1、在综合题和工艺题中涉及到关于工件时应考虑重要内容 一、焊缝 1. 平板对接焊缝 ⑴ 探头K值:依照板厚按JB/T4730-原则表18拟定。 ⑵ 试块及反射体:依照题意,结合JB/T4730-原则拟定。 ⑶ 检测面:依照检测技术级别和板厚拟定,检测面宽度按JB/T4730-原则公式(4或(5)拟定。 ⑷ 母材检测:只有C级检测时实行,其检测办法和缺陷记录按JB/T4730-原则5.1.4.4规定。 ⑸ 探头数量:依照检测技术级别和板厚按JB/T4730-原则5.1.2规定。 ⑹ 检测敏捷度:依照板厚和题意按JB/T4730-原则5.1、5.
2、2条规定并符合表19或表20规定。 △ 检测横向缺陷时,每条距离—波幅曲线均应提高6dB。 △ 焊缝两边板厚不等时,检测敏捷度应满足在厚板侧探测规定。 ⑺ 焊缝两边板厚不等时,如厚板侧削薄,探头需在削薄处倾斜某些探测,则应使探头K值增长。 ⑻ 对典型缺陷检测: △ 根部未焊透检测宜选用K1探头。 △ 坡口未熔合检测,应尽量使声束垂直于坡口面。 △ 对电渣焊八字裂纹检测,应使探头与焊缝中心线成45°斜向扫查。 △ 横向缺陷检测: 有余高焊缝:探头在焊缝两侧作与焊缝中心线成10°~20°斜平行扫查。 余高磨平焊缝:探头放在焊缝及热影响区作与焊缝中心线平行扫查。
3、 ⑼ 检测范畴为焊缝自身再加30%板厚区域,(30%板厚区域最小5mm,最大10mm)。 ⑽ 缺陷定量: 依照给出缺陷批示长度、间距等分布状况,对照板厚按照JB/T4730-原则5.1.8规定进行评级。当板厚不等时,按薄板厚度评估。 ⑾ 材质衰减与表面耦合损失按JB/T4730-原则附录F测试。在一跨距声程,经测试传播损失≤2dB时可不进行补偿。 ⑿ 检测时间: 依照所用材料: 普通材料在焊后检测; 有延迟裂纹倾向材料在焊后24小时或36小时(依照产品规定)后检测; 有热解决规定产品在热解决之前检测。如有规定,在热解决后再
4、增长一次检测。 2. 筒体纵焊缝 除平板焊缝中所述内容应考虑外,还应考虑如下内容: ⑴ 内圆面探测应考虑对缺陷定位时与平板焊缝对缺陷定位差别。普通缺陷深度不不大于平板工件深度,缺陷离探头入射点内圆面弧长不大于平板工件水平距离。 ⑵ 外圆面探测应考虑对缺陷定位时与平板焊缝对缺陷定位差别,且与内圆面探测时不同之处。普通缺陷深度不大于平板工件深度,缺陷离探头入射点外园面弧长不不大于平板工件水平距离。同步应考虑最大探测璧厚和缺陷声程修正范畴。 3. 曲面工件焊缝 曲面工件焊缝是指直径不大于或等于500mm工件上对接焊缝,重要考虑如下内容: ⑴
5、 检测面曲率半径R≤W2/4时(W为探头接触面宽度,环焊缝检测时为探头宽度,纵缝检测时为探头长度),应采用与检测面曲率半径相似对比试块,反射孔尺寸符合CSK-ⅡA或ⅢA试块规定,反射孔位置可参照CSK-ⅡA或ⅢA试块设立。 ⑵ 当检测面曲率半径R满足W2/4>R≤250mm时: 纵缝检测:对比试块曲率半径与检测曲率半径之差应不大于10%,外园检测时应考虑最大检测璧厚,对缺陷定位时应考虑与平板焊缝差别。 环缝检测:对比试块曲率半径应为检测面曲率半径0.9~1.5倍。 4. T型焊缝检测 ⑴ 直探头或双晶直探头检测; 在翼板外侧沿焊接接头检测,重
6、要检测翼板侧未熔合、中心未焊透等缺陷。检测敏捷度按JB/T4730-原则表22规定。 ⑵ 斜探头检测: 在翼板上检测:重要检测焊缝中体积状缺陷和横向缺陷。此时推荐使用K1探头。 在腹板上检测:重要检测根部未焊透、中心未焊透、腹板侧未熔合及焊缝中其他缺陷。 ⑶ 对缺陷评级时均以腹板厚度为准。缺陷评级办法同平板对接焊缝。 5. 管座角焊缝 ⑴ 在接管上检测时,探头与接管接触面积W与接管曲率半径R之间应满足W<2,否则应采用与接管曲率半径相似对比试块调节检测敏捷度。 ⑵ 直探头检测敏捷度依照厚度按JB/T4730-原则表21规定。
7、 ⑶ 斜探头检测 △ 探头K值选取和检测敏捷度拟定与平板焊缝相似。 △ 在筒体上检测时,当探头和筒体轴线平行探测时,与平板对接焊缝相似。当探头和筒体轴线垂直探测时,与筒体纵焊缝相似。当探头和筒体轴线成其他角度探测时,对缺陷定位办法与筒体纵焊缝相似,只是曲率半径应以探头所在位置实际缺陷处探头在筒体探测方向半径为准,并不是用筒体曲率半径。 ⑷ 缺陷评估与平板对接焊缝相似。 6. 堆焊层 ⑴ 堆焊层侧检测: 探头:双晶直探头、纵波双晶斜探头并符合JB/T4730-原则5.2.31条规定。双晶斜探头交点深度应位于堆焊层与母材交界处。 试块:T1,T
8、3b),试块母材厚度T≥2倍堆焊层厚度。其中双晶直探头用T1和T3b),双晶斜探头用T1。 基准敏捷度:按JB/T4730-原则5.2.5.1条(T1试块)和5.2.5.3条(T3试块)。 扫查敏捷度:比基准敏捷度提高6dB。 扫查办法:应符合JB/T4730-原则5.2.6.3条规定。 ⑵ 母材侧检测: 探头:直探头,纵波斜探头,并符合JB/T4730-原则5.2.3.2条和5.2.3.3条规定。纵波斜探头普通采用K1探头。 试块:T2,T3a),试块母材厚度T与被检工件母材厚度差不应超过10%。其中直探头用T2和
9、T3a),纵波斜探头用T2。 基准敏捷度:JB/T4730-原则5.2.5.2条(T2试块)和5.2.5.3条(T3试块)。 扫查敏捷度:比基准敏捷度提高6dB。 扫查办法:直探头应在母材侧作100%扫查,纵波斜探头应在母材侧作垂直于堆焊层(90°)方向和平行于堆焊层方向分别进行正反两个方向共四个方向扫查。 ⑶ 堆焊层侧检测时优缺陷: 长处:对缺陷容易鉴别,定位精确,不受工件形状影响。 缺陷:堆焊层表面状况不好时影响检测成果。 ⑷ 母材侧检测时优缺陷: 长处:适合于在用设备检测,不受堆焊层表面状况影响,能较好获得声耦合
10、 缺陷:不适合工件表面形状复杂工件,母材材质、热解决状态和表面状态对检测成果有影响,对缺陷定位不准。 ⑸ 对缺陷当量尺寸采用6dB法测定。 ⑹ 对缺陷评估按JB/T4730-原则表24规定执行。 ⑺ 堆焊层试块制作规定: △ 试块材质、焊接工艺、缺陷状况符合JB/T4730-原则5.2.4.1条规定。 △ 堆焊层厚度应与被检工件堆焊层厚度一致。 △ 试块母材厚度至少应为堆焊层厚度两倍,且与被检工件母材厚度之差不应超过10%。 △ 试块长度和宽度应符合JB/T4730-原则图27、图28和图29规定。 7. 压力管道环焊缝 ⑴ 探头:
11、符合JB/T4730-原则第6.1.3条规定; 探头K值按表29选取; 斜探头斜楔探测面应磨成与管子外径曲率相吻合,并保证一次波扫查到焊缝根部。 ⑵ 试块:依照管子外径按JB/T4730-原则第6.1.2条规定选用。 ⑶ 检测面宽度符合JB/T4730-原则6.1.4.2条规定。 ⑷ 距离—波幅曲线符合JB/T4730-原则表30规定。 扫查敏捷度不低于最大声程处评估线敏捷度。 ⑸ 扫查方式:探头垂直于焊缝作先后、左右移动,不作斜平行扫查。 ⑹ 缺陷批示长度拟定:符合JB/T4730-原则
12、6.1.7.4条规定,并依照缺陷深度和管子外径按JB/T4730-原则公式(6)进行修正。点状缺陷按5mm计批示长度。 ⑺ 缺陷评估:按JB/T4730-原则6.1.9条规定表31评估。 ⑻ 对重要缺陷探测: 根部未焊透:重要用一次波从焊缝两侧检测。 坡口未熔合:重要用二次波从焊缝两侧检测。 8. 奥氏体不锈钢对接焊缝 ⑴ 探头:纵波、高阻尼和窄脉冲单晶斜探头,双晶斜探头和单晶聚焦斜探头。 ⑵ 试块:符合JB/T4730-原则附录N中N.4规定N.1对比试块。 ⑶ 距离—波幅曲线:按JB/T4730-原则表N.1规定制作
13、对缺陷评估,应以通过焊缝距离—波幅曲线为基准比较。 ⑷ 检测办法:用一次波检测,不用反射法检测。 对焊缝100%检测必要将余高磨平。 对有余高焊缝可用大K值探头检测,容许有少某些未检区。 ⑸ 检测中应避免变形横波干扰,辨认非纵波反射信号。 ⑹ 扫查敏捷度不低于评估线敏捷度,如信噪比容许再提高6dB。 ⑺ 缺陷批示长度测定按JB/T4730-原则N.8条规定。 ⑻ 缺陷评估按JB/T4730-原则N.9条规定。 ⑼ 缺陷评级按JB/T4730-原则表N.2规定。 9. 铝合金焊缝 ⑴ 对比试块:按JB/T4730-原则5.3.2
14、条规定,符合图30规定。 ⑵ 探头:2.5MHZ,K2。 ⑶ 距离—波幅曲线:按JB/T4730-原则表26规定。 ⑷ 缺陷质量分级:按JB/T4730-原则表27规定评级。 别的方面与钢焊缝相似。 10. 钛合金焊缝 ⑴ 对比试块:按JB/T4730-原则M.2条规定,符合图M.1规定。 ⑵ 探头:2.5MHZ,K2。 ⑶ 距离—波幅曲线:按JB/T4730-原则表M.2规定制作。 ⑷ 缺陷评估:按JB/T4730-原则表M.3规定评级。 别的方面与钢焊缝相似。 二、锻钢件 1. 明确锻件级别及合格规定
15、 ⑴ 压力容器锻件原则:JB4726-压力容器用碳素钢和低合金钢锻件 JB4727-低温压力容器用低合金钢锻件 JB4728-压力容器用不锈钢锻件 锻件共分四个级别,Ⅰ、Ⅱ级锻钢件不规定超声检测,Ⅲ、Ⅳ级锻钢件规定逐件超声检测。 ⑵ 锻钢件按JB/T4730-原则进行超声检测评级,其合格级别为: 锻件分类 超声检测合格级别 单个缺陷 底波减少量 密集区缺陷 筒形锻件 用于筒节 Ⅱ Ⅰ Ⅱ 用于筒件端部法兰 Ⅲ Ⅲ Ⅱ 环形锻件 Ⅱ
16、Ⅱ Ⅱ 饼形锻件 公称厚度≤200mm Ⅲ Ⅲ Ⅲ 公称厚度>200mm Ⅳ Ⅳ Ⅳ 碗形锻件 Ⅲ Ⅲ Ⅱ 长颈法兰锻件 Ⅲ Ⅲ Ⅱ 条形锻件 Ⅲ Ⅱ Ⅱ 注:依照需方规定,对锻件重要区可提高合格级别。 2. 探头 纵波探头:符合JB/T4730-原则4.2.2规定。 横波探头:符合JB/T4730-原则附录C规定。 3. 试块与反射体 ⑴ 试块:直探头试块CSⅠ。 双晶直探头CSⅡ。 横波和奥氏体钢斜探头试块:60°V形槽试块。 ⑵ 反射体尺寸
17、 直探头:大平底或Φ2平底孔,奥氏体钢锻件由合同或技术文献决定其平底孔当量。 双晶直探头:Φ1~Φ9平底孔。 横波:长25mm,深度为锻件璧厚1%(按实际锻件厚度计算)。 奥氏体斜探头:长25mm,深度为锻件璧厚3%(按实际锻件厚度计算)。 或5%(按实际锻件厚度计算)。 4. 衰减系数测定 按JB/T4730-原则4.2.7条规定测锻件衰减系数并按JB/T4730-原则式(1)和(2)计算锻件衰减系数,当衰减系数≥4dB/m时,在用试块定检测敏捷度时和对缺陷定当量时均应进行修正。
18、5. 基准敏捷度及调校办法 ⑴ 基准敏捷度 直探头:Φ2平底孔当量,奥氏体钢锻件由合同或技术文献拟定平底孔当量。 双晶直探头:Φ3平底孔当量。 横波:长25mm,深1%锻件璧厚,60°V形槽距离-波幅曲线。 奥氏体钢斜探头:长25mm,深3%或5%锻件璧厚,60°V形槽距离-波幅曲线。 ⑵ 调校办法 大平底调校:运用工件无缺陷处大平底回波与同深度某平底孔直径Φ比较,按下式计算dB差值: ΔdB=20lg 式中:-工件厚度 Φ-检测敏捷度规定平底
19、孔当量直径 平面工件、轴类工件均用此式计算。将大平底B1调至基准波高,然后提高上述计算所得dB数。 带中心孔轴类工件调校:运用工件无缺陷处中心孔回波与同深度某平底孔直径Φ比较,按下式计算dB差值: ΔdB=20lg±10lg 式中:d-中心孔内径 D-轴类圆柱体外径 将中心孔B1调到基准波高,然后提高上述计算所得dB数。 横波基准敏捷度调校:按JB/T4730-原则附录C中C.4.2规定调校。 奥氏体斜探头基准敏捷度调校:按JB/T4730-原则附录E中E.4
20、规定调校。 ⑶ 扫查敏捷度:钢锻件不低于Φ2平底孔当量直径。奥氏体钢锻件不低于距离-波幅曲线或再提高6dB。横波检测不低于V形槽距离-波幅曲线。 6. 检测面及扫查办法 ⑴ 直探头:检测面为工件表面,按JB/T4730-原则4.2.5.2条规定作100%扫查。对筒形锻件端部检测时应注明检测范畴。 ⑵ 横波探头:检测面为筒形锻件外园面或内圆面,探头作平行于筒体轴向正反两个方向扫查和垂直于筒体轴向正反两个办法扫查。 ⑶ 奥氏体钢斜探头:扫查办法与检测面拟定同横波探头。 7. 缺陷测定 缺陷当量用AVG曲线法及计算法拟定,也可用距离-波幅曲线来
21、拟定。 缺陷边界和批示长度用6dB法拟定。 8. 缺陷记录 ⑴ 直探头 钢锻件:按JB/T4730-原则4.2.9条规定记录缺陷。 奥氏体钢锻件:按JB/T4730-原则4.7.7条规定记录缺陷。 ⑵ 横波检测:按JB/T4730-原则附录C中C.5条规定记录缺陷。 9. 缺陷评估 钢锻件:按JB/T4730-原则表6、表7和表8分别独立评估级别。 当被检测人员判为危害性缺陷时定为Ⅴ级。 奥氏体钢锻件:按JB/T4730-原则4.7.8条规定评估。 三、板材 1. 钢
22、板 ⑴ 探头:按JB/T4730-原则表1选用,其中双晶直探头性能应符合JB/T4730-原则附录A规定。 ⑵ 试块:CBⅠ,CBⅡ。 ⑶ 基准敏捷度:按JB/T4730-原则4.1.4条规定拟定。 ⑷ 扫查方式:按JB/T4730-原则4.1.5.3条规定扫查,但应当注意,与否有坡口预定线位置,如有坡口预定线,则在其两侧各50mm范畴,当板厚超过100mm时为在其两侧1/2板厚范畴作100%扫查。 ⑸ 缺陷拟定:按JB/T4730-原则4.1.6.1条规定拟定。 ⑹ 缺陷测定:按JB/T4730-原则4.1.6.2条规定测缺陷两边界范畴和批示长
23、度。 注意:钢板探伤不测缺陷当量。 ⑺ 缺陷评估办法:按JB/T4730-原则4.1.7条规定评估。经评估级别后,对坡口预定线部位两侧各50mm(板厚不不大于100mm时为板厚一半)范畴内批示长度≥50mm缺陷及被判为危险性缺陷钢板均评为Ⅴ级。 ⑻ 钢板横波检测: 钢板横波检测按JB/T4730-原则附录B规定执行。 钢板横波检测详细规定: 探头:K1,频率2~5MHZ. 试块:60°V形槽试块。 反射体:长度≥25mm,槽深3%板厚(依照板厚实际计算)。 基准
24、敏捷度:按JB/T4730-原则附录B中B.4条规定,应依照实际板厚拟定。 缺陷记录:按JB/T4730-原则附录B中B.5.2条和B.5.3条规定记录。 验收原则:按JB/T4730-原则附录B.6条规定,重要两个方面: a. 波高≥距离-波幅曲线信号缺陷不合格; b. 发现分层类缺陷按纵波检测规定解决。 2. 复合钢板 ⑴ 探头:按JB/T4730-原则表1选用,双晶直探头性能符合JB/T4730-原则附录A规定。 ⑵ 检测面:可以从基板侧检测,也可从复板侧检测。 ⑶ 扫查方式:按JB/T4730-原则4.4.3.3条规定扫查。 ⑷ 基准敏捷度:将探头置于复合钢板完全结合部位,将第一次底波高等调至荧光屏满刻度80%,以此为基准敏捷度。 ⑸ 扫查敏捷度:与基准敏捷度相似。 ⑹ 未结合区测定:按JB/T4730-原则4.4.5条规定测定。 ⑺ 缺陷评估: 缺陷面积拟定:按JB/T4730-原则4.4.6.2条规定拟定。 未结合率:未结合区总面积/复合板总面积。按比例计算。 质量分级:按JB/T4730-原则表10评估,对坡口预定线两侧各50mm范畴内复合板,如发现未结合批示长度≥25mm时评为Ⅳ级。






