第三章XRD分析方法.ppt

单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,材料分析测试方法,屈树新,西南交通大学,材料先进技术教育部重点实验室,材料科学与工程学院,分析测试中心,复习题,查阅文献,1,篇（,XRD,分析试样的物相）；,或自己的,XRD,实验结果；,试进行物相分析,X,射线衍射可以得到的信息,物相鉴定,定性,定量,晶胞参数的确定,晶面的择优取向生长,结晶度的测定,晶粒尺寸的测定（谢乐公式,）,膜厚的测定,薄膜的应力分布,X-Ray Diffraction studies run in series.,Pasp:polyaspartic acid(,聚天冬氨酸,),衍射峰的强度？,物质结构状态与散射,(,衍射,),谱线,自然界中物质常见的结构状态包括：,原子完全无序,(,稀薄气体,),原子近程有序但远程无序,(,非晶,),原子近程有序和远程有序,(,晶体,),物质结构状态与散射,(,衍射,),谱线,原子完全无序,情况，例如稀薄气体。在进行,X,射线分析时，只能得到一条近乎水平的散射背底谱线。,I,2,物质结构状态与散射,(,衍射,),谱线,理想晶体,的衍射谱线，是布拉格方向对应的,2,处产生没有宽度的衍射线条。,前提是不存在消光现象。,I,2,物质结构状态与散射,(,衍射,),谱线,实际晶体中由于存在,晶体缺陷,等破坏晶体完整性的因素，导致衍射谱线的峰值强度降低，峰形变宽。,I,2,I,2,物质结构状态与散射,(,衍射,),谱线,物质微区不均匀性,，例如存在纳米级别的异类颗粒或孔隙，则会在,2,0,表示拉应力，反之，压应力,思考题,XRD,可以检测试样的哪些信息？,结合自己的专业，查阅相关的文献，掌握其测试和计算方法。,根据下图中数据,计算羟基磷灰石,（六方晶系）的,晶胞参数,XRD,与透射电镜的衍射斑点的区别,光源不同,XRD,的衍射是,大量原子散射行为的统计（宏观）平均；,物相的类型、混合物中物相的含量、精确的点阵常数、晶粒的平均尺寸、择优取向的状态；,TEM,反映的是小范围的晶体结构衍射,单晶：衍射斑点,多晶：衍射环,