减薄厂LCD质量检验标准.doc

深 圳 市 艾 卓 尔 泰 科 技 开 发 有 限 公 司
SHEN ZHEN APEX TECHNOLOGY CO., LTD
文件编号
ZET-QAR-WI-008
生效日期
2012/10/17
版本
B
页码
第 6 页 共 6 页
文件名称
LCD质量检验标准

LCD质量检验标准
LCD Inspection Specification

DEPARTMENT
NAME
SIGNATURE
DATE
品管部

总经理

修 订 页
修订日期
修订版本
修订内容
准备
检查

1.0 目的：
明确一般LCD品质检验标准，确保LCD质量符合本公司要求。

2.0 适用范围：
适用于一般LCD的来料检验。
3.0 定义：
3．1 A区：显示区
3．2 B区：可视区包括显示区部分
3．3 C区：可视区以外
A区：显示区
B区：可视区包括显示区部分

4.0 使用文件及参考依据
4.1 工程图面及其它技术文件
4.2 样品(或限度样品)
5.0 检验仪器设备及治/工具：
5.1 卡尺
5.2 标准卡
5.3 目示放大镜

6.0 抽样方案,检验条件及注意事项：
6.1抽样方案
6.1.1抽样计划:依照《抽样检验作业指导书》抽样检验。
6.1.2 判定方法:
A 主要缺点:主要指功能缺陷以及严重的外观缺陷, 依AQL:0.4接收。
B 次要缺点:主要指轻微的外观缺陷, 依 AQL:1.0判定接收。

7.0 检验项目
7.1 外观检验项目
缺陷
名称
缺陷
描述
检 验 标 准
图示及说明
缺陷
等级
点

缺

陷
LCD（白）黑点,偏光片凸点，脏点，圆形异物，汽泡，
Φ（mm）
大LCD
≥3.5寸
小LCD
<3.5寸
注：
＊1.
a
b

Φ=1/2(a+b)
*2.两＂点＂之间距离要求≥5mm
*3. Φ≤0.1但较多且密集 拒收
次要
A区
B区
A区
B区
Φ≤0.1
不计
0.1<Φ≤0.15
1
1
1
2
0.15<Φ≤0.20
0
0
0
1
Φ>0.20
0
0
0
0
备注：1、针对点状和线状的缺陷不良比率不能大于5%。超过规定比率的按来料不良退回；
2、具体不良现象可参照双方确认的样板。
线

状

缺

陷
纤维等线状缺陷
长度L（mm） 宽度W（mm） 以每cm2允收个数
W≤0.02 不计
≤3.0 0.02<W≤0.03 3
3.0<L≤5.0 0.02<W≤0.03 2
3.0<L≤5.0 0.03<W≤0.05 1
W >0.05 0

次要
纤维等线状缺陷
(背光式LCD)
长度（mm） 宽度（mm） 以每cm2允收个数
≤0.01 不计
≤3.0 0.01<W≤0.02 2
3.0<L≤5.0 0.01<W≤0.02 1
>0.02 0
裂

痕
LCD裂纹
任何区域有任何裂痕 拒收

主要
破

损
破损在小玻璃边或角
1.X 或 Y >1/8 LCD该边之长 拒收
2.X 或 Y 破损到达可视区 拒收
3.Z<单片玻璃厚度T且X，Y<1/8 LCD该边之长 拒收

次要
1.崩角导致银点(即导通点)外露 拒收
2.破损造成框胶1/3以上外露 拒收

次要
破损封口
崩在LCD封口上， 拒收

次要
缺陷
名称
缺陷
描述
检 验 标 准
图示及说明
缺陷
等级
破

损
破损在翼边，角
破损在导电引脚上，标准如下：
(T为单片LCD厚度，Z为竖直方向长度)
X Y Z
无限 <0.3mm <1/2T 允收
<2.0mm <0.8mm <1/2T 允收
<3.0mm <0.5mm <T 允收
注：Y必须<D/4

次要
破损在翼角
X Y Z
<1.5mm <1.5mm <T 允收
注：如果崩角位置与LCD导电引脚距离<1个ITO引线宽度时，依据“破损在导电引脚上”处理。

次要
破损在翼边背面（非导电面上）或导电面非引脚处
X Y Z
无限 <0.3mm <1/2T 允收
<4.0mm <2.0mm <1/2T 允收
<3.0mm <1.0mm <T 允收

次要
LCD PIN
LCD PIN蚀刻不足/过度，
PIN划伤
LCD PIN腐蚀
ITO 开短路
1. A>1/3B或C >1/3D 拒收
2. A≤1/3B 允收
3. C≤1/3D 允收
目视可见划伤 拒收
有目视可见的LCD PIN腐蚀现象 拒收
任何ITO 开短路 拒收

PIN腐蚀：LCD
主要
框
胶
缺
陷
框胶粗细不均
最细处宽度≤平均宽度1/2 拒收 最宽处宽度>平均宽度4/3 拒收

主要
偏移
超出可视区或进入A区 拒收

主要
框胶杂质
>框胶宽度1/3 拒收 (框胶气泡>框胶宽度1/2亦拒收)

主要
框胶色泽
框胶色泽不一致 拒收

次要
漏酸

不可进入ITO走线

主要
漏液

盒内漏液不允许

主要
进水

盒内进水不允许

主要
玻璃粉末

玻璃(上下表面，側面)边缘不允许残留玻璃粉末

主要
残胶

边缘残胶不能超出玻璃上、下两表面，且无松动、脱落(不能凸出玻璃侧平面，不允许残胶或残液 滲入ITO走线区)

主要
显示不良
关机残影/画面切换时影像残留
超过1秒不允许

主要
显示不良
闪屏
不允许

主要
显示不良
交叉效应
不允许

主要
显示不良
无显/乱显/半显/暗显
不允许

主要
线缺陷
亮/暗线
不允许

主要
线缺陷
薄亮/暗线
不允许

主要
线缺陷
ESD 线
不允许

主要
面缺陷
黑团/白团/纵带状/横带状/团状/周边/不规则
不允许

主要
不洁
LCD PIN不洁
LCD PIN有目视可见的玻璃屑 油污，不洁 拒收

次要
8、厚度检验
8.1 玻璃厚度测试方法：所有减薄的玻璃必须20%检验厚度：四角四点采用螺旋测微仪测量，中心点采用超声波测厚仪测量CF面/TFT面。 减薄后厚度测试点位置如下图标识，四角四点需在最外围的一圈的CELL内，中心位置以每片尺寸作设定。

中小尺寸测试位置 大尺寸测试位置

8.2 玻璃厚度管控标准
玻璃厚度

类 别
允许公差范围
0.8mm
不同对玻璃厚度公差允许范围0.80±0.03mm
同片玻璃厚度极差为0.06mm（即±0.02mm）
0.6mm
不同对玻璃厚度公差允许范围0.60±0.03mm
同片玻璃厚度极差为0.05mm（即±0.02mm）
0.4mm
不同对玻璃厚度公差允许范围0.40±0.03mm
同片玻璃厚度极差为0.04mm（即±0.02mm）
以上LCM加工出现由于玻璃两边厚度不均匀而影响压合效果 拒收