1、单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,实验一,:,验证逻辑门,一、实验目的,1,、熟悉数字逻辑实验箱的结构、基本功能和使用方法。,2,、掌握常用非门、与非门、或非门、异或门的逻辑功能及其测试方法。,3,、掌握,74,系列,芯片好坏的 检测,方法；,二、实验仪器及设备,1,、数字逻辑实验箱,2,、元器件：,74LS00,、,74LS04,、,74LS86,各,一块,实验箱介绍,电源、逻辑电平输出,逻辑电平输出可作为,输入变量,。当,开关拨“高”，,输入高,电平；当开关拨“低”，,输入低,电平。,逻辑电平显示,逻辑电平显示可作为,输出变量,的显示。,
2、灯,亮，输出为,1,；灯灭，输出为,0.,芯片插入正确方法,1,、识别,1,号引脚；,2,、芯片的,VCC,、,GND,要与实验箱的电源和地相接。,接插芯片注意事项,1.,接插集成电路芯片时，先校准两排引脚，使之与实验底板上的插孔对应，轻轻用力将芯片插上，然后在确定引脚与插孔完全吻合后，再稍用力将其插紧，以免集成电路的引脚弯曲，折断或者接触不良。,2.,不允许将集成电路芯片方向插反，一般,IC,的方向是缺口（或标记）朝左，引脚序号从左下方的第一个引脚开始，按逆时钟方向依次递增至左上方的第一个引脚。,智能检测芯片方法,芯片需正向插入检测槽中,电源需连接。,测试方法：首先复位，然后功能选择型号，最
3、后确认。,连接地。,实验操作的布线原则,1,、布线时，采用各种色线以区别不同用途，如电源线用红色，地线用黑色。,2.,布线应有秩序地进行，随意乱接容易造成漏接错接，较好的方法是首先接好固定电平点，如电源线、地线、门电路闲置输入端、触发器异步置位复位端等，其次，在按信号源的顺序从输入到输出依次布线。,3.,连线应避免过长，避免从集成器件上方跨接，避免过多的重叠交错，以利于布线、更换元器件以及故障检查和排除。,4,、,先接线后通电，做完后，先断电再拆线,。,集成芯片外引线的识别,圆形集成电路：识别是，面向引脚正视，从定位销顺时针方向依次为,1.2.3,。圆形多用于集成运放等电路。,双列直插型集成电
4、路：,识别时，将文字，符号标记正放（一般集成电路上有一圆点或有一缺口，将圆点或缺口置于左方），由顶部俯视，从左下脚起，按逆时针方向数，依次,1.2.3,。电源端,Vcc,般排列在左上端，接地端,GND,一般排在右下端。若集成电路芯片引脚上的功能标号为,NC,，则表示该引脚为空脚，与内部电路不连接。,逻辑门实验原理,1,、非门,2,、与非门,3,、或非门,4,、异或门,各芯片引脚图,74LS00,74LS04,五、实验内容,1,、测试,74LS00,逻辑功能,将,74LS00,正确插入面包板，并注意识别第,1,脚位置。按表,2-1-6,要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平，并判断引脚好
5、坏。,A1,B1,Y1,A2,B2,Y2,A3,B3,Y3,A4,B4,Y4,0,0,0,0,0,0,0,0,0,1,0,1,0,1,0,1,1,0,1,0,1,0,1,0,1,1,1,1,1,1,1,1,2,、测试,74LS04,的逻辑功能,将,74LS04,正确插入面包板，并注意识别第,1,脚位置。按表,2-1-5,要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。求出,Y,的表达式。,表,2-1-5 74LS04,逻辑功能测试表,A1,Y1,A2,Y2,A3,Y3,A4,Y4,A5,Y5,A6,Y6,0,0,0,0,0,0,1,1,1,1,1,1,3.,使用“多功能智能测试仪”测试数字芯片型号。,（,1,）用导线连接,+5V,电源，,com,口连线至“直流稳压电源”的“地”；,（,2,）将被测芯片（,74LS86,）插入绿色插座并锁定，,1,号管脚在左上方第一插槽。,（,3,）按“功能”键,1,次，显示屏上显示“,PC 74LS”,，为系列型号；按“确认”键两次，会显示芯片具体型号。,注意：若要测下一个芯片，需要按“复位”键。,请在实验报告中分析一下：若芯片已损坏，请问会显示什么内容？,
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