第3章放大器.ppt

单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,第三章 放大器,1.,概述,2.,谱仪放大器的放大节,3.,谱仪放大器中的滤波成形,4.,通用谱仪放大器,5.,高能量分辨高计数率谱仪放大器（反堆积放大器）,6.,快放大器,7.,弱电流放大器,1.,概述一,.,放大器在测量系统中的作用放大、成形（滤波成形、基线恢复、堆积拒绝技术）,图,3.1.1,图,3.1.2,二,.,谱仪放大器的框图介绍,图,3.1.3,(,滤波成形、基线恢复、堆积拒绝,),三,.,基本参量及测量方法,1.,增益及其稳定性,A/A,（,A/A/,0.01,、,),增益测量方法：,图,3.1.4,定义,：,用阶跃电压或上升时间足够小，宽度足够宽的矩形脉冲作为输入信号，在一定成形电路常数下，输出幅度,/,输入幅度。,增益稳定性测量,2.,线性积分非线性 ,10,-3,、,10,-4,（其中：,V,omax,指实际输出特征与理想特征最大偏差，,V,omax,指最大输出额定信号幅度）,积分非线性直接影响到能量刻度误差及使峰位发生偏移,2.,线性微分非线性,实际测量到的放大器输出特性曲线上某处的斜率，即放大器的实际放大倍数。,3.,噪声和信噪比示波器观察,V,no,=0.2V,np,/A,超高频毫伏计,V,no,=1.13V,n,/A4.,幅度过载特征,:,截止、饱和,过载恢复时间,(,抗过载性能,),：在给定过载程度的条件下，放大器输出波形回到基线并保持在基线附近最大额定输出电压,1%,的一个小带内,。测量装置：,图,3.1.8,5.,计数率过载特性,信号堆积造成谱线严重畸变：谱峰展宽，峰位移动，假峰。,测量装置：,6.,上升时间,放大节上升时间,t,W,t,M,；,t,M,T0,；,t,W,t,M,T t,M,）二,.,单元电路功能介绍,1.,线形门 （,图,3.5.2,）,2.,模拟展宽电路（,图,3.5.3,）,3.,逻辑展宽电路（,图,3.5.4,）,T,ip,:,监察周期三,.,堆积拒绝电路（判断堆积是否发生和含弃堆积信号）方框原理图（,图,3.5.5,）工作原理图（,图,3.5.6,）四,.,死时间校正和允许最高计数率,1.T,ip,内再有信号输入，扣去这些时间,2.,得到最大输出计数率的允许最高计数率为,1/t,w,堆积拒绝电路的效果（,图,3.5.9,）,一,.,堆积拒绝方法堆积,(,时间间隔,T,):,前沿堆积,_,图,3.5.1,(a),后沿堆积,_,图,3.5.1,(b),二,.,单元电路功能介绍,1.,线形门 （,图,3.5.2,）,2.,模拟展宽电路,（,图,3.5.3,）,3.,逻辑展宽电路,（,图,3.5.4,）,T,ip,:,监察周期,三,.,堆积拒绝电路（判断堆积是否发生和含弃堆积信号）方框原理图（图,3.5.5,）,工作原理图（图,3.5.6,）,四,.,死时间校正和允许最高计数率,1.T,ip,内再有信号输入，扣去这些时间,2.,得到最大输出计数率的允许最高计数率为,1/t,w,堆积拒绝电路的效果（图,3.5.9,）,