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单击此处编辑母版标题样式,(1-,*,),导体:,自然界中很容易导电的物质称为,导体,,金属一般都是导体。,绝缘体:,有的物质几乎不导电,称为,绝缘体,,如橡皮、陶瓷、塑料和石英。,半导体:,另有一类物质的导电特性处于导体和绝缘体之间,称为,半导体,,如锗、硅、砷化镓和一些硫化物、氧化物等。,9.1,半导体的导电特性,1,半导体,的导电机理不同于其它物质,所以它具有不同于其它物质的特点。例如:,当受外界热和光的作用时,它的导电能力明显变化。,往纯净的半导体中掺入某些杂质,会使 它的导电能力明显改变。,1.,掺杂性,2.,热敏性和光敏性,2,9.1.1,本征半导体,(纯净和具有晶体结构的半导体),一、本征半导体的结构特点,Ge,Si,现代电子学中,用的最多的半导体是硅和锗,它们的最外层电子(价电子)都是四个。,3,共价键中的两个电子被紧紧束缚在共价键中,称为,束缚电子,,常温下束缚电子很难脱离共价键成为,自由电子,,因此本征半导体中的自由电子很少,所以本征半导体的导电能力很弱。,形成共价键后,每个原子的最外层电子是八个,构成稳定结构。,共价键有很强的结合力,使原子规则排列,形成晶体。,+4,+4,+4,+4,4,二、本征半导体的导电机理,在绝对,0,度(,T,=0K,),和没有外界激发时,价电子完全被共价键束缚着,本征半导体中没有可以运动的带电粒子(即,载流子,),它的导电能力为,0,,相当于绝缘体。,在常温下,由于热激发,使一些价电子获得足够的能量而脱离共价键的束缚,成为,自由电子,,同时共价键上留下一个空位,称为,空穴,。,1.,载流子、自由电子和空穴,5,+4,+4,+4,+4,自由电子,空穴,束缚电子,6,2.,本征半导体的导电机理,+4,+4,+4,+4,在其它力的作用下,空穴吸引附近的电子来填补,这样的结果相当于空穴的迁移,而空穴的迁移相当于正电荷的移动,因此可以认为空穴是载流子。,本征半导体中存在数量相等的两种载流子,即,自由电子,和,空穴,。,7,温度越高,载流子的浓度越高。因此本征半导体的导电能力越强,温度是影响半导体性能的一个重要的外部因素,这是半导体的一大特点。,本征半导体的导电能力取决于载流子的浓度。,本征半导体中电流由两部分组成:,1.,自由电子移动产生的电流。,2.,空穴移动产生的电流。,(在本征半导体中 自由电子和空穴成对出现,同时又不断的复合),8,9.1.2,杂质半导体,在本征半导体中掺入某些微量的杂质,就会使半导体的导电性能发生显著变化。其原因是掺杂半导体的某种载流子浓度大大增加。,P,型半导体:,空穴浓度大大增加的杂质半导体,也称为(空穴半导体)。,N,型半导体:,自由电子浓度大大增加的杂质半导体,也称为(电子半导体)。,9,在硅或锗晶体中掺入少量的五价元素磷,晶体中的某些半导体原子被杂质取代,磷原子的最外层有五个价电子,其中四个与相邻的半导体原子形成共价键,必定多出一个电子,这个电子几乎不受束缚,很容易被激发而成为自由电子,这样磷原子就成了不能移动的带正电的离子。,10,+4,+4,+5,+4,多余,电子,磷原子,1.,由磷原子提供的电子,浓度与磷原子相同。,2.,本征半导体中成对产生的电子和空穴。,掺杂浓度远大于本征半导体中载流子浓度,所以,自由电子浓度远大于空穴浓度。自由电子称为,多数载流子,(,多子,),空穴称为,少数载流子,(,少子,)。,一、,N,型半导体,11,二、,P,型半导体,在硅或锗晶体中掺入少量的三价元素,如硼(或铟),晶体点阵中的某些半导体原子被杂质取代,硼原子的最外层有三个价电子,与相邻的,半导体原子形成共价键时,产生一个空穴。这个空穴可能吸引束缚电子来填补,使得硼原子成为不能移动的带负电的离子。,+4,+4,+3,+4,空穴,硼原子,P,型半导体中空穴是多子,电子是少子,。,12,1 PN,结的形成,在同一片半导体基片上,分别制造,P,型半导体和,N,型半导体,经过载流子的扩散,在它们的交界面处就形成了一个特殊的薄层,称为,PN,结。,9.1.3 PN,结及其单向导电性,13,漂移运动,P,型半导体,N,型半导体,+,+,+,+,+,+,+,+,+,+,+,+,+,+,+,+,+,+,+,+,+,+,+,+,扩散运动,内电场,E,所以扩散和漂移这一对相反的运动最终达到平衡,相当于两个区之间没有电荷运动,空间电荷区的厚度固定不变。,14,(1),加正向电压(正偏),电源正极接,P,区,负极接,N,区,外电场的方向与内电场方向相反。,外电场削弱内电场,耗尽层变窄,扩散运动,漂移运动,多子,扩散形成正向电流,I,F,正向电流,2,PN,结的单向导电性,15,(2),加反向电压,电源正极接,N,区,负极接,P,区,外电场的方向与内电场方向相同。,外电场加强内电场,耗尽层变宽,漂移,运动扩散,运动,少子漂移形成反向电流,I,R,P,N,在一定的温度下,由本征激发产生的少子浓度是一定的,故,I,R,基本上与外加反压的大小无关,,,所以称为,反向饱和电流,。但,I,R,与温度有关。,16,PN,结加正向电压时,具有较大的正向扩散电流,呈现低电阻,,PN,结导通;,PN,结加反向电压时,具有很小的反向漂移电流,呈现高电阻,,PN,结截止。,由此可以得出结论:,PN,结具有单向导电性。,17,9.2,半导体二极管,9.2.1,基本结构,PN,结加上管壳和引线,就成为半导体二极管。,引线,外壳线,触丝线,基片,点接触型,PN,结,面接触型,P,N,二极管的电路符号:,阳极,+,阴极,-,18,9.2.2,伏安特性,U,I,死区电压 硅管,0.5V,锗管0,.1V,。,导通压降,:,硅管,0.60.7V,锗管,0.2,0.3V,。,反向击穿电压,U,BR,19,9.2.3,主要参数,1.,最大整流电流,I,OM,二极管长期使用时,允许流过二极管的最大正向平均电流。,3.,反向击穿电压,U,BR,二极管反向击穿时的电压值。击穿时反向电流剧增,二极管的单向导电性被破坏,甚至过热而烧坏。手册上给出的最高反向工作电压,U,RWM,一般是,U,BR,的一半。,2.,反向工作峰值电压,U,RWM,保证二极管不被击穿时的反向峰值电压。,20,4.,反向峰值电流,I,RM,指二极管加反向峰值工作电压时的反向电流。反向电流大,说明管子的单向导电性差,因此反向电流越小越好。反向电流受温度的影响,温度越高反向电流越大。硅管的反向电流较小,锗管的反向电流要比硅管大几十到几百倍。,21,二极管:,死区电压,=0.5V,,,正向压降,0.7V(,硅二极管,),理想二极管:,死区电压,=0,,正向压降,=0,二极管的应用是主要利用它的单向导电性,主要应用于整流、限幅、保护等等。,R,D,1,D,2,U,s1,Ui,Uo,U,s2,i,u,i,u,o,t,t,10,10,5,5,例,1,:如图为一正负对称限幅电路,,U,i,=10sinwtV,Us1=Us2=5V,画出输出电压,Uo,的波形,22,R,L,u,i,u,o,u,i,u,o,t,t,二极管的应用举例,2,:,二极管半波整流,如图,设输入的交流电压,试,(,1,)画出负载电阻,R,L,上的电压波形;(,2,)求负载电阻,R,L,上的电压和电流平均值;(,3,)计算整流二极管的最高反向电压。,23,R,L,u,i,u,o,u,i,u,o,t,t,(,3,)计算整流二极管的最高反向电压。,二极管的最高反向电压,U,RWM,为二极管在截止时承受的反向电压峰值,例,3,:下图中,已知,V,A,=3V,,,V,B,=0V,,,D,A,、,D,B,为锗管,,求输出端,Y,的电位并说明二极管的作用。,D,A,12V,Y,A,B,D,B,R,解:,D,A,优先导通,则,V,Y,=30.3=2.7V,D,A,导通后,D,B,因反偏而截止,起隔离作用,D,A,起钳位作用,将,Y,端的电位钳制在,+2.7V,。,24,9.3,稳压二极管,U,I,I,Z,I,Zmax,U,Z,I,Z,稳压误差,曲线越陡,电压越稳定。,+,-,U,Z,动态电阻:,r,z,越小,稳压性能越好。,25,(,4,),稳定电流,I,Z,、,最大、最小稳定电流,I,zmax,、,I,zmin,。,(,5,)最大允许功耗,稳压二极管的参数,:,(,1,),稳定电压,U,Z,指稳压二极管反向击穿后稳定工作的电压值,(,2,),电压温度系数,U,(,%/,),稳压值受温度变化影响的的系数。,(,3,)动态电阻,26,在电路中稳压管只有与适当的电阻连接才能起到稳压作用。,U,I,I,Z,I,Zmax,U,Z,I,Z,U,Z,当输入电压变化时,U,i,U,Z,U,o,U,o,U,R,I,I,Z,27,稳压二极管的应用举例,u,o,i,Z,D,Z,R,i,L,i,u,i,R,L,稳压管的技术参数,:,解:令输入电压达到上限时,流过稳压管的电流为,I,z,max,方程,1,要求当输入电压由正常值发生,20%,波动时,负载电压基本不变。,求:,电阻,R,和输入电压,u,i,的正常值。,令,输入电压降到下限时,流过稳压管的电流为,I,z,min,。,方程,2,联立方程,1,、,2,,可解得:,28,9.4.1,基本结构,B,E,C,N,N,P,基极,发射极,集电极,NPN,型,P,N,P,集电极,基极,发射极,B,C,E,PNP,型,9.4,晶体管,29,B,E,C,N,N,P,基极,发射极,集电极,基区:较薄,掺杂浓度低,集电区:面积较大,发射区:掺,杂浓度较高,N,P,N,e,b,c,30,B,E,C,N,N,P,基极,发射极,集电极,发射结,集电结,31,B,E,C,I,B,I,E,I,C,NPN,型三极管,B,E,C,I,B,I,E,I,C,PNP,型三极管,符号,32,I,C,m,A,A,V,V,U,CE,U,BE,R,B,I,B,E,C,E,B,一,.,一个实验,9.4.2,电流分配和放大原理,mA,33,结论,:,1.I,E,=I,C,+I,B,3.,要使晶体管放大,发射结必须正偏,集电结必须反偏。,34,一,.,输入特性,U,CE,1V,I,B,(,A),U,BE,(V),20,40,60,80,0.4,0.8,工作压降:硅管,U,BE,0.60.7V,锗管,U,BE,0.20.3V,。,U,CE,=0V,U,CE,=0.5V,死区电压,硅管,0.5V,,,锗管,0.1V,。,9.4.3,特性曲线,35,二、,输出特性,I,C,(,m,A,),1,2,3,4,U,CE,(V),3,6,9,12,I,B,=0,20,A,40,A,60,A,80,A,100,A,此区域满足,I,C,=,I,B,称为线性区(放大区)。,当,U,CE,大于一定的数值时,,I,C,只与,I,B,有关,,I,C,=,I,B,。,36,I,C,(,m,A,),1,2,3,4,U,CE,(V),3,6,9,12,I,B,=0,20,A,40,A,60,A,80,A,100,A,此区域中,U,CE,U,BE,集电结正偏,,I,B,I,C,,,U,CE,0.3V,称为饱和区。,37,I,C,(,m,A,),1,2,3,4,U,CE,(V),3,6,9,12,I,B,=0,20,A,40,A,60,A,80,A,100,A,此区域中,:,I,B,=0,I,C,=,I,CEO,U,BE,I,C,,,U,CE,0.3V,(3),截止区:,U,BE,死区电压,,I,B,=0,,,I,C,=,I,CEO,0,39,晶体管,的开关作用,(,1,)截止状态:,当,U,i,小于三极管发射结死区电压时,,I,B,I,CBO,0,,,I,C,I,CEO,0,,,U,CE,V,CC,,发射极与集电极之间如同一个开关断开,其间电阻很大。,三极管工作在截止状态的条件为:发射结反偏或小于死区电压,+,+V,+,-,T,1,2,3,B,i,R,e,b,i,U,CC,R,i,C,b,C,c,CE,U,(,2,)饱和状态:,U,CE,0,发射极与集电极之间如同一个开关,其间电阻很小。,三极管工作在饱和状态的条件为:,集电结和发射结均正偏,40,三、主要参数,前面的电路中,三极管的发射极是输入输出的公共点,称为共射接法,相应地还有共基、共集接法。,共射,直流电流放大倍数,:,工作于动态的三极管,真正的信号是叠加在直流上的交流信号。基极电流的变化量为,I,B,,,相应的集电极电流变化为,I,C,,,则,交流电流放大倍数,为:,1.,电流放大倍数,和,41,例:,U,CE,=6V,时,:,I,B,=40,A,I,C,=1.5,mA,;,I,B,=60 A,I,C,=2.3,mA,。,在以后的计算中,一般作近似处理:,=,42,2.,集,-,基极反向截止电流,I,CBO,A,I,CBO,I,CBO,是集电结反偏由少子的漂移形成的反向电流,受温度的变化影响。,43,4.,集电极最大电流,I,CM,集电极电流,I,C,上升会导致三极管的,值的下降,当,值下降到正常值的三分之二时的集电极电流即为,I,CM,。,5.,集,-,射极反向击穿电压,当集,-,射极之间的电压,U,CE,超过一定的数值时,三极管就会被击穿。手册上给出的数值是,25,C,、,基极开路时的击穿电压,U,(BR)CEO,。,3.,集,-,射反向截止电流,I,CEO,又叫穿透电流,指基极开路时的集电极电流。,44,6.,集电极最大允许功耗,P,CM,集电极电流,I,C,流过三极管,,所发出的功率 为:,P,C,=,I,C,U,CE,必定导致结温,上升,所以,P,C,有限制。,P,C,P,CM,I,C,U,CE,I,C,U,CE,=,P,CM,I,CM,U,(BR)CEO,安全工作区,45,光电二极管,反向电流随光照强度的增加而上升。,I,U,照度增加,9.5,光电器件,46,发光二极管,有正向电流流过时,发出一定波长范围的光,目前的发光管可以发出从红外到可见波段的光,它的电特性与一般二极管类似。,47,电子技术,第,9,章,结束,48,
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