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微电子实验报告一.doc

1、微电子电路实验报告实验一 MOS管的基本特性班级 姓名 学号 指导老师 袁文澹一、实验目的1、熟练掌握仿真工具Hspice相关语法;2、 熟练掌握MOS管基本特性;3、掌握使用HSPICE对MOS电路进行SPICE仿真,以得到MOS电路的I-V曲线。二、实验内容及要求1、熟悉Hspice仿真工具;2、使用Hspice仿真MOS的输出特性,当VGs从05V变化,Vds分别从1V、2V、3V、4V和5V时的输出特性曲线;三、实验原理1、 N沟道增强型MOS管电路图a) 当Vds=0时,Vgs=0的话不会有电流,即输出电流Id=0。b) 当Vgs是小于开启电压的一个确定值,不管Vds如何变化,输出电

2、流Id都不会改变。c) 当Vgs是大于开启电压的一个确定值,在一定范围内增大Vds时,输出电流Id增大。但当出现预夹断之后,再增大Vds,输出电流Id不会再变化。2、 NMOS管的输出特性曲线四、实验方法与步骤实验方法:计算机平台:(在戴尔计算机平台、Windows XP操作系统。)软件仿真平台:(在VMware和Hspice软件仿真平台上。)实验步骤: 1、编写源代码。按照实验要求,在记事本上编写MOS管输出特性曲线的描述代码。并以aaa.sp文件扩展名存储文件。2、打开Hspice软件平台,点击File中的aaa.sp一个文件。3、编译与调试。确定源代码文件为当前工程文件,点击Compli

3、er进行文件编译。编译结果有错误或警告,则将要调试修改直至文件编译成功。4、软件仿真运行及验证。在编译成功后,点击simulate开始仿真运行。点击Edit LL单步运行查看结果,无错误后点击Avanwaves按照程序所述对比仿真结果。5、断点设置与仿真。6、仿真平台各结果信息说明.五、实验仿真结果及其分析1、 仿真过程1) 源代码*Sample netlist for GSMC $对接下来的网表进行分析.TEMP 25.0000 $温度仿真设定.option abstol=1e-6 reltol=1e-6 post ingold $设定abstol,reltol的参数值.lib gd018.

4、l TT $使用库文件* - Voltage Sources -vdd VDD 0 dc=1.8 $分析电压源vgs g 0 0 $分析栅源电压vds d 0 dc=5 $分析漏源电压 vbs b 0 dc=0 $分析衬源电压* - Inverter Subcircuit -Mnmos d g 0 b NCH W=30U L=6U $Nmos管的一些参数* - Transient Analysis -.dc vds 0 5 0.1 SWEEP vgs 1 5 1 $双参数直流扫描分析$vds从0V5V,仿真有效点间隔取0.1$vgs取1V、2V、3V、4V、5V.print dc v(d) i

5、(Mnmos) $输出语句。直流模式输出节点d的电平。输出Mnmos的电流.end $结束语句。2) 编译或调试过程 编译与调试并未出错2、 仿真结果及分析1) 仿真结果1V2V3V4V5V仿真结果如上图所示,从上到下依次为Ugs 为5V、4V、3V、2V、1V,且图中4V与5V的线在中途出现相交现象1V将Ugs数值改成3V、2.5V、2V、1.5V、1V,仿真结果如下图所示:2.5V3V2V1.5V1V2) 仿真结果分析 在第一张仿真实验图中出现两线相交的情况,经分析是由于头文件gd018.L里面定义了NCH,NCH只能承受3.3V的电压,而上面第一张图也确实是当Vgs超过3.3V时才出现的错误,所以将Ugs取为1V、1.5V、2V、2.5V、3V ,输出特性曲线如第二张图片所示,没有出现相交的情况,可知输出特性曲线符合预期。六、实验结论实验结论击穿区预夹断轨迹可变电阻区 恒流区1) 可变电阻区:图中的虚线为预夹断轨迹,当Ugs愈大时,预夹断的Uds也愈大2) 恒流区当Uds Ugs-UGS(OFF)时,各曲线近似为水平平行线,当Uds 增大时,Id仅略有增大3) 击穿区当Uds过大时,就会出现击穿现象,即上图右侧区域七、实验心得 第 5 页 共 5 页

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