布鲁克BrukerX射线荧光光谱分析原理与技术.ppt

Folie,.,*,2001,Bruker,AXS All Rights Reserved,Arial 28 pt,Arial 16-24 pt,Arial 16-24 pt,Arial 16-24 pt,Arial 16-24 pt,Arial 16-24 pt,X,射线荧光光谱分析技术,一、基础理论,二、仪器的结构与分析条件的选择,三、定量分析方法和基体效应校正,四、,SPECTRA,plus,软件介绍,一、基础理论,X,射线的产生,连续谱线,特征谱线,X,射线的性质,吸收,散射,衍射,电磁辐射,10=,1,nm=10,-6,mm=10,-9,m,XRF analysis covers the following energy-respective wavelength range:,E=0.11 -60,keV,l,=11.3 -0.02 nm,or,元素范围从铍(,Be),到铀,(U),单位,X,射线的产生,电子跃迁,(,特征谱线辐射,),电子减速,(,韧致辐射,or,连续谱,),电子改变方向,(,同步加速器,),电子能量的减少,产生,X,射线,X,射线的产生：连续谱线（韧致辐射）,Emitted X-ray quant,Fast inbound,electron,nucleus,Atom of the anode material,Electron shells,Outbound electron,(decelerated and diverted),K,-Quant,L,-Quant,K,-Quant,K,L,M,characteristic radiation photoelectric interaction,EK,a,=E,K,-E,L,EK,b,=E,K,-E,M,EL,a,=E,L,-E,M,EM,a,=E,M,-E,N,High Energy Photon,X,射线的产生:特征谱线（光电效应）,X,射线的产生:特征谱线（光电效应）,内层电子被激发,原子不稳定（激发态）,外层电子跃迁到内层空位,跃迁过程产生能量差,能量差以,X,射线的形式释放,能量差以俄歇电子的形式释放,X,射线荧光光谱仪,俄歇谱仪,特征谱线：每一个轨道上的电子的能量是一定的，因此电子跃迁产生的能量差也是一定的，释放的,X,射线的能量也是一定的。,这个特定的能量与元素有关，即每个元素都有其特征谱线,特征谱线,激发内层电子的方式：,加速粒子：,如电子,辐射线：,如,(,a-,b-,g-,X-rays)，,同位素,X,射线光管：,产生连续谱线和特征谱线,荧光产额,w,k,(,B,),10,-4,w,k,(Fe),0.3,w,k,(,Te,),0.86,Concurrent process:,Emission of,Auger-Electrons,特征谱线,Bohrs atom modell,Niels Bohr,波尔,特征谱线,K series,L series,Electron transitions,谱线的命名规则,1、元素符号,2、K，L，M,3,、，,如：,Fe K,1,特征谱线,谱线的相对强度,谱线,相对强度,谱线,相对强度,K,1,100,L1,100,K2,50,L1,75,K1，2,150,L2,30,K,20,L3,5,X,射线的性质,作为一种电磁波，具有波粒二相性的特点：,光电效应,吸收,散射:相干散射,不相干散射,衍射,l=l,0,r,m,I,0,(,l,0,),I(,l,),All these effects occur at the same time!,l l,0,二、仪器结构：,原理图,X,射线光管发射的原级,X,射线入射至样品，激发样品中各元素的特征谱线,分光晶体将不同波长,l,的,X,射线分开,计数器记录经分光的特定波长的,X,射线光子,N,根据特定波长,X,射线光子,N,的强度，计算出与该波长对应的元素的浓度,X,射线,光管,样品,探测器,N,l,仪器结构,S4 PIONEER,发生器功率：4,kW,S4 EXPLORER,发生器功率：1,kW,仪器型号:,S4 PIONEER(S4 EXPLORER),up to 10 primary beam filters,vacuum seal,75,m,window,up to 4 collimators,up to 8 analyzer crystals,SC,SPC,仪器结构,:X,射线光管和高压发生器,S4 PIONEER,20-60 kV,5-150 mA,S4 EXPLORER,20-50 kV,5-50 mA,阳极靶材料:,Rh,Mo,Cr,Au,W,Optimum settings are predefined in,SPECTRA,plus,!,X,射线光管：发射,X,射线的原理,高压（,Kv,）,热电子,阳极靶,X,射线光管：端窗光管示意图,positive high voltage,on the anode,X-ray beam,thin Beryllium window,75,m,or 125m,Electron beam,Waterinlet,for cooling the anode,Tube head cooling,ringshaped,cathode,End-window X-ray tubes:higher X-ray transmission by thinner tube windows,150 m,125 m,75 m,X,射线光管发射的原级谱线,Characteristic Rh-lines(using a Rh End-window X-ray tube),X,射线的发生:改变电压和电流对原级谱线的影响如何选择电压、电流参数）,Change in kV:,Changing of mA will change only the intensity,Optimum settings are predefined in,SPECTRA,plus,!,X,射线的发生:改变电压和电流对原级谱线的影响（如何选择电压、电流参数）,电流的影响,X,射线的发生:改变电压和电流对原级谱线的影响（如何选择电压、电流参数）,电压的影响,sample,-,soller slit,-analyser crystal,-detector,X,射线的特性:,散射,瑞利散射,(elastic),康普顿散射,(inelastic),仪器结构:初级滤光片,作用:抑制光管原级谱线散射线的影响,X,射线的特性：散射,Intensity,kcps,Graphite,LiF 100,2,Theta,15,6,17,5,KA-Compton,KB-Compton,Rh KB1,Rh KA1,Rayleigh-scattering,Compton,X,射线的特性：散射,产生背景的原因,40,80,2,Theta,Cu KA1,Fe KA1,Fe KB1,Ni KA1,Cr KA1,LiF(200),Bremsspectra of a Rh tube,Background radiation,仪器结构:初级滤光片,作用一、抑制,Rh,的谱线,Supression of the Rh-lines,200,m,m Cu:used for measuring Cd KA1,Ag KA1,Rh KA1,仪器结构:初级滤光片,作用二、降低背景,Background reduction for samples with light matrice,仪器结构:准直器面罩,准直器面罩的作用相当于光栏,:,the signal of the sample cup will be effectively,supressed,the 34 mm mask aperture is optimized to,supress,99.99%of the 34 mm cup signal(Au),huge choice from 42 mm to 8 mm diameter will let you measure any sample size,仪器结构:真空封挡,真空封挡的作用是隔离样品室与光谱室：,Vacuum seal,protects,spectrometer in case of sample cup leakage,minimize,helium flush volume,optimized,pump down time and minimized consumption,spectrometer chamber with all relevant components are under,stable,vacuum,仪器结构：准直器（,Sollers,狭缝）,0.15,o,HR,0.46,o,HS,0.33,o,HS,0.77,o,HS,1.2;1.5 and up to 3 collimators for very light elements,Collimators influence Intensity and Resolution,Special collimator crystal combinations for very light element analysis,仪器结构：准直器（,Sollers,狭缝）,0.23,degree,0,46,degree,1 degree,2 degree,IN,OUT,仪器结构：准直器（,Sollers,狭缝）,Improving the resolution by means of a collimator,仪器结构：分光晶体,barrier,screen,Interference pattern,openings,antinodes,nodes,分光晶体是应用了,X,射线的,衍射,特性,X,射线的衍射特性,二束或多束射线相互作用，如果射线间的光程差为波长的整数倍，射线将增强，但射线的波长不变,，,如果射线的相位反相，射线将减弱。,Node-amplification,Antinode-cancelling,X,射线的衍射特性：,布喇格定律,增强,n=1,2,3,.(,衍射级),X,射线的衍射特性：,一级线、二级线、三级线,一级线,二级线,三级线,1、同一条特征谱线（某一波长的射线）可以在不同的角度产生衍射。,2、二级线的衍射强度较一级线的衍射强度低很多，三级线的强度更低，一般已无分析意义。,X,射线的衍射特性在,X,射线光谱中的应用,仪器结构：分光晶体,d,元素特征谱线,的波长,n,衍射的级数,(,n=1,，,通常,分析一级线),d,分光晶体的晶,格面间距,产生衍射的角,度(,Theta),布喇格定律:,n,=,2,d,sin,仪器结构：分光晶体,分光晶体将,元素特征谱线的波长,转化,为,衍射角度,，因此可以通过测量,来计算所测,X,射线的波长。,这类仪器的全称为波长色散型,X,射线荧光光谱仪。,布喇格定律:,n,=,2,d,sin,分光晶体的种类,分光晶体：晶体结构,分光晶体：多层膜晶体,OVO-55,OVO-160 Ni/C,OVO-N Ni/BN,OVO-C V/C,OVO-B Mo/B4C,分光晶体的选择：,考虑之一：分辨率,Resolution of a crystal depends on:,surface finish,purity,dispersion,分光晶体的分辨率,分光晶体的分辨率,Cr K,B,1,Mn K,a,1,LiF200,LiF220,Cr K,B,1,Mn K,a,1,Improving the resolution by means of a crystal,分光晶体的选择：,考虑之二：灵敏度,分光晶体的选择：,考虑之三:温度的稳定性、晶体荧光等,-,Resolution High Resolution=,HR,LiF(220),-Intensity High Sensitivity=,HS,LiF(200),-Temperature stability PET,Ge,-Supressing of higher order reflections,PET,Ge,-Crystal fluorescence OVO-55,Ge,晶体荧光,Ge:Ge L-radiation,OVO55 Si K-radiation,Steel sample,Ge,crystal,PHA scan,Which,multilayer,crystal is the most suitable for the very light elements?,B,C,Which,multilayer,crystal is the most suitable for the very light elements?,O,N,仪器结构：探测器,SC,SPC,SC,将经过分光的,X,射线光子转换为电信号电信号的大小正比于,X,射线光子的能量,探测器之一:流气计数器或封闭计数器,HV:+1400 V -2000 V,Preampliefier,counterwire,Ar+10%CH4,X-rays,Mo 17,5 keV,500 e,-,I,+,B 0,18 keV,6 e,-,I,+,e,-,e,-,e,-,I,+,I,+,I,+,Mo,B,Pulshight,r,a,r,c,r,V,cm torr,E,p,流气计数器或封闭计数器,HV:+1400 V -2000 V,Ar+10%CH4,e,-,e,-,e,-,e,-,e,-,e,-,e,-,I,+,I,+,I,+,I,+,I,+,I,I,+,CH4:quench gas(electropositive!),Toxic for the FC:elektonegative gasses,e.g.O,H,2,O,e,-,+O,2,O,2,-,探测器,:,封闭计数器,Pro4,计数器窗口厚度的影响,探测器之二:闪烁计数器,NaJ-crystal,Photo cathode,High voltage,X-ray quant,Photo multiplier,Puls hight Volt,Energy keV,Fe KA1,HV:+1400 V -2000 V,探测器:脉冲高度分布,-Pulse Height Analysis(PHA),Ar+10%CH4,Ar,Ar KA1:2,956 keV,KA1,S KA1,2,3 keV,Puls hight Volts,Puls hight Volts,Energy keV,Energy keV,Escape,3,4 keV,100%,100%,I kcps,Puls hight,Puls Hight Analysis,PHA,Fe KA1,6,4 keV,探测器:脉冲高度分布,-Pulse Height Analysis(PHA),Detector,FC:PA,SC:PM,Sinus-Amplfier,Discriminator,PHA,Electronic Counter,2,Q,Goniometer,HV,FC,脉冲高度分布,-Pulse Height Analysis,(PHA）,逃逸峰（,escape peak）,堆积（,pile-up）,晶体荧光,高次线,电子噪音,脉冲高度分布：逃逸峰,E Mn-KA=5.9 keV,E Ar-KA=2.96 keV,E Escape Mn-KA=(5.9-2.96)keV=2.94 keV,Mn,-KA Escape Peak in Stainless Steel,电子,噪音,X,射线的特性：衍射,高次线,同一个角度可以出现波长成倍数关系的谱线,脉冲高度分布：高次线,Mg-KA in Cement,E Mg-KA1.3 keV,E Ca-KA=3,7 keV,E Ca-KA Escape peak=0.7 keV,E Si-KA/B=1.7/1.8 keV,E W-M=1.8 keV,脉冲高度分布：晶体荧光,P-KA in Limestone with,Ge,crystal,E P-KA,=2.0 keV,E Ge-LA=1.2 keV,探测器的线性计数率：,高计数率和死时间校正,measured Intensity,Irridated,Intensity,Theoretical curve,Measurements w/o,deadtime,correction,Dead time:time after,ionisation,during which further operation is not possible;reduced by a quench(CH,4,gas in the FC).Dead time is,dependend,on,incomming,energy and intensity,死时间校正,Deadtime,corrected Intensities,Optimum settings are predefined in,SPECTRA,plus,!,如何处理高计数率带来的问题,：堆积、脉冲高度漂移,Ikcps,LiF(200),Fe KA1,FC,escape,Intensity:,i,负吸收：,j,i,反映出来为增强,FeO,FeMg,FeMn,FeCr,FeTi,Fe,的浓度,Fe,的相对强度,吸收增强效应:,吸收系数的变化,在,Fe,的二元体系中，假设入射,X,射线的波长为1.646，入射角和出射角均为45,，,Fe k,的波长为1.937。,吸收系数的变化（,i,=Fe),j,=O,j,=36.0,j,=Mg,j,=126.3,j,=,Mn,j,=385.4,j,=Ti,j,=610.9,j,=Cr,j,=753.7,j,=Fe,j,=424.6,吸收增强效应:,克服或校正基体效应的方法,忽略基体效应,基体匹配法,使用与未知样基体组成相似的标准样品，常常在较窄的浓度范围内或低浓度时与浓度成线性（或二次曲线）,薄试样法,当试样的厚度仅为几百或几千埃时，其基体效应可以忽略,吸收增强效应:,克服或校正基体效应的方法：,忽略基体效应,Fe:050%,吸收增强效应:,克服或校正基体效应的方法：,忽略基体效应,Fe:03%,吸收增强效应:,克服或校正基体效应的方法,减小基体效应,使用稀释剂将样品进行高倍稀释和（或）添加重吸收剂，使经处理后的基体处于较为稳定的状态,缺点,强度减弱,对于压片制样，可能会不均匀,加入吸收剂，可能会对待测元素有影响,吸收增强效应:,克服或校正基体效应的方法,补偿基体效应,内标法,在试样内加入已知量的内标元素，该内标元素的,X,射线荧光特性应与分析元素相似；,在分析元素与内标元素谱线所对应的吸收限之间，不可有主量元素的特征谱线存在；,例子：测量汽油中的铅，采用铋作内标元素,标准加入法,在未知样中加入一定量的待测元素，比较加入前后试样中待测元素,x,射线荧光强度的变化；,常用于复杂试样中单个元素的测定；,散射比法,吸收增强效应:,克服或校正基体效应的方法,补偿基体效应,散射比法,试样所产生的特征,X,射线荧光和试样对原级谱的散射线在波长相近处行为相似，也就是说，它们的强度比与试样无关；,所选的散射线可以是：,X,光管靶材的相干和非相干散射线，试样对原级谱的连续谱的散射（即背景）；,所选散射线和待测元素分析线波长之间不可以有主要元素的吸收线，所选散射线有足够的强度；,常用于轻基体重痕量金属元素的测定，如用,Rh,k,Compton,线校正水系沉积物中的,Nb,、,Zr,、Y、,Sr,、,Rb,、,Pb,、,Th,、Zn、Cu、Ni。,基体效应校正的数学方法,经验影响系数法,理论影响系数法,基本参数法,基体效应校正的数学方法,真实浓度（表观浓度）（校正因子）,减小或稳定这个变量的一种途径是保持这个校正因子接近1,限定浓度范围、加吸收剂,补偿校正因子的变化：内标法,计算校正因子,基体效应校正的数学方法,经验影响系数法,举例：在,Ni-Fe,二元合金体系中，已知,Ni、Fe,含量,W,ni,、,W,Fe,和,X,射线荧光光谱仪测得的数据,R,Ni,(,即表观浓度）。,基体效应校正的数学方法,经验影响系数法,基体效应校正的数学方法,经验影响系数法,将,(,W,Ni,/,R,Ni,-1)/,W,Fe,定义为影响系数,W,Ni,R,Ni,(1,W,Fe,),的平均值为1.76，代入上式计算,基体效应校正的数学方法,经验影响系数法,这个例子说明：浓度与测量的,X,射线强度之间的关系往往不是线性的，计算这个关系时需要对测量的,X,射线强度（或称为表观浓度）进行校正；,引入校正项的方法是加上一项其它元素对测量元素的影响，即,影响系数；,上述例子是个二元体系，对于三元或更多元的体系，这个影响元素是依靠经验来选定的；（不能选择太多的影响元素）,这个,影响系数是通过数学方法计算获得，无物理意义；,Sample 1:,1,C,Fe,=,u,Fe,+,m,Fe,1,I,Fe,(1+,1,C,Ca,a,CaFe,+,1,C,O,a,OFe,),Sample 2:,2,C,Fe,=,u,Fe,+,m,Fe,2,I,Fe,(1+,2,C,Ca,a,CaFe,+,2,C,O,a,OFe,),Sample 3:,3,C,Fe,=,u,Fe,+,m,Fe,3,I,Fe,(1+,3,C,Ca,a,CaFe,+,3,C,O,a,OFe,),Sample 4:,4,C,Fe,=,u,Fe,+,m,Fe,4,I,Fe1+,4,C,Ca,a,CaFe,+,4,C,O,a,OFe,),Sample 5:,5,C,Fe,=,u,Fe,+,m,Fe,5,I,Fe,(1+,5,C,Ca,a,CaFe,+,5,C,O,a,OFe,),Sample 6:,6,C,Fe,=,u,Fe,+,m,Fe,6,I,Fe,(1+,6,C,Ca,a,CaFe,+,6,C,O,a,OFe,),基体效应校正的数学方法,经验影响系数法,基体效应校正的数学方法,经验影响系数法,需要注意的问题：,由于仅仅是个数学计算过程，因此会出现这样的情况：参加求影响系数的标样往往回代很好，而测未知样的结果不好；,要大量的标样求影响系数,至少3（待求的影响系数数目）,推荐在下述情况下使用经验影响系数法校正基体效应,样品中已知成份的浓度总和小于95，无法应用理论影响系数,知道某一元素对测量元素的影响较大,基体效应校正的数学方法,经验影响系数法,几种数学模型（校正公式）：,浓度校正模式（,Concentration),C,i,=a+,bI,i,(1+,ij,C,j,)+P(I,i,)P(I,i,)=rI,i,2,当,a,、,P(I,i,),等于零时，该公式称为,Lachance,-,Traill,校正方程,C,i,=,R,i,(1+,k,ij,C,j,),R,i,=I,i,/I,(i),强度校正模式（,Intensity),C,i,=a+,bIi,(1+,ij,I,j,)+P(I,i,)P(I,i,)=rI,i,2,当,P(I,i,),等于零时，该公式称为,Lucas-Tooth&Price,校正方程,C,i,=r,0,+I,i,(,r,i,+,r,ii,I,i,+,r,ij,I,j,+,r,ik,I,k,+),混合模式（,Mixed Intensity/Concentration),C,i,=a+,bI,i,(1+,ij,C,j,ik,I,k,)+P(I,i,),基体效应校正的数学方法,基本参数法,1955,年，,Sherman,公式,I,i,=f(c,i，,c,j,),这个理论计算公式考虑了以下几个方面,样品对入射,X,射线的吸收：,I,入射,I,入射,I,入射,激发,I,元素产生一次荧光,j,元素对,i,元素产生二次荧光,i,元素产生的特征,X,射线射出样品表面前被试样吸收,Sherman,公式无法转化为,c,i,=,f(,I,i,I,j,),基体效应校正的数学方法,基本参数法,1968年，,Criss,和,Birks,提出基本参数法,将第一次测得的各分析元素的相对强度比归一为1.0，并把它们作为各分析元素的初始含量，然后计算出一组新的相对强度比，重复这个过程直至连续迭代之间的浓度差小于某一预置值。,基本参数法的特点,需要的标准样品少，从理论上讲，只要一个标准样品即可（用于计算相对强度）。,基体效应校正的数学方法理论影响系数法,由理论计算公式和所选的校正方程计算影响系数,Lachance,校正方程,C,i,=,R,i,(1+,ij,C,j,),R,i,=I,i,/I,(i),R,i,通过理论计算公式计算获得，这样,ij,也可以计算获得,Spectra,Plus,软件所用的计算公式,C,i,=slope,I,i,(1+,ij,C,j,)offset,通过理论计算公式计算,ij,通过测量标准样品来获得校准曲线的斜率和截距,基体效应校正的数学方法,理论影响系数法,用基本参数方程计算的二元系统中分析元素,Fe,的,系数,基体效应校正的数学方法,理论影响系数法,理论影响系数,是随着影响元素的浓度变化而变化，尤其是存在增强效应时,较早的软件计算理论影响系数,是根据标准样品的每一个元素的平均浓度计算的，是一个固定值,Spectra,Plus,软件提出了新的计算方法：可变的理论影响系数,根据每一个标准样品或每一个未知样的浓度计算适应每一个样品的,理论影响系数,C,i,=u,i,+m,i,I,i,(1+,C,j,a,ij,),理论影响系数,a,ij,通过光谱仪的物理参数和样品的浓度计算,-,光管的参数（如靶材，电压，电流，,X,射线的出射角),-,虑光片的影响,-,仪器的几何尺寸,-,波长,-,荧光产额,-,吸收系数,-,激发系数,-.,样品的制备方法,样品的化学成份（包括粘结剂、熔剂等,),理论影响系数a,ij,可变的理论影响系数,a,ij,individual computation for each sample(Standards and UNKNOWNS Unbekannte),(default),固定的理论影响系数,a,ij,computation based on the average composition of the standard samples,(optional),基体效应校正的数学方法,理论影响系数法,可变的理论影响系数,a,ij,计算浓度,（,未校正）,初始浓度,计算,a,计算浓度,比较浓度,浓度的变化,退出,otherwise loop,结果,基体效应校正的数学方法,理论影响系数法,基体效应校正的数学方法,理论影响系数法,or,经验影响系数法？,理论影响系数法,(可变,/,固定）,:,-,可以获得好的结果,-,不一定总是准确，但不会有大的出入,(,有些基本参数不是非常准确,),-,不需要太多标准样品,-,适合较宽浓度范围,经验影响系数法,-,当标准样品选择合适时，可以获得好的分析结果,-,需要较多的标准样品，,有可能会过校正,X,射线荧光光谱仪的性能测试方法：,计量检定规程,目的,验收,（安装验收、维修验收）,实验室认可和考核（计量）,方法,中华人民共和国国家计量检定规程，波长色散,X,射线荧光光谱仪,S,，,JJG810-1993,Australia Standard,，,Wavelength,dispersive,X-ray fluorescence spectrometers-methods of test for determination of precisionS,，,AS2563-1982,Bruker,AXS,的,Monitor,方法,参考文献,波长色散,X,射线荧光光谱仪的性能测试方法介绍，光谱实验室，2000，17（3）：281,X,射线荧光光谱仪的性能测试方法：,国家计量检定规程,计数器的分辨率,R=,（,能量分布曲线的半峰宽,/,中心脉冲高度,）,100%,X,射线荧光光谱仪的性能测试方法：,国家计量检定规程X,射线计数率,测量每一块晶体对某一个分析元素特征,X,射线计数率。,A,级要求,大于,仪器出厂指标值的90%。,计数线性,X,射线源电压一定，改变电流，绘制计数率对电流的曲线。有助于了解该仪器可以设置的最高计数强度。,仪器精密度,顺序式,X,射线荧光光谱仪，每一个测量过程都有许多部件在动作，精密度测试即测试这些部件的到位精密度。,连续测量,20,次，每次测量都改变机械设置条件，包括晶体、计数器、准直器、,2,角度、滤波片、衰减器和样品转台位置等，精密度以相对标准偏差,RSD,表示，要求,RSD,2.0/N,1/2,100%,。,X,射线荧光光谱仪的性能测试方法：,国家计量检定规程,仪器稳定性,测量不锈钢样品的,Cr,K,或,Ni,K,，,计数率高于,100,kCPS,，,计数时间,40,S,，,连续测量,400,次，稳定性的测试结果用相对极差,RR,表示，要求,RR,（,0.2+6/N,1/2,100,）,%,。,X,射线荧光光谱分析的标准方法,国外,ISO(,国际标准），,ASTM（,美国材料标准）,JIS（,日本工业标准）,DIN（,德国标准）,国内,GB（,国家标准）,GB/T 14506.28-1993,硅酸盐中16个成份,GB/T16597-1996 XRF,分析通则,GB/T8925-1988,汽油中的铅（参照,ASTM),GB/T 12690.5、7-1990,稀土金属及其氧化物,X,射线荧光光谱分析方面的期刊,国外,X-ray Spectrometry,国内,分析化学,光谱学与光谱分析,冶金分析,岩矿测试,光谱实验室,分析试验室,X,射线荧光光谱分析方面的会议与组织,有色分析情报网（二年一届的,XRF,分析会议）,冶金系统的分析情报网,全国,XRF,分析会议（二年一次，2002年5月第5届会议在西双版纳召开，有众多国内外专家参加）,各仪器厂家的用户协会,Bruker,AXS X,射线荧光光谱仪的技术支持,应用及软件方面：,Bruker,AXS,公司的主页,www.,bruker,-,axs,.com,（,英文网页）,www.,bruker,-,axs,.com.,cn,(,中文网页）,远程诊断技术,Carbon Copy,PC Anywhere,My E-mail:,xhying,mail.,bruker,-,axs,.com.,cn,Yingxh,pub.,cnnb,.net,Spectra Mail&Spectra Mail Support,Bruker,AXS X,射线荧光光谱仪的技术支持,