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智力竞赛抢答装置实验报告 .doc

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此资料由网络收集而来,如有侵权请告知上传者立即删除。资料共分享,我们负责传递知识。 智力竞赛抢答装置实验报告  智力竞赛抢答装置实验报告  一、实验目的   1、学习数字电路中D触发器、分频电路、多谐振荡器、CP时钟脉冲源等单元电路的综合运用;   2、熟悉智力竞赛抢答器的工作原理;   3、了解简答数字系统设计、调试及故障排除方法。   二、实验原理   下图为四人用的智力竞赛抢答装置线路,用以判断抢答优先权。   智力竞赛抢答器装置原理图   图中F1为四D触发器74LS175,它具有公共置0端和公共CP端,引脚排列间附录;F2为双4输入与非门74LS20;F3是由74LS00组成的多谐振荡器;F4是由74LS74组成的四分频电路;F3、F4组成抢答器中的CP时钟脉冲源。抢答开始时,由主持人清除信号,按下复位开关S,74LS175的输出Q1~Q4全为0,所有发光二极管LED灯均熄灭,当主持人宣布“抢答开始”后,首先做出判断的参赛者立即按下开关,对应的发光二极管点亮,同时,通过与非门F2送出信号锁住其余3个抢答者的电路,不再收受其   他信号,直到主持人再次清除信号为止。   三、实验设备与器件   (1)+5V直流电源   (2)逻辑电平开关   (3)逻辑电平显示器   (4)双踪示波器   (5)数字频率计   (6)直流数字电压表   (7)74LS175,74LS20,74LS74,74LS00   四、实验内容   (1)测试各触发器及各逻辑门的逻辑功能。测试方法参照数字电子技术基础实验的有关内容,判断器件的好坏。   (2)按图10-1接线,抢答器五个开关接实验装置上的逻辑开关,发光二极管接 电平显示器。   (3)断开抢答器电路中CP脉冲源电路,单独对多谐振荡器F3及分频器F4进行调试,调整多谐振荡器10kΩ电位器,使其输出脉冲频率约4kHz,观察F3和F4输出波形及测试其频率。   (4)测试抢答器电路功能。接通+5V电源,CP端接实验装置上连续脉冲源,取重复频率约1kHz。   1)抢答开始前,开关K1,K2,K3,K4均置“0”,准备抢答,将开关S置“0”,发光二极管全熄灭,再将S置“1”。抢答开始,K1,K2,K3,K4某一开关置“1”,观察发光二极管的亮、灭情况,然后再将其他三个开关中任一个置“1”,观察发光二极管的亮、灭有否改变。   2)重复1)的内容,改变K1,K2,K3,K4 任一个开关状态,观察抢答器的工作情况。   3)整体测试。试开实验装置上的连续脉冲源,接入F3和F4,再进行实验。   五、设计报告   (1) 若在图10-1 电路中加一个计时功能,要求计时电路显示时间精确到秒,最多限制为2min,一旦超过限时,则取消抢答权,电路如何改进?   (2) 分析智力竞赛抢答装置各部分功能及工作原理。   (3) 总结数字系统的设计、调试方法。   (4) 分析设计中出现的故障及解决办法。 2
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