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ch5-光探测器原理及其系统性能-----光电下变频器原理与性能.pptx

1、单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,2013/10/4,#,第五章,光,探测器原理及其系统性,能,光,电下变频器原理与性能,几句话,光信号经光纤传输到目的端,需要下变频至电频信号。,将光频信号下变频至电频信号的器件,-,光电探测器。,光,电探测器属于强度检测器件,基于,包络检波原理,将光波承载的电信号包络检测出来,完成下变频的功能。,电信号的包,络检,波方式多种多样:,无,源的有二极管检,波;有,源的有三极管、运放等,;,还,有单向检波、桥式检波、同步检波等等,。,光,频段的包络检波如何实现?,几句话,联系到:,光本振:注入电流产生激光;,探测,

2、器:注入激光产生电流?,引,出可以推测:,探测,器的工作原理和激光器恰好是相反的,探测器的基本原理:,吸收激光,输出电流。,主要内容,光探测器的结,构与基本特性,非,线,性,高带宽、大饱和功率探测器,主要内容,光探测器的结,构与基本特性,非,线,性,高带宽、大饱和功率探测器,光探测器的结,构与基本特性,典型的通信用光电探测器结构有:,PIN,APD,PIN,光电探测器,PIN,是,P,型和,N,型半导体中间夹着一层掺杂很轻的本征半导体,(I,型半导体,),典型的,双异质结结,构。,PIN,光电探测器,光电探测器施加反向电压,因而势垒升高,I,区厚度较大,大多数光生载流子集中在该区。,载,流子在

3、该区强电场作用下,电子向,N,区漂移,空穴向,P,区漂移,流到外电路中产生光电流。,在,I,区(空间电荷区)载流子基本耗尽,因此,I,又称为耗尽区。,2026/2/1 周日,PIN,光电二极管工作原理,此动画为,PIN,光电二极管工作原理,动画。,光电探测器的主要性能指标,响应波,(,频,),段,光子能量低于禁带宽度,E,g,,无光电效应,存在截止频率(最低频率)或截止波长(最长波长)。,h,E,g,,,c,=hc/,E,g,=,1.24/,E,g,光子能量,(,频率,),过高,材料的吸收系数很大,结果使大量的入射光子在光电二极管的表面层就被吸收。,半导体光电二极管的响应波长:,min,max

4、Si,光电二极管:,0.51.0m,;,Ge,和,InGaAs,光电二极管:,1.11.6m,;,InGaAsP,:,0.81.6m,。,光电探测器的主要性能指标:量子效率,光电转换效率:光电效应理想情况是一个光子产生一个电子。,入射功率为,P,in,时,光生电流可以表示为,光电转换效率又可写成,光电探测器的主要性能指标:响应度,量子效率高是接收机高灵敏度的关键。,量子效率和响应速度之间存在矛盾:,为了得到较高的量子效率,必须加大耗尽区的宽度,使得可以吸收大部分的光子。,但是,耗尽区越宽,光生载流子漂移渡越反向偏置结的时间就越长。,由于载流子的漂移时间又决定了光电二极管的响应速度,/,响

5、应时间,所以必须在响应速度和量子效率之间采取折衷。,一般而言,探测器带宽越宽,量子效率会相应降低。,例,一个,PIN,光电二极管,它的,P,接触层厚,1um,。假设仅仅在耗尽区中(,I,层)吸收的光子才能有效地转换成光电流。当波长为,0.9um,时,,=5104m,-1,,忽略反射损耗,求:,该光电二极管可以得到的最大量子效率?,为使量子效率达到,80%,,耗尽区厚度最小应为多少?,解:,PIN,光电探测器,R,的典型值为:,Si800nm,,,R=0.64uA/uW,;,Ge1.3um,,,R=0.45uA/uW,;,InGaAs1.3um,R=0.6uA/uW,当入射光的功率比较低的情况下

6、R,不随入射光功率的变化而变化;,R,和波长之间的关系通常被称为探测器的谱响应特性。,PIN,光电探测器,光电探测器的主要性能指标,:,响,应速度,/,响应时间,响应速度:描述,半导体光电二极管产生的光电流跟随入射光信号变化快慢的情况。,用响应时间或响应带宽表示。,定义:,响应时间:光生电流脉冲前沿由最大幅度的,10%,上升到,90%,,或后延由,90%,下降到,10%,,分别用脉冲上升时间,r,和脉冲下降时间,f,表示。,若,脉,冲上升时间,r,和脉冲下降时间,f,相同,则前后沿相同,,则光,电二极,管可用单一时,间常数,0,描述,此时有接,近指数函数,exp(t/,0,),或,exp(

7、t/,0,),,则:,光电探测器的主要性能指标,:,响,应带,宽,从频域角度看,响应时间即意味这个器件的带宽,响应时间短,则带宽宽。,响应带宽定义:,探测器带宽通常定义为输出信号下降到功率的,3dB,处的频率。简单的估算法:,光电探测器的主要性能指标,:暗,电流,暗电流:,在无光情况下,光电探测器的输出电流。,热激励、宇宙射线或放射性物质的激励,严格地说,暗电流还应包括器件,表面的漏电流,。,暗电流是光电探测器,附加噪声,的主要来源,影响光接收机的灵敏度,所以暗电流越小越好。,对于,PIN,管,其暗电流甚小,产生的附加噪声很低,所以对光接收机灵敏度产生的影响并不显著,。,光电探测器的主要性能

8、指,标,:,噪,声,噪声是光电探测器很重要的参数,直接影响光接收的灵敏度,。,噪声:,散粒噪声,(,shot noise,):信号电流和暗电流产生的,热噪声:,由负载电阻和后继放大器输入电阻产生的,噪声的表示方法,在,1,负载上消耗的,噪声功率,来描述噪声,-,均方噪声电流,功率,噪声等效功率,NEP,产生等于探测器或接收机均方根噪声的电流所需的输入功率。定义为,SNR=1,时,每单位带宽的最小光功率,并由,NEP=P,in,/(f),1/2,表示,。,光电探测器的主要性能指标,:,噪声,NEP,是产生探测器平均噪声所需的光功率,即直接将噪声,与光功率进行比较,,衡量了可探测到的最小信号功率。

9、均方散粒噪声电流,入射光功率产生的光电探测器电流为,I(t)=I,p,+,i,s,(t),i,s,(t),:散粒噪声的电流起伏,与之有关的均方散粒噪声电流为,=2eI,p,B,,,B,是放大器的带宽,当暗电流,I,d,的存在不可忽略时,均方散粒噪声电流为,=2e(I,p,+I,d,)B,光电探测器的主要性能指标,:,噪声,均方热噪声电流,=4,k,TB/R,,,R,是负载电阻与放大器输入电阻的并联(,=R,L,R,i,)。,因此,光电探测器的总均方噪声电流为:,=2e(I,p,+I,d,)B+4,k,TB/R,光电探测器的主要性能指标,:,噪声,PIN,的特点,优点:,噪声小、工作电压低(仅

10、十几伏)、工作寿命长,使用方便和价格便宜。,缺点:,没有倍增效应。即在同样大小入射光的作用下仅产生较小的光电流,所以用它做成的光接收机之灵敏度不高;,PIN,光电二极管只能用于较短距离的光纤通信(,小容量与大容量皆可,)。,PIN,光电探测,器的使用,电阻越大,输出信号大,信噪比高。,但电阻大,,输入端,RC,时间常数加大,,3dB,带宽减小。,3dB,带宽,=1/(2R,i,C,t,),C,t,:,输入端的总电容;,R,i,:,等,效到输入端的电阻。,光探测器的结构,典型的通信用光电探测器结构有:,PIN,APD,雪崩光电二极,管,APD,:avalanche photodiode,APD,

11、的工作原理也是基于光电效应。,PIN,光电二极管的,1,个光子只产生,一对,电子,-,空穴对,无增益;,APD,利用电离碰撞,,1,个光子产生,多对,电子,-,空穴对,有增益,因此,,APD,不但具有光,/,电转换作用,而且具有内部放大作用,其内部放大作用是靠管子内部的雪崩倍增效应而完成的。,入射光,一对,电子,-,空穴对,(,一次光生电流,),与晶格碰撞电离,产生雪崩增益,多,对,电子,-,空穴对,(,二次光生电流),吸收,外电场加速,雪崩光电二极管,APD:avalanche photodiode,APD,可看成一个,二级器件,:,第一级是一个,PIN,光电二极管,光在其中产生一次光生载流

12、子;,第二级是一个基于雪崩增益的内置放大级,在高电场作用下,载流子近似雪崩(几十,200,伏的偏置电压)。,第一级:,耗尽层仍为,I,层,起产生一次电子空穴对的作用。,第二级:,增加了一个附加层:高电场区,(,增益区,),,以实现碰撞电离产生二次电子空穴对。,N,+,P,P,+,电场,E,高电场区,耗尽区,+,-,雪崩区,雪崩电离需要,的最小电场,APD,的场分布,动画:由于高电场区的雪崩电离,外电路形成,倍增的,光生电流。,雪崩光电二极管,APD:avalanche photodiode,APD,特征参数:倍增因子,除了,PIN,的特性参数必须考虑外,还必须考虑,:,(,1,)倍增因子,雪崩

13、增益的整个过程都是,随机,的,倍增因子,G,是个,平均量,。,平均雪崩增益倍增因子:,G=I,M,/I,p,I,p,:雪崩之前的初始光生电流,,I,M,:雪崩增益后输出的平均光生电流。,APD,的倍增因子,G,在,40,100,之间。,PIN,光电管因无雪崩倍增作用,所以,G,=1,。,APD,特征参数:倍增因子,G,V,V,B,(,击穿电压,),Rs,是,APD,串联电阻或,APD,的体电阻;,n,是材料的结构系数,一般为,36,。,对应地,,APD,响应度有,APD,特征参数:过剩噪声,/,附加噪声,PIN,光电二极管的噪声主要是量子噪声和暗电流噪声,,APD,管还有过剩噪声,。,雪崩过程

14、的复杂随机性对噪声电流同样也起放大作用(,每个光生载流子不会经历相同的倍增过程,具有随机性,这将导致倍增增益的波动,),使得总噪声增加,,这种随机性的电流起伏将带来附加噪声,一般称为,过剩噪声,/,附加噪声,。,过剩噪声可以用,过剩噪声系数,F,(,G,),来描述,。,APD,特征参数:过剩噪声,/,附加噪声,是均方值,表示的是功率,所以噪声功率,=F(G)G,2,。,G,有一个最佳值,此时信噪比最高。在工程上,为简化计算,常用,过剩噪声指数,x,表示过剩噪声系数,符号“,”,表示平均值,g,是每个载流子产生倍增的随机倍增数,因此,=G,;,对于,Si,光电二极管:,x,=0.30.5,;,G

15、e,光电二极管:,x,=0.81.0,;,InGaAs,的,APD,:,x,=0.50.7,。,主要内容,光探测器的结,构与基本特性,非,线性,高带宽、大饱和功率探测器,探测器中的非线性,在大功率入射的情况下,,探测器的响应度,R,出现非,线性效,应:,R,受入射光功率的影响。,总,的说来,探测器的非线性没有激光器、调制器的非线性效应大,因此探测器的非线性效应一般都被忽略。,但是当激光器、调制器的非线性得到补偿后,为了进一步减少系统的非线性,就必须考虑探测器的非线性效,应了。,特,别是大饱和功率探测器的出现,它们的非线性效应不能忽视。,探,测器的非线性特点:,物,理原因多;,非线,性的补偿需要

16、有针对性。,探测器中的非线性,载流子传送产生的相关效应,对于模拟光纤链路,大功率的激光有利于链路,RF,效率的提高和,SFDR,的改善。这时探测器的线性度就必须考虑。,大功率激光照射下,高速探测器出现饱和效应。,饱和的原因:,吸收饱和;,本征区空间电荷产生电场屏蔽效应。,在外部电路和几何效应影响下,会进一步恶化。,探测器中的非线性,严重的吸收饱和来源于:带填充效应。,电子和空穴对作为,费米子,,填充在每一个量子态上,必须遵循,泡利不相容原理,。因此半导体带中的,每个态,只能被,两,个自旋方向相反的载流子占据。,根据能量最小原理,,准平衡下,的载流子首先从带的,底部,占据的可能的态,因此能量最低

17、的态最先占据。这样靠近带底部的态被电子占据,价带顶部的态被空穴占据。,对于,InGaAs,材料,这对应着电子浓度超过,210,17,cm,-3,,空穴浓度超过,10,18,cm,-3,。,探测器中的非线性,探测器中的非线性,电场屏蔽效应,假设半导体中有限个电子被从价带激励到导带,这些被激励的载流子之间存在屏蔽作用:,屏蔽,处在同一带内载流子的,库仑作用,屏蔽,不同带间电子空穴的,相互作用,屏蔽的理解:一个电荷的库仑势因存在其他电荷的存在而减少。这是光学非线性的一个来源。,由于载流子密度取决于入射光强,因此材料的响应是光学非线性的。,探测器中的非线性,空间电荷屏蔽效应所对应的载流子浓度要比带填充

18、所需要的载流子浓度低几个量级。,非屏蔽的库仑势,屏蔽势,探测器中的非线性,电路效应:,外部电路的屏蔽效应主要来源于探测器结区外面的串接电阻。,例如,50,负载,,10mA,的光电流可以导致本征区,0.5V,电压的下降。,这种下降随着光电流的增加而增加。,探测器中的非线性,外加电场的屏蔽效应,对于光电二极管,为了加速光生载流子的渡越,本征区的电场相当高。,当光生载流子流量很高时,电子空穴的分离所产生的电场将屏蔽外加电场。,本征区内部电场的重新分布(伴随着空间相关的空穴和电子速度分布)将导致探测器的非线性。,结果产生谐波畸变;当光强继续升高,会影响到基频信号。,为避免这种效应,可以给探测器施加较高

19、的反向偏压。,探测器中的非线性,非均匀的屏蔽效应:,PIN,非线性的一个来源,当光生空穴和电子对达到一定浓度,能够部分地屏蔽偏置电场,导致同一截面上产生的载流子速度严重的不一致:,探测器处在一种饱和状态,非线性畸变严重。,探测器中的非线性,RF,频率,5GHz,,平均光电流,1mA,下,非线性和反向偏压的关系:实验结果,探测器中的非线性,RF,频率,5GHz,,反向偏压,5V,,非线性畸变和平均光电流的关系:理论和实验,探测器中的非线性,三种探测器的最大饱和电流与,3dB,截止频率之间的关系,探测器中的非线性,几何效应:,探测器中的非线性,主要内容,光探测器的结,构与基本特性,非线性,高带宽、

20、大饱和功率探测器,宽,带、高饱和功率光电探测器(,1,),部分耗尽吸收区光电探测器,(PDA-PD),传统的,PIN,中,光生电子,-,空穴对产生在,I,区,电子和空穴各自向相反的方向移动到达电极,在外电路中产生光电流。电子的速度远大于空穴的速度,速度不匹配导致了耗尽层中电荷的不平衡,这将引起空间电荷效应。,在,PDA-PD,中,为了达到电荷平衡,在,I,区两侧加入,P,型掺杂和,N,型掺杂的吸收区:,P,型吸收区向,I,区中注入电子,,N,型吸收区向,I,区注入空穴。,I,区两侧吸收区厚度的不同可以控制注入的电子流比空穴流强。,这种探测器在,48GHz,带宽下,可以获得,24mA,的饱和输出电流;在,300MHz,情况下,饱和电流可高达,430mA,。,宽,带、高饱和功率光电探测器(,2,),单传输载流子光电探测器,(UTC-PD),传统,PIN,的响应时间主要由传输速度慢的空穴传输决定。,UTC-PD,,顾名思义,响应时间是由电子的传输决定,由于电子的传输速度远大于空穴的传输速度,因此其响应时间性能得到提升;,另外,通过结构的设计,该探测器具有极高的饱和输出电流。,单一载流子传输探测器的主要指标,3dB,带宽,310GHz,,,输出功率,20mW100GHz,UTC,与天线的集成:,310GHz/THz,光电探测器,天线,

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