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,Click to edit Master text styles,Second level,Third level,Fourth level,Fifth level,*,Click to edit Master title style,管理资源吧(,),海量管理资源免费下载!,一、透射电子显微镜简介,二、,FEI F20,的基本结构及软件,三、,FEI F20,的操作使用,四、透射电子显微镜的样品制备,主要内容:,1,一、透射电子显微镜简介,2,透射电子显微镜(,Transmission Electron Microscopy),3,阿贝成像原理,4,TEM,与光学显微镜比较,5,光学显微镜的分辨率,6,TEM,与光学显微镜性能对比,7,电子激发样品可获得各种信号,8,质厚衬度,9,衍射衬度,10,相位衬度(,HRTEM,),11,Z,衬度(,STEM,像),12,两个基本模式,13,二、,FEI F20,的基本结构及软件,14,品牌:美国,FEI,型号:,Tecnai G2 F20,用途:,TEM-,形貌观察,SAD-,晶体结构,EDS-,微区元素分析,技术指标:,加速电压:,200KV,电子枪:,FEG,点分辨率:,0.24nm,FEG,最小束斑,0.3nm,放大倍数:,25,-1000k,样品最大倾角:,S-TWIN+/-40,Gatan 832 CCD,相机,分辨率,4K*2.7K,15,Tecnai G2 F20,型,TEM,外观说明,16,17,软件说明,18,19,三、,FEI F20,的操作使用,20,Tecnai G2 F20,型,TEM,的操作使用,21,讲在上机自主操作前,22,1,、实验前检查,23,24,2,、装入样品杆(此操作限高级用户使用),25,样品杆清零,26,27,28,3,、电镜合轴,29,30,31,32,33,34,4,、电镜实验,35,36,37,38,39,40,41,42,43,44,45,46,47,48,49,5,、拔出样品杆,50,51,52,小 结,53,四、透射电子显微镜的样品制备,54,TEM,送样的几点说明,55,1,、粉末样品,56,57,58,2,、块体样品,59,60,61,62,3,、薄膜样品,63,64,65,谢 谢!,66,
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