特种设备无损检测题库.doc

特种设备无损检测技术

培训考核习题集

二0一二年三月

说 明
《特种设备无损检测技术培训考核习题集》是在《锅炉压力容器无损检测新编教材配套习题集》基础上改写而成的。改写过程中纠正了书中的一些错误外，还增加了材料、焊接、热处理等基础知识的题目。
编写本习题集的主要依据是《射线检测》、《超声波检测》、《磁粉检测》、《渗透检测》、《特种设备无损检测相关知识》五本教材，编写时还参考了全国考委会《锅炉压力容器无损检测人员考试习题集》、江苏省《无损检测习题集》以及部分美国ASNT习题。
本书主要编写人：强天鹏、施健。
无损检测知识部分的习题集的排列编号与教材的章节对应。RT和UT部分的计算题按难易程度和实用性分为四个等级。Ⅰ级资格人员应掌握*级题，理解或了解**级题；Ⅱ级资格人员应掌握**级以下题，理解或了解***级题；Ⅲ级资格人员应掌握***级以下题，理解或了解****级题。建议在理论考试中，计算题部分“掌握”的等级题占75%左右，“理解”或“了解”的等级题占25%左右。其它题型则未分级，学员可参考锅炉压力容器无损检测人员资格考核大纲中“掌握”、“理解”和“了解”的要求来确定对有关习题的熟练程度。
材料、焊接、热处理知识部分的习题选用了是非和选择题两种题型，主要是考虑这两种题型有利于学员对基础概念的掌握。
欢迎读者对书中的缺点错误批评指正。
2012年3月·南京

目 录
说明
第一部分 射线检测
一、是非题
是非题答案
二、选择题
选择题答案
三、问答题
问答题答案

第二部分
第三部分
第四部分
第五部分 材料 热处理 焊接 449

第一部分 射线检测

共： 803题
其中： 是非题 301题
选择题 284题
问答题 118题
计算题 100题

一、 是非题
1.1 原子序数Z等于原子核中的质子数量。 （ √）
1.2 为了使原子呈中性，原子核中的质子数必须等于核外的电子数。 （ √）
1.3 当原子核内的中子数改变时，它就会变为另一种元素。 （×）
1.4 当一个原子增加一个质子时，仍可保持元素的种类不变。 （ × ）
1.5 原子序数相同而原子量不同的元素，我们称它为同位素。 （√ ）
1.6 不稳定同位素在衰变过程中，始终要辐射γ射线。 （×）
1.7 不同种类的同位素，放射性活度大的总是比放射性活度小的具有更高的辐射剂量。 （ × ）
1.8 放射性同位素的半衰期是指放射性元素的能量变为原来的一半所需要的时间。 强度 （ × ）
1.9 各种γ射线源产生的射线均是单能辐射。 （ × ）
1.10 α射线和β射线虽然有很强的穿透能力，但由于对人体辐射伤害太大，所以一般不用
于工业探伤。 （ × ）
111 将元素放在核反应堆中受过量中子轰击，从而变成人造放射性同位素，这一过程称为
“激活”。 （ √ ）
1.12 与其他放射性同位素不同，Cs137是原子裂变的产物，在常温下呈液态，使用前须防止泄漏污染。 （ √ ）
1.13 与Ir192相比，Se75放射性同位素的半衰期更短，因此其衰变常数λ也更小一些。（ × ）

1.14 射线能量越高，传播速度越快，例如γ射线比Χ射线传播快。 （ × ）
1.15 Χ射线或γ射线强度越高，其能量就越大。 （ × ）
1.16 Χ射线或γ射线是以光速传播的微小的物质粒子。 （×）

1.17 当χ射线经过2个半价层后，其能量仅仅剩下最初的1/4。 强度 （ × ）
1.18 如果母材的密度比缺陷的密度大一倍，而母材的原子序数比缺陷的原子序数小一半时，缺陷在底片上所成的象是白斑。 （ × ）
1.19 标识Χ射线具有高能量，那是由于高速电子同靶原子核相碰撞的结果。 （ × ）
1.20 连续Χ射线是高速电子同靶原子的轨道电子相碰撞的结果。 （ × ）
1.21 Χ射线的波长与管电压有关。 （ √ ）
1.22 Χ射线机产生Χ射线的效率比较高，大约有95%的电能转化为Χ射线的能量。 （ × ）
1.23 一种同位素相当与多少千伏或兆伏能力的Χ射线机来做相同的工作，这种关系叫做同位素的当量能。 （ √ ）
1.24 同能量的γ射线和Χ射线具有完全相同的性质。 （ √ ）
1.25 Χ射线的强度不仅取决于Χ射线机的管电流而且还取决于Χ射线机的管电压。（ √ ）
1.26 与C060相对，CS137发出的γ射线能量较低，半衰期较短。 33年 （ × ）
1.27 光电效应中光子被完全吸收，而康普顿效应中光子未被完全吸收。 （ √ ）
1.28 一能量为300KeV的光子与原子相互作用，使一轨道电子脱离50KeV结合能的轨道，
且具有50KeV动能飞出，则新光子的能量是200KeV。 （ √ ）
1.29 光电效应的发生几率随原子序数的增大而增加。 （ √ ）
1.30 光电子又称为反冲电子。 （ × ）
1.31 随着入射光子能量的增大，光电吸收系数迅速减少，康普顿衰减系数逐渐增大。（ × ）
1.32 当射线能量在1.02MeV至10MeV区间，与物质相互作用的主要形式是电子对效应。（ × ）
1.33 连续Χ射线穿透物质后，强度减弱，线质不变。 （ × ）
1.34 射线通过材料后，其强度的9/10被吸收，该厚度即称作1/10价层。 （ √ ）
1.35 当射线穿过三个半价层后，其强度仅剩下最初的1/8。 （ √ ）
1.36 连续Χ射线的有效能量是指穿透物质后，未被物质吸收的能量。所以穿透厚度越大，有效能量越小。 （ ×
1.37 CO60和Ir192射线源是稳定的同位素在核反应堆中俘获中子而得到的，当射线源经过几个半衰期后，将其放在核反应堆中激活，可重复使用。 （ × ）
1.38 Χ射线和γ射线都是电磁辐射，而中子射线不是电磁辐射。 （ √ ）
1.39 放射性同位素的当量能总是高于起平均能。 （ √ ）
1.40 Χ射线与可见光本质上的区别仅仅是振动频率不同。 （ √ ）
1.41 高速电子与靶原子的轨道电子相撞发出Χ射线，这一过程称作韧致辐射。 （ × ）
1.42 连续Χ射线的能量与管电压有关，与管电流无关。 （ √ ）
1.43 连续Χ射线的强度与管电流有关，与管电压无关。 （ × ）
1.44 标识Χ射线的能量与管电压、管电流均无关，仅取决于靶材料。 （ √ ）
1.45 Χ射线与γ射线的基本区别是后者具有高能量，可以穿透较厚物质。 （ × ）
1.46 采取一定措施可以使射线照射范围限制在一个小区域，这样的射线称为窄束射线。（ × ）
1.47 对钢、铝、铜等金属材料来说，射线的质量吸收系数值总是小于线吸收系数值。（ √ ）
1.48 原子核的稳定性与核内中子数有关，核内中子数越小，核就越稳定。 （ × ）
1.49 经过一次β-衰变，元素的原子序数Z增加1，而经过一次α衰变，元数的原子序数Z将减少2。 （ √ ）
1.50 放射性同位素衰变常数越小，意味着该同位素半衰期越长。 （ √ ）
1.51 在管电压、管电流不变的前提下，将Χ射线管的靶材料由钼改为钨，所发生的射线强
度会增大。 （ × ）
1.52 在工业射线探伤中，使胶片感光的主要是连续谱Χ射线，标识谱Χ射线不起什么作用。（ √ ）
1.53 Ir192射线与物质相互作用，肯定不会发生电子对效应。 （ √ ）
1.54 高能Χ射线与物质相互作用的主要形式之一是瑞利散射。 （ × ）
1.55 连续Χ射线穿透物质后，强度减弱，平均波长变短。 （ √ ）
1.56 不包括散射成分的射线束称为窄射线束。（ √ ）
1.57 单一波长电磁波组成的射线称为“单色”射线，又称为单能辐射。（ √ ）
1.58 α射线和β射线一般不用于工业无损检测，是因为这两种射线对人体辐射伤害太大。（ × ）
1.59 原子由一个原子核和若干个核外电子组成。（ √ ）
1.60 原子核的核外电子带正电荷，在原子核周围高速运动。（ × ）
1.61 原子序数Z=核外电子数=质子数=核电荷数。（ √ ）
1.62 原子量=质子数+中子数。（ √ ）
1.63 中子数=相对原子质量(原子量)-质子数=相对原子质量(原子量)-原子序数Z。（ √ ）
1.64 不稳定的同位素又称放射性同位素，Z≥83的许多元素及其化合物具有放射性。（ √ ）
1.65 目前射线检测所用的同位素均为人工放射性同位素。（ √ ）
1.66 Χ射线谱中波长连续变化的部分，称为连续谱。（ √ ）
1.67 康普顿效应的发生几率大致与光子能量成正比，与物质原子序数成反比。（ × ）
1.68 瑞利散射是相干散射的一种。（ √ ）
1.69 只有入射光子能量＞1.02MeV时，才能发生电子对效应。（ √ ）
1.70 光电效应和电子对效应引起的吸收有利于提高照相对比度。（ √ ）
1.71 康普顿效应产生的散射线会降低照相对比度。（ √ ）
1.72 射线照相法适宜各种熔化焊接方法的对接接头和钢板、钢管的检测。（ × ）
2.1 Χ光管的有效焦点总是小于实际焦点。 （ √ ）
2.2 Χ射线机中的焦点尺寸,应尽可能大,这样发射的Χ射线能量大,同时也可防止靶过分受热。(×)
2.3 Χ射线管中电子的速度越小，则所发生的射线能量也就越小。 （ √ ）
2.4 由于Χ射线机的电压峰值（KVP）容易使人误解，所以Χ射线机所发出的射线能量用电压的平均值表示。 （ × ）
2.5 全波整流Χ射线机所产生射线的平均能比半波整流Χ射线机所产生的平均能高。（ √ ）
2.6 移动式Χ射线机只能室内小范围移动，不能到野外作业。 （ √ ）
2.7 移动式Χ射线机有油冷和气冷两种绝缘介质冷却方式。 （ × ）
2.8 相同千伏值的金属陶瓷管和玻璃管，前者体积和尺寸小于后者。 （ √ ）
2.9 “变频”是减小Χ射线机重量的有效措施之一。 （ √ ）
2.10 放射性同位素的比活度越大，其辐射强度也就越大。 （ × ）
2.11 适宜探测厚度100mm以上钢试件γ源的是Co60，适宜探测厚度20mm以下钢试件的γ源是Ir192。 Se75 （×）
2.12 黑度定义为阻光率的常用对数值。 （ √ ）
2.13 底片黑度D=1，即意味着透射光强为入射光强的十分之一。 （ √ ）
2.14 ISO感光度100的胶片，达到净黑度2.0所需的曝光量为100戈瑞。 （ × ）
2.15 能量较低的射线较更容易被胶片吸收，引起感光，因此，射线透照时防止散射线十分重要。（ √ ）
2.16 用来说明管电压、管电流和穿透厚度关系曲线称为胶片特性曲线。 （ × ）
2.17 胶片达到一定黑度所需的照射量（即伦琴数）与射线质无关。 （ × ）

2.18 同一胶片对不同能量的射线具有不同的感光度。 （ √ ）
2.19 比活度越小， 即意味着该放射性同位素源的尺寸可以做得更小。 （ × ）
2.20 胶片灰雾度包括片基年固有密度和化学灰雾密度两部分。 （ √ ）
2.21 非增感型胶片反差系数随黑度的增加而增大，而增感型胶片反差系数随黑度增加的增大而减小。 （ × ）
2.22 在常用的100KV-400KVΧ射线能量范围内，铅箔增感屏的增感系数随其厚度的增大而减小。（ √ ）
2.23 对Χ射线。增感系数随射线能量的增高而增大。但对γ射线来说则不是这样，例如，
钻60的增感系数比铱192低。 （ √ ）
2.24 对Χ射线机进行“训练”的目的是为了排出绝缘油中的气泡。 （ × ）
2.25 Χ和γ射线的本质是相同的，但γ射线来自同位素，而Χ射线来自于一个以高压加速电子的装置。 （ √ ）
2.26 在任何情况下，同位素都优于Χ射线设备，这是由于使用它能得到更高的对比度和清晰度。（ × ）
2.27 对于某一同位素放射源，其活度越大，则所发出的射线强度也越大。 （ √ ）
2.28 将一张含有针孔的铅板放于Χ射线管和胶片之间的中间位置上，可以用来测量中心射线的强度。（ × ）
2.29 相同标称千伏值和毫安值的Χ射线机所产生的射线强度和能量必定相同。 （ ×）
2.30 所谓“管电流”就是流过Χ射线管灯丝的电流。 （×）
2.31 放射源的比活度越大，其半衰期就月短。 （ × ）
2.32 胶片对比度与射线能量有关，射线能量越高，胶片对比度越小。 （ × ）
2.33 胶片特性曲线的斜率用来度量胶片的对比度。 （ √ ）
2.34 从实际应用的角度来说，射线的能量对胶片特性曲线形状基本上不产生影响。（ √ ）
2.35 宽容度大的胶片其对比度必然低。 （ √ ）
2.36 显影时间延长，将会使特性曲线变陡，且在坐标上的位置向左移。 （ √ ）
2.37 胶片特性曲线在坐标上的位置向左移，意味着胶片感光速度越小。 （ × ）
2.38 与一般胶片不同，Χ射线胶片双面涂布感光乳剂层，其目的是为了增加感光速度和黑度。（√）
2.39 “潜象”是指在没有强光灯的条件下不能看到的影象。 （× ）
2.40 嵌增感屏除有增感作用外，还有减少散射线的作用，因此在射线能穿透的前提下，应尽量选用较厚的铅屏。 （ × ）
2.41 透照不锈钢焊缝，可以使用碳金属丝象质计。 （ √ ）
2.42 透照钛焊缝，必须使用钛金属丝象质计。 （ √ ）
2.43 透照镍基合金焊缝时使用碳素钢象质计，如果底片上显示的线径编号刚刚达到标准规定值，则该底片的实际灵敏度肯定达不到标准规定的要求。 （ × ）
2.44 因为铅箔增感屏的增感系数高于荧光增感屏，所以得到广泛使用。 （ × ）
2.45 胶片卤化银粒度就是显影后底片的颗粒度。 （ × ）
2.46 梯噪比高的胶片成像质量好。 （ √ ）
2.47 胶片系统分类的主要依据是胶片感光速度和梯噪比。 （ × ）
2.48 直通道型γ射线机比“S”通道型γ射线机的机体轻，体积也小。（ √ ）
2.49 铺设γ射线机输源管时应注意弯曲半径不得过小，否则会导致其变形或折断。（ × ）
2.50 像质计一般摆放在射线透照区内显示灵敏度较低部位。（ √ ）
2.51 管道爬行器是一种装在爬行装置上的Χ射线机。（ √ ）
2.52 Χ射线机在同样电流、电压条件下，恒频机的穿透能力最强。（ √ ）
2.53 Χ射线管的阴极是产生Χ射线的部分。（ × ）
2.54 Χ射线管的阳极是由阳极靶、阳极体阳极罩三部分构成。（ √ ）
2.55 一般阳极体采用导热率大的无氧铜制成。（ √ ）
2.56 携带式Χ射线机的散热形式多采用辐射散热式。（ √ ）
2.57 Χ射线管的阳极特性就是Χ射线管的管电压与管电流的关系。（ √ ）
2.58 Χ射线机采用阳极接地方式的自整流电路，对高压变压器的绝缘性能要求较高。（ √ ）
2.59 Χ射线机的灯丝变压器是一个降压变压器。（ √ ）
2.60 γ射线机的屏蔽容器一般用贫化铀材料制成，其体积、重量比铅屏蔽体要小许多。（ √ ）
2.61 在换γ射线源的操作过程中，必须使用γ射线计量仪表及音响报警仪进行检测。（ √ ）
262 射线胶片由片基、结合层、感光乳剂层、保护层组成。（ √ ）
2.63 胶片感光后，产生眼睛看不见的影像叫“潜影”。（ √ ）
2.64 射线胶片的感光特性可在曝光曲线上定量表示。（ × ）
2.65 射线底片上产生一定黑度所用曝光量的倒数定义为感光度。（ √ ）
2.66 未经曝光的胶片，经暗室处理后产生的一定黑度称为本底灰雾度。（ √ ）
2.67 胶片对不同曝光量在底片上显示不同黑度差的固有能力称为梯度。（ √ ）
2.68 胶片有效黑度范围相对应的曝光范围称为宽容度。（ √ ）
2.69 胶片的特性指标只与胶片有关，与增感屏和冲洗条件无关。（ × ）
2.70 黑度计和光学密度计是两种不同类型的测量仪器。（ × ）
2.71 使用金属增感屏所得到的底片像质最佳，其增感系数也最小。（ √ ）
2.72 增感系数Q是指不用增感屏的曝光量Eo与使用增感屏时的曝光量E之间的比值，即：Q=Eo/E (√)
2.73 金属增感屏具有增感效应和吸收效应两个基本效应。（ √ ）
2.74 由于增感系数高，荧光增感屏多用于承压设备的焊缝射线照相。（ × ）
2.75 像质计是用来检查和定量评价射线底片影像质量的工具。（ √ ）
2.76 像质计通常用与被检工件材质相同或对射线吸收性能相似的材料制作。（ √ ）
3.1 影象颗粒度完全取决于胶片乳剂层中卤化银微粒尺寸的大小。 （ × ）
3.2 象质计灵敏度1.5%，就意味着尺寸大于透照厚度1.5%的缺陷均可被检出。 （ × ）
3.3 使用较低能量的射线可得到较高的主因对比度。 （ √ ）
3.4 射线照相时，若千伏值提高，将会使胶片对比度降低。 （ × ）
3.5 一般对厚度差较大的工件，应使用较高能量射线透照，其目的是降低对比度，增大宽容度。（ √ ）
3.6 增大曝光量可提高主因对比度。 （ × ）
3.7 当射线的有效量增加到大约250KV以上时，就会对底片颗粒度产生明显影响。 （ √ ）
3.8 增大最小可见对比度△Dmin，有助于识别小缺陷。 （ × ）
3.9 射线照相主因对比度与入射线的能谱有关，与强度无关。 （ √ ）
3.10 用增大射源到胶片距离的办法可降低射线照相固有不清晰度。 （ × ）
3.11 减小几何不清晰度的途径之一，就是使胶片尽可能地靠近工件。 （ √ ）
3.12 利用阳极侧射线照相所得到的底片的几何不清晰度比阴极侧好。 （ √ ）
3.13 胶片的颗粒越粗，则引起的几何不清晰度就越大。 （ × ）
3.14 使用γ射线源可以消除几何不清晰度。 （ × ）
3.15 增加源到胶片的距离可以减小几何不清晰度，但同时会引起固有不清晰度增大。 （ × ）
3.16 胶片成象的颗粒性会随着射线能量的提高而变差。 （ √ ）
3.17 对比度、清晰度、颗粒度是决定射线照相灵敏度的三个主要因数。 （ √ ）
3.18 胶片对比度和主因对比度均与工件厚度变化引起的黑度差有关。 （ × ）
3.19 使用较低能量的射线可提高主因对比度，但同时会降低胶片对比度。 （ × ）
3.20 胶片的颗粒度越大，固有不清晰度也就越大。 （ × ）
3.21 显影不足或过度，会影响底片对比度，但不会影响颗粒度。 （ ×）
3.22 实际上由射线能量引起的不清晰度和颗粒度是同一效应的不同名称。 （ × ）
3.23 当缺陷尺寸大大小于几何不清晰度尺寸时，影象对比度会受照相几何条件的影响。（ √ ）
3.24 可以采取增大焦距的办法使尺寸较大的源的照相几何不清晰度与尺寸较小的源完全一样。（ √ ）
3.25 如果信噪比不够，即使增大胶片衬度，也不可能识别更小的细节影像。 （ √ ）
3.26 散射线只影响主因对比度，不影响胶片对比度。 （ √ ）
3.27 底片黑度只影响胶片对比度，与主因对比度无关。 （ √ ）
3.28 射线的能量同时影响照相的对比度、清晰度和颗粒度。 （ √ ）
3.29 透照有余高的焊缝时，所选择的“最佳黑度”就是指是能保证焊缝部位和母材部位得到相同角质计灵敏度显示的黑度值。 （ √ ）
3.30 由于最小可见对比度△Dmin随黑度的增大而增大，所以底片黑度过大会对缺陷识别产生不利的影响。 （ √ ）
3.31 底片黑度只影响对比度，不影响清晰度。 （ √ ）
3.32 试验证明，平板试件照相，底片最佳黑度值大约在2.5左右。 （ √ ）
3.33 固有不清晰度是由于使溴化银感光的电子在乳剂层中有一定穿越行程而造成的。（ √ ）
3.34 底片能够记录的影象细节的最小尺寸取决于颗粒度。 （ √ ）
3.35 对有余高的焊缝照相，应尽量选择较低能量的射线，以保证焊缝区域有较高的对比度。（ × ）
3.36 对比度修正系数σ值与缺陷的截面形状有关，例如裂纹的截面形状与象质计金属丝不同，两者的σ值也不同。 （ √ ）
3.37 由于底片上影象信噪比随曝光量的增加而增大，所以增加曝光量有利于缺陷影象识别。（ √ ）
3.38 射线照相的信噪比与胶片梯噪比具有不同含义。 （ √ ）
3.39 射线照相固有不清晰度与增感屏种类无关。（ × ）
3.40 焦点至工件表面的距离是影响几何不清晰度的原因之一。（ √ ）
3.41 胶片对比度与显影条件有关。（ √ ）
3.42 一般情况下，胶片感光速度越高，射线照相影像的颗粒性就越不明显。（ × ）
3.43 焦点尺寸的大小与几何不清晰度没有关系。（ × ）
3.44 增感屏与胶片未贴紧会增大固有不清晰度。（ √ ）
3.45 衰减系数µ只与射线能量有关，与试件材质无关。（ × ）
3.46 几何不清晰度与焦点尺寸和工件厚度成正比，与焦点至工件表面的距离成反比。（ √ ）
3.47 射线照相固有不清晰度可采用铂-钨双丝像质剂测定。（ √ ）
3.48 颗粒性是指均匀曝光的射线底片上影像黑度分布不均匀的视觉印象。（ √ ）
4.1 按照“高灵敏度法”的要求，300KVX射线可透照钢的最大厚度大约是40mm。 （ √ ）
4.2 γ射线照相的优点是射线源尺寸小，且对厚度工作照相曝光时间短。 （ × ）
4.3 选择较小的射线源尺寸dr，或者增大焦距值F，都可以使照相Ug值减小。（ √ ）
4.4 欲提高球罐内壁表面的小裂纹检出率，采用源在外的透照方式比源在外的透照方式好。（ √ ）
4.5 环焊缝的各种透照方式中，以源在内中心透照周向曝光法为最佳方式。 （ √ ）
4.6 无论采用哪一种透照方式，一次透照长度都随着焦距的增大而增大。 （ × ）
4.7 所谓“最佳焦距”是指照相几何不清晰度Ug与固有不清晰度Ui相等时的焦距值。（ √ ）
4.8 已知铜的等效系数Ψ铜=1.5，则透照同样厚度的钢和铜时，后者的管电压应为前者的1.5倍。（× ）
4.9 对有余高的焊缝进行透照，热影响区部位的散射比要比焊缝中心部位大得多。 （ × ）
4.10 源在内透照时，搭接标记必须放在射源侧。 （ × ）
4.11 背散射线的存在，会影响底片的对比度。通常可在工件和胶片之间放置一个嵌字B来验证背散射线是否存在。 （ × ）
4.12 不论采用何种透照布置，为防止漏检，搭接标记均应放在射线源侧。 （ × ）
4.13 由于“互易定律实效”采用荧光增感屏时，根据曝光因子公式选择透照参数可能会产生较大误差。 （ √ ）
4.14 当被透工件厚度差较大时，就会有“边蚀散射”发生。 （ √ ）
4.15 在源和工件之间放置滤板来减少散射线的措施对γ射线并不适用。 （ √ ）
4.16 使用“滤板”可增大照相宽容度，但滤板最好是放在工件和胶片之间。 （ × ）
4.17 在源和工件之间放置滤板减少散射线的措施对于平板工件照相并不适用。 （ √ ）
4.18 在实际工作中正常使用的焦距范围内，可以认为焦距对散射比没有影响。 （ √ ）
4.19 采用平靶周向Χ射线机对环焊缝作内透中心法周向曝光时，有利于检出横向裂纹，但不利于检出纵向裂纹。 （ √ ）
4.20 采用源在外单壁透照方式，如K值不变，则焦距越大，一次透照长度L3越大。 （ √ ）
4.21 采用双壁单影法透照时，如保持K值不变，则焦距越大，一次透照长度L3就越小。（ √ ）
4.22 用单壁法透照环焊缝时，所用搭接标记均应放在射源侧工件表面，以免端部缺陷漏检（× ）。
4.23 对某一曝光曲线，应使用同一类型的胶片，但可更换不同的Χ射线机。 （ × ）
4.24 使用γ射线曝光曲线时，首先应知道射线源在给定时间的活度。 （ √ ）
4.25 如果已知等效系数，用Χ射线曝光曲线来代替γ射线曝光曲线，也可能求出曝光参数。（ × ）
4.26 小径管射线照相采用垂直透照法比倾斜透照法更有利于检出根部未熔合。 （ √ ）
4.27 增大透照厚度宽容度最常用的办法是适当提高射线能量。 （ √ ）
4.28 对尺寸很小的缺陷，其影象的对比度不仅与射线能量有关，而且与焦距有关。（ √ ）