办法备注1光强弱光源老化更换光源系统应具备自动检测功能，信号弱时应进行提示镜片污染或探头堵塞清洁镜片或探头2镜片变得易污染吹扫风机故障更换风机并清洁镜片过滤器必须定期更换，否则会堵塞造成风机负载过大磨损严重甚至烧毁。