锁存器、触发器功能测试及应用.doc

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实 验 报 告

课程名称：

实验项目名称：锁存器、触发器功能测试及应用

专业：

报告人: 学号: 班级：

实验时间：

天津城市建设学院
控制与机械工程学院
一 实验目的:
1 基本RS触发器、JK触发器、D触发器和T触发器的逻辑功能；
2 熟悉触发器的转换;
3 熟悉D锁存器的功能及应用.
二 实验设备和器材：
电子学综合实验装置；芯片74LS74; 74LS112； 74LS00
三 实验原理(电路)：
1．基本RS锁存器
基本RS锁存器可以是由两个与非门在输出端交互反馈组成双稳态存储电路。图1所示为用与非门构成的基本RS锁存器。

图1用与非门构成的基本RS锁存器
74LS00外引线排列和逻辑符号如图2所示：

图2 74LS00的外引线排列图
2。D触发器
D触发器在时钟脉冲CP的前沿（上升沿01）触发翻转，触发器的次态 取决于CP脉冲上升沿来到之前D端的状态，特性方程为 = Dn。因此，它具置0、置1两种功能.在CP = 0、CP = 1期间和下降沿到来,D端的数据状态变化，都不会影响触发器的输出状态。

图3 74LS74逻辑符号图 图4 74LS74引脚排列图

3。JK触发器
JK触发器(74HC112)是一种利用传输延迟时间的边沿JK触发器,它在时钟脉冲CP的后沿即在CP脉冲的(下降沿10）触发翻转.本实验采用的集成芯片为74LS112型(双JK下降沿触发，带清零)，引脚排列图形符号如图所示.

图5

和必须接高电平。JK触发器利用CP的下降沿触发，D触发器利用CP的上升沿触发。
4 触发器的转换
触发器的转换是在实际中是经常用到的，其方法是将两种触发器的状态方程相比较得到到J，K端的表示即可.例如将JK触发器转换成D 触发器的功能.
JK触发器转换成D触发器的电路如图所示：
J
>
K

D Q
CP

图6

四 实验内容(表格）：
1。基本RS锁存器的功能测试
选用一片74LS00组成一个RS锁存器。按图1连接好测试电路,按照表1中条件，观察并记录锁存器输出端的变化情况,体会脉冲电平触发的特点。
表1基本RS锁存器的功能表

功能
0
0
0

1

0
1
0

1

1
0
0

1

1
1
0

1

2。JK触发器的功能测试
根据图5，选用74LS112,按表2要求测试74LS112的逻辑功能，观察并记录触发器输出端的变化情况。（1）直接复位、置位端的功能测试，体会它决定触发器初态的作用。
(2）逻辑功能的测试。要求在不同的输入状态和初始状态下测试输出端状态。
表2 JK触发器功能测试表

CP
J
K

0
1
×
×
×
×

1
0
×
×
×
×

1
1
↓
0
0
0

1
1
↓
0
0
1

1
1
↓
0
1
0

1
1
↓
0
1
1

1
1
↓
1
0
0

1
1
↓
1
0
1

1
1
↓
1
1
0

1
1
↓
1
1
1

1
1
↑
1
1
1

3.JK触发器构成触发器
按图6连接好测试电路,用实验室提供的连续脉冲做时钟脉冲，用示波器观测并记录CP和Q的波形，认真体会触发器的分频作用，完成表3.
表3 JK触发器功能测试表

CP
J
K
Qn

0
1
×
×
×
×

1
0
×
×
×
×

1
1
↓
0
0
0

1
1
↓
0
0
1

1
1
↓
0
1
0

1
1
↓
0
1
1

1
1
↓
1
0
0

1
1
↓
1
0
1

1
1
↓
1
1
0

1
1
↓
1
1
1

1
1
↑
1
1
1

4。D触发器的功能测试
选用74LS74,按表4要求测试74LS74的逻辑功能，观察并记录触发器输出端的变化情况。
（1)直接复位、置位端的功能测试，体会它决定触发器初态的作用。
(2）逻辑功能的测试。要求在不同的输入状态和初始状态下测试输出端状态。
表4 D触发器功能测试表
CP
D

Qn

×
×
0
1
×

×
×
1
0
×

↑
1
1
1
×

↑
0
1
1
×

五 实验思考题：
(1)写出实验涉及到的触发器的表达式.
(2)总结JK和D触发器的特点。

成绩评定：

指导教师签字：
年 月 日