1、单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,一、同轴电缆,1,、结构,同轴电缆结构分为:导体、绝缘、铝箔麦拉、编织、外被。,举例:,A11 22AWG 1C,同轴线,(,1,)、导体,:裸铜线,1/0.643B0.003MM,(,2,)、绝缘,:,FOAM-PE,芯线料,0.98MM,使用物理发泡(,9180+FB-3000+87-ft-50,发泡剂);比例为,60,:,40,:,1.5,注:,9180,指高密度,PE,;,FB-3000,指低密度,PE,;,87-ft-50,指发泡剂;,附加:化学发泡:直接用发泡料进行制作,与物理发泡很明显的外观区
2、别在于:物理发泡较硬,而化学发泡较软。,(,3,)、铝箔麦拉(纵包),:,12MM*50U,(,16%,),注:,12MM,指铝箔宽度;,50U,指铝箔厚度;,16%,指纵包后铝箔的重叠率,(,4,)、编织,:,16/8/0.12B0.003*8P,注:,16,指锭数(顺电缆一周相同排列的铜丝股数),一般情况下绝缘外径为,5.0MM,以下的电缆都用,16,锭,,5.0MM,以上用,24,锭;,8,指,8,根单铜丝组成一股铜丝;,8P,指目数。(随机抽取,25.4MM,电缆,计算铜股相同交叉点的数量,即为该电缆编织层的目数),(,5,)、外被,:,PVC,(,N049A,),2,、物理特性及电气
3、特性要求,(,1,)物理特性,:外被,-,伸长,100%MIN,L2,(,MM,),-L1,(,25.4MM,),L1100%=,伸 长率;,抗张强度,-2000PSI MIN,F/,(,G1-G2,),163.87=,抗张强度,注:,G1,为样品在空气中的重量,G2,为样品在水中的重量,F,为,1inch,长样品的拉力,(2),电气性能,:,阻抗,:755,导体电阻,:55.3/KM(MAX),绝缘电阻,:10M/KM(MIN),耐电压,:AC 500V/,分,水中电容值,:50-50PF/,米,3,、特性要求测试及测试原理,阻抗(,Impedance),:注意区分与电阻的区别,在直流电的世
4、界中,物体对电流阻碍作用叫做电阻,但在交流电的领域中则除了电阻会阻碍电流以外,电容及电感也会阻碍电流的流动,这种作用就称之为电抗,而日常生活中所说的阻抗是电阻和电抗在向量上的和。,阻抗不在于大小,而在于是否与设备匹配;同轴电缆阻抗亦称为不平衡阻抗(即信号在传输过程中导体走正讯号,编织层走负讯号,且不能交替)。影响阻抗的因素有:同芯度、发泡度、导体的平整性。,附加:阻抗直接影响到回路损失(,RETURN LOSS,),假设同芯度偏差过大,导体,OD,不均匀等都影响到阻抗,也直接影响到回路损失。,4,、导体电阻,亦物体对电流的阻碍作用,与长度成正比。公式为:,R=*L /A,为导电率一般为,1/5
5、8,(,0.01724,);,L,为长度;,A,为截面积。另外,导体电阻与环境温度有关系,R=R1*T,(温度系数),T,(温度系数),=254.5/,(,234.5+t),5,、水中电容,此项目直接影响到阻抗的大小。具体关联公式:,R,为导体电阻;,F,为频率;,L,为电感;,C,为电容。,由于生产制程与生产参数的固定,故电感可粗略不计,那么,影响阻抗的主要因素是电容。,电容的计算公式:,C=*A/D,为介电常数;,A,为接触面积;,D,为距离。,二、,LAN CABLE,1,、以结构区分,:,UTP,:,Unshielded Twisted Pair,无屏蔽双 绞电缆,STP:Shield
6、ed Twisted Pair,屏蔽双绞电缆,FTP:Foil-Screened Twisted Pair,箔制屏蔽双绞电缆,SFTP:Screened/Foil Twisted Pair+Aluminum(,铝箔麦拉,)+,地线,+Braid,2,、以种类区分,:,Category3,、,Category5,、,Category5E,、,Category6,、,Category7.,3,、测试项目,:,标准,:,EIA-TIA-568,测试项目有,:阻抗(,Impedance,)、结构回路损失(,SRL,)、衰减(,Attenuation,)、近端串音(,NEXT,)、综合近端串音(,PSN
7、EXT,)、,等效远端串音(,ELFEXT,)、综合远端串音(,PSELFEXT,)、回路损失(,RL,)、时间延迟(,DELAY,)等。,结构回路损失,:此概念只针对特性阻抗而言,但实际上特性阻抗在行业上只是一个理想值,故对结构回路损失的要求不是很严格。原理与回路损失相同。,(,1,)衰减,:信号在传输过程中损失的量大小。,影响衰减的因素有,:导体,OD,大小、线材长度及绞距大小(在同一物理长度要求下,绞距越大,线材实际长度越长,同时电容越小,因为接触面积变小;绞距越小,线材实际长度越小,同时电容越大,因为接触面积变大)。这说明我们为什么要控制线材绞距及选择导体,OD,的原因。同时在生产过程
8、中由于机器的张力过大,也影响了线材绞距及导体,OD,的变化。,(,2,)近端串音,:在电缆的近端测量线对之间信号泄露的量。(近端串音在理论上将是越小越好,但由于我们在测试的时候,近端串音的值是经过公式转化得来,即,NEXT=20LOG,(,A/B,),故在测试结果显示时串音越大越好。,A,:发射端信号的量;,B,:其他线对接收信号的量,影响近端串音的因素有,:绞距、绝缘厚度、对线间的距离。,绞距的功能就是将信号发射的距离错开,避免在同时传输过程中由于信号之间距离过小(当为平行线时距离最小),产生过强的感应而导致信号之间的干扰、泄露。如:,CAT.5E,蓝白对线:,11MM,;绿白对线:,13M
9、M,;橙白对线:,15MM,;棕白对线:,17MM,。,另外,我们生产的部分,CAT.6,线材有加十字格,主要目的也就是减少对线间的干扰。,(,3,)、,PSNEXT,指各对线之间近端串音的总和;,ELFEXT,指远端串音与衰减的比值;,PSELFEXT,指各对线远端串音与衰减的比值的总和。其原理与,NEXT,相同。,(,5,)、,DELAY,指信号在传输过程中通过一定长度所需的时间(如果是在同轴电缆,可以通过此项目了解芯线发泡的均匀性)。,(,6,)、,RETURN LOSS,指整个频率范围内信号反射的强度。其直接影响来源与输入阻抗,当我们的线材输入阻抗很平稳,那么,RETURN LOSS,
10、结果会相当好;当线材同芯度偏低或线材中段有破皮、加工时导致线材压破等现象都影响到,RETURN LOSS,的值。,举例:,LD-CT/GR30M,测试结果蓝白对线及绿白对线,RL,有异常。,经确认问题点如下:,1,、金片铆压时将导体与绝缘挤破;,2,、随机解剖两段线材发现:蓝白对线同芯度:,33%,、,79%,;绿白对线同芯度:,32%,、,81%,。,从以上数据可以看出:,1,、由于线材绝缘过薄,容易压破;,2,、芯线押出的不稳定;,3,、品管员检验不到位(上下轴时未完全测量检验)。,三、电脑线,1,、,USB,线测试标准及讲解,目前,USB,拥有,3,个测试版本:,1.0,、,1.1,、,
11、2.0,其中,1.0,版已逐渐淘汰,我们公司目前生产的,USB,产品版本有,1.1,及,2.0,,测试项目都包括差模阻抗、共模阻抗、时间延迟、时间延迟差及衰减,不同之处在于衰减部分(,2.0,版在,1.1,版基础上增加,200MH,、,400MHZ,两个频点的测试)。,2,、,IEEE1394,测试标准及讲解,IEEE1394,测试标准版本有,A,、,B,两个版本,两者不同指出在于衰减:,A,版从,100MHZ,到,400MHZ,,,B,版从,250MHZ,到,1000MHZ,;时间延迟差:,A,版,400ps/cable,,,B,版,160ps/assembly 15ps/connector
12、目前常用的为,A,版,其主要测试项目与,USB,相同。,3,、名词解释:,差模阻抗,:亦称平衡阻抗,即正、负信号可以互相替换。(此针对双绞线而言),共模阻抗,:此含义目前的探讨不是很深。指并联一起的线路的阻抗。另一种说法:每条相线、中线与大地之间产生一个电压,共模电流从干扰源流向地线,又从地线返回相线。通俗的说法,把,USB,信号对绞线与编织模拟的区分为两根同轴电缆,编织作为公用。总而言之,没有地线或编织,就无法探讨共模阻抗,如我们生产的,35AWG*1P+30AWG*2C USB,(收线盒),时间延迟,:信号在传输过程中通过一定长度所需的时间。,时间延迟差,:两根信号线在传输过程中通过相同
13、的长度所需时间的差异。(此项目为了验证两根信号线的长短及过程参数是否合格),衰减的原理已在前面课程描述,在此不在探讨。,四、测试仪器,1,、时域反射仪(,TDR,),当被测物末端在开路状态下,,TDR,仪器上发射的信号波形按同样的方向的反射回来;当被测物末端在短路状态下,,TDR,仪器上发射 的信号波形按相反的方向反射回来。我们就是按这样的原理在,TDR,的显示器上观察线材的电气特性。,目前我们可以用,TDR,检测的项目有:阻抗、时间延迟、时间延迟差。,2,、网络分析仪(,HP8753,),相当于示波器,通过仪器发射的信号以通道的形,式将被测物的轨迹显示出来。网络分析仪的功能较齐全,目前我们使用网络分析仪可测试项目有:阻抗(史密斯图形)、回路损失、时间延迟、衰减等。,3,、,FLUKE,测试机,此仪器模拟网络布线的方法,通过,CHANNEL,(通道)、,PATCH CORD,(跳线)、,PERMANENT LINK,(永久链路)三种方法进行测试。同时,,FLUKE,测试机可以通过,HDTDR,功能诊断线材,RL,不良的具体位置和通过,HDTDX,诊断线材,NEXT,不良发生的具体位置。,4,、现场操作演示。,






