锥光镜下晶体的光学性质.pptx

,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,#,第四节 锥光镜下的晶体光学性质,一、锥光镜的装置及特点,1,锥光镜的装置,在正交偏光的基础上，加上聚光镜。使用高,倍物镜，通常是,40,倍以上。加上勃氏镜或者取去,目镜。,2,锥光镜的特点,1,）聚光镜的作用,:,使平行偏光变成锥形偏光。,2),勃氏镜或取去目镜作用,:,放大干涉图。,3,）高倍物镜作用,:,使图象更清晰。,聚光镜的作用,锥形偏光，不论如何倾斜，其振动面总是与下偏光的振动面平行,偏光束,锥光束,锥光镜的作用,P,P,光学特点：,假设,垂直光轴入射，形成一个圆切面；,斜切光轴，形成一个椭圆切面,同,W,E,垂直光轴的切面,P,P,除方向,外，,发生双折射现象,P,P,不同方向入射光线可能形成的光率体切面形态及分布特征,光学特点：,（一）均质体（,ISOTROPIC CRYSTALS),矿物,1,、特点,-,锥光镜下不显干涉图,2,、原因,均质体矿物的光学性质个方向一致，光波沿任何方向射入矿片，都不发生双折射，在正交偏光镜下不显干涉图,光学特点：,（二）非均质体,(ANISOTROPIC CRYSTALS),锥形偏光通过矿片后，到达上偏光产生特殊的图形,干涉图,(interference figures),高倍镜的作用,低倍,中倍,高倍,放大不同的物镜，能接纳的倾斜锥光,范围所显示的干涉图,2,、高倍镜 能接纳较大范围的倾斜入射光波，能接纳与矿片发现成,60,0,夹角以内的倾斜入射光波，显示的干涉图清晰完整,1.,低倍物镜的数值孔径小，工作距离小，一般只能接纳与矿片发现成,5,0,以内的倾斜入射光波，显示的图形不完整,勃氏镜（,Bertrand lens),的作用,与目镜联合构成一个放大系统，能看到一个放 大的干涉图。,未加勃氏镜,加入勃氏镜,3,观察干涉图应注意的问题：,（,1,）首先使用低倍或者中倍物镜找到所需观察的矿物颗粒，置于视域中心后，换用高倍物镜。,（,2,）换用高倍物镜后，检查是否已准焦，准焦应注意物镜不要与薄片相碰。,（,3,）加上载物台下的聚光镜后，要把聚光镜上升到最高位置，但不要与薄片相碰。,（,4,）检查高倍物镜是否需要校正中心。,（,5,）干涉图是消光和干涉效应的总和。,二、一轴晶干涉图,1,、垂直光轴切面的干涉图,图像特点,垂直光轴切面,斜交光轴切面,平行光轴切面,双折射率较大,双折射率较小,干涉图的特征,光轴出露点,（,melatope,),干涉色色圈,两条消光影构成黑十字,1,、有一个黑十字和同心圆干涉色圈组成。,2,、黑十字由两个互相垂直的黑带（消光影）组成。,3,、两个黑带分别与,AA,、,PP,平行，黑带中心窄，边缘较宽。,4,、黑十字交点位于视域中心，为光轴出露点。,5,、干涉色色圈以黑十字交点为中心，呈同心圆状，其干涉色级序由中心向外逐渐升高，越往外色圈越密。,6,、同一矿物，矿片越厚干涉色圈越多；反之，干涉色圈越少。,7,、转动载物台,360,0,，干涉图不发生变化。,干涉图的特征,（,2,）干涉图的成因,问题,：,1,、为什么会出现一个黑十字？,2,、为什么会出现干涉色色圈？,3,、为什么转物台,360,0,干涉图不发生变化？,（,2,）干涉图的成因,1),、锥光通过矿片时的振动特征,假设,平行光轴入射，形成一个圆切面；,斜切光轴，形成一个椭圆切面,同,P,P,不同方向入射光线可能形成的光率体切面形态及分布特征,2),、波向图的形成,Ne,方向,切线方向,No,一轴晶（,+,）,P,P,不同方向入射光线可能形成的光率体切面形态及分布特征,2),、波向图的形成,Ne,方向,切线方向,No,一轴晶（,）,3),、黑十字的成因,在正交偏光镜下出现黑十字,Ne,No,不论光性正负放射线方向为,Ne,切线方向为,No,4),、干涉色圈的成因,光轴出露点,正光性,（,3,）应用,1,、确定轴性和切面方向,根据图像特点,可确定为一轴晶垂直光轴的切面。,2,、测定光性符号,Ne=Ng,，,NeNo,：正光性,Ne=Np,，,NeNo,：负光性,3,、,加入试板判断光性正负：,一级灰干涉色加石膏试板，判断与正交偏光的,情况相同。蓝,升高，黄,降低。,干涉色圈较多时，加云母试板（升降一个色,序）。这时，,升高区域的干涉色环向内移动，,降低区域的干涉色环向外移动，并在光轴出路,点附近出露两个黑点。,石英垂直光轴切面的光性确定（正光性）,方解石垂直光轴切面的光性确定（负光性）,2,、斜交光轴切面干涉图,图像相当于垂直光轴的一部分，也即斜交光轴,切面的干涉图是由不完整的黑十字和不完整的干涉色,圈组成。这种切面也可用于,确定轴性及切面方向，,测定光性符号,，但关键是需要确定光轴出露点及对应,的四个象限。其判别方法同垂直光轴切面干涉图。,1),光轴倾角不大时，光轴出露点仍在视域中心，四个象 限也比较清楚，很容易判别。（见下图）,2),光轴倾角较大时，,光轴出露点已不在视域中心，也没有黑十字存在，只有一根黑带,。这种情况下，需要确定光轴出露点位置及象限归属，然后才能判别相应性质。（见下图）,光轴出露点位置及象限归属的确定方法如下：,以顺时针转动载物台为标准，黑带向,下,移动，光轴出露点在,右,边，黑带上部为二象限，下部为三象限；黑带向,上,移动，光轴出露点在,左,边，黑带上部为一象限，下部为四象限；黑带向,右,移动，光轴出露点在,上,边，黑带左部为三象限，右部为四象限；黑带向,左,移动，光轴出露点在,下,边，黑带左部为二象限，右部为一象限；,3),光轴倾角很大时，黑带较宽大。转动物台时，黑带呈弯曲状扫过视域，这种切面的干涉图不能确定轴性。,（见下图）,3,、平行光轴切面干涉图,图像特点,（,1,）当光轴方向与上、下偏光镜振动方向之一平行时，为粗大的黑十字，几乎占满整个视域,A,A,P,P,（,2,）旋转物台，粗大的黑十字从中心分裂，并迅速沿光轴方向退出视域,OA,（,3,）当光轴方向与上、下偏光镜振动方向,AA,、,PP,称,45,0,夹角时，视域最亮。,如果双折射率较大，则出现对称的弧形干涉色带。在光轴方向上，干涉色级序由中心向两边逐渐降低；在垂直光轴方向上，干涉色级序由中心向两边逐渐增高,。,注意：如果矿物的双折射率较小，则不出现弧形干涉色带，整个视域为一级灰白干涉色。,三、二轴晶干涉图,1.,垂直锐角等分线,(Bxa),切面,2.,垂直一个光轴的切面,3.,斜交切面,4.,垂直钝角等分线,(Bxo),切面,5.,平行光轴切面,1,、垂直锐角等分线,(Bxa),切面的干涉图,图像特点,当光轴面与上下偏光镜振动方向之一平行时，干涉图由黑十字和,“,”,干涉色圈组成，干涉色圈的多少，取决于矿物双折率的大小及矿片厚度。,转动载物台，黑十字从中心分裂形成两个弯曲的黑带，当光轴面与上下偏光镜振动方向成,45,夹角时，两个弯曲的黑带顶点之间距离最远。,转动载物台,90,时，弯曲黑带又合成黑十字，但其粗细黑带已更换了位置。,二轴晶垂直,Bxa,切面的干涉图,双折射率较大,双折射率较小,2,、垂直一个光轴切面的干涉图,图像特点,图像特点相当于,垂直锐角等分线,(Bxa),切面的干涉图的一半,。,当光轴面与上下偏光镜振动方向之一平行时，干涉图由一条直的黑带和卵形干涉色圈组成。,转动载物台，黑带发生弯曲，这是与一轴晶垂直光轴切面干涉图的区别之一。,3,斜交切面的干涉图,二轴晶斜交切面干涉图的图像特点取决于斜交切面的类,型，一般有,垂直光轴面,的斜交光轴切面干涉图和,斜交光轴面,的斜交光轴切面干涉图等两种,(,参见下图,),。,无论何种斜交光轴切片干涉图，当旋转载物台，黑臂总要弯曲，黑臂凸出的一侧，总是朝向锐角等分线。插入合适的试板，观察锐角区干涉色的升降和试板方向，来测定光性正负。,垂直光轴面的斜交光轴切面干涉图,(,箭头指向,Bxa,出露点,),。也可用于确定轴性、切面方向和光性符号。,斜交光轴面的斜交光轴切面干涉图,(,箭头指向,Bxa,出露点,),。也可用于确定轴性、切面方向和光性符号。,4,垂直,Bxo,切面的干涉图,当光轴面与上、下偏光镜振动方向之一平行时，为一粗大,的黑十字,(,下图,A),，黑十字交点为,Bxo,出露点，光轴出露点在,视域之外。转动载物台，黑十字很快地分裂成两个弯曲黑带,(,下图,B),，沿光轴面,(Ap),方向退出视域。当光轴面与上、下偏光镜振动方向成,45,o,夹角时，弯曲黑带顶点间的距离最远，但顶点仍为光轴出露点,(,下图,C),。,5,、平行光轴面切面的干涉图,当,Bxa,和,Bxo,方向分别平行,PP,和,AA,时，为一粗大模糊的黑十字，转动载物台，粗大模糊的黑十字分裂退出视域。由于这种方向切面的干涉图与一轴晶相一致，不能用它确定轴性，当轴性已知时，可用于确定切面方向。,油浸法测折射率值,就是将矿物碎屑颗粒浸没于已知折射率值的浸油中，比较二者的折射率值，通过一系列浸油的更换，直至浸油的折射率值与矿物相等为止。这时浸油的折射率值即是矿物的折射率值,（一）、浸油的制备及折射率值测定方法,1,、浸油的基本要求、,需要配制两套已知折射率的浸油。相邻浸油的折射率差通常是,0.01,0.003,之间。,一套为低,N,，,N,1.400,1.700,，间隔通常为,0.003,，约,100,瓶。,一套为高,N,，,N,1.700,2.100,，间隔为,0.01,，,40,瓶,浸油的配制方法有三种液体互混、固体溶于液体、固体混熔。,第五节 矿物折射率及颗粒大小的测定,一、油浸法测折射率值,配制低折射率油,主要用液体混合,不同折射率的油按比例混合，混合后的体积不得少于,20,毫升，否则影响浸油的折射率的准确性,浸油的要求：,1,无色或近于无色；,2,油不与被研究物起反应；,3,各种液体能以任意比例混合；,4,挥发性不强；,5,无剧毒。,第五节 矿物折射率及颗粒大小的测定,2,、浸油配制的计算与配制方法,配制浸油公式：,VN,V1N1,V2N2,V,V1,V2,式中,V,需要配制的浸油的体积，,N,所需浸油的折射率,V1,、,V2,所需两种原料的体积,N1,、,N2,所需两种原料的折射率,配制低折射率油，只需,5,、,6,种原料油即可。如水、甘油、液体石蜡、氯化萘、溴代萘、二碘甲烷。,第五节 矿物折射率及颗粒大小的测定,配制高折射率油，有下几种方法：,1,硫溶于二碘甲烷，,N,1.74,1.78,2,各种碘化物溶于二碘甲烷，,N,1.74,1.86,3,硫、磷溶于二碘甲烷，,N,1.74,2.02,配制折射率大于,2,的浸油只能用低熔点固体，如硫硒（,1.92,2.92,）,浸油的折射率值的测定：配制浸油虽然按比例混合，但必须用仪器校准。测量仪器为阿贝折射仪。,第五节 矿物折射率及颗粒大小的测定,浸油配制的方法主要有三种，如下表：,混合方法,浸油原料,折射率范围,备注,液体与液体混合,煤油分馏物煤油分馏物与,氯代萘水与甘油,氯代萘与二碘甲烷,溴代萘与液体石蜡,溴代萘与二碘甲烷,1.350-1.4501.450-1.6301.630-1.7401.330-1.4701.480-1.6601.660-1.740,固体溶于液体中,硫与二碘甲烷硫、磷与二碘甲烷三硫化二砷与二碘甲烷,1.740-1.7801.740-2.0601.780-2.070,黄磷易自燃使用时注意,固体与固体混溶,胡椒碱,-,碘化锑,-,碘化砷硫、硒铊的卤族元素化合物硒与硒化砷,1.660-2.1001.890-2.9202.200-2.9002.170-2.720,(,二,),浸油薄片的制备,1,将欲测矿物加工成均匀细粒，直径,0.03,0.05,毫米。破碎时不要碾磨，以保持原始状态，防止颗粒沾很多细小粉末,2,取少量碎屑（,10,20,）置载玻片中央，用小刀均匀散开,3,盖盖玻片，只要四分之一大,4,滴管吸油，从边缘滴入，要充满，无气泡，但不宜过多。载玻片不能倾斜,换油：滤纸吸出，用新浸油冲洗二到三遍。再滴油。矿物多且为非定向片时重新制片,第五节 矿物折射率及颗粒大小的测定,(,三,),测定浸油与矿物的折射率的大小,1,贝克线法,用单色光照明，观察贝克线的移动。当矿物边缘和贝克线都消失时，矿物与浸油的折射率相等。,2,色散法,白光照明，当折射率差在,0,01,时，在矿油接触处，出现浅兰、橙黄、两色带这是由折射率色散引起的。,浸油的折射率色散一般比矿物大，油的色散曲线陡，矿物的色散曲线平缓。色光向折射率大的方向偏折。提升镜筒，色光向折射率高的方向移动。,第五节 矿物折射率及颗粒大小的测定,A,当矿物与浸油的色散曲线交点位于蓝色光波波长处，即,N,矿,N,油,，,对于蓝色光波，,N,矿,=N,油,，蓝色光波不发生折射，在矿物边缘形成浅蓝色色带；,对于橙黄色光波，,N,矿,N,油,，橙黄色光波发生折射，在矿物边缘稍内形成橙黄色色带。,提升镜筒，橙黄色色带向矿物内移动，而浅蓝色色带基本不动,。,B,、,当矿物与浸油的色散曲线交点位于橙色光波波长处，即,N,矿,N,油。,对于橙色光波，当,N,矿,=N,油，橙光不发生折射，在矿物边缘形成橙色色带；,对于蓝色光波，即,N,矿,N,油，蓝绿等色光波发生折射，在矿物边缘稍外形成浅蓝色色带。提升镜筒，浅蓝色色带向浸油移动，而橙黄色色带基本不动。,C,当矿物与浸油的色散曲线交点位于黄色光波波长处，即,N,矿,=N,油。,对于黄色光波，即,N,矿,=N,油，黄光不发生折射。,对于蓝色光波，,N,矿,N,油，蓝绿等色光波向浸油方向发生折射，在矿物边缘稍外形成蓝色色带。提升镜筒，浅蓝色色带向浸油移动，橙色色带向矿物移动，二者的移动速度及色带的宽度近于相等。,（四）、油浸法测定矿物折射率值的程序,(1),均质体矿物折射率值的测定,均质体矿物只有一个折射率值，在碎屑油浸薄片中，利用贝克线或色散条带，比较矿物与浸油折射率的相对大小。通过不断换油，直到矿物与浸油折射率相等，或矿物折射率值介于相邻两种浸油之间为止。,在换油过程 中，根据矿物在浸油中所显示的突起高低、边缘和糙面的明显程度确定换油间距。如果矿物突起高、边缘和糙面明显，在换油时可以间隔几瓶浸油；反之，则必须按浸油折射率的大小顺序依次换油。每次换油后的观察结果，必须仔细记录。,(2),非均质矿物折射率的测定,在碎屑油浸薄片中，选一个干涉色最低的碎屑颗粒，在锥光镜下确定轴性，测定光性符号。,一轴晶矿物主折射率值的测定,一轴晶矿物有,No,和,Ne,两个主折射率值。通常只测定,No,其测定方法如下：,1),测定矿物的,No,值,选一个,OA,的切面,，其特征是：,正交偏光镜间全消光；,在单偏光镜下不显多色性,(,如为有色矿物,),；,锥光镜下显一轴晶,OA,切面的干涉图；,其光率体切面为圆切面，半径为,No,，如果找不到垂直光轴的颗粒,可以用斜交光轴的颗粒代替。,斜交光轴颗粒的光率体切面为椭圆切面，总有一个半径是,No,；,正光性，,No=Np,；负光性,No=Ng,；,如果光性符号已经测定，在正交偏光镜间能确定,No,的方向。,转动载物台,，使,NoPP,，推出上偏光镜应用贝克线或色带的移动规律，比较矿物,No,与,N,油,的相对大小。,通过不断更换浸油,，即能得到矿物的,No,值。,2),测定矿物的,Ne,值,必须用平行光轴的切面,。其特征是：,正交偏光镜间干涉色最高；,锥光镜下显瞬变干涉图；,单偏光镜下多色性明显,(,如有色矿物,),；,光率体椭圆半径为,Ne,和,No,；,正光性：,Ne=Ng,，,No=Np,，负光性：,Ne=Np,，,No=Ng,；,确定光性符号后,，在正交偏光镜间确定,Ne,与,No,的方向；,转动载物台,，使,NePP,，推出上偏光镜，比较矿物,Ne,和,N,油,的大小。,转物台,90,使,NoPP,，比较矿物,No,与,N,油,的相对大小。,通过不断更换浸油,，可测出矿物的,Ne,和,No,。,二轴晶矿物主折射率的测定,二轴晶矿物有,Np,、,Nm,、,Ng,三个主折射率值。一般只测定,Nm,值，如有必要时才测定,Ng,、,Np,值。,1),测定矿物的,Nm,值,选一,OA,的切面,，其特征是：,正交偏光镜间全消光或呈灰黑色；,锥光镜下显二轴晶,OA,切面的干涉图；,光率体切面为圆切面，其半径为,Nm,；故测定方法与均质体相同；,若无,OA,切面，可用,Ap,的斜交光轴切面颗粒代替。其特征是正交偏光镜间干涉色最低，锥光镜下显二轴晶垂直光轴面的斜交光轴切面干涉图。,当,ApAA,或,PP,时,，直黑带通过视域中心而且平分视域，垂直黑带的方向为,Nm,方向。,转动载物台,，使,Nm,方向,PP,，取消锥光镜装置，在单偏光镜下，应用贝克线或色带的移动规律比较矿物,Nm,与,N,油,的相对大小。,通过不断更换浸油,，可测出矿物的,Nm,。,另：在,Bxa,或,Bxo,的切面上，也可测定,Nm,值，还可测定,Ng,和,Np,值。,二、矿物颗粒大小及含量的测定,（一）矿物颗粒大小的测定,显微镜下测定薄片或光片中的颗粒大小，通常使用带刻度的目镜进行,这种目镜有一百个刻度，每小格所代表的长度因物镜的放大倍数不同而异,当知道目镜每小格所代表的长度，视颗粒所占刻度尺的格数乘以每格所代表的长度，即欲测矿物颗粒的实际长度或宽度。,第五节 矿物折射率及颗粒大小的测定,目镜每格所代表的长度借物台测微尺来测量,物台测微尺是镶嵌于玻璃上的长度,1,或,2,毫米分为,100,或,200,格的显微尺，每小格,0.01,毫米,应用物台微尺测目镜每小格长度的步骤：,将测微尺置物台上，准焦,转动物台，使微尺与目镜十字丝平行,移动微尺使两,0,点对齐，仔细观察微尺与目镜刻度的重合点，目镜每刻度的实际长即可计算出来。,第五节 矿物折射率及颗粒大小的测定,用图像分析仪自动测量，显微镜下粒度测量的下限，从理论上讲大约为,0.25,微米，但是由于技术上的限制，一般能测到,1,微米，岩石的薄片能测到,5,微米。,（二）显微镜下矿物百分含量的计算,矿物百分含量是指矿物的体积百分数乘以比重。可得出重量百分比。薄片中的矿物百分含量常以面积百分数表示,1,面积法,2,直线法,3,计点法,4,目估法,5,自动定量图象分析仪,第五节 矿物折射率及颗粒大小的测定,透明矿物的系统鉴定是指在不同光路系统的偏光显微镜下，按一定程序对矿物进行全面系统的光学性质测定，并加以总结和描述，找出矿物的鉴定特征，以确定矿物的种属名称。通常用于鉴定未知矿物或已知矿物的精确定名。,在鉴定之前，必须先观察矿物手标本的晶形、颜色、光泽、硬度、解理、断口等肉眼鉴定特征，了解矿物的共生组合及野外产状。,经过系统鉴定后，仍不能确定矿物名称时，还需配合其它测试方法做进一步鉴定。,透明矿物的系统鉴定,一、透明矿物系统鉴定的内容,(,一,),单偏光镜下的观察,晶形,：观察矿物晶形的完整程度，结晶习性，集合体形态。根据不同方向切面轮廓，判断矿物的晶形及所属晶系。,解理,：观察矿物解理等级。根据不同方向切面上显示的解理缝隙情况，综合判断解理方向及组数。若具两组解理，要测定解理夹角。尽可能确定解理与结晶轴之间的关系。,突起等级,：观察矿片边缘、糙面的明显程度，突起高低及贝克线移动方向，色散效应。综合判断突起等级，估计矿物折射率大致范围。观察闪突起现象。,颜色、多色性,：观察矿片有无颜色，如有颜色，观察有无多色性，多色性的明显程度，颜色变化情况。在定向切面上测定多色性公式和吸收性公式。,包裹体：,包裹体的有无及其排列和分布。,次生变化：,矿物有无次生变化、变化程度及变化产物。,(,二,),正交偏光镜间的观察,最高,干涉色,级序,观察矿片的最高干涉色级序，有无异常干涉色。在平行光轴,(,或光轴面,),切面上测定干涉色级序。,最大,双折率,根据平行光轴,(,或光轴面,),切面上测定的干涉色级序确定光程差，根据已知矿物确定矿片厚度。由光程差和矿片厚度计算双折率或从干涉色色谱表上查双折率。,消光类型,根据不同方向切面的消光情况，确定矿片的消光类型。,消光角,对斜消光矿物，在定向切面上测定消光角。,延性符号,对沿一个方向延伸的矿物，测定与延长方向一致的光率体椭圆半径名称，确定延性符号。,双晶,观察矿物有无双晶，确定双晶类型。,(,三,),锥光镜下的观察,均质体与非均质体,根据有无干涉图区分均质体与非均质体；,根据干涉图特征确定轴性（一轴晶或二轴晶）,根据干涉图特征确定切面方向；,测定光性符号；,估计或测定光轴角大小；,观察矿物的色散强弱，色散类型及紫光与红光光轴角相对大小。,二、常用的定向切面及其特征,(,一,),垂直光轴切面,1.,切面特点,光率体切面为圆切面,半径,=No,（一轴晶）,半径,=Nm,（二轴晶）；,单偏光镜下如为有色矿物，则不显多色性；,正交偏光镜间全消光；,锥光镜下显一轴晶或二轴晶光轴切面的干涉图。,2.,切面用途,确定,轴性，测定光性符号。如为二轴晶，可以估计,2V,大小，观察色散现象。,测定,No,或,Nm,的颜色，测定主折射率,No,或,Nm,的值。,注意：在岩石矿片中，往往不易找到严格垂直光轴的切面。,一轴晶矿物,可用斜交光轴,(,光轴倾角不大,),的切面代替。这种切面的光率体椭圆半径中总有一个半径是,No,，其多色性较弱，干涉色级序较低，显一轴晶斜交光轴切面干涉图。,二轴晶矿物,可用垂直光轴面的斜交光轴,(,光轴倾角不大,),切面代替。这种切面的光率体椭圆半径中总有一个是,Nm,，其多色性较弱，干涉色较低，显二轴晶垂直光轴面的斜交光轴切面干涉图。,(,二,),光轴（一轴晶）或光轴面（二轴晶）的切面,1.,切面特点,光率体切面为椭圆切面,长短半径,Ne,和,No,（一轴晶）,长短半径,Ng,和,Np,（二轴晶）,多色性最明显，干涉色级序最高，显瞬变干涉图。,2.,切面用途,观察多色性的明显程度，测定,Ne,和,No(,一轴晶,),或,Np,和,Ng(,二轴晶,),的颜色。,观察闪突起现象，测定,Ne,和,No,或,Np,和,Ng,的值。,测定最高干涉色级序及最大双折率值。,单斜晶系矿物中，当,Nm,与,Y,晶轴一致时，如角闪石类及辉石类矿物，可以用这种切面测定消光角。,三、透明矿物的系统鉴定程序,(,一,),区分均质体和非均质体矿物,均质体矿物,各个方向切面，在正交偏光镜间均为全消光，在锥光镜下无干涉图。,非均质体矿物,只有垂直光轴切面在正交偏光镜间全消光，其它方向切面在正交偏光镜间为四次消光。用白光源时产生干涉色。锥光镜下显示各种类型干涉图。,(,二,),均质体矿物的鉴定,在单偏光镜下观察矿物的颜色、晶形、解理、裂纹、突起等级、包裹体特征及次生变化等特征。,(,三,),非均质体矿物的鉴定,1.,单偏光镜下,观察矿物的颜色、晶形、解理、裂纹、突起等级、包裹体特征及次生变化等特征；,2.,在正交偏光镜间,观察消光类型；如为平行消光，测定延性符号，观察双晶类型等。,3.,选择一个光轴的切面,在锥光镜下,，确定轴性，测定光性符号，如为二轴晶，估计,2V,角大小，观察色散特征。如为有色矿物，在单偏光镜下观察,No,或,Nm,的颜色。,4.,选择一个光轴或光轴面切面,在正交偏光镜间测定最高干涉色级序，最大双折率值，测定消光角大小。如为有色矿物，在转动载物台的同时观察多色性的明显程度和吸收性。观察闪突起现象。结合垂直光轴切面上观察的,m,颜色，写出多色性公式及吸收公式。,注意：在岩石薄片中，只能根据突起等级大致估计矿物折射率范围，精确测定时需用油浸法或其它方法。,作业题,1.,透明矿物薄片系统鉴定的内容；,2.,锥光镜下一轴晶、二轴晶干涉图的形象特点；,