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*,*,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,数字逻辑,B,实验,课程的目的:,1,通过实验掌握集成电路的功能、参数和基本应用,巩固和补充理论知识。,2,掌握数字逻辑电路的设计方法和综合应用。,3,培养实验技能,提高动手能力。,课程的内容及要求,该课程共,12,学时,共做,6,个实验,其中验证型实验,1,个,设计型实验,5,个。,课时安排,实验一、,TTL,、,CMOS,与非门参数及逻辑特性的测试(验证型实验,,2,学时),实验二、组合逻辑电路的设计与测试(设计型实验,,2,学时),实验三、数据选择器及其应用(设计型实验,,2,学时),实验四、触发器及其应用(设计型实验,,2,学时),实验五、计数器及其应用(设计型实验,,2,学时),实验六、移位寄存器及其应用(设计型实验,,2,学时),实验要求,上课前预习实验指导书及有关书籍,并写出预习报告。(未预习取消本次实验资格),不得迟到、早退,有病有事须事先请假。旷课不补做实验。(迟到,10,分钟以上者取消本次实验资格,并且不补做),按照学号对号入座,以后每次实验座位要相对固定下来。,实验前在,实验设备使用记录本,上登记实验者信息,在“使用人签名”栏中写上“班级、学号及姓名”。实验前要清点工具和器材,如有缺少或损坏应及时报告。,未经许可不得随意拿走其它组或老师的工具和器材。,实验中应严格按照实验步骤正确操作,如因个人操作不当引起的仪器损坏,应由个人负责。,注意安全。如有异常情况应首先断电。,保持室内卫生,不随地吐痰和丢垃圾。每次实验结束,各位同学应将本组的设备收拾好,最后由班长安排值日生打扫卫生。,课程考核方式,实验成绩是包含在,数字逻辑,B,课程中的,占该课程的,20%,。,实验成绩由实验预习(,10%,)、平时成绩(,50%,)和实验报告(,40%,)成绩构成;平时成绩不及格或旷课达,30%,者,实验成绩则不及格。,实验报告,实验报告必须在做下次实验时交来。无故迟交者实验成绩按及格计算。,实验报告不及格者必须重做。,缺交报告者实验成绩不及格。,实验报告格式,一、预习部分:,1,、实验目的,2,、实验原理 (包括原理简述,电路设计步骤,电路设计图),3,、实验设备与器件,二、实验部分:,4,、实验内容及步骤,5,、实验结果及分析,6,、实验小结,实验一、,TTL,、,CMOS,与非门参数及逻辑特性的测试,一、实验目的:,1,、掌握,TTL,、,CMOS,与非门参数的测量方法。,2,、掌握,TTL,、,CMOS,与非门逻辑特性的测量方法。,二、实验设备与器件,1,、电子技术实验箱,2,、元件板,3,、器件:,74LS00,一片,电位器,1K,电位器,10K(,当,VoL,0.4V,时可用,47K,电位器,),三、实验内容:,1,、,TTL,与非门短路电流,Iis,、,输出高电平,V,OH,、,输出低电平,V,OL,、的测量,。,(,1,)测量,Iis,、,V,OH,、,V,OL,实验电路图,万用表测量,电流(绿表),万用表测量,电压(红表),测量数据记录表,1,I,is,V,OH,V,OL,典型电路参数值,-,1.5,(,mA,),3.0,(V),0.5,(V),测量值,2,、,TTL,与非门灌电流负载能力测试,万用表测量,电压(红表),万用表测量,电流(绿表),7,14,测试结果记录表,2,R,W,I,L,典型电路参数值,No=I,L,/,I,is,1K,I,L,25mA,No,8,3,、,TTL,与非门拉电流负载能力测试,万用表测量,电流(绿表),万用表测量电压(红表),7,14,测试结果记录表,3,Vo,I,L,典型电路参数值,2.4V,5mA,I,L,14mA,实验中的注意事项,1,、用万用表测量电压和电流时应标注被测电压和电流的方向,2,、在测量与非门低电平输出电压时,应接入模拟灌电流负载电阻,3,、由于电位器的线性范围不好,在实际调节时可大致调到电压的有效范围内即可,如,Vo,L,2.7V,即认为是工程上的低电平和高电平。,附:数字集成电路的脚码及型号,附:引脚图及封装图,如:,TTL,门电路芯片(,四,2,输入与非门,型号,74LS00,),地,GND,电源,V,CC,(,+5V,),电子技术实验箱介绍,数码管,数据开关,+5V,电源,逻辑开关,CP,脉冲,秒信号,二进制显示,实验区,元件板,电路连接,万用表读数,芯片连接,
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