SPC计算公式演示幻灯片.ppt

单击此处添加标题,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,P.,*,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,P.,*,SPC统计过程控制,(SPC统计量介绍),1,常用统计量,Mean:,(,平均值,),Max,:(,最大值,),Min,:(,最小值,),Range,:(,Max,Min,最,大跨距,),StdDev,标准差,Cp,:(,过程能力指数,),Cr,:(,过程能力比值,),k,:(,偏移系数,),Cpu,:(,上限过程能力指数,),Cpl,:(,下限过程能力指数,),Cpk,:(,过程能力指数,),Cpm,:(,目标能力指数,),Zu(Cap,),:(,规格上限,SIGMA,水平,),Zl(Cap,),:(,规格下限,SIGMA,水平,),Fpu(Cap,):,(,超出规格上限机率,),2,常用统计量,Fpl(Cap,):,(,超出,规格,下限机率,),Fp(Cap,):,(,超出,规格限,的机率,),Pp,:(,过程性能指数,),Pr:,(,过程性能比值,),Ppu,:,(,上限过程性能指数,),Ppl,:,(,下限过程性能指数,),Ppk,:,(,过程性能指数,),Ppm,:,(,目标过程性能指数,),Zu(Perf):,(,规格上限,SIGMA,水平,),Zl(Perf,):,(,规格上限,SIGMA,水平,),Fpu(Perf,):,(,超出规格上限机率,),Fpl(Perf,):,(,超出,规格,下限机率,),Fp(Perf,):,(,超出,规格,界线的机率,),Skewness,:(,偏度,),Kurtosis,:(,峰度,),3,计算公式,2、Max最大值,3、Min最小值,4、Range最大跨距,1、Mean均值,例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求,Mean,=(2+4+6+4)/4=4,例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求,Max,(2,4,6,4)=6,例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求,Min,(2,4,6,4)=2,例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求,Range,(2,4,6,4)=6-2=4,4,计算公式,6、,Cp,:(,过程能力指数),7、,Cr,:(,过程能力比值),5、StdDev标准差,例:X1=2,X2=4,X3=6,X4=4,求,例:产品规格为(400.5),产品标准差为0.4,试计算CP,CP=(40.5-39.5)/(6*0.4)=1/2.4=0.42,例:产品规格为(400.5),产品标准差为0.4,试计算Cr,Cr=(6*0.4)/(40.5-39.5)=2.4,5,计算公式,8、,k,:(,偏移系数),例:产品规格为(400.5),产品均值为40.2,试计算K,K=(40.2-40)/(40.5-39.5)/2)=0.4,评价产品检验结果偏离规格中心程度的质量指标!,规格中心M,产品均值,规格宽度T,K越大说明产品均值偏离中心值越远;,6,计算公式,规格下限LSL,产品均值,规格上限USL,所有检验数据形成一个数据分布,而用 可以衡量数据分布离散的大小;越小分布越好,数据越集中,9、,Cpu,:(,上限过程能力指数),例:产品规格为(400.5),产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpu;,Cpu,=(40.5-40.2)/(0.4*3)=0.3/1.2=0.25,Cpu越大,产品检验数据超出上限的概率就越小,也就是说产品超出上限的不合格品数量就越少;,7,计算公式,10、,Cpl,:(,下限过程能力指数),例:产品规格为(400.5),产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpl;,Cpl,=(40.2-39.5)/(0.4*3)=0.7/1.2=0.58,规格下限LSL,产品均值,规格上限USL,所有检验数据形成一个数据分布,而用 可以衡量数据分布离散的大小;越小分布越好,数据越集中,Cp,l,越大,产品检验数据超出下限的概率就越小,也就是说产品超出下限的不合格品数量就越少;,8,计算公式,12、,Cpm,:(目标能力指数,),11、,Cpk,:(,修正的过程能力指数),Cpk=Min（Cpl，Cpu）=Cp(1-k),例:产品规格为(400.5),产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpk;,Cpk,=Min(0.25,0.58)=0.25,或Cpk=0.42*(1-0.4)=0.25,例:产品规格为(400.5),目标值为40.2,产品均值为40.2,产品标准差为0.4试计算Cpm;,Cpm=1/2.4=0.42,9,计算公式,产品均值,规格上限USL,13、,Zu(Cap),:(规格上限SIGMA水平,),Zu(Cap)表示产品均值离,规格上限有多少倍标准差?,也表示为几个SIGMA,10,计算公式,产品均值,规格上限USL,Zl(Cap)表示产品均值离,规格下限有多少倍标准差?,也表示为几个SIGMA,14、,Zl(Cap),:(规格下限SIGMA水平,),11,计算公式,Fpu(Cap)表示产品检验,结果超出规格上限的概率,15、,Fpu(Cap):(超出规格上限概率),规格上限USL,12,计算公式,Fpl(Cap)表示产品检验,结果超出规格下限的概率,规格上限USL,16、,Fpl(Cap):(超出规格下限机率),13,计算公式,Fpl(Cap)表示产品检验,结果超出规格下限的概率,规格上限USL,规格上限LSL,17,、,Fp(Cap):(超出产品规格上下限的概率),14,计算公式,18,、,Pp,:(过程性能指数,),19,、,Pr:(过程性能比值,),15,计算公式,20、,Ppu:(上限过程性能指数,),21、,Ppl:(下限过程性能指数,),22、,Ppk:(修正的过程性能指数,),Ppk=Min（Ppl，Ppu）=Pp(1-k),16,计算公式,25、,Zl(Perf):(,规格上限SIGMA水平,),23、,Ppm:(目标过程性能指数),24、,Zu(Perf):(,规格上限SIGMA水平,),17,计算公式,28、,Fp(Perf):(超出规格上下限的概率),26、,Fpu(Perf):(超出规格上限概率),27、,Fpl(Perf):(超出规格下限概率),18,计算公式,30、,Kurtosis,:(,峰度),29、,Skewness,:(,偏度),19,