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计量检定规程
深 圳 三 和 新 电 子 科 技 有 限 公 司
ShenZhen SanHeXin Electronic Technology Co.,ltd 文件名称 计量器具内校作业指导书 文件编号 WI-MM-044 使用部门 工模部 生效日期 2014.2.10 版本/版次 A/0 页次 1/7 编制 周顺 审核 批准 1、硬度计的内校程序
(1)、结构说明:常用硬度计分为?章氐其计算符号为HV。?布氐其计算符号为HB，?洛氐其计算机符号为
HR三者之结构大致相同。
(2)、校验基准:使用外校合格的硬度计进行对比校准。
(3)、校准环境及周期:常温、常压，静置2小时以上，校准周期12个月。
(4)、校准步骤:
项 目 步 骤
校准前 1、检查有否影响测量精度的外观缺陷。 2、检查指示表指针是否归零。 校准中 1、将待校与合格硬度计，分别对三种不同硬度的材料进行对比校准，两者间的表示值差，就是误差。
2、校准中受力方向要与被测面垂直，且用力均匀。
3、硬度计取用小心轻放，不可掉落地上。
校准后 1、硬度计出现异常时，须经品管部判定是否暂停使用/重校/报废的处理。
2、硬度计不可测量金属或其他硬物品，用后放回原保管盒中。
(5)、判定标准:表示值误差不超过?0.02，即为合格。
(6)、记录保存:
?、 校准合格后，贴校准标签。
?、 校准不合格时:依实际情况，判定为:暂停使用，降级使用，维修，报废处理。
?、 将校准结果记录在《校准记录表》内。
2、深度尺内校程序:
(1)、结构概述: 深度尺是用来测量肓孔，梯形孔及凹槽等深度尺寸的量具， (2)、校准基准:标准量块(外校合格的标准块)。
(3)、校准环境及周期:常温，常压，静置2小时以上，校准周期12个月。
(4)、校准步骤:
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ShenZhen SanHeXin Electronic Technology Co.,ltd 文件名称 计量器具内校作业指导书 文件编号 WI-MM-044 使用部门 工模部 生效日期 2014.2.10 版本/版次 A/0 页次 2/7
编制 周顺 审核 批准
项 目 步 骤
校准前 1、检查深度尺是否有碰伤，锈蚀，带磁或其他缺陷。
2、检查深度尺的刻度线及数值是否清晰可见。
3、检查是否有影响到测量精度的外观缺陷。
4、尺框在尺身上移动应平稳，无卡住现象。
5、锁紧装置的作用是否有效。
校准中 1、选择标准量块(外校合格的标准量块对深度尺进行校准)。
2、量程为200mm的分别取51.1mm,121.5mm,191.8mm
是程为300mm的分别妈51.1mm，101.2mm，51.3mm,201.5mm，250.0mm，每点校准两次，
取平均值。
3、采用标准量块时，须戴好手套，并小心不可掉落地面上。
4、将量测数值减去标准量块值，即为误差值。
校准后 1、深度尺遇有外观不良或须调整时，由品管部判定是否暂停使用，送外校准。
2、标准量块使用完后，须擦拭干净，喷上防锈油，放回固定位置保存。
(5)、判定标准: 表示值误差不超过?0.04MM即判为合格。
(6)、记录保存:
?、 校准合格后，贴校准标签。
?、 校准不合格时，依实际情况，判定为暂停使用，降级使用，报废处理。
?、 将校准结果记录在《校准记录表》内。
3、高度尺内校程序:
(1)、结构概述: 高度尺是用来测量工件的中央相互位置和精密划线的量具，其主要由以下结构组成， (2)、校准基准:选用外校合格的量块和平台进行比对校准。
(3)、校准环境及周期:常温，常压，静置2小时以上，校准周期为12个月。
(4)、校准步骤:
项 目 步 骤
校准前 1、检查高度是否有碰撞，锈蚀，带磁，或其他缺陷。
2、检查高度尺的刻度线及数值是否清晰可见。
3、检查是否有影响测量精度的外观缺陷。
4、尺框在尺身上移动应平稳，无卡住现象。
5、锁紧装置的作用是否有效。
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ShenZhen SanHeXin Electronic Technology Co.,ltd 文件名称 计量器具内校作业指导书 文件编号 WI-MM-044 使用部门 工模部 生效日期 2014.2.10 版本/版次 A/0 页次 3/7
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校准中 1、先检查游标剑测高扑与划线量扑下平面，与底座平面在同一水平面时，游标零刻度线，
与尺身零度刻你是否对齐,不对齐，则先调整。
2、选择适当，又不同长度的量块，分别用高度尺，对每个量块量测2次，其平均值与量块
实际值做比对。
3、将内校量测值减去外校合格量块测数值，即为误差值。
校准后 1、高度尺遇有外观不良或须调整时，由品管部判定暂停使用，并安排外校。 (5)、判定标准:表示值误差不超过?0.04mm即为合格。
(6)、记录保存:
?、 校准合格后，贴上校准标签。
?、 校准不合格时，依实际情况定为暂停使用，降级使用报废处理。
?、 将校准结果记录在《校准记录表》内。
4、外径千分尺内校程序:
(1)、外径千分尺又叫螺旋测微器，外径千分尺是由尺架，测砧，测微螺杆，微调装置，锁紧装置，固定套筒，微分
筒等组成，
(2)、使用基准:外校合格的标准量块:
(3)、校准环境及周期。常温，常压，静置2小时以上，校准周期为12个月。
(4)、校准步骤:
项 目 步 骤
校准前 1、检查外径千分尺是否有碰伤，锈蚀，带磁或其他缺陷，捡查千分尺的刻度线及数值是否清
晰可见。
2、检查是否有影响测量精度的外观缺陷。
3、微分筒转动和测微螺杆的移动平稳无卡住现像。
4、锁紧装置的作用是否有效。
5、测砧与测微螺杆端面是否有严重磨损。
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ShenZhen SanHeXin Electronic Technology Co.,ltd 文件名称 计量器具内校作业指导书 文件编号 WI-MM-044 使用部门 工模部 生效日期 2014.2.10 版本/版次 A/0 页次 4/7
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校准中 1、选择适当的标准量块，对外径千分尺进行校准。
2、各校件作五点不同尺寸校准，每点校准两次取平均值。
测量范围(mm) 受校点尺寸(mm)
0—25 5.12 10.24 15.36 21.50 25
25—50 32.12 35.24 40.36 46.50 50
50—75 55.12 60.24 65.36 71.50 75
75—100 80.12 85.24 90.36 96.50 100
3、取用标准量块时，需戴手套，并小心不可掉落地上。
4、将测量数值减去标准量块数值，即为误差值。
校准后 1、外径千分尺遇有外观不良或需调整，由品管部判定是否暂停使用，送外校准。
2、标准量块使用后，须擦拭干净，喷上防锈油，放回固定位置保存。 (5)、判定基准:表示值误差不超过?0.02mm即为合格。
(6)、记录保存:
?、校准合格后，贴上校准标签。
?、校准不符合时，依实际情况判定为暂停使用，降级使用，报废处理。
?、将校准结果记录在《校准记录表》内。
5、卡尺内校程序:
(1)、结构概述:卡尺分为游标卡尺，带表卡尺，带电子显示器卡尺寸三种。
?、游标卡尺:游标卡尺主要用于测量物件的外尺寸，游标卡尺主要由以下部位组成，尺身，刀口内量爪、外
量爪、游标，尺框，紧固螺丝，深度尺等，
?、带表卡尺:带表卡尺主要由以下部份组成:尺身，刀口内量爪，外量爪，尺框，紧固螺丝，深度尺，指示
表等，
?、带电子显示器卡中尺: 其结构主要由以下部份组成:尺身，刀口内量爪，外量爪，尺框，紧固螺丝，深
度尺，电子显示表组成，
(2)、校准基准:
?、 标准量块(外校合格的标准件)。
?、 选用外校合格的平台。
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ShenZhen SanHeXin Electronic Technology Co.,ltd 文件名称 计量器具内校作业指导书 文件编号 WI-MM-044 使用部门 工模部 生效日期 2014.2.10 版本/版次 A/0 页次 5/7 编制 周顺 审核 批准
?、 选取用外校合格20mm深的标准量块。
(3)、校准环境及周期:常温，常压，静置2小时以上，校准周期为12个月。 (4)、校准步骤:
项 目 步 骤
校准前 1、目测卡尺外部是否有弯曲变形。
2、检验游尺与本尺全程滑动时是否顺畅。
3、归零后，目测内外径测量面是否完全密合。
4、检查深度尺的磨损状况。
5、检查是否有影响测量内外径的测量面是否完全密合。
6、坚固螺丝的作用是否有效。
7、检查带表卡尺指针运行是否平稳，灵活。
8、检查带电子显示器卡尺的显示器是否清晰可见，是否需更换电池。
校准中 1、将外校合格的量块放在平台上对卡尺进行校验，比较，长度为200—500mm的卡尺，分别
取卡尺量程的20%、50%、90%作为捡点。
2、选择20mm深外校合格标准量块，对卡尺深度尺进行校准。
3、将量测读数减去标准量块值，即为误差值。
4、取用标准量块时，须戴好手套，并小心不可掉落在地上。
校准后 1、如测量误差过大，不能维修或调整时，应暂停使用，严重者报废处理。
2、标准量块用完后，须擦拭干净，喷上防锈油，放回固定位置保存。 (5)、判定标准: 表示值误差不超过下表所列的标准即为合格:
卡尺类型 允许误差
游标卡尺 ?0.04mm
外径及粗胚/毛胚 20mm深度: 带表卡尺 ?0.02mm 内径 ?0.04mm ?0.02mm 带电子显示器卡尺 ?0202mm
(6)、记录保存:
?、 校准合格后，贴上校验标签。
?、 校准不合格时，依实际情况定为暂时停用，降级使用报废处理。
?、 将校准结果记录在《校准记录表》内。
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ShenZhen SanHeXin Electronic Technology Co.,ltd 文件名称 计量器具内校作业指导书 文件编号 WI-MM-044 使用部门 工模部 生效日期 2014.2.10 版本/版次 A/0 页次 6/7
编制 周顺 审核 批准 6、厚度器内校程序:
(1)、结构概述: 厚度器分为:?、章氐计算符号HV,?、布氐计算符号为HB,?、洛氐计算符号为HK,三者之结
构大致相同由测贴，指示表，按键，测杆，支架等组成，
(2)、校准基准: 选择外校合格的标准量块。
(3)、校准环境及周期:常温，常压，静置2小时以上，校准周期为12个月。
(4)、校准步骤:
项 目 步 骤
校准前 1、检查厚度器是否有损坏，变形。
2、测贴，量测端面有否明显磨损或损坏，表面是否有其他杂物。
3、按键下压是否顺畅，指针运转是否平稳，灵活。
4、指示表旋转不可太松，也不可太紧。
校准中 1、选择适当的标准量块(外校合格的标准件)来进行校准。
2、各校准件须作五点不同的尺寸校准，分别取
1.25mm,2.5mm,5.5mm,7.5mm,10.0，，每次校准两次取平均值.
3、取用标准量块时，须戴好手套，并小心不可掉地上。
4、将量块读数值减去标准量块值，即为误差值。
校准后 1、厚度器若有外观不良或需调整时，由品管部判定是否暂停使用，外校或安排送修。
2、量脚磨耗过甚时，应暂停使用，送修或报废。
3、标准量块用完后，须擦拭干净，喷上防锈油，放回固定位置保存。 (5)、判定标准: 表示值误差不超过?0.02mm，即为合格。
(6)、记录保存:
?、 校准合格后，贴上校准标签。
?、 校准不合格，依实际情况定为暂停使用，降级使用，报废等三级处理。
?、 将校准结果记录在《校准记录表》内。
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ShenZhen SanHeXin Electronic Technology Co.,ltd 文件名称 计量器具内校作业指导书 文件编号 WI-MM-044 使用部门 工模部 生效日期 2014.2.10 版本/版次 A/0 页次 7/7
编制 周顺 审核 批准 7、钢卷尺内校程序。
(1)、结构概述:其结构主要有尺壳，尺身，锁紧装置等组成。
(2)、校准基准:选用外校合格的量块.
(3)、校正环境及周期:常温，常压，静置2小时，校准周期为12个月。
(4)、校准步骤:
项 目 步 骤
校准前 1、尺身不得有残缺。
2、检查尺身表面刻度线及数字是否清晰。
3、尺身应平直无严重皱折痕迹。
校准中 1、用外校合格的量块进行校准，按50cm为一测量级，分别进行校准。
2、钢卷尺实际数值减去量块长度的实际数值，即为误差值，将各段误差累计即为全长误差
值。
校准后 1、如钢卷尺有外观或其他影响测量精度的不良情况时，马上送品管判定是否报废或其他处
理。
(5)、判定标准:如果钢卷尺的每段误差超过?1mm但全长累计误差未超过?3mm即为合格。 (6)、记录保存:
?、 校验合格后贴上校准标签。
?、 校准不合格作降级使用或报废。
将校准结果记录在《校准记录表》内。