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3-1 各類型原因分析 詹昭雄 編著 2000.06
現況分析
原因分析著眼
原因個數
圖 例
(請注意不同點)
你 的 事 例
異
常
型
層別比較,分析異常組(時)與正常組(時)差別在那裡
很少
△ △異常
××異常
7月2日異
於7月1日
差
異
型
比較該層別長處與短處之差異在那裡
B E
少
**不同
B比E差
**差異
短
處
型
分析該層別短處項目之所有可能原因
B E
多
××不良
B故障高 △△
* *不穩
平均厚度、
時間等偏高
(Ca大)
××太高
2厚度、時間
等σ2大
太 太低 (Cp不足)
高
××不穩
共
同
型
分析所有可能之共同原因
B E
多
或
很多
← ←
→ →
故障高
← ←
→ →
3-2 散佈圖導引個案 詹昭雄 編著 2001.05
某一Process之厚度值經現況分析如下:
(1)Ca=0.47 Cp=1.52
(2)LSL
接著針對Ca太大(平均值偏高)進行
短處原因分析
*** @@@
平均值偏高(Ca=0.47)
××速度太低
請問:(1)如果欲証實「目前」之速度是否為影響目前Ca之「真因」
有那些Q之工具可以應用?
À Á
(2)如果以散布圖做為工具應如何進行散佈圖分析?
(3)若收集了下列七組(數據不多)目前速度與厚度之數據請以散佈
圖結合專業技術判斷目前速度與厚度是否相關
速度
1.9
1.7
1.8
2.7
1.9
2.2
1.7
厚度
50
50
48
47
47
46
49
(4)散佈圖可用在你工作中或實作主題之事例是什麼?
A:
3-3 散佈圖之作法/用途 詹昭雄 編著 2001.05
1.散佈圖之解讀:
類 型
圖形判讀
專業技術結合散佈圖解讀
正相關
1.若X在專業知識上為Y之原因,則X
與Y相關時表示X影響Y,是Y目前
之真因
負相關
2.若X在專業知識上不是Y之原因,則
表示可能有另一原因Z同時影響了Y
造成X與Y相關,至於Z是什麼需以
曲線負相關
專業另行判斷
3.若X為Y之原因且在專業上應有相關
但散佈圖無相關,則表示X與影響Y
曲線相關
之另一原因Z可能有交互作用,至於
Z是什麼需以專業另行作判斷
無相關
2.散佈圖之作法
S1:收集X與Y,20組以上成對之數據。
* 若使用散佈圖者本身具備專業知識則不在此限
S2:點繪散佈圖:(注意:X與Y軸之散佈之範圍要相近)
S3:以專業技術結合散佈圖解讀資訊
3.散佈圖在Process改善上之用途:
1)用於一因子之真因驗証,若相關且理論上具因果關係則可以判定該因
子為目前之真因。
2)若實際之X與Y呈強相關,則可檢討太高或太低或△X是否太大
3-4 相關係數之意義及應用 詹昭雄 編著 2000.06
1.相關係數r(Correlation)之意義
用以表示「兩」變數或多變數間「相關程度」之係數一般以r表示且
(1) -1≦r≦1
(2) │r│愈大表示其相關程度愈高
2.「兩」變數間單相關係數r之計算:
直線相關時
計算例(casio fx-3600Pv)
X
1.0 1.2 1.5 1.8 2.0
Y
3 5 10 9 12
r=0.93
S1:Mode LR S3:1.0 XDYD 3 DATA
S2: Shift KAC 1.2 XDYD 5 DATA
: : : :
S4: Shift r
3.相關程度之判斷
計算之r 若大於下表之值則表示有「1-α」之信心可以判定X
與 Y 之間有顯著之相關
n-2
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
15
20
α=0.01
0.999
0.99
0.96
0.92
0.88
0.83
0.80
0.76
0.73
0.71
0.61
0.54
α=0.05
0.997
0.95
0.88
0.81
0.75
0.71
0.67
0.63
0.60
0.58
0.48
0.42
α=0.10
0.988
0.90
0.81
0.73
0.67
0.62
0.58
0.55
0.52
0.50
0.41
0.35
4.應用時機:
1)結果─結果之相關性
2)結果─原因之相關性(原因分析後之真因驗証)
5.應用限制:
1)若為「非」線性相關時不適用上述公式之r
*2)若X與Y存在交互作用時r可能不顯著
3)若數據來自不同之設備、人員....等需層別時r可能不顯著
3-5 回歸式之意義及應用 詹昭雄 編著 2000.06
1.回歸式(Regression)之意義:
用以表示兩變數或多變數間函數關係之方程式,一般常見的
回歸式有
1)Y=A+BX(單回歸式)
例:Y=-4.6+8.5X
2)Y=A+B1X1+B2X2+.....(重回歸式)
3)Y=A+B1X +B2X2+.....(非線性回歸式)
2.回歸式計算之前題:
欲算回歸式之前必須先確認Y與X是否顯著相關(先以散佈
圖或r判定)
3.回歸式之計算:(Casio-3600pv)
S1:收集成對之數據
X
1.0 1.2 1.8 1.5 2.0 1.8 1.4
Y
3 5 9 10 12 11 8
S2:Mode LR S6:判定r是否顯著,顯著則
S3:Shift KAC 求A及B
S4:1.0 XD YD 3 DATA S7:Shift A =-4.6
1.2 XD YD 5 DATA Shift B =8.5
S5: Shift r =0.93 S8:Y=-4.6+8.5X
4.應用:
1)求參數間之方程式
2)預測用
3)校正儀器用
3-6 檢定導引個案 詹昭雄 編著 2001.05
檢 定 導 引 個 案
莊工程師為交大電子畢業,服務於某高科技電子公司擔任製程工程師
為了改善產品厚度之均一性,莊進行了下列工作:
(1)現況分析:(略)
結果得知 Ca ok ,Cp=1.27,分佈近似常態
(2)原因分析:
Cp不足
噴口式不合
(3)真因驗証:
為了証實噴口型式是否影響Cp,莊將噴口型式從A型改為B型做了
n=18個之試驗
經推定B型厚度之標準差σn-1=0.93而原來A型所生產厚度之σ=1.24
因為:
σb<σa且相差0.31
所以莊工程師建議全面將A型改為B型(經費約需二萬五千元),經批准
後於假日加班全部改為B型。
B型在生產一週後,週報上顯示厚度之標準差α=1.19與原來A型幾乎
無差別,令人覺得二萬五似乎白花變成學費了。
請問:
(1)為什麼會這樣?
A:
(2)如何在實驗數、樣本數不大(例如n<20)之下,依據n-1或n能有「相
當程度之把握」(例如九成)判斷大量生產後之σ(或μ)有差別或有效果?
(3)假如莊工程之老闆在改善建議報告上批示α=?,你知道是什麼意思
嗎?
3-7 計 量 值 檢 定 Ⅰ 詹昭雄 編著 2001.05
有關母平均之檢定 ─ σ已知時
(1)使用時機
當你在工作中遇到Ca太大(μ偏高或偏低)想改變目前某一品質特性之母
平均μo,但因為改變後之數據n很小或很有限,而希望以n個數據之
來判斷改變後大量生產之母平均μ是否與目前之μo不同時,你可能需要
做母平均檢定。
(2)事例:膜厚之μ是否改變了?
À現況:某一Process在目前之作業標準下,母平均及標準差如下:
μo=58.31μ inch σ=4.82μ inch (n>30)
Á改善試驗
李工程師為了提高母平均降低Ca以降低超出規格下限之不良率,因此
改變了某一條件;做了n=15個試樣數據,為65,56,60,55,57,63,59,
62,58,60,63,59,57,59,58等…經推定改變後之=59.4。
®經驗判斷
(a)如果是你以經驗來判斷,是否能判定新的母平均改變了?
A:
(b)如果你的判定是改變了,那麼你能否告訴自己α=?
A:
3-8 計 量 值 檢 定 Ⅰ 詹昭雄 編著 2001.05
¯統計判斷 ─ 檢定作法一
此例如以母平均檢定來做判斷,其作法如下:
S1:設立假設
Ho:(無差假設) μ(新)=μo (原來) (58.31)
H1:(替代假設) μ>μo (依專業技術採單邊檢定)
S2:決定否定Ho時所願冒的α值
經考慮本判斷α之損失成本,決策者決定α=5%
S3:選定統計量分配及計算統計量
(a)因目前之σ已知為4.82,而且就專業技術而言,改變了條件只會
影響μ,不會影響σ,故選用常態分配。
(b)
S4:比較發生Ho之機率Pho與α值
(a)查U(α)=U(0.05)=1.64
(b)因為Uo<U(α),表示μ=μo之機率>α(5%)
S5:判斷
(a) 因μ=μo之機率>α,所以在現有資訊量n=15及合理之α=5%
要求下,尚不能否定μ=μo之假設,亦即條件改變後,母平均尚
不能判斷顯著提高了。
(b)若α允許19%則在現有資訊量n=15下可以判斷條件改變後,μ較
原來之58.31高 (請想想Why?)
S6:處置
檢討α或考慮增加n。
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