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1、 LONGSUN 上海中希合金有限公司 质量管理体系—三级文件 编码：CHA/M030M 版本号 生效日期 铆 钉 产 品 过 程 检验作业指导书 第 10 页 共 10 页 B00 2014年4月21日 修订履历表 序号 版本号 版本有效日期 页码 修订内容概要 1 A00 2019-07-02 共3页 首次发布 2 B00 2010-11-10 共4页 换版 3 B01 2012-
2、12-11 共4页 增加首检时机 4 B02 2013-05-17 共4页 增加非常规尺寸头径内控及脚径内控 5 C00 2014-04-21 共10页 换版 检验 项目 检验标准 检验方法 测量工具 检验工序 抽样 方案 备注 工具 精度 外观 检验标准见附件一 目视 目视 工具显微镜
3、影像测量仪 / 首检 10粒 巡检 1次/2h 10粒/次 末检 10粒 头径 (D) 图纸 将产品钉脚朝下放置于专用量板上，用卡尺直接测量铆钉头部直径，并转动铆钉取不同点进行测量，记录偏离中心尺寸最大值。 卡尺 量板 0.01mm 首检 2粒 巡检 1次/2h 2粒/次 末检 2粒 头厚 (T) 图纸 将产品钉脚放置于专用量板的圆孔中，用千分尺测量头厚与量板的总长，再测量该位置量板厚度，总长减去量板厚度即为铆钉头厚值。 千分尺 量板 0.001mm 首检 2粒 巡检 1次/2h 2粒/次 末检 2
4、粒 脚径 (d) 图纸 用千分尺直接测量钉脚根部尺寸，并转动铆钉取不同点进行测量，记录偏离中心尺寸最大值。 千分尺 0.001mm 首检 2粒 巡检 1次/2h 2粒/次 末检 2粒 总长 图纸 用千分尺直接测量铆钉总长。 千分尺 0.001mm 首检 2粒 巡检 1次/2h 2粒/次 末检 2粒 脚长 (L) 图纸 铆钉脚长L=总长－头厚T。 千分尺 量板 0.001mm 首检 2粒 巡检 1次/2h 2粒/次 末检 2粒 球面 半径 (SR) 图纸 方法一：将R规凹面放在球面触点头部中心
5、线位置上，面对光亮处目视观察R规凹面与铆钉球面之间缝隙的大小，选取与球面切面最密合的R规值即为触点的SR值。 SR规 0.5mm 首检 2粒 1.5≤SR≤25时使用该方法 巡检 1次/2h 2粒/次 末检 2粒 方法二：将产品用三爪夹夹住，使铆钉侧立于投影仪试验台上，调节至影像清晰，在铆钉球面上取三点以上的点做弧线，取点时避开过渡R位置，所得弧线的R值即为SR值。 影像测量仪 三爪夹 0.001mm 首检 2粒 SR＜1.5和SR＞25时使用该方法 巡检 1次/2h 2粒/次 末检 2粒 脱模角 (θ) 图
6、纸 方法一：将产品用三爪夹夹住，使铆钉侧立于影像测量仪试验台上，并调节成像清晰影像，在钉头两侧边分别做两条直线，测量两直线夹角，所测得夹角的1/2即为脱模角度。 影像测量仪 0.001mm 首检 1粒 巡检 1次/2h 1粒/次 方法二：用上述测量银层的试样，置于工具显微镜试台上，调节至影像清晰，转动角度盘调整试台使刻线与钉头一侧边重合，记下当前角度值，再调整试台使刻线与钉头另一侧边重合并记录角度值，两角度值之差的1/2即为脱模角度值。 脱模角度＝两角度值之差的
7、1/2 工具显微镜 0.1° 末检 1粒 钉头、钉脚边缘 银层 (S) 图纸 在复层厚度测量条件下将试样置于工具显微镜或影像测量仪试验台上，调节至影像清晰，取钉头（钉脚）两侧边与复层结合面界线交点为两端点，分别取这两端点到铆钉钉头（钉脚）顶点切线距离的最小值即为钉头（钉脚）边缘银层。 工具显微镜 夹具 0.01mm 首检 1粒 巡检 1次/2h 1粒/次 末检 1粒 钉头、钉脚复层 厚度 (S) 图纸 用钳子夹紧铆钉，在金相试样抛光机上沿中心轴线垂直方向磨至1/2D处（用0.01精度卡尺测量），后在金相砂纸上磨光，用专用夹具夹住铆
8、钉置于工具显微镜上，剖面朝上，在以中心轴线位置为圆心，1/4D为半径的范围内，测量复层结合面距铆钉球面（钉脚）顶点切线最短距离为其复层厚度，客户对测量范围有特殊规定的，在规定范围内测量。 工具显微镜 夹具 0.01mm 首检 1粒 巡检 1次/2h 1粒/次 末检 1粒 制样同上，把专用夹具置于影像测量仪试台上，在以中心轴线为圆心，1/4D为半径的范围内，测量复层结合面距铆钉球面（钉脚面）顶点切线最短距离为其复层厚度。如对测量范围有特殊规定的，应在规定范围内测量。 影像测量仪 夹具 0.001mm 首检 1粒 巡检 1次/2h
9、1粒/次 末检 1粒 同 轴 度 (◎) 图纸 将铆钉置于专用的游标卡尺的卡槽内，转动铆钉，测量铆钉钉头右侧到钉脚左侧的尺寸，取其最大值和最小值之差即为同轴度之值。 卡尺 0.01mm 首检 2粒 巡检 1次/2h 2粒/次 末检 2粒 平行度（∥） 图纸 用千分尺直接旋转测量铆钉头部厚度，所得数值差就是平行度。 千分尺 0.001mm IPQC 2粒 抽样方法和基本尺寸一样 倒角 图纸 使用“复层厚度”制样方法，使产品侧立在影像测量仪试验台上，调节至影像清晰，沿与铆钉基准面平行的方向，测量倒角宽度，即为倒角尺寸。
10、 工具显微镜 三爪夹 专用夹具 0.001mm 首检 1粒 巡检 1次/2h 1粒/次 末检 1粒 夹角 图纸 将产品用三爪夹夹住或粘于专用块上，使产品侧立在投影仪试验台上，调节至影像清晰，按图纸上两夹角线对应位置作两直线，测两直线间夹角。 工具显微镜 三爪夹 专用夹具 0.001mm 首检 1粒 巡检 1次/2h 1粒/次 末检 1粒 过渡R 图纸 将产品用三爪夹夹住或粘附于夹具上，将产品侧立在投影仪试验台上，调节至影像清晰，在过渡R位置取三点以上的点做弧线，所得弧线R值即为过渡R值。
11、投影仪 三爪夹 专用夹具 0.001° 首检 1粒 巡检 1次/2h 1粒/次 末检 1粒 结合 强度 （钉脚） 裂口比≤1/5 （客户有特殊要求时，按特殊要求执行） 将产品放入箱式电阻炉里，温度设定为340℃～370℃之间，退火5至10分钟后取出，在台钳上沿与中心轴线垂直的方向压扁铆钉，将钉头（钉脚）压至40%～50%D之间（用精度为0.01卡尺测量），在工具显微镜上测量压扁后结合面裂口深度与压扁后变形最大长度之比，即裂口比。 裂口比=(a+b)/D1 电阻炉 台钳 卡尺 工具显微镜 0.01m
12、m 首检 5粒 巡检 1次/2h 5粒/次 末检 5粒 备 注 1、 所有检测项目根据客户要求有选择的实施检验； 2、 所有检测记录只需填写偏离中心值最大的数据； 3、外观检验合格时记录“ok”，发现1粒不良即判定为不合格，记录缺陷名称； 4、同款产品制打时间不足一个检验周期时，不作巡检检验。 附件一：铆钉制打外观检验标准 缺陷品展示 检验标准 钉脚面凹坑 钉脚面毛刺 工作面划伤 工作面针印 边缘银开裂 过渡R缺损 钉脚面条纹 工作面露铜 周边飞边 工作面铜屑 钉脚面撕裂 工作面凹坑 工作面变形 基准面凸点
13、 工作面圈印 工作面撕裂 基准面压伤 基准面变形 周边毛刺 侧面铜体分层 基准面凸起 工作面压痕 钉脚面倾斜 侧面刮伤 铜开裂 钉脚毛刺 银屑 缺料 侧面粘银 侧面小坑 ▲工作面针印、工作面铜屑、工作面撕裂：将铆钉工作面在纸张上摩擦去除脏污后，肉眼观察无不可见异状即为合格 侧面小坑、周边飞边、侧面粘银、侧面刮伤、铜开裂：目视观察无不可见异状即为合格； ▲基准面凸起、基准面变形、基准面凸点：将产品放在比触头头部直径宽3~5
14、mm的水平量板上，使基准面与量板平面紧贴，水平目视贴合面不能有明显缝隙。 ▲工作面露铜、工作面圈印、工作面变形：触头产品工作面露铜、圈印、变形应根据产品结构、客户成本要求、材料以及严重程度等方面进行现场判定。 ▲侧面铜体分层：铜体分层应根据触头产品结构以及不同的客户要求予以现场判定；一般情况下允许在触头头部侧面有宽度不超过头部厚度3%的铜体分层现象。 ▲工作面压痕：在触头工作面直径80%范围内不能有压痕，且压痕大小不能超过头部直径的5%。 ▲工作面凹坑：在触头工作面上凹坑大小不能超过头部直径的2.5%。 ▲工作面划伤：在触头工作面直径 80%范围内不能有宽度超过0.05mm且条数超过
15、 2 条的划伤现象。 ▲周边毛刺：在触头头部周边允许有不超过头部直径 1%大小的轻微毛刺，但毛刺的弧长不能超过头部任意60°范围，且产品头部直径必须符合公差要求。 ▲基准面压伤：在触头头部基准面上，压伤不能延伸到头部直径的80%范围且数量不能超过两处。 ▲钉脚面毛刺：在触头钉脚面上，毛刺反卷不能延伸到钉脚直径的80%范围，且产品钉脚长度必须符合公差要求。 ▲钉脚面条纹：在双面铆接的整体触头或三金属复合触头的钉脚面上，条纹深度不能超过0.03mm。 ▲钉脚面凹坑：在双面铆接的整体触头或三金属复合触头的钉脚面上，凹坑大小不能超过钉脚直径的2.5%，且数量不能超过两处。 ▲过渡R缺损：缺
16、损长度不能超过头部直径的5%。 ▲钉脚面撕裂：在双面铆接的整体触头或三金属复合触头的钉脚面上，撕裂宽度不能超过0.05mm，延伸的范围不能超过钉脚直径的50%。 ▲钉脚面倾斜：除钉脚面空心深度超过1.0mm的触点外，其余铆钉钉脚面斜度差应低于0.08mm。 ▲缺料：目视产品不允许出现椭圆形状 ▲银屑：目测铆钉工作面不允许有明显不规则的小坑或凸起的小点 ▲边缘银开裂：对于 AgSnO2 系列材料及其它加工性能稍差的材料： 1.整体 AgSnO2 系列产品，触点头部边缘裂纹尺寸应按右图在产品基准面上进行检测， 允许有 A≤D/20 且 B≤D/10的裂纹； 2.复合 AgSnO2 系列产品，应正视产品工作面，不得有明显可见的裂纹。 编 制 审 核 批 准
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