统计过程控制讲义(质量工程师考试).doc

统计过程控制(复习题)
1.下述中适合使用常规控制图的是( ).
A.提高车间生产能力 B.检测不合格品或不合格批 C.消除过程中存在的异常因素
D.监控并预警工序中存在的变异
2.控制图的描点员按规定时间在短期内抽取4件产品组成一个子组进行检测,并将测得的每个产品的特性值在图上描了4个点,发现其中有1个点出界. 则( ).矚慫润厲钐瘗睞枥庑赖。
A.查找出界原因,并尽快消除异常 B.剔除出界的点,继续描点 C.不能作出判断,作图不正确聞創沟燴鐺險爱氇谴净。
D.生产过程出现异常,必须停产

3.用20个样本绘制—R控制图,每个样本(子组)样本量5, 已计算得=33.6, =6.2, A2=0.577, D4=2.115, D3=0. 今在加工过程中采集了一个样本,观测值为38, 43, 37, 36, 25. 则该样本的( )在控制限内.残骛楼諍锩瀨濟溆塹籟。
A.均值和极差都 B.极差 C.极差不 D.均值不
4.合理子组原则要求在尽可能短的时间内收集一个子组的样品,主要因为( ).
A.尽快计算不合格品率 B.尽量缩小组内差异 C.希望节省取样时间 D.尽快绘制出控制图
5.常规控制图的理论基础是( ).
A.小概率原理 B.试验设计 C.指数分布的性质 D.对数正态分布的性质 E.正态分布的性质
6.常规控制图适用于( )的控制.
A.批量为25的一批产品的生产 B.成批连续生产零件 C.车间大批量生产零件 D.连续生产流程性材料酽锕极額閉镇桧猪訣锥。
7.一生产企业要利用控制图对生产过程进行监控,下述中正确的做法是( ).
A.选择欲控指标 B.收集数据计算过程能力指数,判断过程是否稳定 彈贸摄尔霁毙攬砖卤庑。
C.根据欲控质量特性的数据,选取控制图 D.确定子组数目和抽取子组的时间间隔及其抽取方式
E.按生产顺序从加工的产品中随机抽取子组绘制控制图
8.用均值作控制图监控生产过程变化的主要原因是( ).
A.多数质量特性值为计量值数据 B.可以扩大控制限的范围
C.均值可以使部分偶然因素相抵消,从而缩小上、下控制限的距离
D.可以判断产品质量特性的平均值是否合格 E.提高对异常波动监控的灵敏度
9.过程能力指数Cpk的公式是( ).
A.(UCL－μ)/3σ B.(TU－μ)/3σ C.(TL－μ)/3σ D.(μ－TL)/3σ E.(1－k)T/3謀荞抟箧飆鐸怼类蒋薔。
10.在何种情形下,控制图需要重新制定？（ ）.
A.人员和设备均变动 B.改变工艺参数或采用新工艺 C.环境改变厦礴恳蹒骈時盡继價骚。
D.更换供应商或更换原材料、零部件 E.点子出界
11.选择常规控制图依据的主要因素是( ).
A.工艺方法 B.设备 C.控制关键指标的个数 D.使用方便 E.控制对象的数据性质
12.从工程上提高Cp的途径有( ).
A.减小σ B.增大UCL C.由技术决定是否适当加大公差 D.减小LCL E.减小偏离度k茕桢广鳓鯡选块网羈泪。
13.当所考察的质量特性为某企业月工伤事故数时.应选用( )控制图.
A.p图 B.u图 C.—R图 D.—s图
14.合理子组原则包含的内容有( ).
A.组内差异由异因(可查明因素)造成 B.组间差异主要由偶因(偶然因素)造成
C.组内差异既由偶因也由异因造成 D.组间差异主要由异因造成
15.控制图中控制限的作用有( ).
A.区分合格与不合格 B.区分偶然波动与异常波动 C.点子落在控制限内,判断过程处于统计控制状态鹅娅尽損鹌惨歷茏鴛賴。
D.点子落在控制限外,判断过程未处于统计控制状态
16.过程处于统计控制状态, 则( ).
A.表示过程稳定,可预测 B.点子无趋势和其他模式
C.点子在控制限内随机分布 D.过程中存在可查明原因
17.某生物制药厂半成品指标的检验时间很长,对它的控制宜采用( ).
A.均值—极差控制图 B.不合格品率控制图 C.单值—移动极差控制图 D.不合格品数控制图籟丛妈羥为贍偾蛏练淨。
18.在过程不变的情况下,若控制图中上、下控制限的间隔距离增加, 则( ).
A.α减小,β增大 B.α增大,β减小 C.α增大,β增大 D.α减小,β减小
19.过程保持在统计控制状态下的好处是( ).
A.能及时发现异常因素的影响 B.可以使过程能力保持相对稳定
C.能将产品的质量特性值保持在公差范围内 D.可以使过程的变异保持相对稳定
20.若人员和设备已固定,在( )的情况下,控制图需要重新制定.
A.现有控制图已经使用很长时间 B.工艺参数改变 C.环境改变
D.上级下达更高指标 E.更换了供应商
21.在分析控制图阶段,利用—R图对过程进行分析,该过程输出的质量特性值X服从N(210.5, 1.12). 质量改进小组为进一步改进质量,从明确分析用控制图的主要作用开始,一步一步深入地改进质量,具体如下:預頌圣鉉儐歲龈讶骅籴。
(1)分析用控制图阶段主要分析( ).
A.是否需要继续抽取样本(子组) B.过程是否处于统计控制状态
C.过程的过程能力指数是否处于技术控制状态 D.是否要扩大规范限
(2)若过程的规范上、下限为210±3mm, 则Cp=( ).
A.0.91 B.0.99 C.1.33 D.0.67
(3)若将该过程的标准差1.1减小为0.7, 则新的Cp=( )
A.1.67 B.1.49 C.1.43 D.1.30
(4)(新的)偏移度k=( ).
A.3/8 B.2/9 C.1/6 D.0
(5)新的Cpk=( ).
A.1.40 B.1.33 C.1.25 D.1.19
(6)若经过调整,过程中心μ已从210.5mm与规范中心M=210mm重合, 则这时Cpk=( ).渗釤呛俨匀谔鱉调硯錦。
A.1.43 B.1.53 C.1.67 D.1.80
(7)下述中正确的说法是( ).
A.此时过程处于技术控制状态 B.此时过程尚未处于统计控制状态
C.此时过程可运用控制图进行控制 D.此时过程能力仍不足
22.某种钢管内径X的规格为210±5mm,生产过程稳定,X服从正态分布N(210, 2.492).
(1)过程能力指数Cp=( ).
A.0.38 B.0.61 C.0.67 D.1.03
(2)过程的不合格品率p=( ).
A.0.3237 B.0.0455 C.0.027 D.0.00058
(3)若过程中心发生偏移过程中心移至212,但标准差仍为2.49, 则此时过程能力指数Cpk=( ).铙誅卧泻噦圣骋贶頂廡。
A.0.40 B.0.76 C.1.08 D.0.98
(4)经技术革新,使分布中心与公差中心重合,且标准差降为1.25, 则此时过程能力指数Cpk=( ).擁締凤袜备訊顎轮烂蔷。
A.1.33 B.1.77 C.1.22 D.1.48
(5)经过质量改进和技术革新后, 过程的不合格品率为( ).
A.0.063 B.0.0063 C.0.00063 D.0.000063贓熱俣阃歲匱阊邺镓騷。
23.某生产车间对轴的外径进行控制,规范限为TU=54mm, TL=46mm, 25个子组,子组样本量为5,计算得坛摶乡囂忏蒌鍥铃氈淚。
=50.5mm, =2.5mm, A2=0.577, A3=1.427, B4=2.809, D4=2.115, B3=0, D3=0, C4=0.94, d2=0.4299. 则:蜡變黲癟報伥铉锚鈰赘。
(1) 图的上、下控制限分别为( ).
A.54.07, 46.93 B.50.92, 48.80 C.51.94, 49.06 D.53.01, 50.55買鲷鴯譖昙膚遙闫撷凄。
(2)过程能力为( ). A.15.96 B.15 C.31.92 D.12綾镝鯛駕櫬鹕踪韦辚糴。
(3) s图上、下控制限分别为( ). A.5.22, 0 B.3.58, 0 C.1.44, 0 D.5.56, 0驅踬髏彦浃绥譎饴憂锦。
(4)过程能力指数Cpk=( ). A.0.64 B.0.30 C.0.40 D.0.44猫虿驢绘燈鮒诛髅貺庑。
(5)若收集了3组数据,其平均值分别为51.24, 47.32, 46.93, 则( ).
A.可以认为点子在界内随机排列 B.点子出界, 判异
C.点子在界内非随机排列 D.点子均在界内,但无法判断其随机性锹籁饗迳琐筆襖鸥娅薔。
24.假定电阻合格下限为95Ω, 合格上限为105Ω.
(1)一批电阻阻值取自均值100Ω,标准差2Ω的正态总体.Φ(x)为N(0, 1)的分布函数.则合格品率为( ).構氽頑黉碩饨荠龈话骛。
A.2Φ(2.5)－1 B.2Φ(2.5) C.Φ(2.5) D.Φ(2.5)+Φ(－2.5)輒峄陽檉簖疖網儂號泶。
(2)过程能力指数Cp=( ). A.3/5 B.6/5 C.5/6 D.5/3尧侧閆繭絳闕绚勵蜆贅。
(3)假定电阻合格上、下限不变,另一批电阻阻值取自均值101Ω,标准差1Ω的正态总体. 则Cpk=( ).识饒鎂錕缢灩筧嚌俨淒。
A.4/3 B.2/3 C.1 D.2.33
(4)在此状态下说明技术管理能力( ). A.较勉强 B.很差 C.过高 D.很好凍鈹鋨劳臘锴痫婦胫籴。
25.某企业有4个车间,第一车间是手工生产,工艺复杂,属于单件生产车间; 第二车间生产品种相对稳定,但产品质量波动较大,主要因为设备精度达不到要求,企业又无法对设备精度进行改进; 第三车间产量大,生产相对稳定; 第四车间品种单一,产量大,生产质量较为均匀,但检测所需时间长.有关此案例的分析如下:恥諤銪灭萦欢煬鞏鹜錦。
(1)适宜使用常规控制图的车间是( ).
A.第一车间 B.第二车间 C.第三车间 D.第四车间
(2)若使用均值—极差控制图,更适宜在( )使用.
A.第一车间 B.第二车间 C.第三车间 D.第四车间
(3)在此车间利用均值—极差控制图对过程进行监控,在确定控制的质量指标时更适宜选择( ).
A.对成本影响较大的性能指标 B.技术要求高的质量性能指标
C.不重要的质量性能指标 D.工艺结构不断发生变化的质量性能指标
(4)在抽样过程中,应尽可能做到( ).
A.取得的子组数目应在25组以上 B.抽取产品越少越好
C.过程稳定时可以多抽取样本 D.尽可能在较短的时间段内获得子组观测值
(5)若绘制的控制图,发现有点子出界, 应( ).
A.立即停止生产 B.立即查找点子出界的原因 C.立即重新绘制控制图
D.延长控制界线,将分析用控制图转化为控制用控制图
26.在解释Cp和Cpk的关系时,正确的表述是( ).
A.规格中心与分布中心重合时,Cp=Cpk B.Cpk总是大于或等于Cp
C.Cp和Cpk之间没有关系 D.Cpk总是小于Cp
27.在图上,如果连续5个点中,有4个点落在中心线同一侧的C区以外,则可能的原因是( ).
A.μ变大 B.μ变小 C.σ变大 D.σ变小 E.μ和σ不变
28.X—Rs控制图与—s控制图相比,下述论断正确的是( ).
A.Rs图计算简单 B.Rs图计算复杂 C.用Rs估计σ的效率较高 D.用Rs估计σ的效率较低鯊腎鑰诎褳鉀沩懼統庫。
E.X图比图反应过程波动更灵敏
29.p控制图的n=25,UCL=0.28,Cl=0.10,LCL=—. 若n改为100, 则( ).硕癘鄴颃诌攆檸攜驤蔹。
A.UCL=0.19 B.UCL=0.145 C.UCL=— D.LCL=0.01 E.CL=0.001阌擻輳嬪諫迁择楨秘騖。
30.轴的直径为2.0±001mm, 用—R图对其直径进行监控,子组大小为5,下列情况中显示过程异常的氬嚕躑竄贸恳彈瀘颔澩。
是( ). A.有一根轴直径大于2.01 B.有一根轴直径小于1.99釷鹆資贏車贖孙滅獅赘。
C.有一子组的均值大于上控制限 D.有一子组均值小于公差下限
E.控制图上有7个点子连续递增
31.下列数据中可以绘制控制图的是( ). A.连续加工过程的巡检数据
B.连续加工过程的批验收记录 C.从多个供应商处采购的批验收记录怂阐譜鯪迳導嘯畫長凉。
D.从某个检验批中抽取100件产品的检验记录 E.某个供应商的各类需部件的特性数据
32.均值—标准差控制图和其他计量控制图相比,( ).
A.均值—标准差图更适用于抽样困难、检验成本大的场合 B.标准差图更准确地反映过程波动的变化
C.当子组大小大于10时不适于使用标准差控制图 D.均值图分析过程中心的波动较单值图更灵敏谚辞調担鈧谄动禪泻類。
E.均值—极差图的子组大小应大于均值—标准差图的子组大小
33.下列异常现象中可能是由于数据分层不够造成的是( ).
A.一点落在A区以外 B.连续6点递增或递减 C.连续14点相邻点上下交替嘰觐詿缧铴嗫偽純铪锩。
D.连续8点在中心线两侧,但无一在C区 E.连续15点落在C区内熒绐譏钲鏌觶鷹緇機库。
34.设一个电子产品由17个同等复杂且同等重要的部件串联组成,如果该电子产品的Cp要求达到0.67, 则 ;鶼渍螻偉阅劍鲰腎邏蘞。
(1)要求产品不合格品率p不能大于( ). A.4.6% B.2.3% C.0.27% D.1.35%纣忧蔣氳頑莶驅藥悯骛。
(2)当对此要求选用抽样方案时,选用的AQL(%)为( ). A.4.0 B.6.5 C.04 D.0.65颖刍莖蛺饽亿顿裊赔泷。
(3)部件的不合格品率p要求不高于( ). A.4.6% B.2.3% C.0.27% D.1.35%濫驂膽閉驟羥闈詔寢賻。
(4)当对部件的质量要求选用抽样方案时,选用的AQL(%)为( ).
A.0.040 B.0.065 C.0.25 D.0.0040
35.企业欲用控制图对某零件的生产过程进行监控,需要进行的工作主要有:
(1)确定控制图的使用场合和控制对象,须分析( ).
A.产品的质量特性和重要程度 B.各工序的加工特点和对关键特性的影响程度
C.工序的质量状况和加工的规律性 D.绘制控制图的人员
(2)选择控制图,应考虑( ).
A.质量特性数据的性质 B.控制图保管的方便性
C.控制图的检出力 D.检验的成本和取样的难易程度
(3)如果选择使用均值—极差控制图,那么,子组大小最好为( ).
A.4～5 B.10以上 C.1 D.越多越好
(4)在抽取子组时应做到( ).
A.过程稳定性好,子组间间隔可以扩大 B.过程稳定性差,子组内产品的抽取间隔加大銚銻縵哜鳗鸿锓謎諏涼。
C.子组内产品抽取应尽可能在短时间内完成 D.子组内产品抽取间隔与子组间间隔尽可能相同
(5)在均值图上应使用( )打点.
A.每个产品的测量值 B.子组均值 C.子组标准差 D.子组极差
36.加工一种轴承, 其规格为10±0.08mm. 要求Cpk≥1. 收集25组数据绘制分析用控制图, 未显示异常.挤貼綬电麥结鈺贖哓类。
计算得到: μ≈10.04mm, σ≈0.02mm.
(1)下列论述正确的是( ).
A.过程处于统计控制状态和技术控制状态 B.过程处于统计控制状态,未处于技术控制状态
C.过程未处于统计控制状态,处于技术控制状态 D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态
(2)比较经济的改进措施为( ). A.同时调整μ,σ B.调整μ C.调整σ D.μ和σ都无需调整赔荊紳谘侖驟辽輩袜錈。
(3)如果只调整μ, 则μ调整为( ),即可满足要求.
A.10.00 B.10.01 C.10.02 D.10.03塤礙籟馐决穩賽釙冊庫。
(4)如果只调整σ, 则σ调整为( ),即可满足要求.
A.0.010 B.0.0133 C.0.0150 D.0.0167 裊樣祕廬廂颤谚鍘羋蔺。
37.过程处于统计控制状态,意味着( ).
A.生产出来的产品都合格 B.该过程的过程能力指数Cp大于1
C .生产出来的产品大部份都落在控制图的控制限内
D.过程中只存在偶然因素 E.控制图上没有点出界和异常排列
38.若控制图中有一点出界,下列判断中正确的是( ).
A.过程可能存在异常因素 B.过程存在偶然因素 C.过程可能不稳定
D.过程没有异常 E.过程处于统计控制状态
39.要求子组大小相同的计数控制图是( ).
A.p图 B.np图 C.单值—移动极差图 D.u图 E.c图
40.利用过程能力指数可以( ).
A.实时监控过程随时间的波动状况 B.计算过程的不合格品率 C.分析不稳定过程的加工质量仓嫗盤紲嘱珑詁鍬齊驁。
D.衡量稳定过程满足技术要求的能力 E.分析过程的异常因素
41.单值—移动极差控制图更适用于( ).
A. 产品均匀的场合 B.大批量且需对过程变化作出灵敏判断的场合 C.需要取得信息多,判断准确的场合
D.检验成本较大,检验时间较长的过程 E.控制对象为计数值的情况
42.检验员用一次抽样方案(80, 0)对连续产品批进行验收,并记录了样本中不合格项和不合格品数,利用这些数据可以绘制( ).绽萬璉轆娛閬蛏鬮绾瀧。
A.np图和p图 B.单值—移动极差图 C.均值—极差图 D.c图和u图 E.排列图骁顾燁鶚巯瀆蕪領鲡赙。
43.下列现象中判定过程异常的是( ).
A.一点落在A区以外 B.连续6点递增或递减 C.连续15点相邻点上下交替瑣钋濺暧惲锟缟馭篩凉。
D.连续8点在中心线两侧 E.连续14点落在C区内
44.利用均值—极差图控制过程,得到=65,=2.0,查表得A2=0.577,D4=2.115,D3=0. 从现场采集一组数据,鎦诗涇艳损楼紲鯗餳類。
=67.1,R=5. 可以得到的结论是( ). A .在控制限内 B.在控制限外栉缏歐锄棗鈕种鵑瑶锬。
C. R在控制限内 D. R在控制限外 E.无法判断
45.计量控制图与p图相比,下述叙述正确的有( ).
A.计量控制图子组大小要求较大 B.计量控制图子组大小要求较小 C.p图更为灵敏辔烨棟剛殓攬瑤丽阄应。
D计量控制图对测量器具的精度要求较高 E.计量控制图对测量器具的精度要求较低
46.在统计过程控制中,偶然因素的特点是( ).
A.过程固有的 B.非过程固有的 C.始终存在的峴扬斕滾澗辐滠兴渙藺。
D.对质量影响大 E.可以通过质量改进完全除去
47.加工一种轴承,其规格为10±0.08mm,要求过程能力指数Cpk≥1. 收集25组数据绘制分析用控制图,未显示异常. 计算得到: μ≈10.04mm, σ≈0.02mm. 詩叁撻訥烬忧毀厉鋨骜。
(1).Cp为( ). A2/3 B.4/3 C.1 D.1.5则鯤愜韋瘓賈晖园栋泷。
(2)Cpk为( ). A.2/3 B.4/3 C.1 D.1.5胀鏝彈奥秘孫戶孪钇賻。
(3)根据上述计算结果,判断过程( ).
A.处于统计控制状态和技术控制状态 B.处于统计控制状态,未处于技术控制状态
C.未处于统计控制状态,处于技术控制状态 D.未处于统计控制状态和技术控制状态
48.依技术标准,某工艺环节的水份含量为20～22(%). 该厂采用均值—标准差(—s)控制图对水份含量进行控制.在统计控制状态下,计算得=21.12, =0.25,子组大小为5,查表得B4=2.089,A3=1.427.鳃躋峽祷紉诵帮废掃減。
(1)关于对技术标准的以下解释,正确的有( ).
A.公差上限为22 B.公差为21 C.公差下限为0 D.公差下限为20稟虛嬪赈维哜妝扩踴粜。
(2) s图的上控制限为( ). A.5.28 B.0.357 C.0.522 D.0.250陽簍埡鲑罷規呜旧岿錟。
(3)图的下控制限为( ). A.21.642 B.21.477 C.20.763 D.20.598 (完) 沩氣嘮戇苌鑿鑿槠谔應。