千分尺校准教程.ppt

单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,千分尺,千分尺检定规程（,JJG21-2008）,千分尺的检定或校准,一、范围,本规程适用于分度值为0.01,mm，,测量上限至500,mm,的外径千分尺;测量上限至25,mm,的板厚、壁厚千分尺；以及分辨力为0.001,mm，0.0001mm，,测量上限至500,mm,的数显外径千分尺的首次检定、后续检定和使用中检验。,二、概述,千分尺是由尺架、测砧、测微螺杆、测力装置、锁紧装置和读数装置等组成。如图所示：,二、概述,二、概述,二、概述,二、概述,二、概述,三、计量性能要求,1、测微螺杆的轴向串动和径向摆动,测微螺杆的轴向串动和径向摆动均不大于0.01,mm。,2、,测砧与测微螺杆测量面的相对偏移,测砧与测微螺杆 测量面的相对偏移量应不超过表1规定。,表,1 测砧与测微螺杆测量面的相对偏移量,mm,三、计量性能要求,三、计量性能要求,3、测力,千分尺的测力（系指测量面与球面接触时所作用的力）应为（510）,N。,4、,刻线宽度及宽度差,微分筒刻线宽度为（0.080.20）,mm，,固定套管上的刻线与微分筒上的刻线的宽度差均应不大于0.03,mm。,带刻度盘的刻线宽度为（0.200.30）,mm，,其,宽度差应不大于0.05,mm,三、计量性能要求,5、指针与刻度盘的相对位置,板厚千分尺刻度盘上的指针末端应盖住刻线盘短刻线长度的30%80%，指针末端上表面至 刻线度盘表面的距离应不大于0.7,mm。,指针末端与刻度盘刻线的宽度应一致，差值应不大于0.05,mm。,6、,微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离,微分筒锥面棱边至固定套管刻线表面的距离应不大于0.4,mm。,三、计量性能要求,7、微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置,当测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管纵刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于0.05,mm，,离线不大于0.1,mm。,三、计量性能要求,8、测量面的平面度,外径千分尺测量面的平面度度应补大于0.6,m。,壁厚千分尺、板厚千分尺测量面的平面度应不大于1.5,m。,数显外径千分尺测量面平面度应不大于0.3,m。,9、,数显外径千分尺的示值重复性,数显外径千分尺的示值重复性不大于1,m。,三、计量性能要求,10、数显外径千分尺任意位置时数值漂移应不大于1,m/h。,11、,两,测量面的平面度,外径千分尺锁紧装置紧固与松开时，千分尺两工作面的平行度均应不超过表2规定。,三、计量性能要求,表,2,外径千分尺示值的最大允许误差及两侧量面的平面度,测量范围/,mm,最大允许误差/,m,两,测量面的平行度/,m,025，25 50,4,2,50 75，75 100,5,3,100 125，125 150,6,4,150 175，175 200,7,5,200 225，225 250,8,6,250 275，275 300,9,7,300 325，325 350,10,9,350 375，375 400,11,400 425，425 450,12,11,450 475，475 500,13,三、计量性能要求,板,厚,千分尺两测面的平行度应不超过4,m,数显外径千分尺两测面的平行度应不超过表3规定。,三、计量性能要求,表,3,数显外径千分尺示值的最大允许误差及两测量面的平面度,5,6,300 325，325 350,350 375，375 400,6,7,400 425，425 450,450 475，475 500,4,5,250 275，275 300,3.5,4,200 225，225 250,3,4,150 175，175 200,2.5,3,100 125，125 150,2.0,3,50 75，75 100,1.5,2,0 25，25 50,两,测量面的平行度/,m,最大允许误差/,m,测量范围/,mm,三、计量性能要求,12 示值误差,外径千分尺示值的最大允许误差应不超过表2规定。,壁厚千分尺、板厚千分尺示值的最大允许误差应不超过8,m。,数显外径千分尺示值的最大允许误差应不超过表3规定,对于测量上限大于150,mm,的千分尺可只检测微头示值误差，测微头各点相对零点的示值最大允许误差不超过3,m。,三、计量性能要求,13 数显外径千分尺细分误差,数显外径千分尺数显装置的细分误差应不超过2,m。,14,校对用的量杆,14.1外径千分尺校对用的量杆,外径千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量应不超过表4规定。,三、计量性能要求,表4 外径千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量,校对量杆标称尺寸/,mm,尺寸偏差/,m,变动量/,m,25，50,2,1,75,3,1.5,100,3,2,125,4,2,150,4,2.5,175,5,2.5,200,5,3.5,225，250,6,3.5,275，300,7,3.5,325，350，375，400,9,4,425，450，475,11,5,三、计量性能要求,14.2 数显外径千分尺校对用量,数显外径千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量应不超过表5规定。,三、计量性能要求,表5 数显外径千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量,标称尺寸/,mm,尺寸偏差/,m,变动量/,m,25，50,1.25,1,75,1.5,1,100,2,1,125，150，175,2.5,1.5,200，225，250,3.5,1.5,275，300,4,2,325，350，375，400,4.5,2.5,425，450，475,5,3,四、通用技术要求,1 外观,1.1 千分尺及其校对用的量杆不应有碰伤、腐蚀，带礠或其他缺陷，标尺刻线应清晰、均匀，数显外径千分尺数字显示应清晰、完整。,1.2 千分尺应附有调整零位工具，测量上限大于或等于25,mm,的千分尺应附有校对用的量杆。千分尺应具有测力装置、隔热装置和锁紧装置。校对量杆应有隔热装置。,四、通用技术要求,1.3 千分尺上应标有分度值、测量范围、制造厂名（或厂标）及出厂编号。,1.4 后续检定和使用中检验的千分尺及其校对用的量杆不应有影响使用准确度的外观缺陷。,四、通用技术要求,2 各部分的相互作用,2.1 微分筒转动和测微螺杆的移动应平稳无卡滞现象。,2.2 可调或可换测砧的调整或装卸应顺畅，作用要可靠，调零和紧锁装置的作用应切实有效。,2.3 带有表盘的千分尺，表针移动应灵活、无卡滞现象。,2.4数显外径千分尺各工作按钮应灵活可靠。,五、计量器具控制,计量器具控制包括首次检定、后续检定和使用中检定。,1 检定条件,1.1环境条件,检定千分尺的室内温度和被检千分尺在室内平衡温度的时间均应符合表6规定。室内湿度不大于70%,RH,五、计量器具控制,表6 室内温度及被检千分尺在室内平衡温度的时间,受检千分尺名称,受检千分尺测量范围/,mm,室内温度对20的允许偏差/,平衡温度的时间/,h,千分尺 校对用的 量杆,外径、板厚、壁厚,100,5,3,2,100 500,4,2,3,数显,100,3,1,3,100 200,2,1,4,200 500,1,1,5,五、计量器具控制,1.2 检定设备,主要检定设备见表7。,2 检定项目,检定项目见表7。,五、计量器具控制,3 检定方法,3.1 外观,目力观察。,3.2 各部分的相互作用,手动试验和目力观察。,3.3 测微螺杆的轴向窜动和径向摆动,一般情况下用手感检验测微螺杆的轴向窜动和径向摆动。有异议时，可按下列方法检定。,五、计量器具控制,3.3.1 测微螺杆的轴向窜动，用杠杆千分表检定。检定时，杠杆千分表与测微螺杆测量面接触，沿测微螺杆轴向方向分表返加力3,N5N，,如图7所示。杆杠千分表示值变化，即为轴向窜动量。,3.3.2 测微螺杆的径向摆动亦用杠杆千分表检定。检定时，将测微螺杆伸出尺架10,mm,后，使杠杆千分表接触测微螺杆端部，再沿杠杆千分表测量方向加力2,N3N，,然后在相反方向加同样大小的力，此时杠杆千分表示值的变化即为径向摆动。径向摆动的检定应在测微螺杆相互垂直的两个方向进行。,五、计量器具控制,3.4 测砧与测微螺杆测量面的相对偏移,一般情况下目力观察千分尺测砧与测微螺杆测量面的相对偏移，(025),mm,的千分尺可使两测量面直接接触观察其偏移量，测量上限大于25,mm,的千分尺可借助校对量杆进行检定。如有异议时，可按下列方法进行检定。,五、计量器具控制,测量范围为（025）,mm,的用塞尺比较；测量上限大于25,mm,的外径千分尺用专用检具测出偏移量。,在平板上用杠杆百分表检定；对于测量范围大于300,mm,的千分尺用百分表检定。检定时借助千斤顶放置在平板上(图9),调整千斤顶使千分尺的测微螺杆与平板工作面平行，然后用百分表测出测砧与测微螺杆在这一方位上的偏移量,，,然后将尺架侧转90，按上述方法测出测砧与测微螺杆在另一方位上的偏移量,。,测砧与测微螺杆测量面的相对偏移量按下式求得：=,五、计量器具控制,3.5 测力,用分度值不大于0.2,N,的专用测力计检定。检定时，使测量面与测力计的球工作面接触后进行。,3.6 刻线宽度及宽度差,在工具显微镜上检定。微分筒或刻线盘上的刻线宽度至任意抽检3条刻线。此项检定也可采用满足不确定度要求的其他方法。,五、计量器具控制,3.7 指针与刻线的相对位置,指针末端与刻度盘短刻线的相对位置可用目力估计。指针末端上表面至刻度盘表面的距离应用塞尺进行检定。上述检定应在刻度盘上均匀分布的3各位置上进行。指针末端与刻度盘的刻线的宽度差在工具显微镜上检定。此项检定也可采用满足不确定度要求的其他方法。,五、计量器具控制,3.8 微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离,在工具显微镜上检定。也可用0.4,mm,的塞尺置于固定套管刻线表面上用比较法检定，检定时在微分筒转动一周内不少于3各位置上进行。,3.9 微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置,当测量下限调整正确后，使微分筒锥面的端面与固定套管任意毫米刻线的右边缘相切时，读取微分筒的零刻线与固定套管纵向刻线的偏移量。,五、计量器具控制,3.10 测量面的平面度,对于新制的和修理后的千分尺，用二级平晶以光波干涉法检定，将平面平晶的测量面与千分尺测量面研合，调整平晶使测量面上的干涉环或干涉带的数目尽可能少。外径千分尺测量面不应出现2条以上，壁厚千分尺，板厚千分尺不应出现5条以上，数显千分尺不应出现1条以上相同颜色的干涉环或干涉带。,对于后续检定的可用刀口尺用光隙法检定,在距测量面边缘0.4,mm,范围内的平面度忽略不计。,五、计量器具控制,3.11 数显外径千分尺的示值重复性,在相同测量条件下重复测量5次分别读数。示值重复性以最大与最小读数的差值确定。,3.12 数显外径千分尺任意位置时数值漂移,在测量范围内的任意位置锁紧测微螺杆，观察1,h,内显示值的变化不超过规定值。,五、计量器具控制,3.13 量测量面的平行度,测量上限至100,mm,千分尺两测量面的平行度用4块厚度差为1/4测微螺杆螺距的平行平晶检定，也可用量块检定，数显千分尺用4等量块检定，外径、板厚千分尺用5等量块检定。测量上限大于100,mm,的,千分尺两测量面的平行度用钢球检具检定。,两测量面的平行度也可用其他相应准确度的仪器检定。,五、计量器具控制,使用平行平晶检定时，依次将4块厚度差为1/4螺距的平行平晶放入两测量面间，使量测量面与平行平晶接触，转动棘轮机构，并轻轻转动平晶，使两测量面出现的干涉环或干涉带数目减至最少。分别读取量测量面上的干涉条纹数，取两测量面上的干涉条纹数目之和与所用光的波长值的计算结果作为两测量面的平行度。利用平行平晶组中每一块平行平晶按上速程序分别进行检定，取其中最大值作为受检千分尺的两测量面平行度测量结果。,五、计量器具控制,使用量块检定时，采用其尺寸差为1/4螺距的4块量块进行。每个量块以其同一部位放入测量面间的4个位置上分别在微分筒上读数，并求出其差值。以四组差值中最大值作为被检千分尺两测量面的平行度。,五、计量器具控制,3.14 示值误差,外径、壁厚、板厚千分尺示值误差用5等专用量块检定，数显千分尺用4等专用量块检定。各种千分尺的受检点应均匀分布于测量范围的5点上，如表8中所示。得出千分尺示值与相应量块尺寸的差值，各点上的示值误差均不超过表2或表3最大允许误差的要求。,五、计量器具控制,测量上限大于100,mm,的千分尺，将专用量块依次研合在相当于千分尺测量范围下限的5等量块上依稀进行检定。各点上的示值误差均不应超过表2或表3中的规定。对于测量范围大于25,mm,的千分尺应以相应的千分尺测量下限的量块对零。,五、计量器具控制,表,8 各种千分尺受检点,测量范围/,mm,受,检点尺寸/,mm,010,2.12 4.25 6.37 8.50 10,015,3.12 6.24 9.37 12.50 15,025,5.12 10.25 15.37 20.5 25,或5.12 10.24 15.36 21.5 25,大于25,A+5.12 A+10.25 A+15.37 A+20.5 A+25或A+5.12 A+10.24 A+15.36 A+21.5 A+25,注:表中,A,为,千分尺的测量下限。,五、计量器具控制,对于测量上限大于150,mm,的千分尺在平面度、平行度、测砧与测微螺杆测量面的相对偏移等计量性能均满足要求情况下，可以只检定测微头的示值误差。用专用量块借助专用检具按（025）,mm,的千分尺受检点检定。,3.15 数显千分尺细分误差,在测量范围任意位置上，沿测量方向转动微分筒，每间隔0.04,mm,检定一次，共检定12点，分别读出各受检点数显装置的显示值与微分筒读数值之差。其最大差值应符合要求。对于没有微分筒的数显千分尺，可用量块检定。,五、计量器具控制,3.16 校对用量杆,外径千分尺校对用量杆的尺寸及变动量在光学计或测长机上采用4等量块以比较法进行检定。数显千分尺校对用量杆的尺寸及变动量在立式接触干涉仪或测长机上采用3等量块以比较法进行检定。也可用同等准确度的其他仪器检定。对于平测量面的校对用量杆应采用球面测帽在5点上进行检定，各点尺寸偏差均不应超过表4或表5中尺寸偏差规定。,五、计量器具控制,最大尺寸与最小尺寸之差不应超过表4或表5中变动量的规定。,对于球测量面的校对量杆，应用直径为8,mm,的平面测帽进行检定。,4 检定结果的处理,经检定符合本规程要求的出具检定证书，校对用量杆应给出实测值的最大值。不符合本规程要求的出具检定结果通知书，并注明不合格项目。,五、计量器具控制,5 检定周期,千分尺的检定周期不超过1年。,谢谢欣赏！,THE END,