1、单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,烤箱的温度闭环控制实验,二、实验仪器,一、实验目的,1.,解由,A/D,做输入信道，开关量输出的,PWM,温控闭环系统。,2.,热敏电阻的非线性有所了解。,3.,掌握程序调试方法。,烤箱的温度闭环控制实验,三、实验原理,自从计算机进入控制领域以来，用数字计算机代替模拟计算机调节器组成计算机控制系统，不仅可以用软件实现,PID,控制算法，而且可以利用计算机的逻辑功能，使,PID,控制更加灵活。数字,PID,控制在生产过程中是一种最普遍采用的控制方法，在机电、冶金、机械、化工等行业中获得了广泛的应用。将偏差的
2、比例,(P),、积分,(1),和微分,(D),通过线性组合构成控制量，对被控对象进行控制，故称,PID,控制器。,烤箱温度控制的实验原理图,烤箱的温度闭环控制实验,三、实验步骤,1,、以,PC,机为操作平台，按实验原理要求结好实验线路，检查无误后打开电源开关，打开,TDN-MI,系统开关，数码管显示,“,P,”,，说明系统正常。启动,PC,机，显示,DOS,提示符,C,：或,C,：,WINDOWS,键入,CD,，将目录改为根目录，输入,CD MD51,，可显示,C,：,MD51,在此处输入,MD51,即可进入,MI,接口。,2,、根据,TDN-MI,系统与,PC,机联机使用说明，使用,F1,、
3、F3,、,F2,、,F5,等功能键或利用窗口中提示的组合键将,B17-1.MASM,、通过,F2,汇编（直到汇编成功）、,F3-LINK,后形成的,B17-1.HEX,文件利用,F5-LOAD,装入到,RAM,中。,烤箱的温度闭环控制实验,3,、在窗口中光标闪烁处键入命令,G,运行程序，通过单片机键盘上功能键,SETP,（单步运行）检查联机是否成功，若不同步，说明联机失败，继续步骤,1,进行操作，直到成功为止。,4,、根据程序流程图和运行程序查出主程序入口地址、清采样标志指令位址、查温度表指令地址及相应的数据表首地址、温度值所送单元，列出数据表。,5,、设置,1-5,个段点，运行程序并观察程序执行情况。,6,、在调试接口中进入,F7-WAVE,功能运行程序，在,PC,机上地观察,YK,、,CK,、,SP,（十进制数）的变化情况,7,、运行程序，观察烤箱温度变化情况，调整,PID,参数值可以得到满意的控制结果：,
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