X线头影测量分析专题讲座.pptx

单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,Company Logo,*,单击此处编辑母版标题样式,X,线头影测量分析,Cephalometrics Analysis,X线头影测量分析专题讲座,第1页,介绍,1934,年,Hofrath and Broadbent,提出,我国于,20,世纪,60,年代初利用于临床,经过测量,X,线头颅定位摄影所得影像,对牙颌、颅面各标志点描绘出一定线角进行测量分析,从而了解牙颌、颅面软硬组织结构,使对牙颌、颅面检验诊疗由表面形态深入到内部骨骼结构中去,它是正畸临床诊疗及治疗设计一个主要伎俩,.,简言之：,经过对,X,片进行分析、测量，从而了解牙颌、颅面骨骼及软组织发育情况及相互关系,。,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第2页,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第3页,一、主要应用,研究颅面生长发育,牙颌、颅面畸形诊疗分析,确定错,牙合,畸形矫治计划,研究矫治中，矫治后改变,外科正畸诊疗和矫治设计,下颌功效分析,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第4页,1.,研究颅面生长发育,不一样个体同一年纪段,横向研究颅面发育,同一个体各年纪段,-,纵向研究颅面发育,明确了颅面生长发育机制，快速生长久年纪、及对颅面生长发育预测。,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第5页,经过,X,线对,正常牙合,人颅面结构进行分析,得出正常牙合各项测量参考标准,作为诊疗分析,基础,2.,牙颌、颅面畸形诊疗分析,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第6页,3.,确定错,牙合,畸形矫治计划,对比,分析犯错牙合畸形机制,正常牙颌,颅面关系,个体牙颌,颅面结构,确定牙和颌位理想位置，制订可行矫治方案,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第7页,4.,研究矫治中及矫治后牙颌、颅面改变,治疗前,正畸治疗,治疗中,矫治后,对比,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第8页,5.,外科正畸诊疗和矫治设计,经过,X,线对颅面畸形患者进行分析,得出畸形机制,确定部位、方法及需要移动或切除部位,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第9页,10,二、头颅侧面定位,X,片拍照原理和方法,定位原理：,1,、经过定位仪上左右耳塞与眶点指针三者组成眼耳平面与地面平行。,2,、,自然头位法,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第10页,头颅定位关键在于：定位仪上左右耳塞与眶点指针，三者组成一与地面平行恒定平面。,定位,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第11页,患者体位：自然放松,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第12页,投照距离,X线球管至患者正中矢状面应大于150cm,患者正中矢状面至胶片约1,5cm,X,线中心线与头颅定位仪左右耳塞成一直线,X,线摄影,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第13页,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第14页,2.,头影图描绘,传统描图工具：,观片灯、硫酸纸、毫米尺、半圆仪及硬质尖锐铅笔等,X,线头影图像上，因头颅本身厚度或个体两侧结构不完全对称而出现左右影像不完全重合,按其平均中点来作描绘,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第15页,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第16页,17,头影图描绘,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第17页,传统,X,线片,数字化,X,线片,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第18页,传统手描图,数字化描图,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第19页,惯用头影测量标志点,标志点：用来组成一些平面及测量内容点,1.,解剖，真正代表颅骨解剖结构,2.,引伸，如两测量平面相交一个标志点,定点准确才能取得对应准确头影测量分析结果！,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第20页,标志点,硬组织测量标志点,软组织测量标志点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第21页,1,、硬组织测量标志点,1.,颅部标志点（,5,个）,蝶鞍点（,S,）,鼻根点（,N,）,机械耳点,(P),颅底点（Ba）,Bolton点（Bo）,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第22页,颅部标志点（,5,个）,鼻根点（,N,）：鼻额缝最前点,蝶鞍点（,S,）：蝶鞍影像中心点,耳点（,Po,）：,机械耳点,-,定位仪耳塞影像最上点,解剖耳点,-,骨性外耳道影像最上点,颅底点（,Ba,）：枕骨大孔前缘中点,Bolton,点（,Bo,）：枕骨髁突后切迹之最凹点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第23页,定点,S(Sella,蝶鞍中心点,),Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第24页,定点,N(Nasion,鼻根点,),：鼻额缝最前点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第25页,定点,P(Porion,耳点）：机械耳点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第26页,定点,颅底点,(Ba,basion,）枕骨大孔前缘中点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第27页,定点,Bolton,点：枕骨髁突后切迹最凹点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第28页,硬组织测量标志点,2.,上颌标志点（,7,个）,眶点（Or）：眶下缘最下点,翼上颌裂点（Ptm）：翼上颌裂影像最下点,前鼻棘点（ANS）：前鼻棘尖端,后鼻棘点（PNS）：硬腭后部骨棘之尖,上齿槽,座点（A）：前鼻棘与上齿槽缘间最凹点,上齿槽,缘点（,Spr）：上,牙槽突最前下点,上中切牙点（U1）：上中切牙切缘之最前点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第29页,眶点（,Or,）：眶下缘最下点,翼上颌裂点（,Ptm,）：翼上颌裂影像最下点,前鼻棘点（,ANS,）：前鼻棘尖端,上颌标志点（,7,个）,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第30页,上颌标志点（,6,个）,后鼻棘点（,PNS,）：硬腭后部骨棘之尖,上齿槽座点（,A,）：前鼻棘与上齿槽缘间最凹点,上齿槽,缘点（,Spr）上,牙槽突最前下点,上中切牙点（,U1,）：上中切牙切缘之最前点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第31页,Or(orbitale,眶点,),眶下缘最下点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第32页,翼上颌裂点（,Ptm,）：翼上颌裂轮廓最下点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第33页,前鼻棘（,ANS,）：前鼻棘之尖端,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第34页,后鼻棘（,PNS,）：硬腭后部骨棘之尖,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第35页,上齿槽缘点（,Spr）,：上牙槽突最前下点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第36页,上齿槽座点,(A),：前鼻棘与上齿槽缘间最凹点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第37页,UI(Upper incisor,上中切牙切端,),Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第38页,注意：,因为骨密度较低，ANS点和A点定位较困难,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第39页,3.,下颌标志点,(10,个）,髁顶点（,Co,）：髁突影像最上点,关节点（,Ar):,颅底下缘与下颌髁突颈后缘之交点,下颌角点（,Go,）：下颌角后下点,颏下点（,Me,）：颏部之最下点,颏前点（,Pog,）：颏部之最前点,颏顶点（,Gn,）：颏下点与颏前点之中点,下齿槽座点（,B,）：颏前点与下齿槽缘之间凹点,下齿槽缘点（,Id,）：下牙槽突最前上点,下中切牙点（,L1,）：下中切牙切缘之最前点,D,点,:,下颌体骨性联合部之中心点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第40页,髁顶点,(Co):,髁突最上点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第41页,关节点（,Ar):,颅底下缘与下颌髁突颈后缘之交点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第42页,Go(,下颌角点,),：下颌角后下点，下颌支平面与下颌角平面交角之分角线与下颌角交点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第43页,Po(,颏前点,),：颏部最突点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第44页,下齿槽缘点（,Id,）：下牙槽突最前上点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第45页,下齿槽座点,(B),颏前点与下齿槽缘之间凹点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第46页,下中切牙切端,(LI),Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第47页,颏下点（,Me,）：颏部之最下点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第48页,颏顶点,(Gn),:,颏前点与颏下点之中点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第49页,D,点,:,下颌体骨性联合部之中心点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第50页,软组织测量标志点（,12,个）,额点（,G,）：额部之最前点,眼点（,E):,睑裂皉点,软组织鼻根点（,Ns,）：软组织侧面上对应之鼻根点,鼻尖点（,Prn,）：鼻尖之最前突点,鼻下点（,Sn,）：鼻小柱与上唇之连接点,上唇缘点（,UL):,上唇粘膜与皮肤连接点,上唇缘点（,LL):,下唇粘膜与皮肤连接点,上唇突点（,UL):,上唇最突点,上唇突点（,LL):,下唇最突点,软组织颏前点（,Pos,）：软组织颏部之最前点,软组织颏下点（,Mes,）：软组织颏部之最下点,咽点（,K):,软组织颈部与咽部连接点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第51页,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第52页,1.,基准平面：头影测量中相对稳定平面,SN,平面（前颅底平面）：由蝶鞍点与鼻根点连线组成,FH,平面（眼耳平面）：由耳点与眶点连线组成,Bolton,平面,Bolton,点与鼻根点连线,惯用头影测量平面,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第53页,基准平面,SN plane,（前颅底平面）由蝶鞍点与鼻根点连线组成,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第54页,基准平面,FH plane,（眼耳平面）由耳点与眶点连线组成,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第55页,基准平面,Bolton,平面,-,由,Bolton,点与鼻根点连线组成,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第56页,基准平面,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第57页,2,、测量平面,腭平面（,PP,）,:,由前鼻棘点与后鼻棘点连线组成,全颅底平面,(Ba-N),：颅底点与鼻根点连线,合平面（OP）:,解剖合平面：第一磨牙咬合中点于上下切牙间中点连线。,功效合平面：,6,及乳,4,或,4,合接触点,下颌平面（,MP,）：,颏下点与下颌角下缘切线,经过下颌骨下缘最低点切线,下颌角点与颏顶点连线（,Go-Gn,）,下颌枝平面,面平面（,N-Pog,）：由鼻根点与颏前点连线组成,Y,轴（,S-Gn,）：蝶鞍点与颏顶点连线组成,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第58页,测量平面,腭平面,(PP),由前鼻棘点与后鼻棘点连线组成,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第59页,测量平面,全颅底平面（,Ba-N):,颅底点与鼻根点连线,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第60页,全颅底平面,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第61页,合平面,(OP),1:,第一磨牙咬合中点与上下切牙间中点连线。,2:,功效牙合平面：第一恒磨牙及第一乳磨牙或第一前磨牙牙合接触点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第62页,测量平面,下颌平面（,MP,）,1:,经过颏下点于下颌角下缘相切线,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第63页,测量平面,下颌平面（,MP,）,2:,下颌下缘最低点切线,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第64页,测量平面,下颌平面（,MP,）,3:,下颌角点与下颌颏顶点间连线,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第65页,下颌平面（,MP,）：,1,、颏下点与下颌角下缘切线,2,、经过下颌骨下缘最低点切线,3,、下颌角点与颏顶点连线（,Go-Gn,）,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第66页,测量平面,下颌支平面,(RP):,下颌升支及髁突后缘切线,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第67页,测量平面,面平面（,NP),：鼻根点与颏前点连线,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第68页,测量平面,Y,轴：蝶鞍中心与颏顶点连线,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第69页,2,、软组织测量平面,审美平面（,E,线）,:,经过鼻尖与颏部最凸点切线,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第70页,经过,X,线对,正常牙合,人颅面结构进行分析,得出正常牙合各项测量参考标准,作为诊疗分析,基础,惯用硬组织测量项目,正常值确实定,前提：,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第71页,头影测量分析目标,:,对比,分析犯错牙合畸形机制,正常牙颌,颅面关系,个体牙颌,颅面结构,确定牙和颌位理想位置，制订可行矫治方案,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第72页,每一个项目有特定意义说明对应结构特征或生长改变趋势！,必须,综合评价,各项测量指标，才能明确畸形机制，作出正确诊疗,!,颅面,牙齿、牙弓,颌骨,相互不调，,产生牙颌畸形,相互赔偿产生,正常颅面形态,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第73页,上下颌骨惯用测量项目,上齿槽座角（,SNA,）：前颅底平面与鼻根点和上齿槽座点连线所形成后下交角,下齿槽座角（,SNB,）：前颅底平面与鼻根点和下齿槽座点连线所形成后下交角,上下齿槽座角（,ANB,）：,SNA,与,SNB,之差,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第74页,下颌平面角（,MP-FH,）,:,下颌平面与,FH,平面交角,Y,轴角：蝶鞍中心点与颏顶点连线与眶耳平面之前下交角,面角（,NPog-FH,）：面平面与眶耳平面相交后下交角,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第75页,上中切牙前颅底平面角（U1-SN）：上中切牙长轴与前颅底平面前下交角,下中切牙下颌平面角（L1-MP）：下中切牙长轴与下颌平面后上交角,上下中切牙角（U1-L1）：上下中切牙长轴交角上前面高（,N-ANS,）：以,FH,为参考，,N,点和,ANS,点两点间垂直距离,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第76页,测量内容,SNA angle,：反应上颌相对颅骨前后位置,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第77页,测量内容,SNB angle,：反应下颌相对颅骨前后位置,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第78页,测量内容,ANB angle,：反应上下颌骨相对颅骨相互位置,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第79页,基准平面,NP,（面平面）,FH,（面角）,:,反应下颌突缩程度。,此角越大则下颌？,相对突度越大,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第80页,测量内容,NA,PA(,颌凸角,),：,反应上颌相对整个侧面关系,此角越大则上颌？,相对突度越大,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第81页,测量内容,Y,轴角,:,反应颏部突缩，也代表面部生长发育方向,此角越大则颏部？,颏部后缩,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第82页,测量内容,MP,FH,下颌平面角：反应,1.,下颌体陡度,2.,下颌角大小,3.,面高度：短面型,/,长面型,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第83页,测量内容,ANS-Ptm,（上颌长）：翼上颌裂点与前鼻棘点,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第84页,测量内容,S-Ptm,（上颌位置）：,上颌后界与,S,位置关系,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第85页,测量内容,Co-Pog,（下颌长）髁突后缘切线与颏前点切线在下颌平面上垂足间距离,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第86页,测量内容,S-Co,（下颌位置）,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第87页,测量内容,上下前牙惯用测量项目,UI,SN angle,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第88页,测量内容,LI,MP angle,此角越大则下前牙？,唇倾度大,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第89页,测量内容,U,1,NA:,上切牙对于前颅底相对倾斜度,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第90页,测量内容,U,1,NA distance (U1-NA,距,),Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第91页,测量内容,L1,NB angle,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第92页,测量内容,L1,NB,距,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第93页,测量内容,U1,L1 angle,：反应上下前部牙弓突度。,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第94页,测量内容,MP,SN angle,：与下颌平面角类似,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第95页,面部高度测量项目,全方面高（,N-ME,）：从前鼻棘至颏下点距离,上面高（,N-ANS,）：以,FH,为参考，,ANS,点和,ME,点两点间垂直距离,下面高（,ANS-ME,）：以,FH,为参考，,ANS,点和,ME,点两点间垂直距离,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第96页,惯用头影测量分析法,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第97页,Tweed,分析法：,测量由眶耳平面（,FH,）、下颌平面（,MP,）、下中切牙长轴延长线所组成代表面部形态结构颌面三角形,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第98页,正常值,成都,白人,眶耳平面下颌平面角（,FMA,）,28,25,下中切牙眶耳平面角（,FMIA,）,54,65,下中切牙下颌平面角（,IMPA,）,98,90,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第99页,意义：,FMIA,为,65,是建立良好面形主要条件,正畸治疗主要依靠改变下中切牙位置和倾斜度来完成,以下颌分析为依据,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第100页,Wits,分析法,BO,AO,BO,AO,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第101页,THANKS!,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第102页,测量内容,PP,FH,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第103页,测量内容,Y,轴角,:,反应颏部突缩，也代表面部生长发育方向,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第104页,测量内容,Npg-FH(,面角,),Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第105页,测量内容,U1,SN angle,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第106页,测量内容,L1,MP angle,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第107页,测量内容,U1,L1 angle,：反应上下前部牙弓突度。,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第108页,测量内容,Ptm,-,A,（上颌长）,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第109页,测量内容,Ptm-S,（上颌位置）,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第110页,测量内容,S-Go,后面高,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第111页,测量内容,Go-Co,下颌支长,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第112页,测量内容,Go-Pg,（下颌体长）,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第113页,测量内容,N-ANS,上面高,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第114页,测量内容,ANS-Me,下面高,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第115页,测量内容,U1,PP,距,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第116页,测量内容,U6,PP,距,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第117页,测量内容,L1,MP distanse,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第118页,测量内容,L6,MP distanse,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第119页,Wits,分析法,BO,AO,BO,AO,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第120页,Tweed,三角（,FMA,IMPA,FMIA,）,FMA,FMA,FMIA,FMIA,IMPA,FMIA,Tweed,应用此三角分析得出美国白种正常牙合儿童，,FMIA,均值为,65,，此角是建立良好面型良好条件。,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第121页,Thank You!,The End,X线头影测量分析专题讲座,第122页,惯用平面,眶耳平面（,FH,）,前颅底平面（,SN,）,审美平面（,EP,）,下颌平面（,MP,）,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第123页,惯用角度,颅底,-,上齿槽座角（,SNA,）：,上颌对颅底位置关系,821,颅底,-,下齿槽座角（,SNB,）：,下颌对颅底位置关系,791,上下齿槽座角（,ANB,）：,上下颌位置关系,3 1,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第124页,惯用线距,全方面高（,N,Me,）,上面高（,N,ANS,）,下面高（,ANS,Me,）,上面高,/,全方面高,下面高,/,全方面高,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第125页,测量平面,下颌支平面,(RP):,下颌升支及髁突后缘切线,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第126页,Thank You!,Add your company slogan,X线头影测量分析专题讲座,第127页,颅部,蝶鞍点（,S,）,鼻根点（,N,）,机械耳点,(P),上颌骨,前鼻棘,(ANS),上齿槽座点（,A,）,上中切牙点（,U1,）,下颌骨,下齿槽座点（,B,）,下中切牙点（,L1,）,颏前点（,Pg,）,颏下点,(Me),颏顶点,(Gn),Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第128页,额点（,G,）,鼻小柱点（,Cm,）,鼻下点（,Sn,）,上唇缘点（,UL,）,下唇缘点（,LL,）,软组织颏前点,(Pgs),软组织颏下点,(Mes),颈点（,C,）,Company Logo,X线头影测量分析专题讲座,第129页,