FlexControl使用指南.ppt

Mastertitelformat bearbeiten,Mastertextformat bearbeiten,Zweite Ebene,Dritte Ebene,Vierte Ebene,Fnfte Ebene,flexControl,使用指南,flexControl,flexControl,质谱数据采集流程,选取适当的数据采集方法,根据图谱质量，改变激光能量等参数，获取质量更佳的质谱图,保存质谱数据,主要内容,1.,软件启动与软件界面,2.,方法选择、调用与保存,3.,显示菜单,4.,选择靶板类型,5.,自动采集设置,6.,靶位校正,7.,质谱参数设置,8.,选择,/,编辑质谱图标峰方法,9.,仪器高级参数设置,10.,仪器质量校正,11.,仪器状态详细参数,1.,启动软件，进入登录界面,工具栏,下拉菜单,图谱区,样品靶,1.,软件界面,激光能量调整标尺,样品,1.,软件界面：常用的功能按钮,当前采集数据,当前累加数据,平滑数据,减基线,保存方法,保存谱图,关闭摄像灯,显示峰信息,标峰,当前激光照射次数,200,次激光照射后自动停止,已累加激光脉冲次数,激光脉冲频率,清除内存谱图,保存谱图,1.,软件界面：手动采集时常用的按钮,:,Start,AddSave,AsClear,Sum,开始采集,添加谱图到内存,L:,线性模式；,R:,反射模式,P:,正离子模式；,N:,负离子模式,PepMix,:,适合多肽混合物,(,m/z,700-4000,Da,),ProtMix,:,适合蛋白混合物,(,m/z,5000 20000,Da,),ClinProt,:,适合多肽,/,蛋白混合物,(,m/z,1000,20000,Da,),66kDa:,适合大分子量蛋白,(,m/z,20000-100000,Da,),Proteomics_HPC,:,高精度校正，适合蛋白质鉴定,(,m/z,700-4000,Da,),par:,一级质谱；,psm,:,二级质谱,(PSD,模式,),；,lft,:,二级质谱,(TOF/TOF,方式,),2.,方法选择：进入采集方法选择界面,仪器的所有参数都保存在相应的采集方法中，只要根据实验需要选择相应的方法，适当调整少数几个参数即可,2.,方法调用与保存：,调用或保存方法文件,调用方法,保存方法,保存谱图,:,采集、累加到满意的谱图后,可以指定文件名并保存到指定文件夹，也可添加样品注释，并可直接切换到,flexAnalysis,中打开并标峰。,指定文件路径,指定样品文件名,指定标峰方法并在,FA,中打开,样品信息注释,保存添加到内存中的所有次数,显示菜单,：显示峰信息,横坐标单位,缓冲区,峰信息,(,分辨率，分子量，信噪比等,),标所有峰的分子量,标一个峰的分子量,4.,选择靶板类型,AnchorChip,靶上的样品点与标准品点的切换；只有,AnchorChip,靶和,PAC,靶上有切换，其它靶板没有。,靶位,切换,标准品点,样品点,4.,选择靶板类型：仪器一般能自动识别,MSP:96,孔,MTP:384,孔,5.,自动采集：,通过编辑一定的方法和参数，使仪器自动进行数据的采集与分析,(,详见自动数据采集部分,),。,5.,自动采集：设定是否移动式打靶,移动打靶可增加采样点数，,PAC,靶应移动打靶,蛋白样品一般不移动打靶。,激光照射,10,次，换一个位置,在整个样品点内移动,在小范围内移动,不移动,6.,靶位校正：靶位的自动校正,在,AnchorChip,靶和,PAC,进靶过程中，仪器会自动进行靶位的校正,如果不能进行自动校正或靶位有偏差，可手动进行靶位的校正,:,在靶的任意三个角上各选一个靶点进行定位。,6.,靶位校正：靶位的手动校正,1),先选定第一点，点击按钮,Go,6.,靶位校正：靶位的手动校正,2),在靶点中心，点击鼠标左键，使之与红圈中心对准。,6.,靶位校正：靶位的手动校正,3),点击按钮,Reached,6.,靶位校正：靶位的手动校正,4),选定第二点,点击按钮,Go,6.,靶位校正：靶位的手动校正,5),重复第一点校正的步骤,点击按钮,Reached,依次完成其余两点的校正。,6.,靶位校正：靶位的手动校正,7.,质谱仪参数的设置：,离子源和反射器的电压，基质峰抑制,这些电压设置，一般不需调整。,基质峰抑制，测量小分子选择,即不抑制，其它都需要选择,根据样品信息和测量要求，设定扫描范围。如果信号很弱，可适当调高检测器增益。,检测器增益,扫描范围,7.,质谱仪参数的设置：,设定质谱扫描范围和检测器增益,8.,选择,/,编辑质谱图标峰方法（,1,）,选择或编辑标峰方法,只适用于,flexControl,中的标峰,参数设置详见,flexAnalysis,8.,选择,/,编辑质谱图标峰方法（,2,）,Centroid,不考虑同位素分布,用于线性模式质谱图,;,Snap,考虑同位素分辨,用于反射模式质谱图,8.,选择,/,编辑质谱图标峰方法（,3,）,8.,选择,/,编辑质谱图标峰方法（,4,）,8.,选择,/,编辑质谱图标峰方法（,5,）,8.,选择,/,编辑质谱图标峰方法（,6,）,注意：当激光能量标尺上的数值需要很高时,可稍微调高,Offset,或,Range,的值。,9.仪器高级参数设置,一般情况下，不要改动这些参数,10.,仪器的质量校准,根据校准所用的标准品,选择质量校准文件,第一步：选择质量校准文件,如果质量校准文件列表中没有匹配的文件,可以自行编辑,但要知道各个标准品的准确分子量。,编辑质量校准文件,10.,仪器的质量校准,第二步：采集并累加到合适的谱图后，点击,按钮，进行自动标峰校,.,准,10.,仪器的质量校准,第三步：点击,按钮。如果误差值较大，应重复校准，直到满足要求。,10.,仪器的质量校准,如果较长时间没有校准仪器，质量偏差过大，不能自动指认校准峰，应进行手动指认。先选中一个标准品。,10.,仪器的质量校准,第四步：选中一个标准品后，再在相应质谱峰的左下边点击一下鼠标左键,10.,仪器的质量校准,第五步：依次完成各个标准品峰的指认后，点击,。如果误差值较大，应重复校准，直到满足要求；如果个别峰的信号不好或误差值较大，可点击右键放弃该峰,10.,仪器的质量校准,显示质量校准参数,10.,仪器的质量校准,显示仪器状态参数：如果屏幕右下角的状态栏显示红色或仪器的错误信息，可查看仪器的状态参数。,显示仪器状态参数,显示更多仪器状态参数,11.,仪器状态详细参数,如果数据大于,80%,，则需要清洗离子源,11.,仪器状态详细参数,处理器,11.,仪器状态详细参数,电压,11.,仪器状态详细参数,激光系统,11.,仪器状态详细参数,数据采集器,11.,仪器状态详细参数,真空系统,检查真空度是否正常,11.,仪器状态详细参数,样品靶,11.,仪器状态详细参数,计算机配置,11.,仪器状态详细参数,待机状态,较长时间不用时，可使仪器进入待机状态。,是否保存方法参数,?,11.,仪器状态详细参数,仪器状态报告,保存和发送仪器状态报告,11.,仪器状态详细参数,选择仪器状态报告内容,11.,仪器状态详细参数,生成仪器状态报告,