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单击此处编辑母版标题样式,单击此处编辑母版文本样式,第二级,第三级,第四级,第五级,*,8.2,物理汽相沉积(,PVD,),物理气相沉积,Physical Vapor Deposition,缩写为:,PVD,;,通常用于沉积薄膜和涂层,沉积,膜层厚度:,10,-1,nm,mm,;,一类,应用极为广泛,的成膜技术,从装饰涂层到各种功能薄膜,涉及化工、核工程、微电子以及它们的相关工业工程。,包括,蒸发沉积,(,蒸镀,),、,溅射沉积,(,溅射,),和,离子镀,等。,1,一、真空蒸发镀膜(蒸镀),蒸镀,利用真空泵,将淀积室抽成“真空”,,然后用高熔点材料制成的,蒸发源,将淀积,材料加热,、,蒸发,、,淀积,于基片上。,图,8.2.1,蒸镀装置示意图,1.,衬底加热器;,2.,衬底;,3.,原料;,4.,料舟,特点:,(,1,),操作方便,,沉积,参数易于控制,;,(,2,),制,膜纯度高,,可用于,薄膜性质研究,;,(,3,),可,在电镜监测下进行镀膜,,可对薄膜生长过程和生长,机理进行研究,。,(,4,),膜,沉积速率快,,还可,多块同时蒸镀,;,(,5,),沉积温度较高,,膜与基片的,结合强度不高,。,2,1.,物理基础,(,1,)物理阶段:,(,淀积材料的,),升华,:,SV,;,输运,:,蒸发源基片上;,沉积,:,VS,;,重新排列,:,淀积粒子在基片上重新排列或键合,蒸发淀积,不平衡过程,;,恒定条件,高质量膜,。,3,(,2,)封闭体系内的,PT,关系:,积分:,(,1,),(,2,),4,图,8.2.2,几种材料的蒸气压,温度曲线,5,(,3,)蒸发速率和凝结速率,蒸发速率,Ne,:,热平衡条件下,,单位时间内,从蒸发源每单位面积上射出的平均原子数,。,(,1/cm,2,s,),成立条件:,S,几个,cm,2,,且,P,表面吸附,气体的物理吸附能,(0.1,0.5eV),,,化学吸附能,(l,10eV),,因而还能,起清洗作用,;,这样的离子能量还可以,避免膜层因严重溅射而变得表面粗糙,和,降低镀膜速率,;,应用:,广泛用于镀制,TiN,超硬膜,;,镀制,TiN,仿金装饰膜,镀,TiN,膜的高速钢刀具可提高寿命,3,倍以上,甚至有高达数十倍。,37,4.,多弧离子镀,阴极,镀料靶材,;,电弧引燃,:,引弧阳极与阴极的触发,;,弧斑直径,:,0.01,100m,;,弧斑移动速率,:,100m,s,;,温度,:,8000,40000K,,靶材气化,;,尽管弧斑的温度很高,但整个,靶材,由于加以水冷,温度只有,50,20,。可以认为是,冷阴极,。,优点:,生产效率高,冷阴极,可保证膜与靶材成分一致;,不必通,Ar,气;,缺点:,膜层粗糙,结构疏松,孔穴多,耐蚀性差。,图,8.2.17,多孤离子镀装置示意图,38,5.,双离子束镀,采用两个宽束离子源:,一个进行,溅射镀膜,,,另一个,直接轰击基片,。,这种镀膜技术,实质上,是,以离子束镀膜为基础而实现的离子镀,。,图,8.2.18,双离子束镀膜装置,39,6.,离子注入成膜法,将大量离子注入基片,与基片元素发生化学反应,形成化合物薄膜。,例如:对硅片注入大量的氧离子或氮离子后,就能在硅片表面形成,SiO,2,薄膜或,Si,3,N,4,薄膜;,可以在低温下进行,所成的膜质量很好,;,可以,精确控制,入射离子的,能量,大小,,束流强度,和,时间,等,故这种成膜技术将成为,研究薄膜改性,的,良好工艺手段,。,与离子束沉积成膜相比,离子注入成膜法,使用的离子束能量,要大得多,约为,20,400KeV,,,束流强度,通常在,几十至几千,A,;,束流强度越大,注入效率越高,成膜也就越快。,40,谢 谢!,41,
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