晶体光学试题及答案考试题要点.doc

晶体光学试题答案
1、要测定矿物轴性和光性符号，应当选择在正交偏光下干涉色最高切面。（×）
2、在同一岩石薄片中，同种矿物不一样方向切面上，其干涉色不一样。（√）
3、对于一轴晶矿物来说，其延性和光性总是一致。（√）
4、两非均质体矿片在正交镜间45°位重迭，当异名半径平行时，因总光程差为零而使矿片变黑暗现象，称为消色。（√）
5、贝克线移动规律是下降物台，贝克线总是向折射率大物质移动。（√）
6、二轴晶光率体，当Np＞Nm＞Ng时，为负光性。（×）
7、矿物多色性在垂直光轴切面上最不明显。（√）
8、一轴晶光率体旋转轴永远是Ne轴。（√）
9、某矿物最高干涉色为Ⅱ级紫红，因此该矿物某些切面也许出现Ⅰ级紫红。（√）
10、一轴晶平行光轴切面干涉图与二轴晶平行光轴面切面干涉图特点完全同样，在轴性明确状况下也不能用作光性正负测定。（×）
11、两非均质矿片在正交镜间45°位置重叠，当异名半径平行时，总光程差等于两矿片光程差之差。（√）
12、在单偏光镜下，黑云母颜色最深时解理缝方向可以代表下偏光振动方向。（√）
13、同一岩石薄片中，同一种矿物干涉色相似，不一样种矿物干涉色不一样。（×）
14、某矿物干涉色为二级绿，在45°位加云母试板，如同名半径平行，干涉色升高为二级蓝，如异名半径平行，干涉色减少为二级黄。（×）
15、角闪石多色性只有在垂直Bxa切面上观测才最明显。（×）
16、当非均质体矿片上光率体椭圆半径与上、下偏光振动方向平行时，矿片就会变黑而消色。（×）
17、在岩石薄片中透明矿物所展现颜色是矿片对白光中各单色光波折射和散射成果。（×）
18、矿片干涉色高下取决于矿物性质和矿片厚度，在原则厚度下则受切面双折射率影响。（√）
19、二轴晶垂直光轴切面干涉图用途有：确定轴性、光性、切面方向和估计折射率大小。（×）
20、矿片糙面明显程度是受矿物软硬和矿片表面光滑程度影响。（×）
21、在一轴晶平行光轴切面干涉图中，从中心到边缘干涉色逐渐升高方向就是Ne方向。（×）
22、根据Ng、Nm和Np相对大小可以确定二轴晶矿物光性正负，当Ng―Nm<Nm―Np时为正光性，当Ng―Nm>Nm―Np为负光性。（×）
23、中级晶族光性方位是一轴晶光率体旋转轴与晶体三个结晶轴之一重叠。（×）
24、在岩石薄片中，矿物突起愈低，其折射率就愈小。（×）
25、矿物折射率与光波传播速度紧密有关，因此光波在矿物中传播速度愈快，矿物折射率就愈大。（×）
1、单偏光下晶体光学性质研究内容有、、和等四种。
（参照答案：矿物形态、解理、颜色、突起）
2、突起正否确定根据是。
（参照答案：提高镜筒或下降镜筒时，贝克线移动方向）
3、正交偏光下晶体光学性质研究内容有和。
（参照答案：消光和干涉现象）
4、斜长石按An值可分为、和等三类。其中，具有卡钠联晶和聚片双晶斜长石为。
（参照答案：基性斜长石、中性斜长石、酸性斜长石。基性斜长石）
5、一轴晶垂直光轴切面，是切面，其半径为，在正交镜下具特点。
（参照答案：圆、No、全消光）
6、要精确测定一般辉石消光角（Ng∧Z），必须选择切面，这种切面在正交镜下特性是具有。
（参照答案：平行光轴面、最高干涉色）
7、某二轴晶矿物Y晶轴与光率体主轴Ng一致，其最大双折率为0.009，薄片厚度为0.03mm，在平行（010）切面上具有垂直Bxa切面干涉图，此矿物应为光性，光轴面上干涉色为。
（参照答案：正光性、I级灰白色）
8、在正交偏光镜下，矿片处在45°位加入石膏试板干涉色应当增长或减少；假如加入云母试板时，干涉色应增长或减少。
（参照答案：一种级序、一种色序）
9、岩石薄片由，和构成，连接它们是，薄片原则厚度为，鉴别厚度措施是。
（参照答案：载玻璃、矿片、盖玻璃、加拿大树胶、0.03mm、石英干涉色）
10、二轴晶垂直光轴切面干涉图用途有，和。
（参照答案：确定轴性和切面方向、测定光性符号、估计光轴角大小）
11、矿物在薄片中突起高下取决于，愈大，突起，愈小，突起。
（参照答案：矿物折射率与加拿大树胶折射率差值大小、差值、愈高、差值、愈低）
12、二轴晶光率体有，，，和等重要切面。
（参照答案：垂直一根光轴、平行光轴面、垂直Bxa、垂直Bxo，斜交切面）
13、非均质矿物垂直光轴切面在正交镜间为消光，而其他方向切面则会出现消光。（参照答案：全消光、四次消光）
14、鉴别下图矿物轴性，光性正负和切面方向。并在图上出其光率体椭园切面半径名称。
未加试板前干涉色为一级灰白。（参照答案：一轴晶、斜交光轴、负光性）
轴晶
方向切面
光性

15、鉴别下图矿物轴性，光性正负和切面方向。并在图上填出其光率体椭园切面半径名称。未加试板前干涉色为二级绿。（参照答案：二轴晶、垂直一根光轴、正光性）

轴晶
方向切面
光性

16、要测定矿物轴性及光性正负，最佳选择在正交偏光镜间干涉色切面。
（参照答案：最低）
17、由于光波在非均质晶体中振动方向不一样，而使矿片颜色深浅发生变化现象，称为。（参照答案：吸取性）
18、在同一岩石薄片中，同种矿物不一样方向切面上，其干涉色。
（参照答案：不一样）
19、对于一轴晶矿物来说，其延性总是和相一致。（参照答案：光性）
20、两光轴之间所夹锐角称为，以符号表达。
（参照答案：光轴角、2V）
21、两非均质体矿片在正交镜间45°位重迭，当异名半径平行时，因总光程差为零而使矿片变黑暗现象，称为。（参照答案：消色）
22、贝克线移动规律是，贝克线总是向折射率大物质移动。
（参照答案：提高镜筒）
23、对于二轴晶光率体，当时，为负光性。（参照答案：Bxa=Np）
24、矿物多色性在切面上最不明显。（参照答案：垂直光轴切面）
25、光波入射非均质体矿片分解形成两种偏光，其振动方向是。
（参照答案：互相垂直）
26、二轴晶光率体平行光轴面切片干涉图特性是。
（参照答案：闪图或瞬变干涉图）
27、沿Z轴延长长条状矿物，当Ng与Z轴平行时，矿物延性应为。
（参照答案：正）
28、簿片中透明矿物颜色是由于成果。
（参照答案：是矿片对白光中各单色光波选择吸取）
29、二轴晶光率体光轴面与三主轴面之一对应。
（参照答案：Ng-Np面）
30、观测方解石闪突起，应选择切面才最明显。
（参照答案：平行光轴面）
31、角闪石多色性公式为：Ng＝深缘，Nm＝绿，Np＝浅黄绿，其吸取性公式应为。
（参照答案：Ng>Nm>Np）
32、二轴晶负光性光率体垂直Bxo切面，其光率体椭园切面半径是。
（参照答案：Nm、Np）
33、光波入射非均质体矿物，不发生双折射入射方向是。（参照答案：光轴）
34、对于一轴晶矿物，当时为负光性。（参照答案：Ne<No）
35、根据矿物解理发育程度，大体可分为，和三种。
（参照答案：极完全解理、完全解理、不完全解理）
36、一级干涉色色序特性是具有色，而无色。
（参照答案：有灰黑、灰白，无蓝兰色）
37、光程差公式表达是，和之间关系。
（参照答案：薄片厚度、双折射率、光程差）
38、一轴晶垂直光轴切面干涉图用途有，和。
（参照答案：确定轴性、确定切面方向、测定光性符号）
39、一轴晶光率体三种重要切面上，其半径分别为，和。
（参照答案：垂直光轴切面为No、平行光轴切面为Ne和No、斜交光轴切面为No和）
40、鉴别下图轴性、光性正负和切面方向。未加试板前干涉色为一级灰白。
轴晶
方向切面
光性
（参照答案：一轴晶、垂直光轴、正光性）
41、石膏试板光程差为，其干涉色为；云母试板光程差为，其干涉色为。
（参照答案：530nm、一级紫红、147nm、一级灰白）
42、在试验中所见、具有闪突起矿物有和。前者突起变化规律为；后者突起变化规律为。
（参照答案：白云母、方解石、正中—正低、正中—负低）
43、黑云母具有明显多色性，当为棕黑色，当为浅黄色。
（参照答案：解理缝平行下偏光振动方向、解理缝垂直下偏光振动方向）
44、条纹长石属于，它可深入分为、和等三种，它们鉴别标志有、和等三种。
（参照答案：碱性长石或钾钠长石、正条纹长石、中条纹长石、反条纹长石、条纹表面洁净程度、条纹干涉色高下、贝克线移动方向）
45、在试验中所见辉石有和两种。它们区别重要表目前、、、、、和、等七方面。
（参照答案：一般辉石、紫苏辉石、颗粒表面洁净程度、解理完善程度、突起高下、有无多色性、消光类型、干涉色级序、光性正负）
46、斜长石有和双晶，而无和双晶。
（参照答案：卡钠联晶、聚片双晶；格子状双晶、卡斯双晶）
47、在试验中所见均质体矿物有和两种。它们共性为。
（参照答案：石榴石、萤石；无多色性、全消光、无干涉图）
48、当吸取公式为时，称正吸取；吸取公式为时，称反吸取。
（参照答案：Ng>Nm>Np；Ng<Nm<Np）
49、一、二级干涉色相比，二级干涉色特点是有色，而无色。
（参照答案：蓝、绿色；灰、黑色）
50、二轴晶垂直Bxo切面形态为一切面；若为负光性时其半径应分别为和。
（参照答案：椭圆；NmNp）
51、光率体是表达光波在晶体中传播时，光波与之间关系一种光性指示体。
（参照答案：振动方向；对应折射率值）
52、在单偏光镜下旋转非均质体任意切面，当矿片上椭圆半径之一与PP方向平行时，由下偏光镜透出振动方向平行PP偏光，进入矿片后，沿通过矿片，此时矿片折射率值。
（参照答案：沿该半径方向振动；等于该半径长短）
53、单偏镜下物台上放置黑电气石平行光轴切片，当其平行Z轴方向振动光率体椭园切面半径与振动方向一致时，展现浅紫色，垂直Z轴方向振动椭园半径与振动方向一致时展现深兰色。因此，黑电气石吸取性公式为。（参照答案：Ne、下偏光、No、下偏光）
54、矿物在薄片中展现颜色除了对白光中各色光波选择性吸取成果之外，还与具有关。（参照答案：色素离子）
55、测定两组解理夹角时，必须选择切面，这种切面有特点。（参照答案：同步垂直两组解理、提高镜筒，解理缝不左右移动）
56、干涉图是在下观测，应当是各个方向入射光通过矿片后所产生和总和所构成特殊图形。
（参照答案：锥光镜、消光和干涉效应）
57、斜长石是由Ab与An构成，根据An和Ab比例不一样，斜长石可分为、
、、、、。
（参照答案：钠长石、更(奥)长石、中长石、拉长石、倍长石、钙长石）
58、在同一岩石薄片中，各矿物表面实际上是在同一水平面上，为何会给人有高下不一样感觉呢？重要是由于矿物和树胶折射率不一样，光波通过两者之间界面时，产生了、作用所形成。（参照答案：折射、全反射）
59、影响矿物糙面明显程度原因有和。
（参照答案：矿物折射率与加拿大树胶折射率差值大小、矿片表面磨光程度）
60、单斜晶系光性方位是与重叠，其他与斜交。
（参照答案：Y晶轴、光率体三个主轴之一、两个主轴、另两个结晶轴）

光波在均质体和非均质体中传播特点有何不一样?为何?
参照答案：由于均质体光学性质各个方向相似，而非均质体光学性质随方向不一样而不一样。因此，光波在均质体和非均质体中传播特点是明显不一样，重要表目前如下几点：1)光波在均质体中传播时，无论在任何方向振动，传播速度与折射率值不变。而光波在非均质体中传播时，传播速度和折射率值随振动方向不一样而发生变化；2)光波入射均质体发生单折射现象，不发生双折射也不变化入射光振动性质。入射光为自然光，折射光仍为自然光。入射光为偏光，折射光仍为偏光。因此，均质体只有一种折射率值。而光波入射非均质体，除特殊方向以外，会变化其振动特点，分解成为振动方向互相垂直、传播速度不一样、折射率不等两条偏振光，也就是说要发生双折射。因此，非均质体具有多种折射率值。
2、观测二轴晶矿物多色性明显程度应选择哪种切面?为何?应怎样测定Ng和Np颜色?
参照答案：1)观测二轴晶矿物多色性明显程度应选择平行光轴面切面。这种切面光率体主轴分别为Ng和Np，因而具有最大双折射率值，也就可以看到最明显多色性变化；2）要测定这种切面上Ng和Np颜色，可按如下环节进行：a)将待测矿物颗粒置于视域中心，转动物台使其颜色最深(或最浅)，b)加上上偏光镜(此时矿物颗粒应为消光)，并逆时针转动物台45o而使其处在45o位，此时代表最深(或最浅)颜色光率体主轴分布在一、三象限，c)观测加上石膏试板或云母试板后，矿物干涉色级序升降变化。假如干涉色级序升高，则表明代表最深(或最浅)颜色光率体主轴为Ng，反之则为Np。这样就可以确定Ng和Np颜色。
3、什么是闪突起？在你实习过透明矿物中那些矿物具有闪突起现象？
参照答案：1）在单偏光镜下，转动载物台，非均质体矿物颗粒边缘、糙面及突起高下发生明显变化现象就是闪突起；2）在实习过透明矿物中具有闪突起矿物有方解石和白云母；3）它们闪突起变化规律分别为：对于方解石，当其两组解理锐角等分线平行下偏光镜振动方向时为正中突起，而当其两组解理钝角等分线平行下偏光镜振动方向时则为负低突起；对于白云母，当其一组极完全解理解理缝平行下偏光镜振动方向时为正中突起，而当其一组极完全解理解理缝垂直下偏光镜振动方向时则为正低突起。
4、简述矿物系统鉴定环节、切面选择及重要观测内容。
参照答案：
1）矿物系统鉴定首先应当辨别是均质体矿物还是非均质体矿物。对于均质体，其各个方向切面为全消光，且无干涉图。对于非均质体，仅垂直光轴切面全消光，其他则为四次消光，且有干涉图。然后再分别对均质体和非均质体加以鉴定。
对于均质体矿物只需在单偏光镜下观测矿物晶形、解理、突起等级和颜色等特性；
对于非均质体矿物需要在如下四个方面深入鉴定：a)在单偏光下观测晶形、解理、突起等级、闪突起、颜色、多色性、测定解理夹角等。b)在正交偏光镜下观测消光类型、双晶、延性符号及干涉色级序等。c)选择一种垂直光轴切面，在锥光镜下确定轴性测定光性符号。如为有色矿物，在单偏光镜下观测No或Nm颜色。d)选择一种平行光轴或平行光轴面切面，在正交偏光镜下测定最高干涉色级序、最大双折率和消光角大小。如为有色矿物，观测No、Ne或Ng、Np等颜色。写出多色性和吸取性公式。
系统测定光学性质后，查阅有关资料，定出矿物名称。
2）矿物不一样晶体光学性质需要在不一样定向切面上进行测定，对于多色性公式、吸取性公式、双折射率及消光角等特性，需要在平行光轴或光轴面切面上测定、对于光性正负确实定需要在除平行光轴或光轴面切面外多种切面上进行、对于2V大小测定则需要在垂直光轴切面上进行。
垂直光轴切面特性：a)有色矿物不显多色性、b)全消光、c)锥光下显示一轴晶或二轴晶垂直光轴切面干涉图；平行光轴或平行光轴面切面特性：a)多色性最明显、b)干涉级序最高、c)锥光下显示平行光轴或光轴面切面干涉图；其他方向切面特性介于上述两种切面之间。
3）重要观测内容有：单偏光镜下包括矿物晶态、解理、颜色及多色性、突起及闪突起等、正交偏光镜下包括干涉色级序、双晶类型、延性符号、双折射率大小、消光类型及消光角等、锥光镜下包括切面方向、轴性、光性及2V大小等。
5、根据下表所列内容对比均质体光率体、一轴晶光率体和二轴晶光率体特性。
参照答案如下表：
类别
特性
均质体光率体
一轴晶光率体
二轴晶光率体
形态特性
圆球体
旋转椭球体
三轴不等椭球体
重要切面
类型
圆
三个类型、五个切面
五个类型、九个切面
最大双折率
0
Ne-No或No-Ne
Ng-Np
主折射率
N
Ne、No
Ng、Nm、Np
光性鉴别
无光性
Ne>No正光性；
Ne<No负光性；
Bxa=Ng或Ng–Nm>Nm-Np正光性；
Bxa=Np或Ng–Nm<Nm-Np负光性；
光轴数目
无数根
一根
二根
与晶系关系
等轴晶系
三方、四方、
六方晶系
三斜、单斜、
斜方晶系
6、矿物突起等级可分为哪几种？怎样确定未知矿物突起等级？
参照答案：1）突起是薄片中矿物颗粒看起来凸出或凹入现象。它是由于矿物折射率与加拿大树胶折射率不一样，光波通过两者之间界面而发生折射、全发射作用成果；2）根据矿物折射率高下，可将矿物突起等级分为负高突起(折射率不不小于1.48)、负低突起(折射率为1.48—1.54)、正低突起(折射率为1.54—1.60)、正中突起(折射率为1.60—1.66)、正高突起(折射率为1.66—1.78)和正高突起(折射率不小于1.78)等6种；3）要确定未知矿物突起等级，首先可以根据提高镜筒时，贝克线移动方向来确定所鉴定矿物突起正负，然后再根据其边缘及糙面特性来确定其突起高下，最终是综合上述两方面特性确定矿物突起等级。当然也可以先确定突起等级，再确定突起正负。
在提高镜筒时，假如贝克线由树胶移向矿物，矿物为正突起，反之，则为负突起；
假如矿物颗粒表面越光滑，边缘越不清晰，其突起就越低，反之，假如矿物颗粒糙面越明显，边缘越宽，其突起就越高。