2024年光电探测实验讲义.doc

光电技术试验讲义
--光电探测部分
目 录
试验a 光电倍增管的静态和时间特性的测试…………………………（2）

试验b 光电探测器响应时间的测试……………………………………（9）

验a 光电倍增管的静态和时间特性的测试
光电倍增管是一个基于外光电效应(光电发射效应)的器件，因为其内部具备电子倍增系
统，因此具备很高的电流增益，从而能够检测到极薄弱的光辐射。 光电倍增管的另一大优点是响应速度很快，因此其时间特性的描述和测量都与其他光电器件有所不一样。 另外，光电倍增管的光电线性好，动态范围大，因而被广泛应用于各种精密测量仪器和装备中。因为光电发射需要一定的光子能量，因此大多数光电倍增管工作在紫外和可见光波段，目前在近红外波段也有应用。因为使用面广，现已经有多个结构、多个特性的管子可供选择。
一、试验目标
（1）熟悉光电倍增管的静态特性和时间特性，掌握光电倍增管的正确使用措施。
（2）学习光电倍增管的基本特性测量措施。
二、试验内容
（1）测量光电倍增管静态特性参数；
（2）测量光电倍增管时间特性参数。
三、基本原理
1.光电倍增营的重要特性和参数 光电倍增管的特性参数，有灵敏度、电流增益、光电特性、阳极特性、暗电流等效噪声功率和时间特性等。下面简介本试验包括到的特性和参数。
（1）灵敏度 灵敏度是标志光电倍增管将光辐射信号转换成电信号能力的一个参数，一般指积分灵敏度，即白光灵敏度，单位取μA/lm。一般，光电倍增管的使用阐明书中都分别给出了它的阴极灵敏度和阳极灵敏度，有时还需要标出阴极的蓝光、红光或红外灵敏度。
①阴极灵敏度 S k 阴极灵敏度S k 是指光电阴极自身的积分灵敏度。测量时光电阴极为
一极，其他各电极连在一起为另一极,在其间加上100～300V电压，如图1－1所示。照在阴极上的光通量一般选在10-9～10-2lm的数量级，因为光通量过小会因为漏电流的影响而使光电流的测量准确度下降，而光通量过大也会引起测量误差。
②阳极灵敏度SA阳极灵敏度SA是指光电倍增管在一定工作电压下阳极输出电流与照在阴极面上光通量的比值。它是一个通过倍增以后的整管参数，在测量时为确保光电倍增管处在正常的线性工作状态，光通量要取得比测阴极灵敏度时小，一般在10-10～10-5lm的数量
级。
Dn
Dn-1
Dn-2
D3
G
K
-VH
A
D1
图1-1 阴极灵敏度测试原理图

因为倍增极材料的δ值是所加电压的函数，因此光电倍增管的阳极灵敏度与整管工作电压有关。在使用时，往往标出在指定的阳极灵敏度下所需的整管工作电压。
（2）放大倍数（电流增益）在一定的工作电压下，光电倍增管的阳极信号电流和阴极信号电流的比值称为该管的放大倍数或电流增益，以符号G表示，则
G＝IA／IK （1-1）
式中IA为阳极信号电流；IK为阴极信号电流。放大倍数G重要取决于系统的倍增能力，因
比它也是工作电压的函数。上述的阳极灵敏度就包括了放大倍数的贡献，于是放大倍数也可
由在一定工作电压下阳极灵敏度和阴极灵敏度的比值来确定，即
G＝SA／SK （1－2）
（3）阳极伏安特性 当光通量Φ一定期，光电倍增管阳极电流IA和阳极与阴极间的总电VH之间的关系为阳极伏安特性，如图1－2所示。因为光电倍增管的增益G与二次倍增极电压E之间的关系为
G＝（bE）n
其中n为倍增极数b为与倍增极材料有关的常数。因此阳极电流IA随总电压增加而急剧上升，使用管子时应注意阳极电压的选择。另外由阳极伏安特性可求增益G的数值。
（4）暗电流 当充电倍增管完全与光照隔绝，在加上工作电压后阳极仍有电流输出，其输出电流的直流成份称为该管的暗电流，光电倍增管的最小可测光通量就取决于这个暗电流的大小。
极间电压/V
10-10
0 20 40 60 80 100 120 140
10-7
10-8
10-9
暗电流/A
图1-3 931-A型光电倍增管的暗电流分量
与极间电流的关系
1— 通过放大后的热发射电流；
2— 漏电流；3—暗电流的总和；
4—不稳定状态的区域
1
2
3
4
Ф2
Ф3
Ф1
Ф1> Ф2> Ф3

IA
VH
图1-2 经典阳极特性曲线
引起暗电流的重要原因有；欧姆漏电、热电子发射、反馈效应（离子反馈和光反馈）、场致发射、放射性同位素的核辐射及宇宙射线的切仑可夫辐射。
图1－3示出了931－A型光电倍增管的暗电流各分量与极问电压的关系。在50V／级如下的低电压下，暗电流实际上所有为电极问的欧姆漏电流。当电压升到100－110V／级，即在光电倍增管的正常工作范围内暗电流的重要成份是光电阴极和前级倍增极的热发射电流。电压继续升高时就出现了离子反馈、光反馈甚至场致发射等导致不稳定状态，这也就是使用电压的极限值。

因为光电倍增管的暗电流是工作电压的函数，因此在给出某管的暗电流时，必须阐明是在达成某一给定的阳极灵敏度所需的多大工作电压下测得的。
（5）时间特性 光电倍增管的渡越时间定义为光电子从光电阴极发射通过倍增极上阳极的时间。因为电子在倍增过程的统计性质以及电子的初速效应和轨道效应，从阴极同时发
出的电子抵达阳极的时间是不一样的，即存在渡越时间分散。因此，当输入信号为δ函数形式
的光脉冲时，阳极输出的电脉冲是展宽的。在闪烁计数应用中，假如入射射线之间的时间间隔极短，则因这种展宽将使输出脉冲发生重叠而不能被辨别。因此对输出脉冲波形的时间特性要用如下几个参数表示（见图1－4）：
①脉冲上升时间t r 定义为用δ函数光脉冲照射整个光电阴极时，从阳极输出脉冲幅度
的0.1上升至脉冲幅度的0.9所需要的时间（ns）。
②脉冲响应宽度t n 即脉冲半宽度，指阳极输出脉冲半幅度点之间的时间间隔。
③渡越时间分散 Δt 因为它是导致阳极输出脉冲展宽的重要原因，因此有时就用它来代表时间辨别率。Δt定义为当用重复的δ函数光脉冲照射到管子的阴极时，在阳极回路中所产生的诸输出脉冲上某一指定点（如半幅点）出现时间的变动，测量时通过时间幅度转换器把时间变动量转换成具备一定幅度的时间谱，取其半宽度来表示时间辨别率，单位为ns。
进行光电倍增管的时间参数测试时，需要利用δ函数脉冲光源。
δ函数脉冲光源指的是能够提供具备有限积分光通量和无限小宽度的光脉冲光源光，在进行光电倍增管的时间参数测试时，只要光源的上升时间和下降时间和半宽度FWHM均不超出管子输出脉冲的对应时间参数的三分之一，则该光源即可称为δ函数脉冲光源。目前可作为δ函数脉冲光源的有发光二极管、激光二极管、汞湿式火花光源、切仑可夫光源和钇铝石榴石锁模激光器等。
2.供电电路
t
渡越时间
半宽rn
10%
90%
tr
δ函数光脉冲
t
光强
输出电压
图1-4 光电倍增管的时间特性示意图
（1）电源的连接方式 光电倍增管的供电方式有两种，即负高压接法（阴极接电源负高压，电源正端接地）和正高压接法（阳极接电源正高压，而电源负端接地）。
正高压级法的特点是可使屏蔽光、磁、电的屏蔽罩直接与管子外壳相连，甚至可制成一体，因而屏蔽效果好，暗电流小，噪声水平低。但这时阳极处在正高压，会导致寄生电容增大。假如是直流输出则不但要求传输电缆能耐高压，并且后级的直流放大器也处在高电压，会产生一系列的不便；假如是交流输出测需通过耐高压、噪声小的隔直电容。
负高压接法的优点是便于与背面的放大器连接且既能够直流输出，又能够交流输出，操作安全以便。缺陷在于因玻壳的电位与阴极电位相接近，屏蔽罩应最少离开管子玻壳l－2cm。这么系统的外形尺寸就增大了。否则因为静电屏蔽的寄生影响，暗电流与噪声都会增大。
（2）分压器 光电倍增管极间电压的分派一般是由如图1－5所示的电阻链分压来完成 的。最佳的极间电压分派取决于三个原因，即阳极峰值电流、允许的电压波动以及允许的非线性偏离
图1-5 光电倍增管的分压电路阴极灵敏度测试原理图
D3
Dn
Dn-1
K
D1
Dn-2
D2
-VH
A
D4
iA
RL
io

①.级间电压分派 光电倍增管的极间电压可按前级区、中间级、和末级区加以考虑。前级区的搜集电压必须足够高，以使第一倍增级有高的搜集效率和大的次级发射系数。中间级区的各级间一般具备均匀分布的级间电压，以使管子给出最佳的增益。因为末级区各级尤其是末级支取较大的电流，因此末级区各级间电压不能过低，以免形成空间电荷效应而使 管子失去应有的直线性。
②分压电流 当阳极电流增大到与分压器相比拟时，将会导致末级区各级间电压的大幅度下降，从而使光电倍增管出现严重的非线性。为预防级间电压的再分派以确保增益稳定，分压器电流最少为最大阳极平均电流的20倍。对于直线性要求很高的应用场所，分压器电流应最少为最大阳极平均电流的100～500倍。
③分压电阻 确定了分压器电流 就能够依照光电倍增管的最大阳极电压算出分压器的总电阻再按照适当的级间电压分派，由总电阻求出各分压电阻的阻值。
(3) 输出电路 光电倍增管的输出是电荷，且其阳极几乎可作为一个理想的电流发生器来考虑。因此输出电流与负载阻抗无关。但实际上，对负载的输入阻抗却存在着一个上限， 因为负载电阻上的电压降明显地减少了末级倍增极与阳极之间的电压，因而会减少放大倍数，致使光电特性偏离线性。
①直流输出电路 对于直流信号，光电倍增管的阳极能产生达数十伏的输出电压，因此可使用大的负载电阻。检流计或电子微电流计可直接接至阳极，此时就不再需要串接负载电阻。
②脉冲输出电路 光电倍增管输出电压的对应等效电路是电流源与负载电阻的RL和输出电容CL并联的电路，如图1—6所示。
i(t)
RL
CL
Vo(t)
图1-6 光电倍增管输出等效电路
阳极电路对地的电容CL起着RL的旁路作用，从而使输出波形畸变，对于宽度很窄的脉冲，时间常数τ=RC应远小于光脉冲的宽度。

四、试验装置
光电倍增管静态特性参数测试装置 静态特性参数测试装置如图1—7所示。 这是一个光屏蔽的暗箱，分光源室和测试室两部分。

图1—7 光电倍增管特性参数测试装置
白炽灯放置在光源室中，位于透镜的焦点上。白炽灯灯光通过透镜后成为平行光射入测试室中，在平行光路里放置了若干抽插式的中性衰减片。最后照射到光电倍增管的阴极面上。光电倍增管的输出电流可有检流计测出，也可由数字电压表测量负载的电压得到。
本试验选用GDB-24型光电倍增管，它的管脚和名称见附录。
五、试验步骤
1. 测阴极伏安特性
（1）将光电倍增管插入阳极特性测试所用的分压器中，其特性是以阴极作阴极，以第—倍增极做阳极，其他倍增极和阳极与第一倍增极连接一起。
(2)把光电倍增管放入测试室中，并连接好电源线及输出线。抽出衰减片，检查光屏蔽。
（3）在与阳极测量时同样的光强下，接通直流稳压电源，测量阴极电流与电压的关系。假如采取标准光源或直接测出光通量则可同时输出灵敏度。
2.测阳极伏安特性
（1）点亮白炽灯，并记下此时的光源电压；
（2） 打开光电倍增管电源，测出倍增管阳极电流和倍增管电压的关系；
（3）断开光电倍增管电源，并关端白炽灯。
在开启高压电源时请注意：
在开启开关前，首先要检查各输出旋钮是否已调到最小。打开电源开关，一定要预热1分钟后再输出高压。关机程序和开机相反。
六、试验报告
（1）作出暗电流与阳极电压之间的关系曲线
（2）作出某一光强下阳极电流与阳极电压之间的关系曲线。
（3）作出与第（3）项同样光照下，阴极电流和外加电压的关系曲线。

表1-1 极限工作条件（GDB-24）
序号
工作条件内容
单位
最小值
最大值
1
2
3
4
5
6
阳极电压
直流输出电流
阴极受照光通量
光谱响应范围
环境温度
环境相对湿度
V
μA
Im
nm
℃
%

400
-30
1000
100

1150
60
90

表1-2 重要参数
阴极参数
阳极参数
光照灵敏度/（μA·1m-1）
红外响应
/nA(1.06μm处)
光照灵敏度/（A·1m-1）
阳极电压/V
暗电流/A
33.3
25
1
1200
90
注：测试阴极红外响应（1.06μm处）采取如下标准：
①光源色温为2859K；②阴极有效直径ф25mm；③在阴极和光源之间加一红外滤光片（滤光片特定标准，中心波长为1.06μm），在要求积分光通量下，阴极的直流输出电流即为阴极红外响应。

表2-3 管脚阐明
管脚号
电极名称
符号
1
空脚
NC
2
第三倍增极
D3
3
第五倍增极
D5
4
第七倍增极
D7
5
第九倍增极
D9
6
第十一倍增极
D11
7
阳极
A
8
第十倍增极
D10
9
第八倍增极
D8
10
第六倍增极
D6
11
第四倍增极
D4
12
第二倍增极
D2
13
阴极
K
14
第一倍增极
D1

极间电压分派：
K-D1
D1-D2
D2-D3
D3-D4
。。。
D9-D10
D10-D11
D11-A
R
R
R
R
R
R
R
R

1
5
7
9
11
13
14
2
4
6
8
10
12
管键
图1-7 管脚

使用注意事项：
（1）光电倍增管对光的响应极为灵敏，因此在没有完全隔绝外界干扰光的情况下切勿对管子施加工作电压，否则会导致管内倍增极的损坏。
（2）使管子处在非工作状态，也要尽也许减少光电阴极和倍增极的无须要的曝光，以免对管子导致不良的影响。
（3）光电阴极的端面是一块粗糙度数值极小的玻璃片，要妥善保护。
（4）使用时必须预先在暗处邀见—段时间管基要保持清洁干燥同的要满足要求的环境条件，切勿超出所要求的电压最大值。
(5) 管子导电片与管脚应接触良好插上、拔下时务必要用力于胶木管基，否则易导致松动
或炸裂。
(6)在有磁场影响的场所，应当用高导磁金属进行磁屏蔽。
(7)与光电阴极区的外壳相接触的任何物体应处在光电阴极电位。
(8)该管用电阻分压器对各电极供电，经典分压器示于表1—4。对于每一个详细管子，若在经典分压器的基础上再仔细地调整前级和末级几个分压电阻的数值，可取得最佳分压状。

试验b 光电探测器响应时间的测试
一般，光电探测器的输出的电压信号在时间上都要落后于作用在其上的光信号，即光电探测器的输出相对于输入的光信号要发生沿时间轴的扩展。扩展的程序可由响应时间来描述。光电探测器的这种响应落后于作用信号的特性称为惰性。因为惰性的存在，会使先后作用的信号在输出端相互交叠，从而减少了信号的凋制度。假如探测器观测的是随时间迅速变化的物理量，则因为惰性的影响会导致输出严重畸变。因此，深入了解探测器的时间响应特性是十分必要的。
一、试验目标
(1)了解光电探测器的响应度不但与信号光的波长有关，并且与信号光的调制频率有关；
(2)掌握发光二极管的电流调制法；
(3)熟悉测量探测器响应时间的措施。
二、试验内容
(1)用探测器的脉冲响应特性测量响应时间
(2)利用探测器的幅频特性确定其响应时间。
三、基本原理
表示时间响应特性的措施重要有两种，一个是脉冲响应特性法，另一个是幅频特性法。
1．脉冲响应 响应落后于作用信号的现象称为弛豫。对于信号开始作用时的弛豫称为
上升弛豫或起始弛豫，信号停止作用时的弛豫称为衰减弛豫。弛豫时间的详细定义如下：
如用阶跃信号作用于器件，则起始弛豫定义为探测器的响应从零上升为稳定值的(1 – 1/e)(即63％)时所需的时间。衰减弛豫定义为信号撤去后，探测器的响应下降到稳定值的1／e(即37％)所需的时间。此类探测器有光电池、光敏电阻及热电探测器等。另一个定义弛豫时间的措施是起始弛豫为响应值从稳态值的10％上升到90％时所用的时间；衰减弛豫为响应从稳态值的90％下降到10％时所用的时间。这种定义多用于响应速度很快的器件如光电二极管、雪崩光电二极管和光电倍增管等。
若光电探测器在单位阶跃信导作用下的起始阶跃响应函数为[1−exp(−t / τ1 ) ]，衰减响
应函数为exp(−t / τ1 )，则依照第一个定义，起始弛豫时间为τ1，衰减弛豫则间为τ2。
另外假如测出了光电探测器的单位冲激响应函数，则可直接用其半值宽度来表示时间持
性。为了得到具备单位冲激函数形式的信号光源，即δ函数光源，能够采取脉冲式发光二极
管、锁模激光器以及火花源等光源来近似。在一般测试中，更以便的是采取具备单位阶跃函数形式亮度分布的光源。从而得到单位阶跃响应函数，进而确定响应时间。
2．幅频特性 因为光电探测器惰性的存在，使得其响应度不但与入射辐射的波长有关，
并且还是入射辐射调制频率的函数。这种函数关系还与入射光强信号的波形有关。一般定义
光电探测器对正弦光信号的响应幅值同调制频率间的关系为它的幅频特性。许多光电探测器
的幅频特性具备如下形式。
A（ω）=1 / (1+ω2τ2 )1/2 (3–1)
式中A（ω）表示归一化后的幅频特性；ω=2πƒ为调制圆频率；ƒ为调制频率；τ为响应时间。
在试验中能够测得探测器的输出电压V(ω)为
V（ω）= V0 / (1+ω2τ2 )1/2 (3–2)
式中V0为探测器在入射光调制频率为零时的输出电压。这么，假如测得调制频率为ƒ1时的输出信号电压V1 和调制频率为ƒ2时的输出电压信号V2 ，就可由下式确定响应时间
τ=1/2π[(V12-V22)/（(V2f2)2-(V1f1) 2）]1/2 (3–3)
为减小误差,V1 与V2的取值应相差10％以上。
因为许多光电探测器的幅频特件都可出式(3—1)描述，人们为了更以便地表示这种特性，引出截止频率ƒc。它的定义是中输出信号功率降至超低频二分之一时，即信号电压降至超低频信号电压的70.7％时的调制频率。故ƒc频率点又称为三分贝点或拐点。由式(3—1)可知
ƒc= (3–4)
实际上，用截止频率描述的时间特性是由式(4—1)定义的τ参数的另—种形式。
在实际测量中，对入射辐射调制的方式能够是内调制，也能够是外调制。外调制是用机械调制盘在光源外进行调制，因这种措施在使用时需要采取稳频措施，并且极难达成很高的调制频率，因此不适合用于响应速度很快的光电探测器，因此具备很大的不足。内调制一般采取迅速响应的电致发光元件作辐射源。采取电调制的措施能够克服机械调制的不足，得到稳定度高的迅速调制。
四、试验仪器
光电探测器时间常数测试试验箱；20M的双踪示波器；毫伏表。
在光电探测器时间常数测试试验箱中，提供了需测试两个光电器件峰值波长为900nm的光电二极管和可见光波段的光敏电阻。所需的光源分别由峰值波长为900nm的红外发光管和可见光(红)发光管来提供。光电二极管的偏压与负载都是可调的，偏压分5V、10V、15 V三挡，负载分100殴姆 、1k殴姆、10k殴姆、50k殴姆和100k殴姻五档。依照需要，光源的驱动电源有脉冲和正弦波两种，并且频率可调。

Rf

信号发生器

EXT 示波器
Y
偏压

光子探测器

毫伏表

负载
发光二极管

图3-1响应时间测试装置框图
下面简明简介CS-1022型示波器的外触发工作方式和10％到90％的上升响应时间的测试措施。
1. 外触发同时工作方式 当示波器的触发源选择ext档时，CS-1022型示波器右下角的外触发输入插座上的输入信号成为触发信号。在诸多应用方面，外触发同时更为适合用于波形观测，这么能够取得精准的触发而与馈送到输入插座CH1和CH2的信号无关。因此，虽然当输入信号变化时，也不需要再深入触发。
2. 10％到90％的上升响应时间的测试
（1） 将信号加到CH1输入插座，置垂直方式于CH1。用V/div和微调旋钮将波形
峰峰值调到6div。
（2） 用▲/▼位旋钮和其他旋钮调整波形，使其显示在屏幕垂直中心。将t/div开关调到尽也许快的档位，能同时观测10％和90％两个点。将微调置于校准档。
（3） 用◄/►位旋钮调整10％点，使之与垂直刻度线重叠，测量波形上10％到90％点之间的距离（div）。将该值乘以t/div，假如用“×10扩展”方式，再乘以1/10。
请正确使用10％、90％线。在CS-1022型示波器上，每个0％、10％、90％、100％测量点都标识在示波器屏幕上。
使用公式：上升响应时间tr=水平距离为4（div）×t/div档位ד×10扩展”的倒数（1/10）。
用◄►位移纽调到垂直刻度线

100
30
10
0
响应时间

图3-2 上升响应时间测量举例
【举例】
例如，水平距离为4div，t/div是2μs（见图3-2）。带入给定值：
上升响应时间tr =4.0（div）×2（μs ）=8μs
五、试验步骤
1. 用脉冲法测量光电二极管的响应时间
首先要将本试验箱面板上的“偏压”档和“负载”分别选通一组。然后将“波形选择”开关拨至脉冲档，“探测器选择”开关拨至光电二极管档，此时在“输入波形”的二极管处（黄导线）应可观测到方波，由“输出”处引出的输出线(白导线)即可得到光电二极管的输出波形，其频率可通过“频率调整”处的方波旋钮来调整。然后按照要求分别测量一定偏压下不一样负载时其响应时间及一定负载下不一样偏压时其响应时间。
（1） 选定负载为10 kΩ，按照下表变化其偏压。观测并统计在零偏(不选偏压即
可)及不一样反偏下光电二极管的响应时间，并填入表3—l。
表3—1 硅光电二极管的响应时间与偏置电压的关系
偏置电压E/V
0
5
10
15
响应时间tr/s

（2）在反向偏压为15V时，变化探测器的偏置电阻，观测探测器在不一样偏置电阻时的脉冲响应时间。统计填入表3—2。
表3—2 硅先电三极口的响应时同与负载电阻的关系
负载电阻RL/Ω
500
1K
10K
50K
100K
响应时间tr/s

2.用脉冲法测量光敏电阻的负载响应时间
光敏电阻所加偏压力15V，负载是10k，是不可调的。故“偏压”档和负载挡在此时不起作用。
将试验箱面板上“波形选择”开关拨至脉冲档，“探测器选择”开关拨至光敏电阻挡，此时由“输入波形”的光敏电阻处（黄导线）应可观测到方波，由“输出”处引出的输出线 (青导线) 即可得到光敏电阻的输出波形，调整“频率调整”旋钮使频率为20Hz，测出其响应时间并统计。
3.用幅频特性法测量CdSe光敏电阻的响应时间
(1)将本试验箱面板上“波形选择”开关拨至正弦档，“探测器选择”开关拨至光敏电阻挡，此时由“输人波形”的光敏电阻处（红导线）应可观测到输入的正弦波形 由“输出”处引出的输出线(青导线)即可得到光敏电阻的输出波形，其频率可通过变化“频率调整”处的正弦旋钮来调整。然后变化光波信号频率，测出不一样频率下CdSe的输出电压(最少测三个频率点)并统计，计算出其响应时间。
4.用截止频率测量CdSe光敏电阻的响应时间
将本试验箱面板上“波形选择”开关拨至正弦档，“探测器选择“开关拨至光敏电阻档，此时由”输入波形“的光敏电阻处（红导线）应可观测到输入的正弦波形，由“输出”处引出的输出线（青导线）即可得到光敏电阻的输出波形，其频率可通过变化“频率调整”处的正弦旋钮来调整。变化正弦波的频率，能够发觉伴随调制频率的变化，CdSe负载电阻两端的信号电压将发生变化。测出其衰减到超低频的70.7%时（即3分贝处）的调制频率ƒc,并确定响应时间τ。
六、试验报告
(1)列出表3—1、表3—2并解释光电二极管的响应时间与负载电阻和偏置电压的关系。
(2)列出用脉冲响应法测得的CdSe光敏电阻的响应时间，并与用幅频特性法测出的响应
时间相比较。
(3)写出用截止频率测得的CdSe的响应时间。 并比较这三种方式的特点。
七、思考题
(I) CdSe光敏电阻在弱光和强光照射下的响应时间是否相同?为何?
(2)如欲测量响应速度更快的光电探测器的响应时间，则必须提升光源的调制频率，试想尚有哪些措施。