X射线衍射（XRD）测试服务.docx

X射线衍射（XRD）测试服务
项目负责人：陈坤波 13472432186
检测项目
l 粉末样品普通XRD图谱扫描，物相分析；
l 药物XRD指纹谱
l 贵重金属鉴定、金属表面物相分析；
l 水泥、矿石，宝石类结晶相物相分析；
l 结晶度分析；
l 部分样品定量分析；
l 其他
更多信息请参照典型实例

客户价值
l 为客户选用更有效手段进行分析检测提供建议；
l 根据样品特点，从多家权威测试机构中选择最合适的签约测试机构进行检测，保证服务质量，提高检测结果的有效性；
l 签约测试机构承诺优先服务，免除技术人员在不同测试机构之间奔波之苦；
l 专业技术人员提供测试结果的分析解释服务。
l 我们承诺在收到样品后最短时间内给出结果（一般为三个工作日），并提供加急服务。
l 服务价格均参考该测试机构收费标准，客户无需为此支付额外费用。

认真的态度 有效的交流 优质的服务

服务价格

项目编号
服务项目
价格
备注
SEV-XRD001
代测XRD图谱
150元/样

SEV-XRD002
物相定性分析
150元/样

SEV-XRD003
小角X射线衍射
150元/样

SEV-XRD004
物相定量、半定量
500元/样

SEV-XRD005
晶体材料微结构的分析
300元/样
晶胞参数、晶粒大小、微应力等的精密测定
SEV-XRD006
结晶度分析
300元/样

SEV-XRD008
加急服务
原价格双倍收费
收到样品后一个工作日内发送结果
SEV-XRD007
其他分析
议定

服务流程

项目负责人：陈坤波 13472432186。
若需要报价单，请将具体测试内容致电项目负责人或发送邮件至witsin.service@索取，我们将给您发送正式报价。
测试委托单可发送电子邮件索取或至公司网站下载。

典型案例

1. 材料结构表征：x射线多晶衍射是研究材料结构及对其结构表征的权威方法。从多晶衍射谱中可以得到其特征的谱图，包括峰位，峰强比，峰形及半峰宽等。通过衍射峰位置及2θ分布和峰的强度序列可以进行物相分析；通过峰位的偏移可以计算材料的微应力；通过峰强比之间的变化反映了物相中各个衍射面的择优取向。
2. 纳米材料的表征：测量衍射峰的半峰宽，通过Scherrer公式计算出晶粒大小；对纳米材料进行物相鉴定。
3. 介孔材料的小角x衍射：通过测定介孔材料在0.5~100（2θ）的衍射峰来表征介孔材料的特性。
4. 药物鉴定：如果有参比样品或者标样，可以通过谱图对比从峰形和峰位两方面对物相的成分和各自生成晶粒的大小进行鉴别；如果没有参比样，但有相关的峰位和峰强数据或参比谱，也可进行物相鉴别。本实验室的药物分析范围包括：样品与标准品对照分析、样品与文献谱图及峰值数据对照分析、不同生产批号样品的物相对照分析、多个药品物相（药物及其它载体和试剂等）不同比例不同方式混合后的对照谱分析、药物晶体的定量分析。

典型仪器: D8 ADVANCE 多晶X射线粉末衍射仪

型号：D8 ADVANCE 多晶X射线粉末衍射仪
生产厂家：德国Bruker公司
性能特点：
1. 精度高，角度重现性达±0.00010，最小步长为0.00010
2. 样品台水平固定，适合测量液体、松散固体、块状固体、薄膜等，可θ，2θ单独驱动，工作模式为θ/θ模式
3. 步进马达+光学编码器确保测角仪快速而准确定位
4. 新型的NaI 晶体闪烁计数器，具有低背底（0.04 cps），高线性范围（2×106 cps）的特点
特色附件：
1. 高温反应附件：温度范围：室温-1300K，系统程序控温，样品平放，随机的对光狭缝使高温下能将样品精确定位，运行环境为真空、空气或惰性气体
2. LIF单色器：薄膜附件，与平行光束附件连用可以得到更好的分辨率和峰背比。
3. PSD位敏探测器：一次收集一定角度范围的数据，对收集的数据进行累计积分，极大提高数据采集速度、检测强度。主要特点为：分辨率高，与其他计数器互换简单，可以通过改变开口及狭缝大小，选择不同步长来选择高强度测量模式或高分辨模式。
应用软件及功能：
软件平台是在Windows NT 环境下的32位多任务软件，所有软件完全集成在一起，组成强大的智能化多用途的X射线实验分析方法应用软件包。它可自动智能的调整设备、设置采集数据方案、数据的精化处理。软件提供三维图像功能，可缩放并利用Windows输出工具编制报告。
1. Diffrac Plus Basic 系统控制管理和数据采集软件
2. Diffrac Plus Eva 基本数据处理软件，具有自动寻峰、自动Kα2剥离、图像放大、图像的重叠显示、自动建立d/I文件、多窗口显示、3D图形显示等功能。
3. Diffrac Plus Search 自动物相检索软件，除常规化学元素、d/I值三判据作物相检索方法外，本物相检索方法利用扣除背底全谱数据作检索，考虑到测量中得到的所有信息，包括峰形（峰宽、峰不对称性，峰肩）以及弱峰等。可有效地检索多物相样品中重叠峰、择优取向、微量相中的物相。该软件直接支持PDF2卡片库。
4. Diffrac Plus Topas P对X射线线形进行函数模拟和基本参数拟合，后者从仪器集合参数和试样性质拟合线形，为无标样晶粒尺寸和微观应变测定提供解决方法
5. Diffrac Plus Dquant 用作物相的定量分析，包括各种常规定量分析方法，如内标法、外标法、直接对比法，可作结晶度测定
6. Diffrac Plus Topas R采用基本参数法，计算纳米材料晶粒尺寸，通过函数拟合计算结晶度，结构精修计算晶体参数，指标化，retvield方法定量计算。

检测服务委托单
基本信息
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委托单位

电话/手机

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样品名称

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检测项目及要求

其他说明

样品返还
是 否
结果传递
E-mail 光盘 平信邮寄 挂号 快递 传真
以上由客户填写。
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委托单编号

客户编号

样品负责人

拟交结果日期

应收费用

实收费用

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结束服务日期

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