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光纤测试方案.doc

上传人:精*** 文档编号:4255559 上传时间:2024-08-30 格式:DOC 页数:9 大小:251.54KB 下载积分:6 金币
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光纤测试方案 一.布线系统测试概述   为保证综合布线系统性能,确认布线系统的元器件性能及安装质量,工程 竣工后需按综合布线系统测试说明进行有关的测试。   综合布线系统测试涉及:  ·>水平铜缆链路测试;  ·>垂直干线铜缆链测试; > 垂直干线光缆链测试;  >·端对端信道联合测试 系统测试完毕后,即组织有关技术及管理人员对整个系统进行验收。   千兆比水平铜缆的测试说明: 千兆比水平铜缆系统采用专用测试仪器进行测试,测试指标涉及: 1.极性、连续性、短路、断路测试及长度     2.信号全程衰减测试    3.信号近、远串音衰耗测试    4.结构回转衰耗SRL       5.特性阻抗    6.传输延时   本方案中,采用下列布线测试仪表进行测试: Microtest QmniScanner  FLUKE  国际标准组织(ISO)及Lucent推荐下列布线测试仪表:  1、fluke    (Fluke Corporation)  2、PenaScanner   (Microtest Inc)  本方案中,我公司建意采用以下铜缆测试仪器:  Microtest  Lucent KS23763L1  (连接性测试)  3、FLUKE   (特性指标测试) STPl 六类100-150双绞线,250 MHz FTP;阻燃特性NFC32070 2.1标准  4、用网络测试仪,测试线路是否安装完好,将测线报告整理,归档。 二.系统测试所用工具  测试所用工具重要是:  FLUCK   DSP FLUCK 网络测试仪操作规程: 根据测量的种类是通道还是链路,选择相对的适配器; 测量前将仪器校准; 测量时,将主机和智能远端的旋钮打开; 输入测量时间、地点、测试姓名;  在AUTOTEST项开始测试,储存结果;  将测试结果转换成电子文档;  将主机和智能远端关机;   将仪器收好,检查是否有漏掉配件。   注意事项:插接时一定要将插头和插口对齐,将线路接通;注意轻拔轻 插,一定要将头弹起按下再拔出;注意仪器和线路远离电力线和强电场。  其他工具如下表: 仪器名称 数量 产地 说明 接地摇表 1 进口 万用表 2 国产 水平尺 6 国产 FULKE 1 美国 三、测试人员安排:  技术总负责:吕可(工程师)  项目经理:周勇(工程师)   现场负责: 朱德益(工程师)   其他测试人员不作具体介绍 四系统测试:   测试内容   为保证综合布线系统性能,确认布线系统的元器件性能及安装质量,工程竣工后需按EIA/TIA-568A之TSB-75规定的CAT3标准对三类链路系统进行测试,涉及以下几项内容:   ·极性、连续性、短路、断路测试及长度   ·信号全程衰减测试   ·信号近、远串音衰耗测试   ·结构回转衰耗SRL  ·特性阻抗  ·传输延时   ·测试指标规定如下表: 综合布线系统数据电缆必须满足或高于以下指标: 综合布线系统数据电缆连接设备必须满足或高于以下指标:  综合布线系统数据信道测试应满足或高于以下指标: 综合布线系统数据永久链路测试应满足或高于以下指标: 综合布线系统数据链路延迟和延迟偏移测试应满足或高于以下指标: 注:Fepuency为频率,Cable Propagation Delay为电缆传输延时,Connector propagation delay 为连接器传输延时,Channel propagation delay为通道链路延时,Permanent link propagation delay为永久链路延时。 综合布线系统光缆的传输特性参数: 光纤系统的测试   测试项目:   连通性测试   全程衰减及ST/SC连接头衰减测试 具体测试方法如下:   1)多模光纤水平子系统需要测试端的参数;   2)沿一个方向在波长850nm或1300nm处测试衰耗值:   3)多模光纤主干系统及混合方式需要测试的参数;   4)沿一个方向在波长850nm及1300nm处测试衰耗值  5)单模光纤水平子系统需要测试端的参数; (注:由于不同方向的测试的数值之差,一般会很小,并且多半由测试仪器的精度或测试手法而引起,所以单方向测试已足够而水平子系统的距离标准极限很短(90米),所以其在不同波长处测试值的差别不大,因而单波长测试已足够。 62.5um多模光纤系统 62.5um多模光纤损耗公式   l1)光纤线缆的损耗=光纤线缆长度(km)×(3.40dB/km在850nm处或 1.00dB/k在1300nm处)  l2)耦合器的衰耗(ST或SC连接器)=(连接器的数目×0.39dB)+0.42dB  l3)耦合器的衰耗(LC连接器)= (连接器的数目×0.14dB)+0.24dB  4)光熔接头的衰耗值(CSL或熔接)=接头数目×0.30dB  l光功率比校正值如下表: 计划所用时间   根据测试内容和工作量,完毕测试需用5个公历日。          
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